CN219831503U - 金相显微镜清洁度检测专用偏光光源系统 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种金相显微镜清洁度检测专用偏光光源系统，包括含检偏镜的显微镜本体、主控器和光源部件；光源部件包括座体、第一光源组件、第二光源组件、透反镜、吸光布和航空插头，座体内部互相垂直的第一光路槽和第二光路槽，第一光源组件设于第一光路槽内，第二光源组件设于第二光路槽内，透反镜设于第一光路槽内并与第二光路槽正对且倾斜45度。本系统具有两组能对应偏光平行模式和偏光正交模式的光源，扫描滤膜时在颗粒的位置主控器会控制两组光源先后工作并拍两张照片保存分析，因此在清洁度检测中，只需要扫描一次即可实时分析颗粒的特征，大大缩短了扫描时间，提高了扫描的效率，并且能够实时分析数据信息为操作员提供依据。

Description

金相显微镜清洁度检测专用偏光光源系统

技术领域

本实用新型涉及显微镜光源技术领域，尤其是涉及一种金相显微镜清洁度检测专用偏光光源系统。

背景技术

清洁度是指零件、总成和整机特定部位被杂质污染的程度。清洁度的测定方法很多，主要包括：目视检查法、接触角法、荧光发光法、重量法、颗粒尺寸数量法等。其中，颗粒尺寸数量法是一种清洁度测试的新方法，其基本原理是根据被检测的表面与污染物颗粒具有不同的光吸收或散射率其杂质收集方法与重量法相同，待滤膜干燥后，使用显微镜在光照射下检测，按颗粒尺寸和数量统计污物颗粒，即可得到所测物体零件的固体颗粒污染物结果。

目前在金相显微镜清洁度检测系统中，滤膜都需要先扫描两次再进行分析。第一次在偏光平行(或偏光正交)模式下，电动平台带着滤膜按设定值自行移动，相机系统实时拍照存储，滤膜扫描第一遍完成后，操作员通过手动或者电动调节偏光至正交(或偏光平行)模式，电动平台再带着滤膜按设定值自行再移动一遍，相机系统再实时拍照存储，两遍扫描完成后，系统再比对颗粒的相关信息(信息包含颗粒长，宽，面积，金属，非金属，纤维等)进行统计分析。这种检测方式需要扫描两次，扫描时间较长，而且最后的颗粒统计分析信息也不能实时更新，因此需要优化改进。

实用新型内容

本实用新型旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此，本实用新型的一个目的在于提供一种金相显微镜清洁度检测专用偏光光源系统。

本实用新型的技术方案如下：一种金相显微镜清洁度检测专用偏光光源系统，其特征在于，包括含检偏镜的显微镜本体、主控器和光源部件；

所述光源部件包括座体、第一光源组件、第二光源组件、透反镜、吸光布和航空插头，所述座体与所述显微镜本体相连，所述座体内部设有与所述显微镜本体光路对应的第一光路槽，所述第一光路槽的内表壁设有与所述第一光路槽垂直的第二光路槽；

所述第一光源组件设于所述第一光路槽内，所述第一光源组件包括第一光源灯、第一透镜和第一偏光片，其中沿所述第一光源灯照射方向、所述第一透镜设于所述第一光源灯的前侧，所述第一偏光片设于所述第一透镜的前侧；

所述第二光源组件设于所述第二光路槽内，所述第二光源组件包括第二光源灯、第二透镜和第二偏光片，其中沿所述第二光源灯照射方向、所述第二透镜设于所述第二光源灯的前侧，所述第二偏光片设于所述第二透镜的前侧；

所述透反镜设于所述第一光路槽内并与所述第二光路槽正对，所述透反镜倾斜45度以透过所述第一光源灯的光线和反射所述第二光源灯的光线；

所述第一光源灯和所述第二光源灯均与所述航空插头相连，所述航空插头与所述主控器相连。

进一步地，所述第一光路槽的内表壁设有所述吸光布，所述吸光布位于所述透反镜远离所述第二光路槽的一侧。

进一步地，所述第一光源灯和所述第二光源灯均为LED灯。

进一步地，所述第一光路槽水平设置，所述第二光路槽竖向设置并位于所述第一光路槽上方。

进一步地，所述第二光路槽内设有环形的透镜座，所述透镜座位于所述第二光源灯和第二偏光片之间，所述第二透镜的上侧周向边沿设有环形的限位边，所述第二透镜穿设在所述透镜座内，所述限位边抵靠在所述透镜座上。

进一步地，所述第一光源灯和所述第二光源灯分别安装在绝缘垫上，所述绝缘垫通过螺丝与所述座体相连。

进一步地，所述座体上设有转接环并通过所述转接环与所述显微镜本体相连。

和现有技术相比，本实用新型的有益效果如下：

本系统具有两组偏振光源，配合检偏镜调试完成后，便会形成一组对应偏光平行模式，一组对应偏光正交模式，扫描滤膜时在颗粒的位置主控器会控制两组光源先后工作并拍两张照片保存分析，因此在金相显微镜清洁度检测中，只需要扫描一次即可实时分析颗粒的特征(特征包含颗粒长，宽，面积，金属，非金属，纤维等)，大大缩短了扫描时间，提高了扫描的效率，并且能够实时分析数据信息为操作员提供依据，使用非常方便。

本实用新型的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本实用新型的实践了解到。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图：

图1是本实用新型的应用在显微镜上的示意图；

图2是本实用新型的光源部件的示意图；

图3是本实用新型的光源部件的剖视图。

附图标记：

1、显微镜本体；2、光源部件；3、座体；4、第一光路槽；5、第二光路槽；6、第一光源灯；7、第一透镜；8、第一偏光片；9、第二光源灯；10、第二透镜；11、第二偏光片；12、透反镜；13、吸光布；14、航空插头；15、转接环；16、透镜座；17、限位边；18、绝缘垫；19、检偏镜。

具体实施方式

为使本实用新型实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

下面详细描述本实用新型的实施例，实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“内”、“外”、“竖向”、“周向”、“径向”、“轴向”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。

在本实用新型的描述中，“第一特征”、“第二特征”可以包括一个或者更多个该特征。此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。

在本实用新型中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

如图1-图3所示的一种金相显微镜清洁度检测专用偏光光源系统，包括显微镜本体1、主控器和光源部件2。

显微镜本体1上自带检偏镜19，光源部件2包括座体3、第一光源组件、第二光源组件、透反镜12、吸光布13和航空插头14，座体3与显微镜本体1相连，座体3内部设有与显微镜本体1光路对应的第一光路槽4，第一光路槽4的内表壁设有与第一光路槽4垂直的第二光路槽5。

具体而言，参照图3，座体3上设有转接环15并通过转接环15与显微镜本体1相连，第一光路槽4水平设置，第二光路槽5竖向设置并位于第一光路槽4上方，二者组成了倒T形的构造。

第一光源组件设于第一光路槽4内，第一光源组件包括第一光源灯6、第一透镜7和第一偏光片8，其中沿第一光源灯6照射方向、第一透镜7设于第一光源灯6的前侧，第一偏光片8设于第一透镜7的前侧；第二光源组件设于第二光路槽5内，第二光源组件包括第二光源灯9、第二透镜10和第二偏光片11，其中沿第二光源灯9照射方向、第二透镜10设于第二光源灯9的前侧，第二偏光片11设于第二透镜10的前侧。

具体而言，本系统中所用的第一光源灯6和第二光源灯9均为LED灯，在图3所示的示例中，第一光路槽4沿左右方向延伸，第一光源灯6向左照射，因此第一光源灯6的照射方向即是朝左方向，则第一透镜7设于第一光源灯6的左侧，第一偏光片8设于第一透镜7的左侧；第二光路槽5沿上下方向延伸，第二光源灯9向下照射，因此第二光源灯9的照射方向即是朝下方向，那么第二透镜10设于第二光源灯9的下侧，第二偏光片11设于第二透镜10的下侧。

在实际应用中，第一光源灯6和第二光源灯9分别安装在绝缘垫18上，两个绝缘垫18各自通过螺丝与座体3相连，绝缘垫18的设计可提高绝缘效果，使第一光源灯6和第二光源灯9不易损坏；对于第二光路槽5而言，第二光路槽5内设有环形的透镜座16，透镜座16位于第二光源灯9和第二偏光片11之间，第二透镜10的上侧周向边沿设有环形的限位边17，第二透镜10穿设在透镜座16内，限位边17抵靠在透镜座16上，这种安装方式简单，便于实现。

透反镜12设于第一光路槽4内并与第二光路槽5正对，透反镜12倾斜45度以透过第一光源灯6的光线和反射第二光源灯9的光线，由此可使得第一光源灯6的光线和第二光源灯9的光线均能射入显微镜本体1的光路中。

第一光路槽4的内表壁设有吸光布13，吸光布13位于透反镜12远离第二光路槽5的一侧。在图3中，虽然透反镜12可以透过第一光源灯6的光线，但是当第一光源灯6的光线照射在透反镜12时，仍会有部分光线会向下反射；虽然透反镜12可以反射第二光源灯9的光线，但是当第二光源灯9的光线照射在透反镜12时，仍会少部分光线可以透过透反镜12，因此设置了吸光布13，可以对这些光线进行吸收，避免这些光线影响显微镜的检测。

第一光源灯6和第二光源灯9均与航空插头14相连，航空插头14与主控器相连，由此主控器可以控制两个光源灯工作，而所用的控制器则为金相显微镜自带的控制器。

本系统的工作过程如下：

在具体使用时，本系统内部集成了两组自带偏光模块的光源(6和9)，配合检偏镜19调试完成后，便会形成一组对应偏光平行模式，一组对应偏光正交模式，主控器则可以自动调节两组带偏光模块的灯珠亮度，使之两种光源模式下均达到对应灰度值阈值55％±5％，然后在检测时，显微镜的电动平台带着滤膜按设定值自行移动，每到一个位置后，主控器控制两组光源先后工作并控制相机系统拍两张照片保存(两组灯的工作顺序不定)，然后进行实时分析(分析内容包含颗粒长，宽，面积，金属，非金属，纤维等)，滤膜扫描完成后，颗粒的信息会实时更新完成。

由此可以看出，本系统具有两组偏振光源，配合检偏镜调试完成后，便会形成一组对应偏光平行模式，一组对应偏光正交模式，扫描滤膜时在颗粒的位置主控器会控制两组光源先后工作并拍两张照片保存分析，因此在金相显微镜清洁度检测中，只需要扫描一次即可实时分析颗粒的特征(特征包含颗粒长，宽，面积，金属，非金属，纤维等)，大大缩短了扫描时间，提高了扫描的效率，并且能够实时分析数据信息为操作员提供依据，使用非常方便。

尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，本领域的普通技术人员可以理解：在不脱离本实用新型的原理和宗旨的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由权利要求及其等同物限定。

Claims (7)

1.一种金相显微镜清洁度检测专用偏光光源系统，其特征在于，包括含检偏镜的显微镜本体、主控器和光源部件；

所述光源部件包括座体、第一光源组件、第二光源组件、透反镜、吸光布和航空插头，所述座体与所述显微镜本体相连，所述座体内部设有与所述显微镜本体光路对应的第一光路槽，所述第一光路槽的内表壁设有与所述第一光路槽垂直的第二光路槽；

所述第一光源组件设于所述第一光路槽内，所述第一光源组件包括第一光源灯、第一透镜和第一偏光片，其中沿所述第一光源灯照射方向、所述第一透镜设于所述第一光源灯的前侧，所述第一偏光片设于所述第一透镜的前侧；

所述第二光源组件设于所述第二光路槽内，所述第二光源组件包括第二光源灯、第二透镜和第二偏光片，其中沿所述第二光源灯照射方向、所述第二透镜设于所述第二光源灯的前侧，所述第二偏光片设于所述第二透镜的前侧；

所述透反镜设于所述第一光路槽内并与所述第二光路槽正对，所述透反镜倾斜45度以透过所述第一光源灯的光线和反射所述第二光源灯的光线；

所述第一光源灯和所述第二光源灯均与所述航空插头相连，所述航空插头与所述主控器相连。

2.根据权利要求1所述的金相显微镜清洁度检测专用偏光光源系统，其特征在于，所述第一光路槽的内表壁设有所述吸光布，所述吸光布位于所述透反镜远离所述第二光路槽的一侧。

3.根据权利要求1所述的金相显微镜清洁度检测专用偏光光源系统，其特征在于，所述第一光源灯和所述第二光源灯均为LED灯。

4.根据权利要求1所述的金相显微镜清洁度检测专用偏光光源系统，其特征在于，所述第一光路槽水平设置，所述第二光路槽竖向设置并位于所述第一光路槽上方。

5.根据权利要求4所述的金相显微镜清洁度检测专用偏光光源系统，其特征在于，所述第二光路槽内设有环形的透镜座，所述透镜座位于所述第二光源灯和第二偏光片之间，所述第二透镜的上侧周向边沿设有环形的限位边，所述第二透镜穿设在所述透镜座内，所述限位边抵靠在所述透镜座上。

6.根据权利要求1所述的金相显微镜清洁度检测专用偏光光源系统，其特征在于，所述第一光源灯和所述第二光源灯分别安装在绝缘垫上，所述绝缘垫通过螺丝与所述座体相连。

7.根据权利要求1所述的金相显微镜清洁度检测专用偏光光源系统，其特征在于，所述座体上设有转接环并通过所述转接环与所述显微镜本体相连。