CN219641785U - 一种用于激光调阻的治具 - Google Patents
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- 239000000523 sample Substances 0.000 claims abstract description 88
- 238000009966 trimming Methods 0.000 claims abstract description 6
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 13
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 claims description 2
- 238000004804 winding Methods 0.000 claims description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 6
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 2
- 238000003754 machining Methods 0.000 description 2
- 238000005245 sintering Methods 0.000 description 2
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000007639 printing Methods 0.000 description 1
- 238000007650 screen-printing Methods 0.000 description 1
- 238000006467 substitution reaction Methods 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
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Abstract
本实用新型公开了一种用于激光调阻的治具，包括上治具和下治具，所述上治具包括探针板、排线、设置在探针板上端的上治具盖板，所述探针板设置有导向柱孔位以及定位pin孔位，所述下治具设置有与探针板上导向柱孔位相对应的导向柱以及与定位pin孔位相对应定位pin，所述探针板上设置有若干定位口，所述探针块可拆卸的安装在定位口内，在探针块上设置有若干探针，通过采用压力探针，每次下压时，弹簧形变产生的压力均固定为0.5N；使电阻的变化值为固定值，调修结果确定。
Description
技术领域
本实用新型涉及厚膜电阻工艺技术领域，具体涉及一种用于激光调阻的治具。
背景技术
为了提高厚膜电路的精度，必须进行阻值调整。由于厚膜丝网印刷操作固有的不准确性，基板表面的不均匀及烧结条件的不重复性，厚膜电阻常出现正负误差，如果阻值超过标称值将无法修正，但是，一般情况下印刷烧成后阻值低于目标值的大约30％，所以要通过激光调整达到目标值。
目前的激光调阻机使用的探针板，上面有两根探针，调整电阻时，探针移动到目标位置的两端，下压，测量，完成后探针再移动到下一个。
专利申请号为201410175097.X的中国专利公开了一种PCB板小针测试治具，包括底座，还包括下针板、放置板、探针块和导向柱，在底座上表面顶部设置有下针板，在底座四个角上分别设置有一个导向柱，在导向柱上设置有能够沿导向柱上下移动的用于放置PCB板的放置板，在下针板上设置有若干定位口，探针块可拆卸的安装在定位口内，在探针块上设置有若干探针，在下针板上设置有若干位于放置板下方的弹簧，在放置板上设置有用于探针穿过的探针孔。
上述探针板在测量过程中，电阻两端金属位置均有碳墨覆盖的情况下，测试针下压时，表面电阻每次均会变化，对调修结果产生不确定性。
实用新型内容
实用新型目的：
本实用新型为了克服现有技术存在的问题，提供一种用于激光调阻的治具，采用压力探针，每次下压时，弹簧形变产生的压力均固定为0.5N；使电阻的变化值为固定值，调修结果确定，采用测试pin，相较于一般的探针，耐用性能更好，针对电阻不同位置采用不同的测试针头，在碳墨上采用子弹头型，在焊盘上采用90°的常用尖型，测试效果更加准确。
为解决上述问题，本实用新型采用以下技术方案：
一种用于激光调阻的治具，包括上治具和下治具，所述上治具包括探针板、排线、设置在探针板上端的上治具盖板，所述探针板设置有导向柱孔位以及定位pin孔位，所述下治具设置有与探针板上导向柱孔位相对应的导向柱以及与定位pin孔位相对应定位pin，所述探针板上设置有若干定位口，所述探针块可拆卸的安装在定位口内，在探针块上设置有若干探针。
优选的，所述探针采用压力探针，每次下压时，弹簧形变产生的压力固定为0.5N.
优选的，所述探针采用测试pin。
优选的，所述导向柱孔位与导向柱于上治具四角对应设置有四组。
优选的，所述探针板上的定位口等距设置有四排，每排等距设置有四个定位口。
优选的，所述探针的针头采用子弹头型。
优选的，所述探针的针头采用90°的常用尖型。
工作原理：激光调阻器调阻过程中，探针板带动探针下移，再次过程中通过定位pin和定位pin孔位进行校准定位，使探针到达指定位置，使探针和调阻工件接触形成一个回路，开始工作，当加工完毕，检测合格时，探针板带动探针自动上移，探针离开调阻工件，工作完成。
有益效果：与现有技术相比，本实用新型具有以下优点：
1.采用压力探针，每次下压时，弹簧形变产生的压力均固定为0.5N；使电阻的变化值为固定值，调修结果确定。
2.采用测试pin，相较于一般的探针，耐用性能更好。
3.针对电阻不同位置采用不同的测试针头，在碳墨上采用子弹头型，在焊盘上采用90°的常用尖型，测试效果更加准确。
附图说明
图1是本实用新型的平面结构示意图；
图2是本实用新型A-A的立体结构示意图；
图3是本实用新型定位口的放大图；
图4是本实用新型子弹头型针头的示意图；
图5是本实用新型90°常用尖型针头的示意图；
附图标记说明：
1、上治具；2、下治具；22、定位pin；3、探针板；31、定位口；32、探针；4、排线；5、上治具盖板；6、导向柱孔位；7、定位pin孔位。
具体实施方式
为使本实用新型的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图对本实用新型的具体实施方式做详细的说明。
如图1-5所示，一种用于激光调阻的治具，包括上治具1和下治具2，所述上治具1包括探针板3、排线4、设置在探针板3上端的上治具盖板5，所述探针板3设置有导向柱孔位6以及定位pin孔位7，所述下治具2设置有与探针板上导向柱孔位6相对应的导向柱以及与定位pin孔位7相对应定位pin22，所述探针板3上设置有若干定位口31，所述探针块可拆卸的安装在定位口31内，在探针块上设置有若干探针32。
优选的，所述探针32采用压力探针，每次下压时，弹簧形变产生的压力固定为0.5N，使电阻的变化值为固定值，调修结果确定。
优选的，所述探针32采用测试pin，相较于一般的探针，耐用性能更好。
优选的，所述导向柱孔位6与导向柱于上治具2四角对应设置有四组。
优选的，所述探针板3上的定位口31等距设置有四排，每排等距设置有四个定位口31。
优选的，所述探针32的针头采用子弹头型。
优选的，所述探针32的针头采用90°的常用尖型。
针对电阻不同位置采用不同的测试针头，在碳墨上采用子弹头型，在焊盘上采用90°的常用尖型，测试效果更加准确
工作原理：激光调阻器调阻过程中，探针板带动探针下移，再次过程中通过定位pin和定位pin孔位进行校准定位，使探针到达指定位置，使探针和调阻工件接触形成一个回路，开始工作，当加工完毕，检测合格时，探针板带动探针自动上移，探针离开调阻工件，工作完成。
以上实施例的目的，是对本实用新型的技术方案进行示例性的再现与推导，并以此完整的描述本实用新型的技术方案、目的及效果，其目的是使公众对本实用新型的公开内容的理解更加透彻、全面，并不以此限定本实用新型的保护范围。
以上实施例也并非是基于本实用新型的穷尽性列举，在此之外，还可以存在多个未列出的其他实施方式。在不违反本实用新型构思的基础上所作的任何替换与改进，均属本实用新型的保护范围。
Claims (7)
1.一种用于激光调阻的治具，其特征在于：包括上治具(1)和下治具(2)，所述上治具(1)包括探针板(3)、排线(4)、设置在探针板(3)上端的上治具盖板(5)，所述探针板(3)设置有导向柱孔位(6)以及定位pin孔位(7)，所述下治具(2)设置有与探针板上导向柱孔位(6)相对应的导向柱以及与定位pin孔位(7)相对应定位pin(22)，所述探针板(3)上设置有若干定位口(31)，探针块可拆卸的安装在定位口(31)内，在探针块上设置有若干探针(32)。
2.根据权利要求1所述的一种用于激光调阻的治具，其特征在于：所述探针(32)采用压力探针，每次下压时，弹簧形变产生的压力固定为0.5N。
3.根据权利要求1所述的一种用于激光调阻的治具，其特征在于：所述探针(32)采用测试pin。
4.根据权利要求1所述的一种用于激光调阻的治具，其特征在于：所述导向柱孔位(6)与导向柱于上治具(1)四角对应设置有四组。
5.根据权利要求1所述的一种用于激光调阻的治具，其特征在于：所述探针板(3)上的定位口(31)等距设置有四排，每排等距设置有四个定位口(31)。
6.根据权利要求1或2所述的一种用于激光调阻的治具，其特征在于：所述探针(32)的针头采用子弹头型。
7.根据权利要求1或2所述的一种用于激光调阻的治具，其特征在于：所述探针(32)的针头采用90°的常用尖型。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202320723180.0U CN219641785U (zh) | 2023-04-04 | 2023-04-04 | 一种用于激光调阻的治具 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202320723180.0U CN219641785U (zh) | 2023-04-04 | 2023-04-04 | 一种用于激光调阻的治具 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN219641785U true CN219641785U (zh) | 2023-09-05 |
Family
ID=87816603
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN202320723180.0U Active CN219641785U (zh) | 2023-04-04 | 2023-04-04 | 一种用于激光调阻的治具 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN219641785U (zh) |
-
2023
- 2023-04-04 CN CN202320723180.0U patent/CN219641785U/zh active Active
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|---|---|---|---|
| GR01 | Patent grant | ||
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