CN219758335U - 正面上下料的集成ic测试装置 - Google Patents
正面上下料的集成ic测试装置 Download PDFInfo
- Publication number
- CN219758335U CN219758335U CN202321016697.2U CN202321016697U CN219758335U CN 219758335 U CN219758335 U CN 219758335U CN 202321016697 U CN202321016697 U CN 202321016697U CN 219758335 U CN219758335 U CN 219758335U
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- integrated
- test
- retainer
- tested
- probes
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 76
- 238000007599 discharging Methods 0.000 title abstract description 15
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims abstract description 21
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 abstract description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 5
- 238000007906 compression Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Abstract
本实用新型公开了一种正面上下料的集成IC测试装置，包括：测试座，测试座的正面设有测试区，测试区内设有若干探针，测试座内设有与若干探针电性连接的测试电路板。测试座的正面设有与测试区一一对应的保持架，待测集成IC放置在保持架内，且保持架可将待测集成IC抵压至与若干探针接触导通。本实用新型的有益效果在于：该测试装置通过设置保持架，将待测集成IC放置在保持架内，并通过保持架将待测集成IC抵压至与若干探针接触导通，使得上下料集成IC都比较省力，使用更加方便。
Description
技术领域
本实用新型涉及集成IC测试装置的技术领域，特别涉及一种正面上下料的集成IC测试装置。
背景技术
集成电路测试一般为半自动测试装置，需要人工对集成IC进行上下料。现有集成电路测试装置有从测试座的顶部上下料的，也有从测试座正面上下料的。顶部上下料的测试装置，工人一般要站立工作，比较累，而正面上下料的测试装置，工人可以站立或坐着工作，使用比较方便。我司此前申请的申请号为CN202121290954.2的集成电路批量测试底座属于正面上下料的结构，但该装置采用翻盖与底座扣合而将待测集成IC压紧，翻盖扣合和打开需要比较用力，使用还是不够方便。
实用新型内容
针对现有技术存在的问题，本实用新型的主要目的是提供一种正面上下料的集成IC测试装置，旨在。
为实现上述目的，本实用新型提出的正面上下料的集成IC测试装置，包括：测试座，测试座的正面设有测试区，测试区内设有若干探针，测试座内设有与若干探针电性连接的测试电路板。测试座的正面设有与测试区一一对应的保持架，待测集成IC放置在保持架内，且保持架可将待测集成IC抵压至与若干探针接触导通。
优选地，保持架呈“凵”字型。
优选地，保持架上设有滑杆，滑杆沿垂直于测试座正面的方向在测试座内滑动。
优选地，滑杆上套设有弹簧，弹簧可驱动滑杆滑动，而带动保持架将待测集成IC抵压至与若干探针接触导通。
优选地，测试座的正面设有限位条，限位条位于测试区的正上方。
与现有技术相比，本实用新型的有益效果在于：该测试装置通过设置保持架，将待测集成IC放置在保持架内，并通过保持架将待测集成IC抵压至与若干探针接触导通，使得上下料集成IC都比较省力，使用更加方便。
附图说明
为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。
图1为本实用新型一实施例的立体结构图；
图2为本实用新型一实施例的截面结构图；
图3为图2中的保持架拉开一定距离后的结构图；
本实用新型目的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。
具体实施方式
本实用新型提出一种正面上下料的集成IC测试装置。
参照图1-3，图1为本实用新型一实施例的立体结构图，图2为本实用新型一实施例的截面结构图，图3为图2中的保持架拉开一定距离后的结构图。
如图1-3所示，在本实用新型实施例中，该正面上下料的集成IC测试装置，包括：测试座1，测试座1的正面设有测试区2，测试区2内设有若干探针3，测试座1内设有与若干探针3电性连接的测试电路板8。测试座1的正面设有与测试区2一一对应的保持架4，待测集成IC放置在保持架4内，且保持架4可将待测集成IC抵压至与若干探针3接触导通。保持架4呈“凵”字型，待测集成IC从“凵”字型保持架4的上方开口处放入。
保持架4上设有滑杆5，滑杆5沿垂直于测试座1正面的方向在测试座1内滑动，测试时，先将保持架4滑动至远离测试区2一小段距离，方便放入待测集成IC，再将装有待测集成IC的保持架4朝测试区2滑动，使得待测集成IC与若干探针3接触导通。滑杆5上套设有弹簧6，弹簧6可驱动滑杆5带动保持架4朝测试区2滑动，从而带动保持架4将待测集成IC抵压至与若干探针3接触导通，且弹簧6的抵压力能使得待测集成IC与若干探针3始终保持压紧接触状态，保证接触良好。测试座1的正面设有限位条7，限位条7位于测试区2的正上方，使得待测集成IC在压紧过程中受挤压时，不会从“凵”字型保持架4的上方开口滑出。
该测试装置通过设置保持架4，将待测集成IC放置在保持架4内，并通过保持架4将待测集成IC抵压至与若干探针3接触导通，使得上下料集成IC都比较省力，使用更加方便。该装置在不使用时，由于保持架4位于测试区2的正前方，保持架4在一定程度上还可以起到对测试区2内探针3的保护作用。
以上所述仅为本实用新型的优选实施例，并非因此限制本实用新型的专利范围，凡是在本实用新型的实用新型构思下，利用本实用新型说明书及附图内容所作的等效结构变换，或直接/间接运用在其他相关的技术领域均包括在本实用新型的专利保护范围内。
Claims (5)
1.一种正面上下料的集成IC测试装置，其特征在于，包括：测试座，所述测试座的正面设有测试区，所述测试区内设有若干探针，所述测试座内设有与若干所述探针电性连接的测试电路板；所述测试座的正面设有与所述测试区一一对应的保持架，待测集成IC放置在所述保持架内，且所述保持架可将待测集成IC抵压至与若干所述探针接触导通。
2.如权利要求1所述的正面上下料的集成IC测试装置，其特征在于，所述保持架呈“凵”字型。
3.如权利要求2所述的正面上下料的集成IC测试装置，其特征在于，所述保持架上设有滑杆，所述滑杆沿垂直于所述测试座正面的方向在所述测试座内滑动。
4.如权利要求3所述的正面上下料的集成IC测试装置，其特征在于，所述滑杆上套设有弹簧，所述弹簧可驱动所述滑杆滑动，而带动所述保持架将待测集成IC抵压至与若干所述探针接触导通。
5.如权利要求2-4任一项所述的正面上下料的集成IC测试装置，其特征在于，所述测试座的正面设有限位条，所述限位条位于所述测试区的正上方。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202321016697.2U CN219758335U (zh) | 2023-04-27 | 2023-04-27 | 正面上下料的集成ic测试装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202321016697.2U CN219758335U (zh) | 2023-04-27 | 2023-04-27 | 正面上下料的集成ic测试装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN219758335U true CN219758335U (zh) | 2023-09-26 |
Family
ID=88083449
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN202321016697.2U Active CN219758335U (zh) | 2023-04-27 | 2023-04-27 | 正面上下料的集成ic测试装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN219758335U (zh) |
-
2023
- 2023-04-27 CN CN202321016697.2U patent/CN219758335U/zh active Active
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN219758335U (zh) | 正面上下料的集成ic测试装置 | |
| CN208094933U (zh) | 印刷电路板定位治具 | |
| CN218675210U (zh) | 一种新型pcba测试装置 | |
| CN108152713A (zh) | 电路板检测工装 | |
| CN206863176U (zh) | 一种电测治具 | |
| CN218036982U (zh) | 一种et测试用测试架 | |
| CN218180900U (zh) | 芯片压抵装置 | |
| CN216402278U (zh) | 一种微生物快速检测试剂盒 | |
| CN212030875U (zh) | 一种便携式智能锁安全检测装置 | |
| CN210811562U (zh) | 一种分类的医疗工具用放置箱 | |
| CN210835154U (zh) | 一种cof产品vt测试装置 | |
| CN212341878U (zh) | 一种新型的二维码扫取结构 | |
| CN207832844U (zh) | 一种挠性电路板的高精度检测用工装 | |
| CN218212434U (zh) | 一种柔性超薄玻璃弯折测试装置 | |
| CN112284317A (zh) | 一种机械工程用工件壁厚测量装置 | |
| CN217718001U (zh) | 一种封装模块测试装置 | |
| CN213121457U (zh) | 一种分析仪器检测装置 | |
| CN217600979U (zh) | 一种服装钉扣装置 | |
| CN219552434U (zh) | 一种具有拉伸便携结构的电子验孕棒 | |
| CN219434993U (zh) | 一种pcba及磁通变换器测试台 | |
| CN221109072U (zh) | 一种芯片电流检测组件 | |
| CN215641667U (zh) | 一种集成电路开短路测试设备 | |
| CN218098721U (zh) | 一种镶针硬度检测设备 | |
| CN212459850U (zh) | 一种元器件电阻检测装置 | |
| CN211653065U (zh) | 一种便于取放电路板的fct检测装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| GR01 | Patent grant | ||
| GR01 | Patent grant |