CN219936024U - 键盘板矩阵测试治具 - Google Patents

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闫德山
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Chongqing Simte Technology Co ltd
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Chongqing Simte Technology Co ltd
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Abstract

本实用新型公开了一种键盘板矩阵测试治具,包括测试底座,在所述测试底座上设置有测试载板,在所述测试载板后方的测试底座上固定有支撑板,在所述支撑板的前侧设置有升降组件,所述升降组件的下端固定有针板,该针板位于所述测试载板的正上方,在所述针板上设置有压紧柱、第一探针组与第二探针组,其中压紧柱分设于针板的左右两侧,在两侧压紧柱之间设置所述第一探针组与第二探针组。其显著效果是:通过本治具对待测键盘板进行性能检测,既减少了人力成本,提高了测试效率,又能够确保测试结果的可靠性。

Description

键盘板矩阵测试治具
技术领域
本实用新型涉及到电脑配件技术领域,具体涉及一种键盘板矩阵测试治具。
背景技术
功能测试治具在产品制造生命周期不同阶段均有应用,首先是工程开发阶段,在生产验证前确认新产品功能;然后在生产中也是必须的,作为整个流程的一部分,通过测试降低缺陷发现的成本。
目前,键盘板功能测试通常是将电源与键盘板连接,通电并进行测试。在现有的键盘导光板性能测试中,均采用人工来完成,即工人用模拟探针等工具对键盘板进行检测,测试无异常的键盘板方可出厂投入使用,该过程耗时耗力,效率较低,增加了人力成本,不利于大规模、批量化生产,且测试的结果可靠性不高。
发明内容
针对现有技术的不足,本实用新型的目的是提供一种键盘板矩阵测试治具,能够对电脑键盘板进行高效率高可靠性的功能测试。
为达到上述目的,本实用新型采用的技术方案如下:
一种键盘板矩阵测试治具,其关键在于:包括测试底座,在所述测试底座上设置有测试载板,在所述测试载板后方的测试底座上固定有支撑板,在所述支撑板的前侧设置有升降组件,所述升降组件的下端固定有针板,该针板位于所述测试载板的正上方,在所述针板上设置有压紧柱、第一探针组与第二探针组,其中压紧柱分设于针板的左右两侧,在两侧压紧柱之间设置所述第一探针组与第二探针组;
所述测试载板包括板体,在所述板体的中心开设有载物槽,在所述载物槽的四个顶角均设置有弧形的排气口,在所述载物槽的前侧设置有两个磁吸定位柱,在所述载物槽的左侧设置有第一避让凹槽,在所述载物槽的右侧边缘形成有第二避让凹槽,且该第二避让凹槽延伸至所述载物槽右侧的板体上表面。
进一步的,在所述板体的前后两侧还开设有与所述载物槽相连通的取件槽。
进一步的,所述取件槽的深度大于所述载物槽。
进一步的,在所述载物槽的右前侧还设置有第三避让凹槽,右侧的磁吸定位柱设于该第三避让凹槽内。
进一步的,所述升降组件包括固定座、手柄、铰接件以及滑动杆,所述固定座与所述支撑板板固定连接,所述固定座的上部与所述手柄铰接,该手柄还通过所述铰接件与所述滑动杆的上端铰接,所述滑动杆的下端与所述针板固定连接,所述滑动杆还限位于固定座下部形成的滑套中。
进一步的,所述测试底座设置有用于方便搬运的插手槽和用于打开所述测试底座内部结构的搭扣锁。
进一步的,在所述测试载板与支撑板之间的测试底座上还设置有两根导向杆,两根导向杆的上部滑动限位于所述针板上固定的导向套内。
本实用新型的显著效果是:结构简单,操作方便,通过本治具对待测键盘板进行功能检测,既减少了人力成本,提高了测试效率,又能够确保测试结果的可靠性。
附图说明
图1是本实用新型的结构示意图;
图2是本实用新型的左视图;
图3是测试载板的结构示意图。
具体实施方式
下面结合附图对本实用新型的具体实施方式以及工作原理作进一步详细说明。
如图1-图2所示,一种键盘板矩阵测试治具,包括测试底座1,在所述测试底座1上设置有测试载板2,在所述测试载板2后方的测试底座1上固定有支撑板3,在所述支撑板3的前侧设置有升降组件4,所述升降组件4的下端固定有针板5,该针板5位于所述测试载板2的正上方,在所述针板5上设置有压紧柱6、第一探针组7与第二探针组8,其中压紧柱6分设于针板5的左右两侧,在两侧压紧柱6之间设置所述第一探针组7与第二探针组8,所述第一探针组7位于第二探针组8的左侧,在所述测试载板2前侧的测试底座1上还设置有测试状态指示灯组13。
参见附图2,所述升降组件4包括固定座41、手柄42、铰接件43以及滑动杆44,所述固定座41与所述支撑板3板固定连接,所述固定座41的上部与所述手柄42铰接,该手柄42还通过所述铰接件43与所述滑动杆44的上端铰接,所述滑动杆44的下端与所述针板5固定连接,所述滑动杆44还限位于固定座下部形成的滑套45中。
进一步的,所述固定座41呈C字形结构,该C字形结构中部与所述支撑板3固定连接,所述手柄42与滑套45分设于所述C字形结构的两端。
进一步的,所述测试底座1设置有用于方便搬运的插手槽9和用于打开所述测试底座1内部结构的搭扣锁10。
进一步的,在所述测试载板2与支撑板3之间的测试底座1上还设置有两根导向杆11,两根导向杆11的上部滑动限位于所述针板5上固定的导向套12内。
参见附图3,所述测试载板2包括板体21,在所述板体21的中心开设有载物槽22,在所述载物槽22的四个顶角均设置有弧形的排气口23,在所述载物槽22的前侧设置有两个磁吸定位柱24,在所述载物槽22的左侧设置有第一避让凹槽25,在所述载物槽22的右侧边缘形成有第二避让凹槽26,且该第二避让凹槽26延伸至所述载物槽22右侧的板体21上表面,在所述载物槽22的右前侧还设置有第三避让凹槽27,右侧的磁吸定位柱24设于该第三避让凹槽27内。
设置的排气口可以避免键盘板与载物槽22形成负压,从而避免键盘板测试后无法取出的缺陷;设置的磁吸定位柱24相较于传统的定位方式更灵活、快捷;设置的第一避让凹槽25、第二避让凹槽26、第三避让凹槽27以对键盘板上突出的电器元件进行让位。
从图3还可以看出,在所述板体21的前后两侧还开设有与所述载物槽22相连通的取件槽28,以便于加快取放键盘板的过程。
进一步的,所述取件槽28的深度大于所述载物槽22,以更方便的进行取放键盘板。
本实施例在进行功能测试时,首先将待测试键盘板放置于所述测试载板2的载物槽22内,并通过磁吸定位柱24进行定位,之后通过升降组件4驱动针板5下沉,带动压紧柱6、第一探针组7与第二探针组8向下运动,直至与待测试键盘板接触,此后压紧柱6压紧固定待测试键盘板,第一探针组7、第二探针组8与待测试键盘板上的待测点位接触,从而通过多个探针一次性对待测试键盘板的多个功能进行一次性测试,相较于传统技术,有效提高了测试效率,同时还能够确保测试结果的可靠性。
以上对本实用新型所提供的技术方案进行了详细介绍。本文中应用了具体个例对本实用新型的原理及实施方式进行了阐述,以上实施例的说明只是用于帮助理解本实用新型的方法及其核心思想。应当指出,对于本技术领域的普通技术人员来说,在不脱离本实用新型原理的前提下,还可以对本实用新型进行若干改进和修饰,这些改进和修饰也落入本实用新型权利要求的保护范围内。

Claims (7)

1.一种键盘板矩阵测试治具,其特征在于:包括测试底座,在所述测试底座上设置有测试载板,在所述测试载板后方的测试底座上固定有支撑板,在所述支撑板的前侧设置有升降组件,所述升降组件的下端固定有针板,该针板位于所述测试载板的正上方,在所述针板上设置有压紧柱、第一探针组与第二探针组,其中压紧柱分设于针板的左右两侧,在两侧压紧柱之间设置所述第一探针组与第二探针组;
所述测试载板包括板体,在所述板体的中心开设有载物槽,在所述载物槽的四个顶角均设置有弧形的排气口,在所述载物槽的前侧设置有两个磁吸定位柱,在所述载物槽的左侧设置有第一避让凹槽,在所述载物槽的右侧边缘形成有第二避让凹槽,且该第二避让凹槽延伸至所述载物槽右侧的板体上表面。
2.根据权利要求1所述的键盘板矩阵测试治具,其特征在于:在所述板体的前后两侧还开设有与所述载物槽相连通的取件槽。
3.根据权利要求2所述的键盘板矩阵测试治具,其特征在于:所述取件槽的深度大于所述载物槽。
4.根据权利要求1所述的键盘板矩阵测试治具,其特征在于:在所述载物槽的右前侧还设置有第三避让凹槽,右侧的磁吸定位柱设于该第三避让凹槽内。
5.根据权利要求1所述的键盘板矩阵测试治具,其特征在于:所述升降组件包括固定座、手柄、铰接件以及滑动杆,所述固定座与所述支撑板板固定连接,所述固定座的上部与所述手柄铰接,该手柄还通过所述铰接件与所述滑动杆的上端铰接,所述滑动杆的下端与所述针板固定连接,所述滑动杆还限位于固定座下部形成的滑套中。
6.根据权利要求1所述的键盘板矩阵测试治具,其特征在于:所述测试底座设置有用于方便搬运的插手槽和用于打开所述测试底座内部结构的搭扣锁。
7.根据权利要求1所述的键盘板矩阵测试治具,其特征在于:在所述测试载板与支撑板之间的测试底座上还设置有两根导向杆,两根导向杆的上部滑动限位于所述针板上固定的导向套内。
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