CN219869512U - 一种可改变测量结构的电子数显卡尺 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种可改变测量结构的电子数显卡尺，包括量尺，第一安装块一端插接有第一量爪，爪身靠近量尺一端设有插接块，插接块内设有弹簧槽，弹簧槽内设有伸缩块，围绕伸缩块位于弹簧槽内设有限位块，限位块下表面与弹簧槽底部之间设有支撑弹簧，块体一侧设有插接槽，插接槽上端设有按压槽，按压槽内设有按压块，按压块上端设有按压杆，围绕按压杆位于按压块与按压槽顶部之间固定连接有复位弹簧；相对于传统设计，本申请设计更为灵活合理，其结构稳定，实用性强；有效的解决了现有技术中在面对被测量物体的待检测部分位置结构特殊，数显卡尺的量爪难以够到，并且量爪不可以更换，需要更换特殊构造的数显卡尺，导致使用不便利的问题。

Description

一种可改变测量结构的电子数显卡尺

技术领域

本实用新型属于数显卡尺技术领域，特别涉及一种可改变测量结构的电子数显卡尺。

背景技术

数显卡尺是一种测量长度、内外径、深度的量具。数显卡尺具有读数直观、使用方便、功能多样的特点。数显卡尺的传感器是利用电容的电荷耦合方式将机械位移量转变成为电信号的相应变化量，将该电信号送入电子电路后，再经过一系列变换和运算后显示出机械位移量的大小，通过显示器将测量尺寸用数字显示在屏上。数显卡尺的量爪或数显卡尺本身的尺寸可以根据具体测量物体的形状、大小做出选择。

现有的数显卡尺，其测量爪大多为固定结构，不可以更换，在使用数显卡尺对不同形状构造进行测量时，由于有时被测量物体的结构特殊，待检测部分位置或深或窄或不同方位，普通结构的量爪难以够到，这时就需要更换与其对应结构量爪的卡尺(例如：窄小环槽卡尺、水平中心距卡尺、伸缩量爪卡尺、凹槽轨道测量卡尺)，使得降低了普通卡尺的通用性，购买多种特殊结构的卡尺也增加了使用成本(异型卡尺比较昂贵)。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种可改变测量结构的电子数显卡尺，解决现有技术中在面对被测量物体的特殊结构，普通数显卡尺的量爪难以够到，并且量爪不可以更换，需要更换特殊构造的数显卡尺，导致不便利和使用成本过高的问题。

本实用新型采用如下技术方案：

一种可改变测量结构的电子数显卡尺，包括量尺，所述量尺顶部固定连接有第一安装块，所述第一安装块一端插接有第一量爪，所述第一量爪包括爪身，所述爪身靠近所述量尺一端设有插接块，所述插接块内设有弹簧槽，所述弹簧槽内设有伸缩块，所述伸缩块上端穿过所述插接块上表面，围绕所述伸缩块位于所述弹簧槽内设有限位块，所述限位块下表面与所述弹簧槽底部之间设有支撑弹簧，所述安装块包括块体，所述块体一侧设有插接槽，所述插接槽与所述插接块相匹配，所述插接槽上端设有按压槽，所述按压槽内设有按压块，所述按压块上端设有按压杆，围绕所述按压杆位于所述按压块与所述按压槽顶部之间固定连接有复位弹簧，所述伸缩块上端与所述按压槽相匹配，所述量尺上滑动连接有数显头，所述数显头一侧对应所述第一量爪和第一安装块位置设有第二量爪和第二安装块，所述第二量爪和第二安装块为所述第一量爪和第一安装块的镜像设置。

进一步的，所述按压杆顶部设有限位板。

进一步的，所述量尺远离所述第一量爪一侧设有第一内径量爪，所述数显头远离所述第二量爪一侧对应所述第一内径量爪位置设有第二内径量爪。

进一步的，所述数显头上表面设有显示屏，所述数显头一侧表面分别设有开关按钮和归零按钮，所述数显头另一侧表面设有锁紧装置。

进一步的，所述量尺内部滑动连接有测深尺，所述测深尺一端与所述数显头固定连接。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：

1、通过量爪上的插接块与量尺上的安装块上的插接槽相配合进行插接安装，通过伸缩块与按压槽进行限位固定，支撑弹簧将伸缩块卡在按压槽内，若将量爪进行更换时，通过按压按压杆，按压杆通过按压块将伸缩块推出按压槽内，将量爪拔出进行更换即可；

2、相对于传统设计，本申请设计更为灵活合理，其结构稳定，实用性强；有效的解决了现有技术中在面对被测量物体的待检测部分位置比较深，数显卡尺的量爪难以够到，并且量爪不可以更换，需要更换特殊构造的数显卡尺，导致使用不便利的问题。

附图说明

图1为本实用新型的主视图；

图2为本实用新型的第一量爪结构示意图；

图3为本实用新型的第一安装块结构示意图。

图中：1-量尺、2-第一量爪、3-第一安装块、4-数显头、5-第二量爪、6-第二安装块、7-第一内径量爪、8-第二内径量爪、9-显示屏、10-开关按钮、11-归零按钮、12-锁紧装置、13-测深尺；

201-爪身、202-插接块、203-弹簧槽、204-伸缩块、205-限位块、206-支撑弹簧；

301-块体、302-插接槽、303-按压槽、304-按压块、305-按压杆、306-复位弹簧、307-限位板。

具体实施方式

为了使本技术领域的人员更好地理解本实用新型方案，下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本实用新型保护的范围。

结合图1至3所示的一种可改变测量结构的电子数显卡尺，包括量尺1，量尺1顶部固定连接有第一安装块3，第一安装块3一端插接有第一量爪2，第一量爪2包括爪身201，爪身201靠近量尺1一端设有插接块202，插接块202内设有弹簧槽203，弹簧槽202内设有伸缩块204，伸缩块204上端穿过插接块202上表面，围绕伸缩块204位于弹簧槽202内设有限位块205，限位块205下表面与弹簧槽203底部之间设有支撑弹簧206，安装块3包括块体301，块体301一侧设有插接槽302，插接槽302与插接块202相匹配，插接槽302上端设有按压槽303，按压槽303内设有按压块304，按压块304上端设有按压杆305，围绕按压杆305位于按压块304与按压槽303顶部之间固定连接有复位弹簧306，伸缩块204上端与按压槽303相匹配，量尺1上滑动连接有数显头4，数显头4一侧对应第一量爪2和第一安装块3位置设有第二量爪5和第二安装块6，第二量爪5和第二安装块6为第一量爪2和第一安装块3的镜像设置。

其中，按压杆305顶部设有限位板307，方便按压的同时，限定按压杆305的按压深度，防止按压块304按压过深，进入弹簧槽203内；量尺1远离第一量爪2一侧设有第一内径量爪7，数显头4远离第二量爪5一侧对应第一内径量爪7位置设有第二内径量爪8，第一内径量爪7与第二内径量爪8用于配合测量被测物体的内径大小；数显头4上表面设有显示屏9，数显头4一侧表面分别设有开关按钮10和归零按钮11，数显头4另一侧表面设有锁紧装置12；量尺1内部滑动连接有测深尺13，测深尺13一端与数显头4固定连接，测深尺13用于测量被测物体的深度。

工作原理：本实用新型为一种可改变测量结构的电子数显卡尺，使用本产品时，根据被测物体外形结构更换相适用的量爪，在更换时，通过按压按压杆305，按压杆305推动按压块304，按压块304将伸缩块204推出按压槽303，此时就可以将第一量爪2或第二量爪5拔出，同时，复位弹簧306将按压块304进行复位，在安装量爪时，插接块202插入插接槽302内，伸缩块204通过支撑弹簧206固定在按压槽303内进行限位固定。

对于本领域技术人员而言，显然本实用新型不限于上述示范性实施例的细节，而且在不背离本实用新型的精神或基本特征的情况下，能够以其他的具体形式实现本实用新型。因此，无论从哪一点来看，均应将实施例看作是示范性的，而且是非限制性的，本实用新型的范围由所附权利要求而不是上述说明限定，因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化囊括在本实用新型内。不应将权利要求中的任何附图标记视为限制所涉及的权利要求。

此外，应当理解，虽然本说明书按照实施方式加以描述，但并非每个实施方式仅包含一个独立的技术方案，说明书的这种叙述方式仅仅是为清楚起见，本领域技术人员应当将说明书作为一个整体，各实施例中的技术方案也可以经适当组合，形成本领域技术人员可以理解的其他实施方式。

Claims (5)

1.一种可改变测量结构的电子数显卡尺，其特征在于：包括量尺(1)，所述量尺(1)顶部固定连接有第一安装块(3)，所述第一安装块(3)一端插接有第一量爪(2)，所述第一量爪(2)包括爪身(201)，所述爪身(201)靠近所述量尺(1)一端设有插接块(202)，所述插接块(202)内设有弹簧槽(203)，所述弹簧槽(203)内设有伸缩块(204)，所述伸缩块(204)上端穿过所述插接块(202)上表面，围绕所述伸缩块(204)位于所述弹簧槽(203)内设有限位块(205)，所述限位块(205)下表面与所述弹簧槽(203)底部之间设有支撑弹簧(206)，所述安装块(3)包括块体(301)，所述块体(301)一侧设有插接槽(302)，所述插接槽(302)与所述插接块(202)相匹配，所述插接槽(302)上端设有按压槽(303)，所述按压槽(303)内设有按压块(304)，所述按压块(304)上端设有按压杆(305)，围绕所述按压杆(305)位于所述按压块(304)与所述按压槽(303)顶部之间固定连接有复位弹簧(306)，所述伸缩块(204)上端与所述按压槽(303)相匹配，所述量尺(1)上滑动连接有数显头(4)，所述数显头(4)一侧对应所述第一量爪(2)和第一安装块(3)位置设有第二量爪(5)和第二安装块(6)，所述第二量爪(5)和第二安装块(6)为所述第一量爪(2)和第一安装块(3)的镜像设置。

2.根据权利要求1所述的一种可改变测量结构的电子数显卡尺，其特征在于：所述按压杆(305)顶部设有限位板(307)。

3.根据权利要求1所述的一种可改变测量结构的电子数显卡尺，其特征在于：所述量尺(1)远离所述第一量爪(2)一侧设有第一内径量爪(7)，所述数显头(4)远离所述第二量爪(5)一侧对应所述第一内径量爪(7)位置设有第二内径量爪(8)。

4.根据权利要求1所述的一种可改变测量结构的电子数显卡尺，其特征在于：所述数显头(4)上表面设有显示屏(9)，所述数显头(4)一侧表面分别设有开关按钮(10)和归零按钮(11)，所述数显头(4)另一侧表面设有锁紧装置(12)。

5.根据权利要求1所述的一种可改变测量结构的电子数显卡尺，其特征在于：所述量尺(1)内部滑动连接有测深尺(13)，所述测深尺(13)一端与所述数显头(4)固定连接。