CN219915843U - 一种新型ic测试板锁紧机构 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及一种新型IC测试板锁紧机构，包括装配于IC测试板上的框架结构，所述框架结构相对的两侧倾斜地设置有第一限位导轨、装配于测试头上的锁紧模块与面板，所述锁紧模块设置有驱动机构，所述驱动机构设置有至少两组数量相等的第一滑块，两组所述第一滑块用于做相向运动或相离运动并与所述第一限位导轨对应配合。本实用新型提供的一种新型IC测试板锁紧机构，便于拆卸，可用于IC测试板1与测试头3的连接锁紧，并消除锁紧动作对IC测试板1产生的水平分力，有利于提高IC测试板1与测试头3对接锁紧时的精度与稳定性。

Description

一种新型IC测试板锁紧机构

技术领域

本实用新型涉及集成电路测试技术领域，特别是涉及一种新型IC测试板锁紧机构。

背景技术

集成电路自动测试系统(ATE，Automatic Test Equipment)的测试头与受测设备(DUT，Device Under Test)之间的通信，需要通过IC测试板作为媒介。其中，通常使用插针插孔连接器等电连接装置对测试头和IC测试板进行电连接。随着测试需求的不断提高，测试头与IC测试板之间的电连接装置数量也不断增多，连接时所需要的锁紧力达到了数千牛，需要使用专用机构进行锁紧。

现有的集成电路自动测试系统中，通常使用能将水平运动转化为垂直运动的斜楔机构来完成IC测试板的下压锁紧。但是，斜楔机构动作时，对IC测试板不仅会产生垂直的锁紧力，还会产生一个有害的水平分力，降低锁紧时的精度。所述水平分力通常由定位柱抵消，而定位柱受外力，不仅容易松动，降低定位精度，受力超过强度极限时，甚至会断裂。因此，亟需设计一种新型IC测试板锁紧机构来解决以上问题。

实用新型内容

本实用新型提供一种新型IC测试板锁紧机构，能够解决现有技术中IC测试板与测试头连接锁紧时锁紧机构会对IC测试板产生水平分力的问题。

测试头与IC测试板上设置有电连接装置，一种新型IC测试板锁紧机构包括：装配于IC测试板上的框架结构，所述框架结构相对的两侧倾斜地设置有第一限位导轨、装配于测试头上的锁紧模块与面板，所述锁紧模块设置有驱动机构，所述驱动机构设置有至少两组数量相等的第一滑块，两组所述第一滑块用于做相向运动或相离运动并与所述第一限位导轨对应配合。

进一步地，所述框架结构上设置有定位孔，所述面板上设置有对应的定位柱。

进一步地，所述锁紧模块呈“回”字型，所述面板居中设置于所述锁紧模块中间开口，所述锁紧模块和所述面板都是独立地、可拆卸地装配于测试头上。

进一步地，所述驱动机构包括：正反牙丝杆、活动板，所述活动板设置有丝杆螺母，用于啮合于所述正反牙丝杆左旋螺纹段或右旋螺纹段上，所述活动板具有垂直部，所述第一滑块水平地设置于所述垂直部上；

所述锁紧模块水平地设置有第二滑块，所述垂直部上水平地设置有第二限位导轨，所述第二滑块与所述第二限位导轨对应配合。

进一步地，所述第一滑块为第一凸轮从动轴承，所述第二滑块为第二凸轮从动轴承。

进一步地，所述正反牙丝杆设置有轴承，装配于所述锁紧模块，所述正反牙丝杆端部设置有把手，用于驱动所述正反牙丝杆旋转。

进一步地，所述锁紧模块两侧相对地设置有两组所述驱动机构，两组所述驱动机构通过联动机构以实现同步运动。

进一步地，所述联动机构为同步带机构。

进一步地，所述框架结构两侧相对设置有把手。

进一步地，所述锁紧模块两侧相对设置有把手。

本实用新型技术方案的其他特征和优点将在后续的说明与附图中加以阐述。

附图说明

图1本实用新型的IC测试板锁紧机构一实施例的框架结构的示意图；

图2本实用新型的IC测试板锁紧机构一实施例的锁紧模块和面板的结构示意图；

图3本实用新型的IC测试板锁紧机构一实施例的锁紧模块内部结构示意图，其中移除了上壳；

图4本实用新型的IC测试板锁紧机构一实施例的驱动机构结构示意图；

图5本实用新型的IC测试板锁紧机构一实施例的驱动机构未动作前示意图；

图6为本实用新型的IC测试板锁紧机构一实施例的驱动机构动作后示意图；

附图中，各标号所代表的部件列表如下：

1、IC测试板；11、第一电连接装置；2、框架结构；21、加强筋板；22、定位孔；23、外框架；231、第一限位导轨；231a、下开口部；231b、上开口部；231c、倾斜部；24、框架把手；3、测试头；31、第二电连接装置；4、面板；41、定位柱；5、锁紧模块；51、基座；511、基座侧板；512、基座底板；52、驱动机构；521、正反牙丝杆；522、丝杆螺母；523、活动板；524、第一凸轮从动轴承；525、第二凸轮从动轴承；526、轴承；527、第二限位导轨；528、手柄轮；53、同步带机构；54、锁紧模块把手；H、锁紧行程。

具体实施方式

为使本申请实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

本申请的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”、“第三”、“第四”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本申请的实施例能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。

应当理解，在本申请中，“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。

应当理解，在本申请中，“多个”是指两个或两个以上。“和/或”仅仅是一种描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，和/或B，可以表示：单独存在A，同时存在A和B，单独存在B这三种情况。字符“/”一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。“包含A、B和C”、“包含A、B、C”是指A、B、C三者都包含，“包含A、B或C”是指包含A、B、C三者之一，“包含A、B和/或C”是指包含A、B、C三者中任1个或任2个或3个。

应当理解，在本申请中，“与A对应的B”、“与A相对应的B”、“A与B相对应”或者“B与A相对应”，表示B与A相关联，根据A可以确定B。根据A确定B并不意味着仅仅根据A确定B，还可以根据A和/或其他信息确定B。A与B的匹配，是A与B的相似度大于或等于预设的阈值。取决于语境，如在此所使用的“若”可以被解释成为“在……时”或“当……时”或“响应于确定”或“响应于检测”。

在一实施例中，请参阅图1至图6所示，本实施例提供一种新型IC测试板锁紧机构，用于IC测试板1与测试头3的连接锁紧，IC测试板1下方设置有第一电连接装置11，测试头3上设置有第二电连接装置31。本实施例中，电连接装置为插针插孔式连接器。

本实施例所述的新型IC测试板锁紧机构包括框架结构2，框架结构2装配于IC测试板1上，框架结构2包括加强筋板21，加强筋板21设置于IC测试板1下方，开有可供第一电连接装置11穿过的通孔。本实施例中，加强筋板21的材质为金属，与IC测试板1通过螺钉固定连接，可减少IC测试板1在下压锁紧过程中的受力变形；框架结构2还包括外框架23，外框架23装配于加强筋板21周圈上，进一步提高加强筋板21的强度。当然，加强筋板21与外框架23也可以设置成一体的，其不以本实施例中描述为限制。

本实施例中，框架结构2还包括框架把手24，框架把手24相对设置于框架结构2两侧，方便对框架结构2进行操作。

本实施例所述的新型IC测试板锁紧机构还包括面板4，面板4通过测试头3上的定位柱(未图示)定位并装配于测试头3上，面板4上开有可供第二电连接装置31穿过的通孔。面板4上设置有多个定位柱41，加强筋板21上设置有多个与定位柱41相对应的定位孔22，当框架结构2锁紧在面板4上时，定位柱41将插入定位孔22内，使IC测试板1与测试头3上的电连接装置对齐触点。

本实施例所述的新型IC测试板锁紧机构还包括锁紧模块5，锁紧模块5呈“回”字型，装配于测试头3上，面板4居中设置于锁紧模块5中间开口，锁紧模块5和面板4都是独立地、可拆卸地装配于测试头3上，拆卸时互不影响，可提高拆卸效率。锁紧模块5包括基座51、驱动机构52与锁紧模块把手54，基座51作为锁紧模块5的载体，包括基座侧板511与基座底板512；锁紧模块把手54相对地设置于锁紧模块5相对的两侧，方便对锁紧模块5进行操作。

驱动机构52包括正反牙丝杆521与活动板523，正反牙丝杆521一端为左旋螺纹，另一端为右旋螺纹，正反牙丝杆521两端通过轴承526装配于基座侧板511上；两个活动板523，分别设置于正反牙丝杆521的左旋螺纹段和右旋螺纹段上，活动板523上设置有丝杆螺母522，丝杆螺母522与正反牙丝杆521啮合连接，可以理解的是，丝杆螺母522具有与啮合的正反牙丝杆521螺纹段相匹配的螺纹，当转动正反牙丝杆521时，能够驱动两个活动板523。

活动板523上还具有垂直部，所述垂直部上水平地设置有第二限位导轨527，基座底板512上水平地设置有第二滑块，所述第二滑块与第二限位导轨527对应配合，对活动板523起到导向作用，当转动正反牙丝杆521时，两个活动板523将沿第二限位导轨527轨迹方向做相向运动或相离运动。

本实施例中，所述第二滑块为第二凸轮从动轴承525，可在第二限位导轨527上相对滑动时，同时滚动，减少摩擦阻力；第二限位导轨527可以为装配于活动板523的机构，或者设置于活动板523上的槽，或通槽。第二限位导轨527的长度可对应于驱动机构52的驱动行程，避免驱动行程过度导致电连接装置下压过度。

本实施例中，两组驱动机构52相对地设置于锁紧模块5两侧，两组驱动机构52通过联动机构连接正反牙丝杆521，转动其中一正反牙丝杆521时，所述联动机构使另一正反牙丝杆521同向且同步转动。

本实施例中，所述联动机构为同步带机构53，正反牙丝杆521上设置有同步轮，同步带啮合于所述同步轮上以连接两正反牙丝杆521。

本实施例中，框架结构2相对的两侧还倾斜地设置有第一限位导轨231，第一限位导轨231关于框架结构2的X、Y方向上的中心面都是镜像对称的，第一限位导轨231具有下开口部231a、上开口部231b与倾斜部231c。

本实施例中，活动板523所述垂直部上还水平地设置有第一滑块，每个活动板523上的所述第一滑块数量相等，当转动正反牙丝杆521时，两组数量相等的所述第一滑块将沿第二限位导轨527轨迹方向做相向运动或相离运动。所述第一滑块与第一限位导轨231对应配合。

本实施例中，所述第一滑块为第一凸轮从动轴承524，有利于减少在滑动过程中的摩擦阻力；第一限位导轨231可以为装配于框架结构2的机构，或者设置于框架结构2上的槽，或通槽。第一凸轮从动轴承524从第一限位导轨231的下开口部231a进入，随着正反牙丝杆521的转动，第一凸轮从动轴承524通过倾斜部231c，使框架结构2下压。第一凸轮从动轴承524与第一限位导轨231在水平方向上可以对框架结构2起到限位作用，使施加在IC测试板1上的下压力均匀分布，避免下压过程中IC测试板1出现偏斜，导致电连接装置触点无法对准。第一限位导轨231的倾斜部231c在垂直方向上的高度可以对应于IC测试板1的下压锁紧行程H，从而避免电连接装置下压过度。

每个第一凸轮从动轴承524通过其扣卡的倾斜部231c时，会对框架结构2产生垂直方向的下压锁紧力和水平分力，可以理解地，所述水平分力的方向与产生该水平分力的第一凸轮从动轴承524的运动方向相同，在锁紧模块5中，具有两组数量相等的、沿第二限位导轨527轨迹方向做相向运动或相离运动的第一凸轮从动轴承524，因此两组第一凸轮从动轴承524对框架结构2产生的水平分力是等大且反向的，即水平分力之间是互相抵消的，所以本实施例所述的新型IC测试板锁紧机构动作时，消除了对IC测试板1产生的水平分力，有利于提高IC测试板1与测试头3对接锁紧时的精度与稳定性。

本实施例中，为了便于转动正反牙丝杆521，正反牙丝杆521端部至少设置有一个手柄轮528。

本实施例所述的新型IC测试板锁紧机构的工作原理为：

首先将定位孔22手动对准放入定位柱41，使第一电连接装置11与第二电连接装置31触点对齐，同时，第一凸轮从动轴承524将从下开口部231a进入第一限位导轨231，接着，通过手柄轮528转动正反牙丝杆521，正反牙丝杆521通过同步带机构使另一正反牙丝杆521同向且同步转动，正反牙丝杆521的转动，将通过活动板523带动第一凸轮从动轴承524运动，通过第一凸轮从动轴承524与第一限位导轨231的配合，带动框架结构2与IC测试板1向下移动锁紧行程H至终点，第一电连接装置11与第二电连接装置31触点相触而达成电连接状态，从而完成IC测试板1与测试头3的对接锁紧。

其中，正反牙丝杆521还可具有自锁功能，使IC测试板1的对接锁紧状态更加稳定。

当需要分离IC测试板1时，反向转动手柄轮528即可将IC测试板1从测试头3上分离。

本实施例中，在锁紧IC测试板1后，第一凸轮从动轴承524可从上开口部231b移动出第一限位导轨231，由于插针插孔式连接器对接之后会有保持力，因此锁紧模块5可以再单独地从测试头3上拆卸下来而不影响IC测试板1的对接锁紧状态。

本实施例所述的新型IC测试板锁紧机构的有益效果为：一种新型IC测试板锁紧机构，便于拆卸，可用于IC测试板1与测试头3的连接锁紧，并消除锁紧动作对IC测试板1产生的水平分力，有利于提高IC测试板1与测试头3对接锁紧时的精度与稳定性。

值得注意的是，除非另有直接说明，否则本说明书(包含任何所附权利要求、摘要和附图)中所揭示的所有特征皆可由用于达到相同、等效或类似目的的可替代特征来替换。因此，除非另有明确说明，否则所申请的每一个特征仅是一组等效或类似特征的一个示例。在使用到的情况下，进一步地、较优地、更进一步地和更优地是在前述实施例基础上进行另一实施例阐述的简单起头，该进一步地、较优地、更进一步地或更优地后带的内容与前述实施例的结合作为另一实施例的完整构成。在同一实施例后带的若干个进一步地、较优地、更进一步地或更优地设置之间可任意组合的组成又一实施例。

本领域的技术人员应理解，上述描述及附图中所示的本实用新型的实施例只作为举例而并不限制本实用新型。本实用新型的目的已经完整并有效地实现。本实用新型的功能及结构原理已在实施例中展示和说明，在没有背离所述原理下，本实用新型的实施方式可以有任何变形或修改。

最后应说明的是：以上各实施例仅用以说明本申请的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述各实施例对本申请进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本申请各实施例技术方案的范围。

Claims (10)

1.一种新型IC测试板锁紧机构，其特征在于，包括：装配于IC测试板上的框架结构，所述框架结构相对的两侧倾斜地设置有第一限位导轨、装配于测试头上的锁紧模块与面板，所述锁紧模块设置有驱动机构，所述驱动机构设置有至少两组数量相等的第一滑块，两组所述第一滑块用于做相向运动或相离运动并与所述第一限位导轨对应配合。

2.根据权利要求1所述的新型IC测试板锁紧机构，其特征在于，所述框架结构上设置有定位孔，所述面板上设置有对应的定位柱。

3.根据权利要求1所述的新型IC测试板锁紧机构，其特征在于，所述锁紧模块呈“回”字型，所述面板居中设置于所述锁紧模块中间开口，所述锁紧模块和所述面板都是独立地、可拆卸地装配于测试头上。

4.根据权利要求1所述的新型IC测试板锁紧机构，其特征在于，所述驱动机构包括：正反牙丝杆、活动板，所述活动板设置有丝杆螺母，用于啮合于所述正反牙丝杆左旋螺纹段或右旋螺纹段上，所述活动板具有垂直部，所述第一滑块水平地设置于所述垂直部上；

所述锁紧模块水平地设置有第二滑块，所述垂直部上水平地设置有第二限位导轨，所述第二滑块与所述第二限位导轨对应配合。

5.根据权利要求4所述的新型IC测试板锁紧机构，其特征在于，所述第一滑块为第一凸轮从动轴承，所述第二滑块为第二凸轮从动轴承。

6.根据权利要求4所述的新型IC测试板锁紧机构，其特征在于，所述正反牙丝杆设置有轴承，装配于所述锁紧模块，所述正反牙丝杆端部设置有把手，用于驱动所述正反牙丝杆旋转。

7.根据权利要求1所述的新型IC测试板锁紧机构，其特征在于，所述锁紧模块两侧相对地设置有两组所述驱动机构，两组所述驱动机构通过联动机构以实现同步运动。

8.根据权利要求7所述的新型IC测试板锁紧机构，其特征在于，所述联动机构为同步带机构。

9.根据权利要求1所述的新型IC测试板锁紧机构，其特征在于，所述框架结构两侧相对设置有把手。

10.根据权利要求1所述的新型IC测试板锁紧机构，其特征在于，所述锁紧模块两侧相对设置有把手。