CN220105108U - 一种可拆解的测试样品托架和低温测试样品托 - Google Patents

Abstract

本申请涉及测试领域，尤其涉及一种可拆解的测试样品托和低温测试样品托，包括：第一连接组件，包括第一固定件、第一电路板和第一电性连接件；第一电路板与第一固定件可拆卸固定连接，第一电性连接件的第一端与第一电路板可拆卸电连接；第二连接组件，包括第二固定件、第二电路板和第二电性连接件；第二电路板与第二固定件可拆卸固定连接，第二电性连接件的第一端与第二电路板可拆卸电连接；进而通过第一固定件与第二固定件可拆卸连接，第一电性连接件的第二端与第二电性连接件的第二端可拆卸电连接，进而实现了测试样品托架的可拆解装配，便于对测试样品托架上的测试样品进行更换，并且操作简单，进而提高了拆装效率。

Description

一种可拆解的测试样品托架和低温测试样品托

技术领域

本申请涉及测试技术领域，尤其涉及一种可拆解的测试样品托架和低温测试样品托。

背景技术

现有的电学性能测试中，常会在样品托的测试电路板中焊接有多路测试电线，来满足对待测样品的不同电学性能测试要求。

但在对测试样品的更换过程中，需要将待测样品和测试电线间不断的重复解焊操作，并将更换后的新的测量样品重新与测试电路间进行焊接操作，增加了对测试样品的更换难度，导致操作繁琐且费时费力，进而降低了测试效率。

因此，需提供一种改进的可拆解的测试样品托架，以解决上述现存问题的至少之一。

实用新型内容

为了解决上述现有技术存在的问题，本申请提供一种可拆解的测试样品托架，包括：第一连接组件，包括第一固定件、第一电路板和第一电性连接件；所述第一电路板与所述第一固定件可拆卸固定连接，所述第一电性连接件的第一端与所述第一电路板电连接；

第二连接组件，包括第二固定件、第二电路板和第二电性连接件；所述第二电路板与所述第二固定件可拆卸固定连接，所述第二电性连接件的第一端与所述第二电路板电连接；

所述第一固定件与所述第二固定件可拆卸固定连接，所述第一电性连接件的第二端与所述第二电性连接件的第二端可拆卸电连接。

进一步地，所述第一固定件与所述第二固定件呈台阶式连接。

进一步地，所述第二固定件包括固定连接的样品承载部和固定件本体；所述样品承载部凸出设置于所述固定件本体的一侧；

所述样品承载部用于承载待测样品。

进一步地，所述样品承载部与所述固定件本体为一体化结构。

进一步地，所述第二连接组件还包括第三电路板，所述第三电路板固定在所述固定件本体上，所述第三电路板与所述样品承载部同侧，所述第三电路板分别与所述第二电路板和所述待测样品电连接。

进一步地，所述第二连接组件还包括第三电性连接件，所述第三电性连接件的第一端与所述第三电路板电连接，所述第三电性连接件的第二端与所述第二电路板电连接。

进一步地，所述第三电路板上设置有避让口，所述样品承载部穿出所述避让口。

进一步地，所述固定件本体上设置有定位部，所述第三电路板上设置有与所述定位部相配合的限位连接部，通过所述定位部与所述限位连接部配合，限制所述第三电路板与所述固定件本体的相对位置。

进一步地，所述限位部包括第一限位结构和第二限位结构；所述第一限位结构用于限制所述第三电路板与所述固定件本体间沿第一方向的相对运动；所述第二限位结构用于限制所述第三电路板与所述固定件本体间沿第二方向的相对运动；所述第一方向和所述第二方向相交；

所述限位连接部包括第一连接结构和第二连接结构；所述第一连接结构与所述第一限位结构相配合，所述第二连接结构与所述第二限位结构相配合。

进一步地，所述第一固定件上还设置有第一容置开口，所述第一电性连接件至少部分容置在所述第一容置开口；和/或，所述第二固定件上设置有第二容置开口，所述第二电性连接件至少部分容置在所述第二容置开口。

进一步地，所述第二固定件上设置有第一悬臂件和第二悬臂件，所述第一悬臂件与所述第二悬臂件之间形成第二容置开口；所述第二固定件通过所述第一悬臂件和第二悬臂件与所述第一固定件可拆卸固定连接。

进一步地，所述第一悬臂件和所述第二悬臂件中的至少其一设置有导向结构。

进一步地，所述第一电路板和所述第一电性连接件上二者择一的设置有第一限位孔，另一设置有第一限位凸起，所述第一限位孔与所述第一限位凸起配合；和/或，所述第二电路板和所述第二电性连接件上二者择一的设置有第二限位孔，另一设置有第二限位凸起，所述第二限位孔与所述第二限位凸起配合。

进一步地，所述第一固定件上还设置有第一让位部，所述第一电路板可拆卸固定连接在所述第一让位部上；和/或，所述第二固定件上还设置有第二让位部，所述第二电路板可拆卸固定连接在所述第二让位部上。

本申请还提供一种低温测试样品托，包括制冷设备以及如上所述的可拆解的测试样品托架，所述第一固定件上设置有连接部，所述连接部与所述制冷设备可拆卸固定连接。

进一步地，所述第一固定件和所述第二固定件采用导冷材质制成。

进一步地，所述制冷设备包括导冷连接端，所述连接部与所述导冷连接端呈L型连接。

本申请提供的一种可拆解的测试样品托架，至少具有如下有益效果：

本申请的测试样品托架通过将第一电路板固定连接在第一固定件，第二电路板固定连接在第二固定件，进而将第一电性连接件的第一端与第一电路板固定连接，将第二电性连接件的第一端与第二电路板固定连接，且第一固定件与第二固定件可拆卸连接，第一电性连接件的第二端与第二电性连接件的第二端可拆卸电连接，进而实现了测试样品托架的可拆解装配，进而可以便于对测试样品托架上的测试样品进行更换，并且操作简单，提升了拆装效率，同时避免了在更换待测样品的过程中，需反复对测试线路上的电线进行解焊和重新对解焊后的电线进行再焊接的操作，进而降低了操作复杂度，提升了对待测样品的更换效率，从而整体提升了对待测样品的测试效率。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案和优点，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单的介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其它附图。

图1为本申请实施例提供的一种可拆解的测试样品托架的整体结构示意图；

图2为本申请实施例提供的第一连接组件和第二连接组件配合连接的整体结构示意图；

图3为本申请实施例提供的另一第一连接组件和第二连接组件配合连接的整体结构示意图；

图4为本申请实施例提供的第一连接组件的结构示意图；

图5为本申请实施例提供的另一第一连接组件的结构示意图；

图6为图5中A-A向剖视图；

图7为本申请实施例提供的第一固定件的结构示意图；

图8为本申请实施例提供的另一第一固定件的结构示意图；

图9为本申请实施例提供的第二连接组件的结构示意图；

图10为本申请实施例提供的另一第二连接组件的结构示意图；

图11为图10中B-B向剖视图；

图12为本申请实施例提供的第二固定件的结构示意图；

图13为本申请实施例提供的另一第二固定件的结构示意图；

图14为本申请实施例提供的第三电路板的结构示意图；

其中，图中附图标记对应为：

1-第一连接组件，2-第二连接组件，10-制冷设备，11-第一固定件，12-第一电路板，13-第一电性连接件，21-第二固定件，22-第二电路板，23-第二电性连接件，24-第三电路板，25-第三电性连接件，101-切口，111-第一台阶部，112-第一固定孔，113-第一电路板固定孔，114-第一容置开口，115-连接部，116-第一让位部，117-第一限位孔，118-第一限位凸起，119-第一台阶面，120-第一连接面，151-通线孔，152-连接孔，201-第二让位部，202-安装孔，203-第二限位孔，204-第二限位凸起，205-第一定位结构，206-第二定位结构，210-固定件本体，211-第二台阶部，212-第二固定孔，214-样品承载部，215-第二容置开口，216-第一悬臂件，217-第二悬臂件，218-导向结构，219-第二台阶面，220-第二连接面，222-连接引脚，241-避让口，242第一限位结构，243-第二限位结构，244-安装配合孔，245-配合引脚，251-爪冠针座，252-爪冠针。

具体实施方式

为了使本技术领域的人员更好地理解本申请中的技术方案，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

需要说明的是，本申请的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本申请的实施例能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含。例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、装置、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。

以下参照附图对实施例进行说明，附图不对权利要求所记载的申请内容起任何限定作用。

本说明书提供了如实施例或流程图的方法操作步骤，但基于常规或者无创造性的劳动可以包括更多或者更少的操作步骤。实施例中列举的步骤顺序仅仅为众多步骤执行顺序中的一种方式，不代表唯一的执行顺序。

请参考图1-14，本申请实施例提供一种可拆解的测试样品托架，包括第一连接组件1和第二连接组件2，第一连接组件1包括第一固定件11、第一电路板12和第一电性连接件13；第一电路板12与第一固定件11可拆卸固定连接，第一电性连接件13的第一端与第一电路板12可拆卸电连接；第二连接组件2包括第二固定件21、第二电路板22和第二电性连接件23；第二电路板22与第二固定件21可拆卸固定连接，第二电性连接件23的第一端与第二电路板22可拆卸电连接；第一固定件11与第二固定件21可拆卸固定连接，第一电性连接件13的第二端与第二电性连接件23的第二端可拆卸电连接。

如此，本实施例中通过将第一电路板12固定连接在第一固定件11，第二电路板22固定连接在第二固定件21，进而将第一电性连接件13的第一端与第一电路板12固定连接，并将第二电性连接件23的第一端与第二电路板22固定连接，且第一固定件11与第二固定件21可拆卸连接，将第一电性连接件13的第二端与第二电性连接件23的第二端可拆卸电连接，进而实现了测试样品托架的可拆解装配，便于对测试样品托架上的测试样品进行更换，并且操作简单，进而提高了拆装效率，同时避免了在更换待测样品的过程中，需反复对测试线路上的电线进行解焊和反复对解焊后的电线进行再焊接的操作，进而降低了操作复杂度，提升了对待测样品的更换效率，从而整体提升了对待测样品的测试效率。

需要说明的是，可拆解的测试样品托架可以应用在低温/高温电学测试上，以下以可拆解的测试样品托架应用在低温电学测试为例进行说明。

具体地，第一固定件11与第二固定件21可以通过螺栓固定连接。

具体的，第一固定件11上设置有至少一个第一固定孔112，第二固定件21上设置有与第一固定孔相配合的第二固定孔212，通过螺栓贯穿第一固定孔112和第二固定孔212，进而将第一固定件11与第二固定件21固定连接。

具体地，第一电路板12可以为第一PCB板，第一PCB板上焊接有多路测试电线或电路；第二电路板22可以为第二PCB板，第二PCB板上可以焊接有多路电线或电路。

需要说明的是，通过在PCB板上焊接多路电线或电路可以实现电路板上的不同电路间的导通，并根据实际情况对电路板上的电路参数进行调整，进而达到使用要求。

具体地，第一电性连接件13可以为公端连接器，第二电性连接件23可以为母端连接器，公端连接器与母端连接器可以对插可拆卸连接。

优选地，可拆卸电连接的第一电性连接件13和第二电性连接件23可以分别为双排pogo pin连接件中可拆卸电连接的弹簧针公双排和弹簧针母双排。

具体地，第一电路板12与第一固定件11间可以通过螺栓固定连接，同理，第二电路板22与第二固定件21间可以通过螺栓固定连接。

具体地，第一固定件11上设置有至少一个第一电路板固定孔113，在第一PCB板上设置有与第一电路板固定孔113相匹配的第一配合孔，进而通过螺栓依次贯穿第一电路板固定孔113和第一配合孔，将第一PCB板固定连接在第一固定件11上，同理，第二固定件21上设置有至少一个第二电路板固定孔，在第二PCB板上设置有与第二电路板固定孔相匹配的第二配合孔，进而通过螺栓依次贯穿第二电路板固定孔和第二配合孔，将第二PCB板固定连接在第二固定件21上。

另一些实施例中，第一电路板12与第一固定件11可以通过焊接或胶接的方式固定，同理，第二电路板22与第二固定件21也可以通过焊接或胶接的方式固定。

一些实施例中，第一固定件11与第二固定件21呈台阶式连接。

具体地，第一固定件11上设置有第一台阶部111，第二固定件21上设置有与第一台阶部111相匹配的第二台阶部211；第一台阶部111与第二台阶部211可拆卸固定连接。

具体地，第一台阶部111上设置有至少一个第一固定孔112，第二台阶部211上设置有至少一个第二固定孔212，第一台阶部111与第二台阶部211配合连接的状态下，可以通过螺栓依次贯穿第一固定孔112和第二固定孔212，将第一台阶部111与第二台阶部211可拆卸固定连接，进而实现了第一固定件11与第二固定件21可拆卸固定连接。

在本实施例中，通过在第一固定件11上设置第一台阶部111，第二固定件21上设置第二台阶部211，第二台阶部211与第一台阶部111相匹配且第一台阶部111与第二台阶部211可拆卸固定连接，进而实现了第一固定件11与第二固定件21可拆卸固定连接，并通过第一台阶部111与第二台阶部211相匹配设置，使得第一台阶部111与第二台阶部211间台阶式连接，增大了第一固定件11与第二固定件21的接触面积，不仅可以提升第一固定件11与第二固定件21间的连接稳定性，还提高了测试样品托架的水平度，保证达到测试水平度的要求，从而保证后续显微镜对样品表面聚焦清晰，提升了对待测样品测试的准确性，另外还可以提升第一固定件11与第二固定件21间的导冷效率，进而为待测样品更为快速地提供符合测试要求的测试温度，进而提升了测试效率。

一些实施例中，第一台阶部111包括至少一个第一台阶结构，第二台阶部211包括至少一个第二台阶结构；第一台阶结构与第二台阶结构一一对应设置，第一台阶结构与第二台阶结构配合。

具体地，第一台阶结构包括至少一个第一台阶面119和至少一个第一连接面120，第一台阶结构由第一台阶面119和第一连接面120依次连接形成。

具体地，第二台阶结构包括至少一个第二台阶面219和至少一个第二连接面220，第二台阶结构由第二台阶面219和第二连接面220依次连接形成。

具体地，第一台阶结构与第二台阶结构配合，即第一台阶面119与第二台阶面219贴合，第一连接面120与第二连接面220抵接。

优选地，第一台阶部111中包括两个第一台阶结构，第二台阶部211中包括两个第二台阶结构。

在另一些实施例中，为了提升第一台阶结构与第二台阶结构配合的精密程度，可以对第一台阶面119与第二台阶面219进行精加工处理。

在本实施例中，通过至少一个第一台阶结构与至少一个第二台阶结构的配合，即第一台阶结构中的第一台阶面119与相应第二台阶结构中的第二台阶面219贴合，第一台阶结构中的第一连接面120与第二台阶结构中的第二连接面220抵接，进而增大了第一固定件11与第二固定件21的接触面积。

一些实施例中，第二固定件21包括固定连接的样品承载部214和固定件本体210；样品承载部214凸出设置于固定件本体210的一侧；样品承载部214用于承载待测样品。

具体地，样品承载部214和固定件本体210可以通过焊接、胶接或螺栓固定连接。

具体地，样品承载部214可以为样品承载台，为保证待测样品在样品承载台上的位置精度，可以对样品承载台的与待测样品接触的一侧精加工为精加工面，进一步保证了对待测样品的测试水平度要求。

一些实施例中，样品承载部214与固定件本体210为一体化结构。在本实施例中，通过将样品承载部214凸出设置于固定件本体210的一侧，待测样品放置在样品承载部214上，进而避免了固定件本体210上的其他元件对待测样品的干涉，同时通过样品承载部214与固定件本体210一体化结构设置，进而保证了固定件本体210、样品承载部214与待测样品间的导冷效果，进而为待测样品提供符合测试要求的测试温度，进而避免由于温差过大对测试结果造成影响，进而提升了测试结果的可靠性。

一些实施例中，第二连接组件2还包括第三电路板24，第三电路板24固定在固定件本体210上，第三电路板24与样品承载部214同侧，第三电路板24分别与第二电路板22和待测样品电连接。

具体地，第三电路板24可以为第三PCB板。

具体的，第三电路板24与固定件本体210可以焊接、胶接或螺栓固定连接。

具体地，固定件本体210上可以设置有至少一个安装孔202，在第三电路板24上设置有与安装孔202相匹配的安装配合孔244，进而通过螺栓依次贯穿安装配合孔244和安装孔202，将第二PCB板和第三PCB板固定连接在固定件本体210上。

优选地，为了减少对固定件本体210上孔位的加工操作，安装孔202可以为第二电路板固定孔，进而可以通过安装孔202，可以将第二PCB板和第三PCB板同时固定在固定件本体210上。

一些实施例中，第二连接组件2还包括第三电性连接件25，第三电性连接件25的第一端与第三电路板24电连接，第三电性连接件25的第二端与第二电路板22电连接。

具体地，请参考图9，第三电性连接件25可以为爪冠针组件，包括至少一对可拆卸电连接的爪冠针座251和爪冠针252。

具体地，爪冠针座251与第二电路板22电连接，爪冠针252与第三电路板24电连接。

具体地，请参考图9，第二电路板22上设置有至少一个连接引脚222，在第三电路板24上设置有与连接引脚222相匹配的配合引脚245，进而爪冠针座251与连接引脚222电连接，爪冠针252与配合引脚245电连接，进而通过爪冠针座251和爪冠针252的电连接实现了第三电路板24和第二电路板22间的电路导通。

在本实施例中，通过将第三电性连接件25设置为可拆卸电连接的爪冠针座251和爪冠针252，并通过爪冠针座251与第二电路板22可拆卸电连接，爪冠针252与第三电路板24可拆卸电连接，进而实现了第三电路板24和第二电路板22间的电路导通，进而提升了第三电性连接件25与第二电路板22的组装效率，从而提升了测试样品托架的装配机械化与流程化程度。

另一些实施例中，第三电性连接件25可以为至少一条连接电线，连接电线的一端与第二电路板22上的一个连接引脚222连接，连接电线的另一端与第三电路板24上与连接引脚222相匹配的配合引脚245连接，进而在第二电路板22通电的情况下，通过至少一条连接电线，实现了第二电路板22与第三电路板24间的电路导通。

一些实施例中，请参考图14，第三电路板24上设置有避让口241，样品承载部214穿出避让口241。

具体地，避让口241与样品承载部214的形状相匹配，在本实施例中，对避让口241的形状不做限定。

具体地，样品承载部214可以为样品承载台，样品承载台能够穿出避让口241并凸出避让口241。

具体地，样品承载台用于承载待测样品，第三电路板24与待测样品电连接。

进一步地，第三电路板24上可以焊接有多路电线或电路，通过电线或电路与待测样品实现电连接。

需要说明的是，一般在电学测量中使用的PCB板导热与导冷性较差，进而会使得待测样品在实际温度和PCB板接触的冷源之间有很大的温差，从而会造成对待测样品的电学性能测试的测量误差，所以本实施例中，通过在设置第三电路板24上设置避让口241，样品承载部214从避让口241穿出，使得待测样品避开第三电路板24直接与样品承载部214接触，进而保证了待测样品与冷源之间的导冷效果。

在本实施例中，通过在第三电路板24上设置避让口241，便于样品承载部214从避让口241穿出，进而避免了第三电路板24对样品承载部214与待测样品间的阻隔现象，进而使得待测样品可以直接放置于第二固定件21的样品承载部214上，进而保证了第二固定件21与待测样品间的导冷效果，进而提升了测试结果的可靠性。

一些实施例中，固定件本体210上设置有定位部，第三电路板24上还设置有与定位部相配合的限位部，通过定位部与限位部配合，限制第三电路板24与固定件本体210的相对位置。

具体的，定位部可以包括至少一个定位凸起，限位部可以包括至少一个与定位凸起相匹配的限位凹槽。

另一些实施例中，定位部可以包括至少一个定位凹槽，限位部可以包括至少一个与定位凹槽相匹配的限位凸起。

在本实施例中，通过在固定件本体210上设置有定位部，第三电路板24上设置有与定位部相配合的限位部，通过定位部与限位部配合，从而限制了第三电路板24与固定件本体210的相对位置，进而确定了第三电路板24在固定件本体210上的定位位置，避免了第三电路板24在固定件本体210上的移动，便于后续对第三电路板24与固定件本体210的固定连接。

一些实施例中，请参考图12和图14，定位部包括第一定位结构205和第二定位结构206；第一定位结构205用于限制第三电路板24与固定件本体210间沿第一方向的相对运动；第二定位结构206用于限制第三电路板24与固定件本体210间沿第二方向的相对运动；第一方向和所述第二方向相交；限位部包括第一限位结构242和第二限位结构243；第一限位结构242与第一定位结构205相配合，第二限位结构243与第二定位结构206相配合。

具体地，第一定位结构205可以为第一定位凸起，第二定位结构206可以为第二定位凸起。

具体地，第一定位凸起和第二定位凸起的定位方向为相交布置。

具体地，第三电路板24上的第一限位结构242可以为第一限位凹槽，第二限位结构243可以为第二限位凹槽，且第一限位凹槽与第一定位凸起相配合可以限制第三电路板24与固定件本体210间沿第一方向的相对运动，第二限位凹槽与第二定位凸起相配合限制第三电路板24与固定件本体210间沿第二方向的相对运动。

另一些实施例中，第一定位结构205可以为第一定位凹槽，第二定位结构206可以为第二定位凹槽，第一定位凹槽和第二定位凹槽的布置方式可以为相交布置，第三电路板24上的第一限位结构242可以为第一限位凸起，第二限位结构243可以为第二限位凸起，且第一限位凸起与第一定位凹槽相配合可以限制第三电路板24与固定件本体210间沿第一方向的相对运动，第二限位凸起与第二定位凹槽相配合限制第三电路板24与固定件本体210间沿第二方向的相对运动。

另一些实施例中，还可以将定位部设置为“十字”凸起结构，进而第三电路板24上设置有与“十字”凸起结构相匹配的“十字”配合孔，进而通过“十字”凸起结构与“十字”配合孔相配合，进而可以限制第三电路板24与固定件本体210的相对位置。

在本实施例中，请参考图12和图14，通过在固定件本体210上设置第一定位结构205和第二定位结构206，在第三电路板24上设置第一限位结构242和第二限位结构243，且第一定位结构205与第一限位结构242相配合，第二定位结构206与第二限位结构243相配合，进而通过第一定位结构205与第一限位结构242相配合可以限制第三电路板24与固定件本体210间沿第一方向的相对运动；通过第二定位结构206与第二限位结构243相配合可以限制第三电路板24与固定件本体210间沿第二方向的相对运动，且第一方向和第二方向相交，进而可以限制第三电路板24与固定件本体210的相对位置，即确定了第三电路板24在固定件本体210上的定位位置，便于后续对第三电路板24与固定件本体210的固定连接。

一些实施例中，请参考图7和图12，第一固定件11上还设置有第一容置开口114，第一电性连接件13至少部分容置在第一容置开口114；和/或，第二固定件21上设置有第二容置开口215，第二电性连接件23至少部分容置在第二容置开口215。

在本实施例中，通过在第一固定件11上设置第一容置开口114，并将第一电性连接件13至少部分容置在第一容置开口114内，进而可以增加第一固定件11的空间利用率，符合测试样品托架的小型化和轻型化设计要求。

一些实施例中，请参考图12，第二固定件21上设置有第一悬臂件216和第二悬臂件217，第一悬臂件216与第二悬臂件217之间形成第二容置开口215；第二固定件21通过第一悬臂件216和第二悬臂件217与第一固定件11可拆卸固定连接。

具体地，请参考图12，第一悬臂件216和第二悬臂件217上至少其一的设置有第二固定孔212，并将第二固定孔212与第一固定件11的第一固定孔112通过螺栓连接，进而实现了第一固定件11与第二固定件21的可拆卸连接。

优选地，第一悬臂件216上设置有两个第二固定孔212，第二悬臂件217上同样设置有两个第二固定孔212，进而在第一固定件11上分别设置有四个第一固定孔112，四个第一固定孔112与第二固定件21上的四个第二固定孔212一一对应匹配，进而通过螺栓将第一悬臂件216与第二悬臂件217分别与第一固定件11固定连接，进而提高了第一固定件11与第二固定件21的连接稳定性，从而提高了测试样品托架的使用稳定性，提升了待测样品测试结果的准确性。

在本实施例中，通过在第二固定件21上设置第一悬臂件216和第二悬臂件217，第一悬臂件216与第二悬臂件217之间形成第二容置开口215，并于将第二电性连接件23至少部分容置在第二容置开口215容置在第二容置开口215内，进而可以增加第二固定件21的空间利用率，符合测试样品托架的小型化和轻型化设计要求，同时也可以节省测试样品托架的生产成本。

在一些实施例中，请参考图9并结合图5，第一悬臂件216和第二悬臂件217中的至少其一设置有导向结构218；导向结构218用于调整第一连接组件1与第二连接组件2固定连接出现的装配误差，提高了第一悬臂件216、第二悬臂件217中的至少其一与第一电路板12配合间的冗余量，进而避免了第一悬臂件216、第二悬臂件217中的至少其一与第一电路板12装配间的干涉现象。

具体地，导向结构218可以为倒角结构。

优选地，第一悬臂件216和第二悬臂件217上分别设置有倒角结构，通过设置倒角结构可以降低在机械加工中对第一悬臂件216和第二悬臂件217的加工难度，同时可以避免第一悬臂件216和第二悬臂件217分别与第一固定件11固定连接过程中出现的第二固定件21与第一电路板12间的干涉情况，从而提升了第一连接组件1与第二连接组件2装配连接的效率。

在本实施例中，通过在第一悬臂件216和第二悬臂件217上分别设置有导向结构218，通过导向结构218调整第一连接组件1与第二连接组件2固定连接出现的装配误差，避免第一连接组件1上固定连接的第一电路板12与第二固定件21间产生的干涉现象，进而提升了第一连接组件1与第二连接组件2固定连接的可靠性。

一些实施例中，请参考图6和图11，第一电路板12和第一电性连接件13上二者择一的设置有第一限位孔117，另一设置有第一限位凸起118，第一限位孔117与第一限位凸起118配合；和/或，第二电路板22和第二电性连接件23上二者择一的设置有第二限位孔203，另一设置有第二限位凸起204，第二限位孔203与第二限位凸起204配合。

具体地，第一电路板12上可以设置有第一限位孔117，第一电性连接件13上可以设置有第一限位凸起118，第一限位孔117与第一限位凸起118可拆卸连接。

具体地，第一限位孔117可以为第一插接孔，第一限位凸起118可以为与第一插接孔配合的第一插接凸起，通过第一插接孔与第一插接凸起的插接，将第一电性连接件13固定连接在第一电路板12上。

另一些实施例中，第一电路板12上可以设置有第一限位凸起118，第一电性连接件13上可以设置有第一限位孔117，第一限位孔117与第一限位凸起118可拆卸连接。

具体地，第二电路板22上可以设置有第二限位孔203，第二电性连接件23上可以设置有第二限位凸起204，第二限位孔203与第二限位凸起204可拆卸连接。

具体地，第二限位孔203可以为第二插接孔，第二限位凸起204可以为与第二插接孔配合的第二插接凸起，通过第二插接孔与第二插接凸起的插接，将第二电性连接件23固定连接在第二电路板22上。

另一实施例中，第二电路板22上可以设置有第二限位凸起204，第二电性连接件23上可以设置有第二限位孔203，第二限位孔203与第二限位凸起204可拆卸连接。

在本实施例中，通过在第二电路板22和第二电性连接件23上二者择一的设置有第二限位孔203，另一设置有第二限位凸起204，第二限位孔203与第二限位凸起204配合，进而实现了第二电性连接件23在第二电路板22上的可拆卸连接，从而提高了第二电性连接件23与第二电路板22的拆装效率，进而便于根据使用要求对第二电性连接件23进行快速更换；又通过在第一电路板12和第一电性连接件13上二者择一的设置有第一限位孔117，另一设置有第一限位凸起118，第一限位孔117与第一限位凸起118配合，进而实现了第一电性连接件13在第一电路板12上的可拆卸连接，从而提高了第一电性连接件13与第一电路板12的拆装效率，进而便于根据使用要求对第一电性连接件13进行快速更换。

一些实施例中，请参考图4和图8、图9和图13，第一固定件11上还设置有第一让位部116，第一电路板12可拆卸固定连接在第一让位部116上；和/或，第二固定件21上还设置有第二让位部201，第二电路板22可拆卸固定连接在第二让位部201上。

具体地，第一电路板12与第一让位部116可以通过螺栓固定连接，第二电路板22与第二让位部201可以通过螺栓固定连接。

优选地实施例中，第一固定件11上设置第一让位部116，第一电路板12与第一让位部116螺栓固定连接，且第二固定件21上设置第二让位部201，第二电路板22与第二让位部201螺栓固定连接。

在本实施例中，通过在第一固定件11上设置第一让位部116，进而将第一电路板12固定在第一让位部116上，在第二固定件21上设置第二让位部201，进而将第二电路板22固定在第二让位部201上，进而可以提高第一固定件11与第二固定件21的空间利用率，符合测试样品托架的小型化的设计要求。

本申请实施例还提供一种低温测试样品托，请参考图1和图7，包括制冷设备10以及如上所述的可拆解的测试样品托架第一固定件11上设置有连接部115，连接部115与制冷设备10可拆卸固定连接。

具体地，制冷设备10与外接电源电性连接，进而为测试样品托架提供电源。

具体地，请参考图7，在连接部115上设置有通线孔151，进而将从制冷设备10上引出的电线，通过通线孔151与第一电路板12电连接。

具体地，制冷设备10包括导冷连接端，导冷连接端与连接部115可拆卸固定连接。

具体地，连接部115上设置有至少一个连接孔152，导冷连接端上设置有与连接孔152相配合的螺纹孔，进而通过螺栓可以将连接部115与导冷连接端固定连接。

具体地，导冷连接端可以为导冷铜块。

另一些实施例中，请参考图1和图8，为提升制冷设备10与第一固定件11间的导冷效果，导冷连接端可以设置有L型结构，同时第一固定件11上设置有与L型结构相匹配的切口101，通过L型结构与切口101的配合连接，使连接部115与导冷连接端呈L型连接，进而可以增加导冷连接端与第一固定件11间的接触面积，进而可以提升制冷设备10的冷源传递效率，进而提升了对第一固定件11的导冷效果，进一步为待测样品的测试更快速地提供所需的测试温度，进而提高了对待测样品测试的可靠性与准确性。

具体地，为保证通过L型结构与切口101的配合连接的连接强度，可以通过在L型结构与切口101上分别设置相配合的连接孔，进而通过螺栓将L型结构与切口101固定连接。

在本实施例中，通过将连接部115与制冷设备10以“L型”接触方式固定连接，增加了制冷设备10与第一固定件11之间的接触面积，进而可以提升制冷设备10与第一固定件11间的导冷效率，进而为待测样品的测试更快速地提供所需的温度环境，进而提高了对待测样品测试的准确性。

另一些实施例中，制冷设备10还包括制冷装置、控制装置和温度感应装置，控制装置分别与制冷装置和温度感应装置通信连接，温度感应装置用于实时监测和显示制冷装置的导冷连接端的温度信息，并将监测到的温度信息发送至控制装置，控制装置能够响应接收到的温度信息，控制制冷装置执行制冷操作，进而使得导冷连接端的温度符合测试的温度要求，从而提高了对测试温度的控制精度，可以降低导冷连接端与待测样品之间的温度差，进而提高了对待测样品的测试效果，同时提高了对待测样品测试的准确性。

具体地，温度感应装置上设置有温度显示屏，温度感应装置设置在导冷连接端上，且温度感应装置上的温度显示屏能够部分容置在第一容置开口114，进而可以通过第一容置开口114观测到温度显示屏上的温度信息。

其他的一些实施例中，在样品承载部214上也可以设置有温度传感器，温度传感器与控制装置通信连接，温度传感器用于感应样品承载部214处的温度信息，进而将感应到的样品承载部214处的温度信息发送至控制装置，控制装置相应接受到的信息，进而控制制冷装置执行制冷操作，进而使得样品承载部214处的温度符合测试的温度要求，从而提高了对测试温度的控制精度。

一些实施例中，第一固定件11与第二固定件21采用导冷材质制成。

示例性的，第一固定件11和第二固定件21的材质可以采用黄铜或无氧铜。

需要说明的是，为保证对待测样品测试的准确性，还需要避免磁性对测试结果的影响，进而需要测试样品托架为无磁性件，具体地，要求第一固定件11、第二固定件21、第一电性连接件13、第二电性连接件23、第一电路板12、第二电路板22和第三电路板24均为无磁性件。

在本实施例中，通过将第一固定件11与第二固定件21采用导冷材质制成，进而可以保证冷源的传递效率和传递的有效性，从而减少了冷源在传递中的消耗，进而通过第二固定件21将冷源传递到待测样品，从而为待测样品的测试提供了所需的测试温度，进而避免了由于冷源即导冷连接端与待测样品之间的温差，造成的测试误差，进而提升了待测样品的测试准确性。

本申请提供的可拆解的测试样品托架，至少具有如下有益效果：

1、本实施例中，通过将第一电路板12固定连接在第一固定件11，第二电路板22固定连接在第二固定件21，进而将第一电性连接件13的第一端与第一电路板12固定连接，将第二电性连接件23的第一端与第二电路板22固定连接，且第一固定件11与第二固定件21可拆卸连接，第一电性连接件13的第二端与第二电性连接件23的第二端可拆卸电连接，进而实现了测试样品托架的可拆解装配，进而可以便于对测试样品托架上的测试样品进行更换，操作简单，提高了拆解效率，同时避免了在更换待测样品的过程中，需反复对测试线路上的电线进行解焊和反复对解焊后的电线进行再焊接的操作，进而降低了操作复杂度，提升了对待测样品的更换效率，从而整体提升了对待测样品的测试效率。

2、在本实施例中，通过在第一固定件11上设置第一台阶部111，第二固定件21上设置第二台阶部211，第二台阶部211与第一台阶部111相匹配且第一台阶部111与第二台阶部211可拆卸固定连接，进而实现了第一固定件11与第二固定件21可拆卸固定连接，并通过第一台阶部111与第二台阶部211以“台阶式”接触方式相匹配设置，进而增大了第一固定件11与第二固定件21的接触面积，不仅提高了第一固定件11与第二固定件21间的导冷效率；而且提高了第一固定件11与第二固定件21的连接稳定性；还提高了测试样品托架的水平度，保证达到测试水平度的要求，从而保证后续显微镜对样品表面聚焦清晰，提升了待测样品测试结果的准确性和可靠性。

3、在本实施例中，通过将样品承载部214凸出设置于固定件本体210的一侧，待测样品放置在样品承载部214上，进而避免了固定件本体210上的其他元件对待测样品的干涉，进而通过对样品承载部214的精加工处理，能够保证对待测样品的测试水平要求，同时通过将样品承载部214与固定件本体210一体化设置，保证了样品承载部214与待测样品间的导冷效果，进而为待测样品的测试提供了所需的测试温度，进而提升了待测样品测试结果的准确性和可靠性。

4、在本实施例中，通过在第三电路板24上设置避让口241，便于样品承载部214从避让口241穿出，进而避免了第三电路板24对样品承载部214与待测样品间的阻隔现象，进而使得待测样品可以直接放置于第二固定件21的样品承载部214上，进而保证了第二固定件21对待测样品的导冷效果，进而提升了对待测样品的测试效果。

5、在本实施例中，通过在固定件本体210上设置有定位部，第三电路板24上还设置有与定位部相配合的限位部，进而通过定位部与限位部配合，从而限制了第三电路板24与固定件本体210的相对位置，进而确定了第三电路板24在固定件本体210上的定位位置，避免了第三电路板24在固定件本体210上的移动，便于后续对第三电路板24与固定件本体210的固定连接。

6、在本实施例中，通过在固定件本体210上设置第一定位结构205和第二定位结构206，在第三电路板24上设置第一限位结构242和第二限位结构243，且第一定位结构205与第一限位结构242相配合，第二定位结构206与第二限位结构243相配合，进而通过第一定位结构205与第一限位结构242相配合可以限制第三电路板24与固定件本体210间第一方向的相对运动；通过第二定位结构206与第二限位结构243相配合可以限制第三电路板24与固定件本体210间第二方向的相对运动，且第一方向和第二方向相交，进而可以限制第三电路板24与固定件本体210的相对位置，即确定了第三电路板24在固定件本体210上的定位位置，便于后续对第三电路板24与固定件本体210的固定连接。

7、在本实施例中，通过设置第三电性连接件25设置为可拆卸电连接的爪冠针座251和爪冠针252，并通过爪冠针座251与第二电路板22可拆卸电连接，爪冠针252与第三电路板24可拆卸电连接，进而实现了第三电路板24和第二电路板22间的电路导通，进而提升了第三电性连接件25与第二电路板22的组装效率，从而提升了测试样品托架的装配机械化与流程化程度。

8、在本实施例中，第一悬臂件216和第二悬臂件217中的至少其一设置有导向结构218；导向结构218用于调整第一连接组件1与第二连接组件2固定连接出现的装配误差，提高了第一悬臂件216与第一电路板12配合间的冗余量，进而避免了第一悬臂件216与第一电路板12装配间的干涉现象，从而提升了第一连接组件1与第二连接组件2装配连接的效率。

9、在本实施例中，通过在第二固定件21上设置第一悬臂件216和第二悬臂件217，第一悬臂件216与第二悬臂件217之间形成第二容置开口215，并于将第二电性连接件23至少部分容置在第二容置开口215容置在第二容置开口215内，进而可以增加第二固定件21的空间利用率，符合测试样品托架的小型化和轻型化设计要求。

10、在本实施例中，通过在第二电路板22和第二电性连接件23上二者择一的设置有第二限位孔203，另一设置有第二限位凸起204，第二限位孔203与第二限位凸起204配合，进而实现了第二电性连接件23在第二电路板22上的可拆卸连接，从而提高了第二电性连接件23与第二电路板22拆装效率，进而便于根据使用要求对第二电性连接件23进行快速更换；又通过在第一电路板12和第一电性连接件13上二者择一的设置有第一限位孔117，另一设置有第一限位凸起118，第一限位孔117与第一限位凸起118配合，进而实现了第一电性连接件13在第一电路板12上的可拆卸连接，从而提高了第一电性连接件13与第一电路板12拆装效率，进而便于根据使用要求对第一电性连接件13进行快速更换。

11、在本实施例中，通过将连接部115与制冷设备10以“L型”连接方式固定连接，进而可以提升制冷设备10与第一固定件11间的接触面积，进而提升导冷效率，进而为待测样品的测试更为快速地提供所需的温度环境。

12、在本实施例中，制冷设备10还包括制冷装置、控制装置和温度感应装置，控制装置分别与制冷装置和温度感应装置通信连接，温度感应装置用于实时监测和显示制冷装置的导冷连接端的温度信息，并将监测到的温度信息发送至控制装置，控制装置能够响应接收到的温度信息，控制制冷装置执行制冷操作，进而使得导冷连接端的温度符合测试的环境温度要求，从而提高了对测试温度的控制精度，可以降低导冷连接端与待测样品之间的温度差，进而提高了对待测样品的测试效率，同时提高了对待测样品测试的准确性。

13、在本实施例中，通过将第一固定件11与第二固定件21采用导冷材质制成，进而可以提升冷源的传递效率和传递的有效性，从而减少了冷源在传递中的消耗，进而通过第二固定件21将冷源传递到待测样品，从而为待测样品的测试提供了所需的测试温度，进而避免了由于冷源与待测样品之间的温差造成的测试误差，保证了测试结果的有效性。

14、在本实施例中，通过在第一固定件11上设置第一让位部116，进而将第一电路板12固定在第一让位部116上；在第二固定件21上设置第二让位部201，进而将第二电路板22固定在第二让位部201上，进而可以提高第一固定件11与第二固定件21的空间利用率，符合测试样品托架的小型化的设计要求。

实施例一

请参考图1-14，本实施例中，可拆解的测试样品托架包括第一连接组件1，包括第一固定件11、第一电路板12和第一电性连接件13；第一电路板12与第一固定件11可拆卸固定连接，第一电性连接件13的第一端与第一电路板12可拆卸电连接；第二连接组件2，包括第二固定件21、第二电路板22和第二电性连接件23；第二电路板22与第二固定件21可拆卸固定连接，第二电性连接件23的第一端与第二电路板22可拆卸电连接；第一固定件11与第二固定件21可拆卸固定连接，第一电性连接件13的第二端与第二电性连接件23的第二端可拆卸电连接。

在本实施例中，以第一电路板12为第一PCB板、第一电性连接件13为弹簧针公双排、第二电路板22为第二PCB板，第二电性连接件233为弹簧针公双排为例进行说明。

请参考图1、图4和图8，可拆解的测试样品托架还包括制冷设备10，第一固定件11上设置有连接部115和切口101，连接部115和切口101分别抵接在制冷设备10的L型结构的导冷连接端的端面上，进而通过螺栓将制冷设备10与第一固定件11固定连接。

请参考图7，连接部115上设置有通线孔151，制冷设备10与外接电源电性连接，进而将从制冷设备10上引出的电线，通过通线孔151与第一PCB板电连接，进而为测试样品托架提供电源。

请参考图7，第一固定件11上设置有两个第一电路板固定孔113，在第一PCB板上设置有与第一电路板固定孔113相匹配的第一配合孔，通过螺栓依次贯穿第一电路板固定孔113和第一配合孔，将第一PCB板固定连接在第一固定件11上。

请参考图2、图9和图12，第一固定件11上还设置有第一容置开口114，弹簧针公双排至少部分容置在第一容置开口114；第二固定件21上设置有第一悬臂件216和第二悬臂件217，第一悬臂件216与第二悬臂件217之间形成第二容置开口215，弹簧针母双排至少部分容置在第二容置开口215。

请参考图6和图11，第一PCB板上设置有两个第一插接孔，在弹簧针公双排上设置有与第一插接孔插接的第一插接凸起，并且弹簧针公双排能够与第一PCB板上引脚电连接；在第二PCB板上设置有两个第二插接孔，在弹簧针母双排上设置有与第二插接孔插接的第二插接凸起，并且弹簧针母双排能够与第二PCB板上引脚电连接。

请参考图7、图8、图9和图13，第一固定件11上设置有第一台阶部111，第一台阶部111中包括由第一台阶面119和第一连接面120依次连接形成的第一台阶结构；第二固定件21上设置有与第一台阶部111相配合的第二台阶部211，第二台阶部211中包括由第二台阶面219和第二连接面220依次连接形成的第二台阶结构，具体地，第二台阶部211设置在第二固定件21的第一悬臂件216和第二悬臂件217上。

第一台阶部111与第二台阶部211间台阶式连接，即第一台阶面119与第二台阶面219贴合，第一连接面120与第二连接面220抵接，进而通过在第一固定件11设置四个第一固定孔112，在第一悬臂件216和第二悬臂件217上分别设置与第一固定孔112相配合的第二固定孔212，通过螺栓贯穿第一固定孔112和第二固定孔212，进而将第一固定件11固定连接在第二固定件21上。

第二固定件21上还包括有固定连接的样品承载部214和固定件本体210，且样品承载部214凸出设置于固定件本体210的一侧，样品承载部214用于承接待测样品，固定件本体210上还设置有第一定位凸起和第二定位凸起，第一定位凸起和第二定位凸起的定位方向相交布置。

请参考图9、图10和图14，第二连接组件2还包括第三PCB板，第三PCB板上设置有与样品承载部214性匹配的避让口241，第三PCB板上还设置有分别与第一定位凸起和第二定位凸起一一对应配合的第一限位凹槽和第二限位凹槽，进而通过第一限位凹槽与第一定位凸起相配合可以限制第三PCB板与固定件本体210间第一方向的相对运动，第二限位凹槽与第二定位凸起相配合限制第三PCB板与固定件本体210间第二方向的相对运动。

请参考图12和图14，在固定件本体210上可以设置有四个安装孔202，在第三PCB板上设置有与四个安装孔202一一对应配合的安装配合孔244，在第二PCB板上设置有与安装孔202相匹配的第二配合孔，进而通过螺栓依次贯穿安装配合孔244、安装孔202和第二PCB板固定孔，将第二PCB板、第三PCB板固定连接在固定件本体210上。

请参考图9和图14，可拆解的测试样品托架还包括可拆卸电连接的爪冠针座251和爪冠针252，在第二PCB板的两侧设置有两排连接引脚222，在第三PCB板上设置有与连接引脚222相匹配的配合引脚245，将爪冠针座251与连接引脚222可拆卸电连接，爪冠针252与配合引脚245可拆卸电连接，进而通过爪冠针座251和爪冠针252的电连接实现了第三PCB板和第二PCB板间电路的导通，且拆装方便。

进一步地，在第三PCB板上焊接有多路电线，通过电线与待测样品实现电连接，进而实现对待测样品的电学性能测试。

本申请实施例中可拆解的测试样品托架的装配过程如下：

首先，将弹簧针公双排焊接在第一PCB板上，将第一PCB板固定连接在第一固定件11上；将弹簧针母双排焊接在第二PCB板上。

然后，将爪冠针座251固定连接在第二PCB板的连接引脚222上，爪冠针252固定连接在第三PCB板的配合引脚245上，再将第三PCB板上的限位凹槽与第二固定件21的固定件本体210上的定位凸起对应配合，进而将第二固定件21上的样品承载台穿出第三PCB板上的避让口241；然后将爪冠针座251和爪冠针252配合连接后，通过螺栓将第二PCB板、第三PCB板固定连接在第二固定件21的两侧。

然后，将第三PCB板上焊接的多路电线与待测样品电连接。

最后，将制冷设备10的导冷连接端与第一固定件11固定连接，并将从制冷设备10上引出的电线，通过通线孔151与第一PCB板电连接，进而通过制冷设备10与外接电源电性连接，为测试样品托架提供电源，进而实现了对待测样品的电学性能测试。

本申请实施例中可拆解的测试样品托架的拆解过程如下：

在对待测样品进行更换时，首先解除第二固定件21与第一固定件11的固定连接，再解除弹簧针公双排与弹簧针母双排间的连接即可，此时连接有多路测试线路的第一连接组件1位置不动，进而避免了对第一PCB板上焊接的多路测试线路的重复解焊与再焊接操作，进而提高了待测样品的更换效率。

本申请中的各个实施例均采用递进的方式描述，各个实施例之间相同相似的部分互相参见即可，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处。

以上所述仅为本申请的较佳实施例，并不用以限制本申请，凡在本申请的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本申请的保护范围之内。

Claims (17)

1.一种可拆解的测试样品托架，其特征在于，包括：

第一连接组件(1)，包括第一固定件(11)、第一电路板(12)和第一电性连接件(13)；所述第一电路板(12)与所述第一固定件(11)可拆卸固定连接，所述第一电性连接件(13)的第一端与所述第一电路板(12)电连接；

第二连接组件(2)，包括第二固定件(21)、第二电路板(22)和第二电性连接件(23)；所述第二电路板(22)与所述第二固定件(21)可拆卸固定连接，所述第二电性连接件(23)的第一端与所述第二电路板(22)电连接；

所述第一固定件(11)与所述第二固定件(21)可拆卸固定连接，所述第一电性连接件(13)的第二端与所述第二电性连接件(23)的第二端可拆卸电连接。

2.根据权利要求1所述的可拆解的测试样品托架，其特征在于，所述第一固定件(11)与所述第二固定件(21)呈台阶式连接。

3.根据权利要求1所述的可拆解的测试样品托架，其特征在于，所述第二固定件(21)包括固定连接的样品承载部(214)和固定件本体(210)；

所述样品承载部(214)凸出设置于所述固定件本体(210)的一侧；

所述样品承载部(214)用于承载待测样品。

4.根据权利要求3所述的可拆解的测试样品托架，其特征在于，所述样品承载部(214)与所述固定件本体(210)为一体化结构。

5.根据权利要求3所述的可拆解的测试样品托架，其特征在于，所述第二连接组件(2)还包括第三电路板(24)，所述第三电路板(24)固定在所述固定件本体(210)上，所述第三电路板(24)与所述样品承载部(214)同侧，所述第三电路板(24)分别与所述第二电路板(22)和所述待测样品电连接。

6.根据权利要求5所述的可拆解的测试样品托架，其特征在于，所述第二连接组件(2)还包括第三电性连接件(25)，所述第三电性连接件(25)的第一端与所述第三电路板(24)电连接，所述第三电性连接件(25)的第二端与所述第二电路板(22)电连接。

7.根据权利要求6所述的可拆解的测试样品托架，其特征在于，所述第三电路板(24)上设置有避让口(241)，所述样品承载部(214)能够穿出所述避让口(241)。

8.根据权利要求5所述的可拆解的测试样品托架，其特征在于，所述固定件本体(210)上设置有定位部，所述第三电路板(24)上设置有与所述定位部相配合的限位部，通过所述定位部与所述限位部配合，限制所述第三电路板(24)与所述固定件本体(210)的相对位置。

9.根据权利要求8所述的可拆解的测试样品托架，其特征在于，所述定位部包括第一定位结构(205)和第二定位结构(206)；

所述第一定位结构(205)用于限制所述第三电路板(24)与所述固定件本体(210)间沿第一方向的相对运动；

所述第二定位结构(206)用于限制所述第三电路板(24)与所述固定件本体(210)间沿第二方向的相对运动；

所述第一方向和所述第二方向相交；

所述限位部包括第一限位结构(242)和第二限位结构(243)；

所述第一限位结构(242)与所述第一定位结构(205)相配合，所述第二限位结构(243)与所述第二定位结构(206)相配合。

10.根据权利要求1-9中任一项所述的可拆解的测试样品托架，其特征在于，所述第一固定件(11)上还设置有第一容置开口(114)，所述第一电性连接件(13)至少部分容置在所述第一容置开口(114)；

和/或，

所述第二固定件(21)上设置有第二容置开口(215)，所述第二电性连接件(23)至少部分容置在所述第二容置开口(215)。

11.根据权利要求10所述的可拆解的测试样品托架，其特征在于，所述第二固定件(21)上设置有第一悬臂件(216)和第二悬臂件(217)，所述第一悬臂件(216)与所述第二悬臂件(217)之间形成第二容置开口(215)；

所述第二固定件(21)通过所述第一悬臂件(216)和第二悬臂件(217)与所述第一固定件(11)可拆卸固定连接。

12.根据权利要求11所述的可拆解的测试样品托架，其特征在于，所述第一悬臂件(216)和所述第二悬臂件(217)中的至少其一设置有导向结构(218)。

13.根据权利要求1-9中任一项所述的可拆解的测试样品托架，其特征在于，所述第一电路板(12)和所述第一电性连接件(13)上二者择一的设置有第一限位孔(117)，另一设置有第一限位凸起(118)，所述第一限位孔(117)与所述第一限位凸起(118)配合；

和/或，

所述第二电路板(22)和所述第二电性连接件(23)上二者择一的设置有第二限位孔(203)，另一设置有第二限位凸起(204)，所述第二限位孔(203)与所述第二限位凸起(204)配合。

14.根据权利要求1-9中任一项所述的可拆解的测试样品托架，其特征在于，所述第一固定件(11)上还设置有第一让位部(116)，所述第一电路板(12)可拆卸固定连接在所述第一让位部(116)上；

和/或，

所述第二固定件(21)上还设置有第二让位部(201)，所述第二电路板(22)可拆卸固定连接在所述第二让位部(201)上。

15.一种低温测试样品托，其特征在于，包括制冷设备(10)以及如权利要求1-14中任一项所述的可拆解的测试样品托架，所述第一固定件(11)上设置有连接部(115)，所述连接部(115)与所述制冷设备(10)可拆卸固定连接。

16.根据权利要求15所述的低温测试样品托，其特征在于，所述第一固定件(11)和所述第二固定件(21)采用导冷材质制成。

17.根据权利要求15所述的低温测试样品托，其特征在于，所述制冷设备(10)包括导冷连接端，所述连接部(115)与所述导冷连接端呈L型连接。