CN219799933U - 一种非接触测量设备 - Google Patents
一种非接触测量设备 Download PDFInfo
- Publication number
- CN219799933U CN219799933U CN202223387882.0U CN202223387882U CN219799933U CN 219799933 U CN219799933 U CN 219799933U CN 202223387882 U CN202223387882 U CN 202223387882U CN 219799933 U CN219799933 U CN 219799933U
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- liquid crystal
- led
- maintenance
- imaging device
- circuit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims abstract description 34
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 claims abstract description 24
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 abstract description 30
- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract description 25
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 18
- 230000008569 process Effects 0.000 abstract description 13
- 230000008439 repair process Effects 0.000 description 13
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 11
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 9
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 8
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 5
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 5
- 238000003780 insertion Methods 0.000 description 5
- 230000037431 insertion Effects 0.000 description 5
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 5
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 5
- 230000009471 action Effects 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 239000004988 Nematic liquid crystal Substances 0.000 description 3
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 3
- 238000003466 welding Methods 0.000 description 3
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 238000004886 process control Methods 0.000 description 2
- 230000002035 prolonged effect Effects 0.000 description 2
- 238000003908 quality control method Methods 0.000 description 2
- 230000004044 response Effects 0.000 description 2
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 230000003098 cholesteric effect Effects 0.000 description 1
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 1
- 208000037265 diseases, disorders, signs and symptoms Diseases 0.000 description 1
- 208000035475 disorder Diseases 0.000 description 1
- 230000005669 field effect Effects 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 230000003993 interaction Effects 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 230000010363 phase shift Effects 0.000 description 1
- 230000010287 polarization Effects 0.000 description 1
- 230000008707 rearrangement Effects 0.000 description 1
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Liquid Crystal (AREA)
Abstract
本实用新型提出了一种非接触测量设备，涉及Mini&MicroLED维修测量工艺领域。包括：AOI，AOI连接有龙门，龙门连接有机台架，机台架下方连接有成像器件，成像器件包括液晶面板；其能够通过液晶成像，快速判断串联LED电路中的故障点。
Description
技术领域
本实用新型涉及Mini&Micro LED维修测量工艺领域，具体而言，涉及一种非接触测量设备。
背景技术
液晶显示器件是指液晶在外加光源照射下受控激励，供视觉感受信息的显示器件。液晶具有规则的组织结构，本身并不发光。
液晶组织结构由有机分子组成，分子排列有向列型(所有分子相互平行排列)、胆甾型(分子相互平行排列，连续多层，各层依所选方向依次回转)和层列型(分子以同一方向按层次排列)3种形式。
宾主效应是多色染料分子(宾)与向列液晶(主)在电场作用下重新排列，引起颜色变化。
动态散射效应是透明的液晶由于电场的作用，引起分子排列混乱。
相移存储效应是光能通过一对夹有液晶、相互正交的偏振镜。
扭曲向列场效应偏振光能在液晶里旋转；如果加有电场，则扭曲结构失效，光就不能通过。
当Mini LED背光产品因生产制程中的一些电路故障需要进行维修时，由于电路是采用多颗LED串联工作的，当一颗LED出现故障，整条串联电路因为断路无电流致使整条灯带灭灯从而无法判断故障点，且Mini LED背光产品焊盘为微米级别，无法有效进行扎针测量。
现有公开号为CN114577805A的中国发明专利，公开了一种MiniLED背光面板缺陷检测方法及装置。该方法包括：将采集的MiniLED背光面板图像划分为多个LED图像，每个LED图像包含一个LED颗粒；按照缺陷类型，采用与缺陷类型相匹配方法检测各LED图像包含的LED颗粒的缺陷状态，从而可以快速、准确的检测出MiniLED背光面板中LRD颗粒的缺陷。
现有技术中，通过图像采集识别有缺陷的LED颗粒，在串联LED电路中，一个损坏的LED会造成同一回路所有LED颗粒不发光，所以无法通过现有技术识别坏点。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种非接触测量设备，其能够通过液晶成像，快速判断串联LED电路中的故障点。
本实用新型的实施例是这样实现的：
第一方面，本申请实施例提供一种非接触测量设备，其包括AOI，其特征在于，所述AOI连接有龙门，所述龙门连接有机台架，所述机台架下方连接有成像器件。
通过上述技术方案，采用成像器件可以根据故障电路中的电场情况，生成图像，便于快速判断串联LED电路中的故障点。
在本实用新型的一些实施例中，上述成像器件包括液晶面板。
通过上述技术方案，本实施例使用成熟的LCD工艺，成像清晰，反应迅速，非常适合快速判断串联电路故障点。
第二方面，本申请实施例提供一种非接触测量的方法，其包括以下步骤：
S1：将所测量的Mini LED背光产品的电路板上电，发现线路故障区域；
S2：AOI拍摄，记录坐标区域；
S3：将成像器件移入要检测的电路板范围内，并将成像器件成像初始化；
S4：将所测量的Mini LED背光产品的电路板中故障电路独立上电；
S5：成像器件成像；
S6：AOI完成测量并把相关数据生成文件，然后反馈维修工艺设备；
S7:维修完成后进行上电检测，AOI测量最终结果，如不符合要求，根据测量结果再次维修；
S8：维修结果与主维修工艺设备形成闭环反馈。
通过上述技术方案，提升返修工艺设备综合稼动率。通过非接触测量方式有效的解决Mini LED背光产品LED串联电路当一颗LED出现故障，整条串联电路因为断路无电流致使整条灯带灭灯从而无法判断故障点，且Mini LED背光产品焊盘为微米级别，无法有效进行扎针测量等行业痛点问题，从而精准有效的进行故障维修，减少设备返工时间，提升综合效率，提升返修工艺设备综合维修成功率。通过提高故障判断的准确性，使返修工艺设备有的放矢，误判少，提升设备综合维修成功率。
相对于现有技术，本实用新型的实施例至少具有如下优点或有益效果：
1、提升返修工艺设备综合稼动率。通过非接触测量方式有效的解决Mini LED背光产品LED串联电路当一颗LED出现故障，整条串联电路因为断路无电流致使整条灯带灭灯从而无法判断故障点，且MiniLED背光产品焊盘为微米级别，无法有效进行扎针测量等行业痛点问题，从而精准有效的进行故障维修，减少设备返工时间，提升综合效率。
2、提升返修工艺设备综合维修成功率。通过提高故障判断的准确性，使返修工艺设备有的放矢，误判少，提升设备综合维修成功率。
3、返修工艺设备维护成本降低，因返修工艺设备是下一环节的主要受益环节，通过减少误判维修动作延长返修工艺设备寿命，减少维护维修费用，使设备综合成本降低。
4、品质管控提升。工艺管控的提升，直接影响产品良率提升。产品信赖性和可靠性提升。
5、工厂运营更加稳定。随着返修工艺的改善，主工艺设备综合维修成功率、稳定性能都得到提升，使工厂量产计划更加稳定的执行。
附图说明
为了更清楚地说明本实用新型实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本实用新型的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。
图1为本实用新型实施例原理图；
图2为本实用新型实施例一种非接触测量设备的轴测图；
图3为本实用新型实施例一种非接触测量设备工作状态示意图；
图4为本实用新型实施例一种非接触测量设备工作接电示意图。
图标：1-成像器件；2-控制IC成像；3-LED成像；4-故障LED；5-正常LED；6-线路成像；7-断线位置；8线路；9-电路板；10-机台架；11-龙门；12-AOI。
具体实施方式
实施例
请参照图1-图4，如图1-图4所示为本申请的一种实施例。
本实施例提供一种非接触测量设备，其包括AOI12，其特征在于，AOI12连接有龙门11，龙门11连接有机台架10，机台架10下方连接有成像器件1。
在使用时，将被检测Mini LED的电路板9放置于成像器件1下方并按照图4所示接线方式通电，然后根据图1所示原理，通电线路和部件产生电场，电场使成像器件1中的液晶偏转，然后在成像器件1上显示出电路板9中具有电场的部分，其端点则为电路断点，然后通过龙门11和机台架10移动AOI12采集成像器件1显示的图像，传给设备端设备。
需要说明的是，龙门11、机台架10和AOI12为现有技术常用结构，其功能和内部结构非本申请的技术点，在此不作详细说明。
通过上述技术方案，采用成像器件1可以根据故障电路中的电场情况，生成图像，便于快速判断串联LED电路板9中的故障点。
作为一种较优的实施方式，上述成像器件1包括液晶面板。
通过上述技术方案，本实施例使用成熟的LCD工艺，成像清晰，反应迅速，非常适合快速判断串联电路故障点。
同时本实施例提供一种非基础测量方法，其包括以下步骤：
S1：将所测量的Mini LED背光产品的电路板9上电，发现线路故障区域；
S2：AOI12拍摄，记录坐标区域；
S3：将成像器件1移入要检测的电路板9范围内，并将成像器件1接入VCOM成像初始化；
S4：将所测量的Mini LED背光产品的电路板9中故障电路独立上电；
S5：成像器件1成像；
S6：AOI12完成测量并把相关数据生成文件，然后反馈维修工艺设备；
S7:维修完成后进行上电检测，AOI12测量最终结果，如不符合要求，根据测量结果再次维修；
S8：维修结果与主维修工艺设备形成闭环反馈。
需要说明的是，成像原理详见图1，扭曲向列液晶显示器是由两块ITO玻璃板之间夹着扭曲向列液晶材料形成的，液晶具体厚度与液晶材料的双折射率有关，在上下ITO玻璃基板上面涂一层取向层，利用液晶分子与取向层表面的相互作用力，使液晶引导偏振光线通过，上下基片摩擦定向方向成90°，使液晶分子扭曲方向的作用，在上下玻璃基片的外侧贴有偏振片，偏振片的光轴与玻璃基片的摩擦方向一致，从而在液晶显示屏上得到常白的显示。
当施加电压时正性液晶分子随电场方向排列，线偏振光偏振面不变，偏振光不能通过出射光一侧的偏振片得到暗态，从而进行成像。
如图3所示，Mini LED背光产品由于电路是采用多颗LED串联工作的，当一颗LED出现故障，整条串联电路因为断路无电流致使整条灯带灭灯，传统电学检测无法判断故障点。但控制IC已输出电压供电，此时电路板电极与液晶器件形成电场，使有电压的地方成像，上层玻璃基板上建有ITO电极与公共电极(VCOM)联结。当所测量的Mini LED背光产品上电，Vin流过导线施加电场时，信号电压施加到液晶像素上，使之处于呈像状态。
通过上述技术方案，提升返修工艺设备综合稼动率，通过非接触测量方式有效的解决Mini LED背光产品LED串联电路当一颗LED出现故障，整条串联电路因为断路无电流致使整条灯带灭灯从而无法判断故障点，且Mini LED背光产品焊盘为微米级别，无法有效进行扎针测量等行业痛点问题，从而精准有效的进行故障维修，减少设备返工时间，提升综合效率，提升返修工艺设备综合维修成功率。通过提高故障判断的准确性，使返修工艺设备有的放矢，误判少，提升设备综合维修成功率。
综上，本实用新型的实施例提供一种非接触测量设备及非接触测量方法，相对于现有技术至少具有以下优点：
1、提升返修工艺设备综合稼动率。通过非接触测量方式有效的解决Mini LED背光产品LED串联电路当一颗LED出现故障，整条串联电路因为断路无电流致使整条灯带灭灯从而无法判断故障点，且Mini LED背光产品焊盘为微米级别，无法有效进行扎针测量等行业痛点问题，从而精准有效的进行故障维修，减少设备返工时间，提升综合效率。
2、提升返修工艺设备综合维修成功率。通过提高故障判断的准确性，使返修工艺设备有的放矢，误判少，提升设备综合维修成功率。
3、返修工艺设备维护成本降低，因返修工艺设备是下一环节的主要受益环节，通过减少误判维修动作延长返修工艺设备寿命，减少维护维修费用，使设备综合成本降低。
4、品质管控提升。工艺管控的提升，直接影响产品良率提升。产品信赖性和可靠性提升。
5、工厂运营更加稳定。随着返修工艺的改善，主工艺设备综合维修成功率、稳定性能都得到提升，使工厂量产计划更加稳定的执行。
以上仅为本实用新型的优选实施例而已，并不用于限制本实用新型，对于本领域的技术人员来说，本实用新型可以有各种更改和变化。凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。
Claims (1)
1.一种非接触测量设备，包括AOI(12)，其特征在于，所述AOI(12)连接有龙门(11)，所述龙门(11)连接有机台架(10)，所述机台架(10)下方连接有成像器件(1)，所述成像器件(1)包括液晶面板。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202223387882.0U CN219799933U (zh) | 2022-12-17 | 2022-12-17 | 一种非接触测量设备 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202223387882.0U CN219799933U (zh) | 2022-12-17 | 2022-12-17 | 一种非接触测量设备 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN219799933U true CN219799933U (zh) | 2023-10-03 |
Family
ID=88181587
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN202223387882.0U Active CN219799933U (zh) | 2022-12-17 | 2022-12-17 | 一种非接触测量设备 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN219799933U (zh) |
-
2022
- 2022-12-17 CN CN202223387882.0U patent/CN219799933U/zh active Active
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US8975905B2 (en) | Display apparatus with reduced number of test lines for array test process and method of testing the same | |
| US9377635B2 (en) | Display device capable of detecting bonding defect | |
| US20140203835A1 (en) | Thin film transistor substrate, method of inspecting the same, and display device including the same | |
| CN102654659B (zh) | 一种检测液晶基板的设备及方法 | |
| US20060285053A1 (en) | Liquid crystal display device and testing method thereof | |
| CN112782878A (zh) | 显示装置和用于检测显示装置中的数据链路线缺陷的方法 | |
| KR20140056659A (ko) | 터치타입 액정표시장치 및 이의 검사방법 | |
| CN219799933U (zh) | 一种非接触测量设备 | |
| KR20100064498A (ko) | 액정패널과 연결기판 간의 접속 상태를 테스트하는 방법 및이를 이용한 액정표시장치 | |
| KR100752937B1 (ko) | 회로기판의 검사장치 | |
| US20190333429A1 (en) | Display panel detection method and display panel detection device | |
| US10032417B2 (en) | Light source device and display device | |
| KR101746860B1 (ko) | 액정표시장치 및 그의 검사방법 | |
| KR20080062264A (ko) | 액정표시장치용 어레이 기판 | |
| US11043165B2 (en) | Active-matrix organic light emitting diode (AMOLED) panel cell testing circuit and method for repairing data lines via same | |
| KR101243793B1 (ko) | 평판 표시장치 및 그의 검사방법 | |
| CN115877601A (zh) | 一种非接触测量设备 | |
| KR20070120385A (ko) | 어레이 기판, 이를 이용한 액정표시장치 및 어레이 기판의제조방법 | |
| KR20100066237A (ko) | 액정패널과 드라이버 ｉｃ 간의 접속상태를 테스트 하는 방법 및 이를 이용한 액정표시장치 | |
| KR20060081295A (ko) | 공정을 단순화하는 액정 표시 장치의 테스트 설비 및테스트 방법 | |
| CN109195321B (zh) | 软性电路板、显示面板及显示装置 | |
| CN101359105A (zh) | 对液晶显示屏玻璃基板的导电引线进行电性能检测的方法 | |
| KR102229394B1 (ko) | 액정 표시 모듈의 백라이트 유닛 검사 장치 및 방법 | |
| KR102047830B1 (ko) | 액정표시장치와 그의 점등 검사방법 | |
| CN109239999A (zh) | 软性电路板、显示面板及显示装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| GR01 | Patent grant | ||
| GR01 | Patent grant |