CN219657801U - 一种非接智能卡健壮性测试的装置 - Google Patents

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张磊
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Abstract

本实用新型公开了一种非接智能卡健壮性测试的装置,包括底板、智能卡凹槽、测试区均分表格、测试孔,其中智能卡凹槽是在底板中间依据智能卡的标准尺寸开凹槽,智能卡凹槽深度等于智能卡厚度;底板的厚度大于智能卡厚度,智能卡凹槽依据ISO 10373协议及IEC 61000协议在智能卡表面均等分形成测试区均分表格,在测试区均分表格中每个区域正中心开孔为测试孔,通过测试孔实现健壮性测试。如此设计既满足智能卡测试的绝缘性硬性要求又能实现测试的标准化和高精度化。不仅使测试非接智能卡时操作规范便捷,而且测试装置可以满足非接标准协议规定的Class 1、Class 2、Class 3、Class 4、Class 5、Class 6类标准智能卡测试,操作简单快捷。

Description

一种非接智能卡健壮性测试的装置
技术领域
本实用新型涉及非接智能卡健壮性测试领域,特别是非接智能卡健壮性测试的规范化装置。
背景技术
随着非接智能卡的普及和广泛应用,非接智能卡的健壮性也日益得到人们的关注,其智能卡的健壮性能直接影响到智能卡的整体性能指标,对智能卡的推广及实际应用影响重大,由此健壮性的规范化测试也变得尤为重要。
目前非接智能卡健壮性防静电性能测试方式为:依据非接协议采用静电枪在非接智能卡的大概测试点进行静电等级测试。在实际测试中发现测试点位置的偏移对测试结果的影响很大,测试人员的不同或同一测试人员在不同时间段的测试结果也会有所偏差。这对芯片设计及性能评估造成了很大的困扰。
实用新型内容
针对非接智能样卡的健壮性测试不规范性,本实用新型提出了一种非接智能卡健壮性测试的装置,旨在规范测试方式,标准并统一测试向量,实现测试结果的无二性,精准性。使用本实用新型可以更加规范准确的测试健壮性。
本实用新型采用PVC材质构成,其包含底板,智能卡凹槽,测试区均分表格,测试孔4部分构成。其中智能卡凹槽是在底板中间依据智能卡的标准尺寸开凹槽,智能卡凹槽深度等于智能卡厚度;底板的厚度大于智能卡厚度,智能卡凹槽依据ISO 10373协议及IEC61000协议在智能卡表面均等分形成测试区均分表格,在测试区均分表格中每个区域正中心开孔为测试孔,通过测试孔实现健壮性测试。其中:
测试智能卡凹槽,适用智能卡包括CLASS 1、Class 2、Class 3、Class 4、Class 5、Class 6类标准智能卡类型。凹槽依据CLASS1~6类智能卡的标准尺寸规范开具。
测试区均分表格,对CLASS1~6类智能卡凹槽的均分,依据ISO 10373协议及IEC61000协议在智能卡表面均等分,深度以智能卡厚度为准。
测试孔,位置位于每个表格的正中心,孔距以无影响测试设备的最小孔距为准。
本实用新型对实测智能卡的测试点做了明确的规范和限制。不仅确保了健壮性静电性能测试结果的精准性、一致性、稳定性及无差异性,而且在根本上避免了测试的误操作,使测试更加简单、便捷、规范、行之有效。
附图说明
图1是本实用新型CLASS 1类卡结构示意图。
具体实施方式
参照附图1设计如下:采用PVC材质构成且分别依据Class 1、Class 2、Class 3、Class 4、Class 5、Class 6类智能卡物理尺寸及ISO 10373协议、IEC 61000协议进行磨具开孔。附图1为CLASS 1类智能卡本发明的装置。其中101是以矩形PVC板为磨具底板,102是圆角矩型凹拖为智能卡凹槽,深度以智能卡厚度为准,103是其内部4行5列表格为对智能卡凹槽的均分,CLASS 1类卡表格行高1.37cm、列宽1.72cm。104是内部圆孔为通透孔即:测试孔,孔距0.8cm以不影响健壮性测试的最小孔距为基准调节,位置位于每个表格的正中心,Class 2、Class 3、Class 4、Class 5、Class 6类智能卡测试装置以此类推。
将待测试智能卡放置在对应的测试装置内,将装置连同智能卡一起放置在等地金属台面,使用健壮性测试设备(如:静电枪),对准测试装置中的测试孔,依据不同的测试规范给于不同的测试,汇总测试数据得出不同级别的静电影响及健壮性性能。
本实用新型的有益效果是对实测智能卡的测试点做了明确的规范和限制。不仅确保了健壮性静电性能测试结果的精准性、一致性、稳定性及无差异性,而且在根本上避免了测试的误操作,使测试更加简单、便捷、规范、行之有效。
以上实施例仅用以说明而非限制本发明的技术方案,尽管参照上述实施例对本发明进行了详细说明,本领域的普通技术人员应当理解:依然可以对本发明进行修改或等同替代,而不脱离本发明的精神和范围的任何修改或局部替代,其均应涵盖在本发明的权利要求范围内。

Claims (3)

1.一种非接智能卡健壮性测试的装置,其特征在于,包括底板、智能卡凹槽、测试区均分表格、测试孔,其中智能卡凹槽是在底板中间依据智能卡的标准尺寸开凹槽,智能卡凹槽深度等于智能卡厚度;底板的厚度大于智能卡厚度,智能卡凹槽依据ISO 10373协议及IEC61000协议在智能卡表面均等分形成测试区均分表格,在测试区均分表格中每个区域正中心开孔为测试孔,通过测试孔实现健壮性测试。
2.如权利要求1所述的装置,其特征在于,所述的智能卡为CLASS 1类智能卡时,底板内开有圆角矩型的智能卡凹槽,深度以智能卡厚度为准,对智能卡凹槽按4行5列均分成测试区均分表格,测试区均分表格中每个区域行高1.37cm、列宽1.72cm;测试孔位于表格中每个区域的正中心,测试孔以不影响健壮性测试的最小尺寸为基准。
3.如权利要求1所述的装置,其特征在于,所述智能卡包括CLASS 1、Class 2、Class 3、Class 4、Class 5、Class 6类标准智能卡类型。
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