CN219552589U - 一种集成电路测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种集成电路测试装置，包括水平底板，所述水平底板的顶部固定连接有竖直板，所述竖直板的顶部固定连接有水平支架板，所述水平支架板的底部固定连接有轮替组件，所述轮替组件包括与水平支架板底部固定连接的动力电机，所述动力电机输出轴的底端固定连接有水平承载圆块，所述水平承载圆块的内部开设有四个通槽，所述通槽均匀对称分布，所述通槽的内部贯穿有衔接杆，本实用新型涉及集成电路技术领域。该集成电路测试装置，通过轮替组件的设置，装置能够及时对待检测集成电路进行快速切换，能够在检测同时在卡槽板中对待检测集成电路进行安装，方便后续转动检测，整体操作过程统筹安排，效率较高。

Description

一种集成电路测试装置

技术领域

本实用新型涉及集成电路技术领域，具体为一种集成电路测试装置。

背景技术

集成电路在生产结束后，需要对其进行检测，普通集成电路检测过程采用人工手持检测仪器对集成电路针脚进行逐个检测，效率较低，有的先进单位采用集成仪器对集成电路进行逐个检测，但是集成电路安装替换速度慢，而检测速度较快，导致大量时间浪费在集成电路的工位安装过程中，不利于快速检测。

实用新型内容

针对现有技术的不足，本实用新型提供了一种集成电路测试装置，解决了普通集成电路检测过程采用人工手持检测仪器对集成电路针脚进行逐个检测，效率较低，有的先进单位采用集成仪器对集成电路进行逐个检测，但是集成电路安装替换速度慢，而检测速度较快，导致大量时间浪费在集成电路的工位安装过程中，不利于快速检测的问题。

为实现以上目的，本实用新型通过以下技术方案予以实现：一种集成电路测试装置，包括水平底板，所述水平底板的顶部固定连接有竖直板，所述竖直板的顶部固定连接有水平支架板，所述水平支架板的底部固定连接有轮替组件，所述轮替组件包括与水平支架板底部固定连接的动力电机，所述动力电机输出轴的底端固定连接有水平承载圆块，所述水平承载圆块的内部开设有四个通槽，所述通槽均匀对称分布，所述通槽的内部贯穿有衔接杆，所述衔接杆的顶端固定连接有花键盘，所述衔接杆的表面固定连接有伴随板，所述伴随板的底部转动连接有伸缩杆，所述通槽内壁的两侧均固定连接有环形板，所述环形板的顶部与伸缩杆的底端滑动连接，所述衔接杆的底端固定连接有放置槽块，所述放置槽块内壁的一侧固定连接有吸盘，所述放置槽块底部的两侧均固定连接有卡槽板，所述水平支架板的顶部活动连接有纠偏测试组件，所述水平底板内表面的底部固定连接有定位测试块。

优选的，所述纠偏测试组件包括与水平支架板顶部活动连接的顶板，所述顶板的形状为圆形。

优选的，所述顶板底部的中间固定连接有测试伸缩杆，所述测试伸缩杆的底端贯穿水平支架板并且延伸至水平支架板的底部。

优选的，所述测试伸缩杆的底端固定连接有花键套，所述花键套的表面设置加强筋。

优选的，所述顶板的顶部固定连接有控制把手，所述控制把手的表面设置防滑凸点。

优选的，所述顶板的底部固定连接有滚动球，所述滚动球的表面打磨光滑。

有益效果

本实用新型提供了一种集成电路测试装置。与现有技术相比具备以下有益效果：

(1)、该集成电路测试装置，通过水平支架板的底部固定连接有轮替组件，轮替组件包括与水平支架板底部固定连接的动力电机，动力电机输出轴的底端固定连接有水平承载圆块，水平承载圆块的内部开设有四个通槽，通槽均匀对称分布，通槽的内部贯穿有衔接杆，衔接杆的顶端固定连接有花键盘，衔接杆的表面固定连接有伴随板，伴随板的底部转动连接有伸缩杆，通槽内壁的两侧均固定连接有环形板，环形板的顶部与伸缩杆的底端滑动连接，衔接杆的底端固定连接有放置槽块，放置槽块内壁的一侧固定连接有吸盘，放置槽块底部的两侧均固定连接有卡槽板，通过轮替组件的设置，装置能够及时对待检测集成电路进行快速切换，能够在检测同时在卡槽板中对待检测集成电路进行安装，方便后续转动检测，整体操作过程统筹安排，效率较高，解决了集成电路安装替换速度慢，而检测速度较快，导致大量时间浪费在集成电路的工位安装过程中，不利于快速检测的问题。

(2)、该集成电路测试装置，通过纠偏测试组件包括与水平支架板顶部活动连接的顶板，顶板的形状为圆形，顶板底部的中间固定连接有测试伸缩杆，测试伸缩杆的底端贯穿水平支架板并且延伸至水平支架板的底部，测试伸缩杆的底端固定连接有花键套，花键套的表面设置加强筋，顶板的顶部固定连接有控制把手，控制把手的表面设置防滑凸点，顶板的底部固定连接有滚动球，滚动球的表面打磨光滑，通过纠偏测试组件的设置，装置能及时对集成电路进行角度纠正，避免转动歪斜的集成电路不能准确对准定位测试块，方便工作人员快速检测，并且相关结构十分简单，易于工作人员快速操作。

附图说明

图1为本实用新型的正视图；

图2为本实用新型轮替组件结构的示意图；

图3为本实用新型动力电机结构的侧视图；

图4为本实用新型纠偏测试组件结构的示意图。

图中：1、水平底板；2、竖直板；3、水平支架板；4、轮替组件；41、动力电机；42、水平承载圆块；43、通槽；44、衔接杆；45、花键盘；46、伴随板；47、伸缩杆；48、环形板；49、放置槽块；410、吸盘；411、卡槽板；5、纠偏测试组件；51、顶板；52、测试伸缩杆；53、花键套；54、控制把手；55、滚动球；6、定位测试块。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

请参阅图1-4，本实用新型提供两种技术方案：

实施例一

一种集成电路测试装置，包括水平底板1，水平底板1的顶部固定连接有竖直板2，竖直板2的顶部固定连接有水平支架板3，水平支架板3的底部固定连接有轮替组件4，轮替组件4包括与水平支架板3底部固定连接的动力电机41，动力电机41为步进电机，动力电机41输出轴的底端固定连接有水平承载圆块42，水平承载圆块42的内部开设有四个通槽43，通槽43均匀对称分布，通槽43的内部贯穿有衔接杆44，衔接杆44的顶端固定连接有花键盘45，衔接杆44的表面固定连接有伴随板46，伴随板46的底部转动连接有伸缩杆47，通槽43内壁的两侧均固定连接有环形板48，环形板48的顶部与伸缩杆47的底端滑动连接，衔接杆44的底端固定连接有放置槽块49，放置槽块49内壁的一侧固定连接有吸盘410，放置槽块49底部的两侧均固定连接有卡槽板411，水平支架板3的顶部活动连接有纠偏测试组件5，水平底板1内表面的底部固定连接有定位测试块6，通过轮替组件4的设置，装置能够及时对待检测集成电路进行快速切换，能够在检测同时在卡槽板411中对待检测集成电路进行安装，方便后续转动检测，整体操作过程统筹安排，效率较高，解决了集成电路安装替换速度慢，而检测速度较快，导致大量时间浪费在集成电路的工位安装过程中，不利于快速检测的问题。

实施例二

与实施例一的主要区别在于：

一种集成电路测试装置，纠偏测试组件5包括与水平支架板3顶部活动连接的顶板51，顶板51的形状为圆形，顶板51底部的中间固定连接有测试伸缩杆52，测试伸缩杆52的底端贯穿水平支架板3并且延伸至水平支架板3的底部，测试伸缩杆52的底端固定连接有花键套53，花键套53的表面设置加强筋，顶板51的顶部固定连接有控制把手54，控制把手54的表面设置防滑凸点，顶板51的底部固定连接有滚动球55，滚动球55的表面打磨光滑，通过纠偏测试组件5的设置，装置能及时对集成电路进行角度纠正，避免转动歪斜的集成电路不能准确对准定位测试块6，方便工作人员快速检测，并且相关结构十分简单，易于工作人员快速操作。定位测试块6内部含有成熟的电路检测模组，相关设备为已知的成熟技术。

同时本说明书中未作详细描述的内容均属于本领域技术人员公知的现有技术。

检测前，将待检测集成电路插入卡槽板411中，集成电路光滑顶面被吸盘410吸附，开启动力电机41，带动水平承载圆块42转动，动力电机41转动九十度，将待检测集成电路转动至定位测试块6的顶部，伸长测试伸缩杆52，将花键套53与花键盘45卡合固定，转动控制把手54，通过顶板51带动测试伸缩杆52和花键套53转动，进而带动花键盘45、衔接杆44和放置槽块49转动，与此同时滚动球55转动并且伴随板46带动伸缩杆47在环形板48表面滑动，控制把手54转动带动集成电路位置与定位测试块6的位置同向，继续伸长测试伸缩杆52，花键盘45和衔接杆44下移，与此同时伴随板46向下挤压伸缩杆47，放置槽块49和卡槽板411将集成电路下压至定位测试块6的顶部，与定位测试块6结合后，开启相关开关对集成电路针脚进行检测，检测过程时，工作人员能够及时将待检测集成电路放入剩余其他卡槽板411中，检测结束后，动力电机41继续运行，检测后的集成电路被转动带离定位测试块6的位置，从卡槽板411中将检测后的集成电路取下，继续安装待检测集成电路，当装置完全检测结束，装置复原。

需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。

尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。

Claims (6)

1.一种集成电路测试装置，包括水平底板(1)，其特征在于：所述水平底板(1)的顶部固定连接有竖直板(2)，所述竖直板(2)的顶部固定连接有水平支架板(3)，所述水平支架板(3)的底部固定连接有轮替组件(4)，所述轮替组件(4)包括与水平支架板(3)底部固定连接的动力电机(41)，所述动力电机(41)输出轴的底端固定连接有水平承载圆块(42)，所述水平承载圆块(42)的内部开设有四个通槽(43)，所述通槽(43)均匀对称分布，所述通槽(43)的内部贯穿有衔接杆(44)，所述衔接杆(44)的顶端固定连接有花键盘(45)，所述衔接杆(44)的表面固定连接有伴随板(46)，所述伴随板(46)的底部转动连接有伸缩杆(47)，所述通槽(43)内壁的两侧均固定连接有环形板(48)，所述环形板(48)的顶部与伸缩杆(47)的底端滑动连接，所述衔接杆(44)的底端固定连接有放置槽块(49)，所述放置槽块(49)内壁的一侧固定连接有吸盘(410)，所述放置槽块(49)底部的两侧均固定连接有卡槽板(411)，所述水平支架板(3)的顶部活动连接有纠偏测试组件(5)，所述水平底板(1)内表面的底部固定连接有定位测试块(6)。

2.根据权利要求1所述的一种集成电路测试装置，其特征在于：所述纠偏测试组件(5)包括与水平支架板(3)顶部活动连接的顶板(51)，所述顶板(51)的形状为圆形。

3.根据权利要求2所述的一种集成电路测试装置，其特征在于：所述顶板(51)底部的中间固定连接有测试伸缩杆(52)，所述测试伸缩杆(52)的底端贯穿水平支架板(3)并且延伸至水平支架板(3)的底部。

4.根据权利要求3所述的一种集成电路测试装置，其特征在于：所述测试伸缩杆(52)的底端固定连接有花键套(53)，所述花键套(53)的表面设置加强筋。

5.根据权利要求2所述的一种集成电路测试装置，其特征在于：所述顶板(51)的顶部固定连接有控制把手(54)，所述控制把手(54)的表面设置防滑凸点。

6.根据权利要求2所述的一种集成电路测试装置，其特征在于：所述顶板(51)的底部固定连接有滚动球(55)，所述滚动球(55)的表面打磨光滑。