CN219802946U - 一种用于芯片老化测试系统的电源及驱动板冷却机构 - Google Patents
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- 238000001816 cooling Methods 0.000 title claims abstract description 36
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 title claims abstract description 14
- 238000012360 testing method Methods 0.000 title abstract description 21
- 230000032683 aging Effects 0.000 title abstract description 18
- 238000005192 partition Methods 0.000 claims description 10
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 8
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims description 5
- 238000009413 insulation Methods 0.000 claims description 2
- 230000001939 inductive effect Effects 0.000 claims 1
- 239000000428 dust Substances 0.000 abstract description 5
- 238000005265 energy consumption Methods 0.000 abstract description 2
- 239000008187 granular material Substances 0.000 abstract description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 7
- 239000000498 cooling water Substances 0.000 description 4
- 230000009471 action Effects 0.000 description 3
- 230000017525 heat dissipation Effects 0.000 description 3
- 230000008569 process Effects 0.000 description 3
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 2
- 230000001502 supplementing effect Effects 0.000 description 2
- CBENFWSGALASAD-UHFFFAOYSA-N Ozone Chemical compound [O-][O+]=O CBENFWSGALASAD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000004075 alteration Effects 0.000 description 1
- 230000007797 corrosion Effects 0.000 description 1
- 238000005260 corrosion Methods 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 1
- 230000002265 prevention Effects 0.000 description 1
- 238000011160 research Methods 0.000 description 1
- 150000003839 salts Chemical class 0.000 description 1
- 239000007921 spray Substances 0.000 description 1
- 238000006467 substitution reaction Methods 0.000 description 1
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 1
- 238000009423 ventilation Methods 0.000 description 1
- 229910052724 xenon Inorganic materials 0.000 description 1
- FHNFHKCVQCLJFQ-UHFFFAOYSA-N xenon atom Chemical compound [Xe] FHNFHKCVQCLJFQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Abstract
本实用新型涉及芯片老化测试相关技术领域，且公开了一种用于芯片老化测试系统的电源及驱动板冷却机构，包括柜体、电源组件和驱动板组件，所述电源组件和驱动板组件均设置在柜体的内腔工作室，柜体的内腔设置有用于隔断电源组件和驱动板组件的上隔板和侧隔板，上隔板、侧隔板和柜体内侧壁之间组成用于冷气流流通的冷风道，侧隔板在远离驱动板组件的一侧安装有用于冷却循环水的冷凝器。该用于芯片老化测试系统的电源及驱动板冷却机构，区别于现有技术中依靠补充外来新风量来带走产品发热的方式，通过对柜体内部气流进行降温冷却的方式，有效避免外来新风含有的颗粒粉尘造成产品污染的情况，降低风机强制补风所产生的能耗及噪音污染。
Description
技术领域
本实用新型涉及芯片老化测试相关技术领域，具体为一种用于芯片老化测试系统的电源及驱动板冷却机构。
背景技术
老化试验箱是环试行业中的一种产品总称，老化试验箱包含:臭氧老化、紫外老化、氙灯老化、换气式热老化、高温老化、盐雾腐蚀老化…等众多老化试验方式。是人工环境气候试验方法中较重要的一种。其中高温老化是航空、汽车、家电、科研等领域必备的测试设备，用于测试和确定电工、电子及其他产品及材料进行高温或恒定试验的温度环境变化后的参数及性能。
其中用于芯片的老化测试系统设备，电源组件和驱动板组件在运行时均会产生一定的热量，在现有技术中，主要是依靠补充新风量来带走产品发热，保持老化箱内温度平衡需要靠风机强制补风，新风中含有一定量的粉尘颗，会造成一定的产品污染，靠风机强制补风，存在噪音大，可调节灵活性不高，能耗大温度不均匀等问题，因此实用新型人设计了一种用于芯片老化测试系统的电源及驱动板冷却机构
实用新型内容
(一)解决的技术问题
针对现有技术的不足，本实用新型提供了一种用于芯片老化测试系统的电源及驱动板冷却机构，解决了现有技术中芯片老化测试机在封闭环境下不能有效防尘散热的问题。
(二)技术方案
为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种用于芯片老化测试系统的电源及驱动板冷却机构，包括柜体、电源组件和驱动板组件，所述电源组件和驱动板组件均设置在柜体的内腔工作室，柜体的内腔设置有用于隔断电源组件和驱动板组件的上隔板和侧隔板，上隔板、侧隔板和柜体内侧壁之间组成用于冷气流流通的冷风道，侧隔板在远离驱动板组件的一侧安装有用于冷却循环水的冷凝器，上隔板在远离电源组件的一侧安装有用于引风的风机，风机的出风口与柜体的工作室内腔相连通。
优选的，所述风机通过冷风道与冷凝器所在封闭空腔相连通，使得冷凝器所换热的腔室低温气流能够导入冷风道。
优选的，所述冷凝器的进水口和出水口与外界循环设备相连通，使得冷凝器能够有效循环降温冷却。
优选的，所述冷凝器采用带翅片的冷凝器，翅片冷凝器能够有效增加冷凝器内冷却水的冷却换热面积，从而达到快速对柜体内腔进行有效降温的目的。
优选的，所述上隔板和侧隔板均采用隔温绝热板，能够有效避免柜体内的工作室热量外散，降低测试系统的热量损耗。
优选的，所述柜体包括封闭柜壳及可以开关的柜门结构，驱动板组件的上方安装有用于加热控温的加热器，加热器对柜体内的工作室温度进行加热调温，从而对芯片进行加热老化测试。
(三)有益效果
本实用新型提供了一种用于芯片老化测试系统的电源及驱动板冷却机构。具备以下有益效果：
该用于芯片老化测试系统的电源及驱动板冷却机构，通过设置冷凝器对冷却水进行循环降温，风机将冷凝器所在腔室的冷气流导入冷风道内，风机所引流的冷气流导入电源组件和驱动板组件所在腔室降温，从而区别于现有技术中依靠补充外来新风量来带走产品发热的方式，本技术方案通过对柜体内部气流进行降温冷却的方式，有效避免外来新风含有的颗粒粉尘造成产品污染的情况，降低风机强制补风所产生的能耗及噪音污染。
附图说明
图1为本实用新型示意图；
图2为本实用新型剖视结构示意图。
图中：1柜体、2上隔板、3侧隔板、4电源组件、5驱动板组件、6冷凝器、7风机、8冷风道。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
如图1-2所示，本实用新型提供一种技术方案：一种用于芯片老化测试系统的电源及驱动板冷却机构，包括柜体1、电源组件4和驱动板组件5，电源组件4和驱动板组件5均设置在柜体1的内腔工作室，柜体1的内腔设置有用于隔断电源组件4和驱动板组件5的上隔板2和侧隔板3，上隔板2、侧隔板3和柜体1内侧壁之间组成用于冷气流流通的冷风道8，侧隔板3在远离驱动板组件5的一侧安装有用于冷却循环水的冷凝器6，上隔板2在远离电源组件4的一侧安装有用于引风的风机7，风机7的出风口与柜体1的工作室内腔相连通，风机7通过冷风道8与冷凝器6所在封闭空腔相连通，使得冷凝器6所换热的腔室低温气流能够导入冷风道8，冷凝器6的进水口和出水口与外界循环设备相连通，使得冷凝器6能够有效循环降温冷却，冷凝器6采用带翅片的冷凝器，翅片冷凝器能够有效增加冷凝器6内冷却水的冷却换热面积，从而达到快速对柜体1内腔进行有效降温的目的，上隔板2和侧隔板3均采用隔温绝热板，能够有效避免柜体1内的工作室热量外散，降低测试系统的热量损耗，柜体1包括封闭柜壳及可以开关的柜门结构，驱动板组件5的上方安装有用于加热控温的加热器，加热器对柜体1内的工作室温度进行加热调温，从而对芯片进行加热老化测试。
该文中出现的电器元件均与外界的主控器及220V市电电连接，并且主控器可为计算机等起到控制的常规已知设备。
综上可得，在设备使用时，冷凝器6外接冷却水循环设备对冷却水进行冷却降温，风机7将冷凝器6所在腔室的冷气流导入冷风道8内，风机7所引流的冷气流导入电源组件4和驱动板组件5所在腔室降温，从而达到对老化测试机在防尘的前提下进行有效降温的目的。
本实用新型的控制方式是通过控制器来自动控制，控制器的控制电路通过本领域的技术人员简单编程即可实现，电源的提供也属于本领域的公知常识，并且本实用新型主要用来保护机械装置，所以本实用新型不再详细解释控制方式和电路连接。
需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个引用结构”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。
尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。
Claims (6)
1.一种用于芯片老化测试系统的电源及驱动板冷却机构，包括柜体1、电源组件4和驱动板组件5，其特征在于：所述电源组件4和驱动板组件5均设置在柜体1的内腔工作室，柜体1的内腔设置有用于隔断电源组件4和驱动板组件5的上隔板2和侧隔板3，上隔板2、侧隔板3和柜体1内侧壁之间组成用于冷气流流通的冷风道8，侧隔板3在远离驱动板组件5的一侧安装有用于冷却循环水的冷凝器6，上隔板2在远离电源组件4的一侧安装有用于引风的风机7，风机7的出风口与柜体1的工作室内腔相连通。
2.根据权利要求1所述的一种用于芯片老化测试系统的电源及驱动板冷却机构，其特征在于：所述风机7通过冷风道8与冷凝器6所在封闭空腔相连通。
3.根据权利要求1所述的一种用于芯片老化测试系统的电源及驱动板冷却机构，其特征在于：所述冷凝器6的进水口和出水口与外界循环设备相连通。
4.根据权利要求1所述的一种用于芯片老化测试系统的电源及驱动板冷却机构，其特征在于：所述冷凝器6采用带翅片的冷凝器。
5.根据权利要求1所述的一种用于芯片老化测试系统的电源及驱动板冷却机构，其特征在于：所述上隔板2和侧隔板3均采用隔温绝热板。
6.根据权利要求1所述的一种用于芯片老化测试系统的电源及驱动板冷却机构，其特征在于：所述柜体1包括封闭柜壳及可以开关的柜门结构，驱动板组件5的上方安装有用于加热控温的加热器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202321048875.XU CN219802946U (zh) | 2023-05-05 | 2023-05-05 | 一种用于芯片老化测试系统的电源及驱动板冷却机构 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202321048875.XU CN219802946U (zh) | 2023-05-05 | 2023-05-05 | 一种用于芯片老化测试系统的电源及驱动板冷却机构 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN219802946U true CN219802946U (zh) | 2023-10-03 |
Family
ID=88179422
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN202321048875.XU Active CN219802946U (zh) | 2023-05-05 | 2023-05-05 | 一种用于芯片老化测试系统的电源及驱动板冷却机构 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN219802946U (zh) |
-
2023
- 2023-05-05 CN CN202321048875.XU patent/CN219802946U/zh active Active
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