CN219957770U - 一种测试装置以及测试系统 - Google Patents

Abstract

本申请实施例涉及测试技术领域，尤其涉及一种测试装置以及测试系统。其中，测试装置包括电源控制模块和测试模块；电源控制模块的第一供电端与测试模块的电源端电连接；电源控制模块的信号检测端与测试模块的触发信号端电连接；测试模块接触待测试器件，测试模块的触发信号端为第一电位，电源控制模块的供电端向测试模块的电源端供电；测试模块未接触待测试器件，测试模块的触发信号端为第二电位，电源控制模块的供电端关闭向测试模块的电源端供电。本申请的技术方案，无需增加接地探针的高度即可解决测试探针接触到PCBA板的瞬间产生高压浪涌的问题。

Description

一种测试装置以及测试系统

技术领域

本申请实施例涉及测试技术领域，尤其涉及一种测试装置以及测试系统。

背景技术

在成品线路板(Printed Cirruit Board Assembly，PCBA)的板测过程中，测试夹具的供电电源一直处于供电状态。在PCBA板放入测试夹具时，测试探针接触到PCBA板的瞬间产生高压浪涌，从而可能烧坏PCBA板。

为了解决上述提到的技术问题，相关技术方案中通过增加接地探针的高度。在测试夹具下压时，接地探针比测试探针先接触PCBA板。然而，接地探针测试多次使用后容易下陷，同时也会氧化，因此接地探针需要频繁更换和维护。

实用新型内容

基于此，有必要针对上述技术问题，本申请提供了一种测试装置以及测试系统，无需增加接地探针的高度即可解决测试探针接触到PCBA板的瞬间产生高压浪涌的问题。

第一方面，本申请实施例提供了一种测试装置，包括：电源控制模块和测试模块；

所述电源控制模块的第一供电端与所述测试模块的电源端电连接；所述电源控制模块的信号检测端与所述测试模块的触发信号端电连接；

所述测试模块接触待测试器件，所述测试模块的触发信号端为第一电位，所述电源控制模块的第一供电端向所述测试模块的电源端供电；所述测试模块未接触待测试器件，所述测试模块的触发信号端为第二电位，所述电源控制模块的第一供电端关闭向所述测试模块的电源端供电。

在一些实施例中，所述测试模块包括测试单元、触发单元和按压单元；

所述测试单元包括测试探针；所述触发单元包括弹片开关，所述弹片开关包括第一端和第二端，所述弹片开关的第一端接地，所述弹片开关的第二端与所述触发信号端电连接；

所述按压单元被按压，所述测试探针接触待测试器件且所述弹片开关的第一端和第二端电连接；所述按压单元未被按压，弹片开关的第一端和第二端断开。

在一些实施例中，所述触发单元还包括第一电阻和第二电阻；

所述第一电阻的第一端与所述弹片开关的第二端电连接；所述第一电阻的第二端分别与所述触发信号端以及所述第二电阻的第一端电连接，所述第二电阻的第二端与所述电源控制模块的第二供电端电连接。

在一些实施例中，所述电源控制模块包括多个所述第一供电端；所述测试模块包括多个所述电源端；各所述第一供电端与各所述电源端一一对应电连接。

在一些实施例中，所述电源控制模块包括多个电源模块和多个开关单元；

各所述开关单元的输入端与各所述电源模块一一对应电连接；各所述开关单元的输出端与各所述第一供电端一一对应电连接；各所述开关单元的控制端均与所述信号检测端电连接。

在一些实施例中，所述开关单元包括晶体管。

在一些实施例中，所述测试模块还包括防静电单元；

所述电源端通过所述防静电单元与所述测试探针电连接。

第二方面，本申请实施例还提供了一种测试系统，包括如第一方面所述的测试装置。

在一些实施例中，所述的测试系统还包括主机设备；

所述主机设备包括第一串行通信接口，所述电源控制模块包括第二串行通信接口，所述主机设备通过所述第一串行通信接口以及所述第二串行通信接口与所述电源控制模块通信连接。

在一些实施例中，所述主机设备包括第一测试端口，所述测试模块包括第二测试端口，所述主机设备通过所述第一测试端口以及所述第二测试端口与所述测试模块通信连接。

本申请实施例提供的测试装置包括：电源控制模块和测试模块；电源控制模块的第一供电端与测试模块的电源端电连接；电源控制模块的信号检测端与测试模块的触发信号端电连接；测试模块接触待测试器件，测试模块的触发信号端为第一电位，电源控制模块的供电端向测试模块的电源端供电；测试模块未接触待测试器件，测试模块的触发信号端为第二电位，电源控制模块的供电端关闭向测试模块的电源端供电。由此，在需要测试待测试器件时，可控制电源控制模块的供电端向测试模块的电源端供电，以完成对待测试器件的测试；在不需要测试待测试器件时，可控制电源控制模块的供电端关闭向测试模块的电源端供电，由此可解决相关技术中测试模块的供电电源一直处于供电状态，当待测试PCBA板放入测试模块时，测试探针接触到PCBA板的瞬间产生高压浪涌，从而存在烧坏PCBA板的问题。本申请实施例提供的测试装置，无需增加接地探针的高度即可解决测试探针接触到PCBA板的瞬间产生高压浪涌的问题。

附图说明

此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一单元分，示出了符合本申请的实施例，并与说明书一起用于解释本申请的原理。

为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，对于本领域普通技术人员而言，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本申请实施例提供的一种测试装置的结构示意图；

图2为本申请实施例提供的另一种测试装置的结构示意图；

图3为本申请实施例提供的又一种测试装置的结构示意图；

图4为本申请实施例提供的一种测试系统的结构示意图。

具体实施方式

为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请进行进一步详细说明。应当理解，此处描述的具体实施例仅仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。

本申请实施例提供的测试装置，在需要测试待测试器件时，可控制电源控制模块的供电端向测试模块的电源端供电，以完成对待测试器件的测试；在不需要测试待测试器件时，可控制电源控制模块的供电端关闭向测试模块的电源端供电，由此可解决相关技术中测试模块的供电电源一直处于供电状态，当待测试PCBA板放入测试模块时，测试探针接触到PCBA板的瞬间产生高压浪涌，从而存在烧坏PCBA板的问题。本申请实施例提供的测试装置，无需增加接地探针的高度即可解决测试探针接触到PCBA板的瞬间产生高压浪涌的问题。

下面结合附图，对本申请实施例提供的测试装置以及测试系统进行示例性说明。

图1为本申请实施例提供的一种测试装置的结构示意图。如图1所示，该测试装置包括：电源控制模块11和测试模块12；电源控制模块11的第一供电端A与测试模块12的电源端B电连接；电源控制模块11的信号检测端C与测试模块12的触发信号端D电连接；测试模块12接触待测试器件，测试模块12的触发信号端D为第一电位，电源控制模块11的第一供电端A向测试模块12的电源端B供电；测试模块12未接触待测试器件，测试模块12的触发信号端D为第二电位，电源控制模块11的第一供电端A关闭向测试模块12的电源端B供电。

其中，电源控制模块11用于控制是否向测试模块12进行供电，测试模块12用于在电源控制模块11向测试模块12供电的情况下，测试待测试器件例如待测试PCBA板，从而判断待测试主板是否合格。示例性地，测试模块12可为测试夹具。

具体地，电源控制模块11包括信号检测端C，测试模块12包括触发信号端D，信号检测端C和触发信号端D电连接。当测试模块12测试待测试器件时，将待测试器件放置于测试模块12对应的测试部位，测试模块12的触发信号端D的电位为第一电位，进一步地，信号检测端C的电位也为第一电位，此时控制电源控制模块11的第一供电端A向测试模块12的电源端B供电，从而实现测试模块12测试待测试器件；当测试模块12未测试待测试器件时，测试模块12的触发信号端D的电位为第二电位，此时控制电源控制模块11的第一供电端A关闭向测试模块12的电源端B供电。

其中，若第一电位为高电平电位，则第二电位为低电平电位；若第一电位为低电平电位，则第二电位为高电平电位；本申请实施例在此不作具体限定。

由此，在需要测试待测试器件时，可控制电源控制模块11的第一供电端A向测试模块12的电源端B供电，以完成对待测试器件的测试；在不需要测试待测试器件时，可控制电源控制模块11的第一供电端A关闭向测试模块12的电源端B供电，由此可解决现有技术中测试模块12的供电电源一直处于供电状态，当待测试PCBA板放入测试模块12时，测试探针13接触到PCBA板的瞬间产生高压浪涌，从而存在烧坏PCBA板的问题。本申请实施例提供的测试装置，无需增加接地探针的高度即可解决测试探针接触到PCBA板的瞬间产生高压浪涌的问题。

本申请实施例提供的测试装置包括：电源控制模块和测试模块；电源控制模块的第一供电端与测试模块的电源端电连接；电源控制模块的信号检测端与测试模块的触发信号端电连接；测试模块接触待测试器件，测试模块的触发信号端为第一电位，电源控制模块的供电端向测试模块的电源端供电；测试模块未接触待测试器件，测试模块的触发信号端为第二电位，电源控制模块的供电端关闭向测试模块的电源端供电。由此，在需要测试待测试器件时，可控制电源控制模块的供电端向测试模块的电源端供电，以完成对待测试器件的测试；在不需要测试待测试器件时，可控制电源控制模块的供电端关闭向测试模块的电源端供电，由此可解决相关技术中测试模块的供电电源一直处于供电状态，当待测试PCBA板放入测试模块时，测试探针接触到PCBA板的瞬间产生高压浪涌，从而存在烧坏PCBA板的问题。本申请实施例提供的测试装置，无需增加接地探针的高度即可解决测试探针接触到PCBA板的瞬间产生高压浪涌的问题。

在一些实施例中，图2为本申请实施例提供的另一种测试装置的结构示意图。如图2所示，测试模块12包括测试单元13、触发单元14和按压单元15；测试单元13包括测试探针131；触发单元14包括弹片开关S，弹片开关S包括第一端E1和第二端E2，弹片开关S的第一端E1接地，弹片开关S的第二端E2与触发信号端D电连接；按压单元15被按压，测试探针131接触待测试器件且弹片开关S的第一端E1和第二端E2电连接；按压单元15未被按压，弹片开关S的第一端E1和第二端E2断开。

其中，测试单元13包括测试探针131，当待测试器件放置于测试模块12的待测试部位时，测试探针131与待测试器件接触，以实现检测待测试器件。其中，触发单元14包括弹片开关S，弹片开关S的第一端E1接地，弹片开关S的第二端E2与触发信号端D电连接。

具体地，将待测试器件放置于测试模块12的待测试部位，按压测试模块12的按压单元15，测试探针131可与待测试器件接触，且弹片开关S的第一端E1和第二端E2电连接，即弹片开关S闭合，此时触发信号端D通过弹片开关S接地，可得到触发信号端D的第一电位具体为低电平电位，进一步地，电源控制模块11可检测到信号检测端C的电位也为低电平电位，此时控制电源控制模块11的第一供电端A向测试模块12的电源端B供电，以实现测试模块12测试待测试器件。当未进行测试待测试器件时，无需按压测试模块12的按压单元15，此时弹片开关S的第一端E1和第二端E2断开。

在一些实施例中，继续参照图2，触发单元14还包括第一电阻R1和第二电阻R2；第一电阻R1的第一端F1与弹片开关S的第二端E2电连接；第一电阻R1的第二端F2分别与触发信号端D以及第二电阻R2的第一端G1电连接，第二电阻R2的第二端G2与电源控制模块11的第二供电端H电连接。

具体地，结合上文，当未测试待测试器件时，无需按压测试模块12的按压单元15，此时弹片开关S的第一端E1第二端E2断开，触发信号端D通过第二电阻R2与第二供电端H电连接，可得触发信号端D的电位为第二电位，具体为高电平电位，此时控制电源控制模块11的第一供电端A关闭向测试模块12的电源端B供电。

在一些实施例中，图3为本申请实施例提供的另一种测试装置10的结构示意图。如图3所示，电源控制模块11包括多个第一供电端A；测试模块12包括多个电源端B；各第一供电端A与各电源端B一一对应电连接。

具体地，图3示例性地示出了电源控制模块11包括两个第一供电端A，分别为第一供电端A1和第一供电端A2，第一测试模块12包括两个电源端B，分别为电源端B1和电源端B2。其中，第一供电端A1和电源端B1电连接，第一供电端A2和电源端B2电连接，即各第一供电端A与各电源端B一一对应电连接。

在一些实施例中，继续参照图3，电源控制模块11包括多个电源模块和多个开关单元；各开关单元的输入端与各电源模块一一对应电连接；各开关单元的输出端与各第一供电端A一一对应电连接；各开关单元的控制端均与信号检测端C电连接。

具体地，图3示例性地示出了电源控制模块包括两个电源模块和两个开关单元。其中，电源模块分别为第一电源模块16和第二电源模块17，开关单元分别为第一开关单元161和第二开关单元171。第一开关单元161的输入端M1与第一电源模块16电连接，第一开关单元161的输出端M2与第一供电端A1电连接，第一开关单元161的控制端M3与信号检测端C电连接；第二开关单元171的输入端N1与第二电源模块17电连接，第二开关单元171的输出端N2与第一供电端A2电连接，第二开关单元171的控制端N3与信号检测端C电连接。

由此，当信号检测端C的电位为第一电位例如为低电平电位时，第一开关单元161的控制端M3和第二开关单元171的控制端N3均接收到低电平电位，此时控制第一开关单元161和第二开关单元171均导通，进而向测试模块12进行供电，以实现对待测试器件的检测。当信号检测端C的电位为第二电位例如为高电平电位时，第一开关单元161的控制端M3和第二开关单元171的控制端N3均接收到高电平电位，此时控制第一开关单元161和第二开关单元171均断开，从而关闭向测试模块12进行供电。

需要说明的是，当测试模块12测试待测试器件时，第一电源模块16可向测试模块12的第一测试探针01提供VBUS电压，第二电源模块17可向测试模块12的第二测试探针02提供VBAT电压。其中，VBUS电压为第一电源模块16的VBUS引脚输出的5V电压，VBAT电压为第二电源模块17的VBAT引脚输出的4V电压。

在一些实施例中，开关单元包括晶体管。

具体地，参照图3，可将第一开关单元161设置为第一晶体管，以及将第二开关单元171设置为第二晶体管。由此，可通过第一晶体管控制第一电源模块16是否向测试模块12供电，以及通过第二晶体管控制第二电源模块17是否向测试模块12供电。

在一些实施例中，继续参照图3，测试模块12还包括防静电单元18；电源端B通过防静电单元18与测试探针131电连接。

其中，防静电单元18设置在测试模块12的电源端B和测试探针131之间，通过设置防静电单元18可避免由于静电对测试探针131造成损坏。具体地，由第一供电端A1输出到电源端B1的电压输入至防静电单元18，通过防静电单元18输出至第一测试探针01；由第一供电端B输出到电源端B2的电压输入至防静电单元18，通过防静电单元18输出至第二测试探针02。

在上述各申请实施例的基础上，本申请实施例还提供了一种测试系统。图4为本申请实施例提供的一种测试系统的结构示意图。如图4所示，测试系统20包括如上述各申请实施例所述的测试装置10，因此具有相同或相似的有益效果，在此不再赘述。

在一些实施例中，继续参照图4，测试系统20还包括主机设备19；主机设备19包括第一串行通信接口21，电源控制模块11包括第二串行通信接口211，主机设备19通过第一串行通信接口21以及第二串行通信接口211与电源控制模块11通信连接。

具体地，主机设备19可为电脑，主机设备19上设置有第一串行通信接口21，对应地电源控制模块11上设置有第二串行通信接口211，第一串行通信接口21和第二串行通信接口211通过例如串行数据线连接起来，从而可实现主机设备19和电源控制模块11之间的通信。示例性地，当对待测试器件进行测试时，在主机设备19上开启测试软件，该开启测试信息可传输至电源控制模块11，电源控制模块11基于开启测试信息，开始检测信号检测端C的电位。

在一些实施例中，继续参照图4，主机设备19包括第一测试端口22，测试模块12包括第二测试端口222，主机设备19通过第一测试端口22以及第二测试端口222与测试模块12通信连接。

具体地，主机设备19上设置有第一测试端口22，对应地测试模块12上设置有第二测试端口222，第一测试端口22和第二测试端口222通过例如数据线连接起来，从而实现主机设备19和测试模块12之间的通信。示例性地，当测试模块12测试待测试器件时，测试模块12测试到的数据信息可传输至主机设备19并存储在主机设备19中，以便于测试人员查看测试数据，并通过测试数据判断待测试器件是否合格。

需要说明的是，在本文中，诸如“第一”和“第二”等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。

以上仅是本申请的具体实施方式，使本领域技术人员能够理解或实现本申请。对这些实施例的多种修改对本领域的技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本申请的精神或范围的情况下，在其它实施例中实现。因此，本申请将不会被限制于本文的这些实施例，而是要符合与本文所申请的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。

Claims (10)

1.一种测试装置，其特征在于，包括：电源控制模块和测试模块；

所述电源控制模块的第一供电端与所述测试模块的电源端电连接；所述电源控制模块的信号检测端与所述测试模块的触发信号端电连接；

所述测试模块接触待测试器件，所述测试模块的触发信号端为第一电位，所述电源控制模块的第一供电端向所述测试模块的电源端供电；所述测试模块未接触待测试器件，所述测试模块的触发信号端为第二电位，所述电源控制模块的第一供电端关闭向所述测试模块的电源端供电。

2.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述测试模块包括测试单元、触发单元和按压单元；

所述测试单元包括测试探针；所述触发单元包括弹片开关，所述弹片开关包括第一端和第二端，所述弹片开关的第一端接地，所述弹片开关的第二端与所述触发信号端电连接；

所述按压单元被按压，所述测试探针接触待测试器件且所述弹片开关的第一端和第二端电连接；所述按压单元未被按压，所述弹片开关的第一端和第二端断开。

3.根据权利要求2所述的测试装置，其特征在于，所述触发单元还包括第一电阻和第二电阻；

所述第一电阻的第一端与所述弹片开关的第二端电连接；所述第一电阻的第二端分别与所述触发信号端以及所述第二电阻的第一端电连接，所述第二电阻的第二端与所述电源控制模块的第二供电端电连接。

4.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述电源控制模块包括多个所述第一供电端；所述测试模块包括多个所述电源端；各所述第一供电端与各所述电源端一一对应电连接。

5.根据权利要求4所述的测试装置，其特征在于，所述电源控制模块包括多个电源模块和多个开关单元；

各所述开关单元的输入端与各所述电源模块一一对应电连接，各所述开关单元的输出端与各所述第一供电端一一对应电连接，各所述开关单元的控制端均与所述信号检测端电连接。

6.根据权利要求5所述的测试装置，其特征在于，所述开关单元包括晶体管。

7.根据权利要求2所述的测试装置，其特征在于，所述测试模块还包括防静电单元；

所述电源端通过所述防静电单元与所述测试探针电连接。

8.一种测试系统，其特征在于，包括如权利要求1-7任一项所述的测试装置。

9.根据权利要求8所述的测试系统，其特征在于，还包括主机设备；

所述主机设备包括第一串行通信接口，所述电源控制模块包括第二串行通信接口，所述主机设备通过所述第一串行通信接口以及所述第二串行通信接口与所述电源控制模块通信连接。

10.根据权利要求9所述的测试系统，其特征在于，所述主机设备包括第一测试端口，所述测试模块包括第二测试端口，所述主机设备通过所述第一测试端口以及所述第二测试端口与所述测试模块通信连接。