CN220064186U - 一种双头测试探针 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种双头测试探针，包括固定管和调节单元；固定管：其左右端均滑动连接有测试针头；调节单元：包括转动筒、齿轮和齿条板，所述转动筒通过轴承转动连接于固定管的内弧面中部，转动筒的外弧面中部设有齿轮，测试针头的内侧面均设有齿条板，两个齿条板呈前后错位分布，两个齿条板均与齿轮啮合连接；其中：所述固定管的内弧面设有横向对称分布的导向杆，导向杆的外侧端头分别与同侧相邻的测试针头内侧面中部设置的滑孔滑动连接，该双头测试探针，能够根据不同规格大小的半导体、线路板进行实时调节，大大提高了双头测试探针的使用范围，确保双头测试探针调节时能够同时同幅度移动。

Description

一种双头测试探针

技术领域

本实用新型涉及半导体、线路板测试技术领域，具体为一种双头测试探针。

背景技术

由于半导体工艺的不断进步和电子产品的不断普及，双头测试探针已经成为了现代电子产业中必不可少的测试工具之一，它能够快速准确地检测电气性能，从而提高了电子产品的品质和工艺水平，双头测试探针是电子制造行业中广泛应用的一种测试工具，主要用于测试半导体芯片、线路板等电子产品的电气性能；

目前使用双头测试探针测试半导体和线路板时，将被测试的半导体或线路板放置在成像式测试仪器上，并通过双头测试探针对其进行测试，双头测试探针由两个金属探针组成，通过与被测对象的电极接触，能够读取其电气性能信息，如传导电阻、电容等；

虽然双头测试探针已经广泛应用于电子制造业，但仍然存在一些不足，例如，双头测试探针通常是通过螺纹连接的方式固定在探针安装筒上，在遇到不同规格大小的半导体或线路板时，需要工作人员根据实际情况更换不同长度的探针安装筒，操作较为繁琐，不够简便快捷。

实用新型内容

本实用新型要解决的技术问题是克服现有的缺陷，提供一种双头测试探针，能够根据不同规格大小的半导体、线路板进行实时调节，大大提高了双头测试探针的使用范围，确保双头测试探针调节时能够同时同幅度移动，可以有效解决背景技术中的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种双头测试探针，包括固定管和调节单元；

固定管：其左右端均滑动连接有测试针头；

调节单元：包括转动筒、齿轮和齿条板，所述转动筒通过轴承转动连接于固定管的内弧面中部，转动筒的外弧面中部设有齿轮，测试针头的内侧面均设有齿条板，两个齿条板呈前后错位分布，两个齿条板均与齿轮啮合连接，能够根据不同规格大小的半导体、线路板进行实时调节，大大提高了双头测试探针的使用范围，确保双头测试探针调节时能够同时同幅度移动。

进一步的，所述固定管的内弧面设有横向对称分布的导向杆，导向杆的外侧端头分别与同侧相邻的测试针头内侧面中部设置的滑孔滑动连接，对测试针头起到移动导向的作用。

进一步的，所述测试针头的外弧面均设有刻度线，实时观察测试针头调节的长度。

进一步的，所述转动筒上端面中部设置的矩形滑孔内滑动连接有滑动限位杆，固定管外弧面中部设置的开口处设有固定罩，滑动限位杆的上表面与固定罩的顶壁面配合设置，起到限制的作用。

进一步的，所述滑动限位杆的上表面设有环形均匀分布的凸台，凸台分别与固定罩顶壁面一一对应设置的限位槽配合设置，对齿轮、齿条板及其附属机构进行限位锁定。

进一步的，所述滑动限位杆下表面中部设置的凹槽顶壁面与滑动限位杆所在矩形滑孔的底壁面之间设有弹簧，起到弹性支撑的作用。

进一步的，所述滑动限位杆的上表面中部设有矩形开槽，方便工作人员进行快速操作。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：本双头测试探针，具有以下好处：

当需要测试不同规格大小的半导体、线路板时，相关工作人员选取与矩形开槽相匹配的平头螺丝刀，然后将平头螺丝刀批头与矩形开槽活动插接，并向下按压滑动限位杆，滑动限位杆克服弹簧的弹力并沿转动筒上端面中部设置的矩形滑孔向下移动，从而使凸台与固定罩顶壁面一一对应设置的限位槽分离，然后通过平头螺丝刀批头转动矩形开槽、滑动限位杆、凸台、转动筒和齿轮同步转动，齿轮转动的同时通过与之啮合连接的齿条板带动两个测试针头沿导向杆同时同幅度靠近，同理反向转动，则使得两个测试针头沿导向杆同时同幅度远离，与此同时通过刻度线实时观察测试针头调节的长度，直至两个测试针头之间的距离调节至与需要测试的不同规格大小的半导体、线路板相配后，相关工作人员停止转动滑动限位杆，并使得平头螺丝刀批头与矩形开槽分离，这时在弹簧回弹力的作用下顶动滑动限位杆和凸台沿转动筒上端面中部设置的矩形滑孔向上移复位，最终使得凸台与固定罩顶壁面一一对应设置的限位槽重新活动插接，以此对齿轮、齿条板及其附属机构进行限位，能够根据不同规格大小的半导体、线路板进行实时调节，大大提高了双头测试探针的使用范围，确保双头测试探针调节时能够同时同幅度移动。

附图说明

图1为本实用新型结构示意图；

图2为本实用新型调节单元的结构示意图；

图3为本实用新型A处放大结构示意图。

图中：1固定管、2测试针头、3调节单元、31转动筒、32齿轮、33齿条板、4导向杆、5刻度线、6滑动限位杆、7凸台、8固定罩、9弹簧。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

请参阅图1-3，本实施例提供一种技术方案：一种双头测试探针，包括固定管1和调节单元3；

固定管1：固定管1对其附属机构单元提供安装支撑场所，其左右端均滑动连接有测试针头2，测试针头2则对半导体、线路板起到测试的作用；

调节单元3：包括转动筒31、齿轮32和齿条板33，转动筒31通过轴承转动连接于固定管1的内弧面中部，转动筒31的外弧面中部设有齿轮32，测试针头2的内侧面均设有齿条板33，两个齿条板33呈前后错位分布，两个齿条板33均与齿轮32啮合连接，齿轮32转动的同时通过与之啮合连接的齿条板33带动两个测试针头2沿导向杆4同时同幅度靠近，同理反向转动，则使得两个测试针头2沿导向杆4同时同幅度远离，能够根据不同规格大小的半导体、线路板进行实时调节，大大提高了双头测试探针的使用范围，确保双头测试探针调节时能够同时同幅度移动。

其中：固定管1的内弧面设有横向对称分布的导向杆4，导向杆4的外侧端头分别与同侧相邻的测试针头2内侧面中部设置的滑孔滑动连接，两个测试针头2在移动时沿导向杆4同时同幅度移动，起到对测试针头2移动导向的作用。

其中：测试针头2的外弧面均设有刻度线5，通过刻度线5实时观察测试针头2调节的长度。

其中：转动筒31上端面中部设置的矩形滑孔内滑动连接有滑动限位杆6，固定管1外弧面中部设置的开口处设有固定罩8，滑动限位杆6的上表面与固定罩8的顶壁面配合设置，当需要测试不同规格大小的半导体、线路板时，相关工作人员向下按压滑动限位杆6，滑动限位杆6与固定罩8分离，调节完成之后，相关工作人员停止转动滑动限位杆6，滑动限位杆6与固定罩8重新截胡吃，以此对齿轮32及其附属机构进行限位，起到限制的作用。

其中：滑动限位杆6的上表面设有环形均匀分布的凸台7，凸台7分别与固定罩8顶壁面一一对应设置的限位槽配合设置，当需要测试不同规格大小的半导体、线路板时，向下按压滑动限位杆6，滑动限位杆6沿转动筒31上端面中部设置的矩形滑孔向下移动，从而使凸台7与固定罩8顶壁面一一对应设置的限位槽分离，调节完成之后，滑动限位杆6复位，使得凸台7与固定罩8顶壁面一一对应设置的限位槽重新活动插接，以此对齿轮32、齿条板33及其附属机构进行限位锁定。

其中：滑动限位杆6下表面中部设置的凹槽顶壁面与滑动限位杆6所在矩形滑孔的底壁面之间设有弹簧9，在弹簧9回弹力的作用下顶动滑动限位杆6和凸台7沿转动筒31上端面中部设置的矩形滑孔向上移复位，起到弹性支撑的作用。

其中：滑动限位杆6的上表面中部设有矩形开槽，当需要测试不同规格大小的半导体、线路板时，相关工作人员选取与矩形开槽相匹配的平头螺丝刀，然后将平头螺丝刀批头与矩形开槽活动插接，并向下按压滑动限位杆6，方便工作人员进行快速操作。

本实用新型提供的一种双头测试探针的工作原理如下：当需要测试不同规格大小的半导体、线路板时，相关工作人员选取与矩形开槽相匹配的平头螺丝刀，然后将平头螺丝刀批头与矩形开槽活动插接，并向下按压滑动限位杆6，滑动限位杆6克服弹簧9的弹力并沿转动筒31上端面中部设置的矩形滑孔向下移动，从而使凸台7与固定罩8顶壁面一一对应设置的限位槽分离，然后通过平头螺丝刀批头转动矩形开槽、滑动限位杆6、凸台7、转动筒31和齿轮32同步转动，齿轮32转动的同时通过与之啮合连接的齿条板33带动两个测试针头2沿导向杆4同时同幅度靠近，同理反向转动，则使得两个测试针头2沿导向杆4同时同幅度远离，与此同时通过刻度线5实时观察测试针头2调节的长度，直至两个两个测试针头2之间的距离调节至与需要测试的不同规格大小的半导体、线路板相配后，相关工作人员停止转动滑动限位杆6，并使得平头螺丝刀批头与矩形开槽分离，这时在弹簧9回弹力的作用下顶动滑动限位杆6和凸台7沿转动筒31上端面中部设置的矩形滑孔向上移复位，最终使得凸台7与固定罩8顶壁面一一对应设置的限位槽重新活动插接，以此对齿轮32、齿条板33及其附属机构进行限位，能够根据不同规格大小的半导体、线路板进行实时调节，大大提高了双头测试探针的使用范围，确保双头测试探针调节时能够同时同幅度移动。

以上所述仅为本实用新型的实施例，并非因此限制本实用新型的专利范围，凡是利用本实用新型说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其它相关的技术领域，均同理包括在本实用新型的专利保护范围内。

Claims (7)

1.一种双头测试探针，其特征在于：包括固定管(1)和调节单元(3)；

固定管(1)：其左右端均滑动连接有测试针头(2)；

调节单元(3)：包括转动筒(31)、齿轮(32)和齿条板(33)，所述转动筒(31)通过轴承转动连接于固定管(1)的内弧面中部，转动筒(31)的外弧面中部设有齿轮(32)，测试针头(2)的内侧面均设有齿条板(33)，两个齿条板(33)呈前后错位分布，两个齿条板(33)均与齿轮(32)啮合连接。

2.根据权利要求1所述的一种双头测试探针，其特征在于：所述固定管(1)的内弧面设有横向对称分布的导向杆(4)，导向杆(4)的外侧端头分别与同侧相邻的测试针头(2)内侧面中部设置的滑孔滑动连接。

3.根据权利要求1所述的一种双头测试探针，其特征在于：所述测试针头(2)的外弧面均设有刻度线(5)。

4.根据权利要求1所述的一种双头测试探针，其特征在于：所述转动筒(31)上端面中部设置的矩形滑孔内滑动连接有滑动限位杆(6)，固定管(1)外弧面中部设置的开口处设有固定罩(8)，滑动限位杆(6)的上表面与固定罩(8)的顶壁面配合设置。

5.根据权利要求4所述的一种双头测试探针，其特征在于：所述滑动限位杆(6)的上表面设有环形均匀分布的凸台(7)，凸台(7)分别与固定罩(8)顶壁面一一对应设置的限位槽配合设置。

6.根据权利要求4所述的一种双头测试探针，其特征在于：所述滑动限位杆(6)下表面中部设置的凹槽顶壁面与滑动限位杆(6)所在矩形滑孔的底壁面之间设有弹簧(9)。

7.根据权利要求4所述的一种双头测试探针，其特征在于：所述滑动限位杆(6)的上表面中部设有矩形开槽。