CN219533233U - 一种测试组件、测试机构及测试机 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种测试组件、测试机构及测试机，包括第一连接座，第一连接座的至少一侧设有第二连接座；第一连接座的两侧部分别开设有卡接槽；第二连接座的一侧部设有卡接块，卡接块卡合连接于卡接槽内；其中，沿第二连接座朝向第一连接座的方向，卡接块的宽度逐渐增大。安装时，将第二连接座置于第一连接座对应的一侧，使卡接块卡合连接于卡接槽内，由于卡接块的宽度分布，使第二连接座卡接于第一连接座上，安装方便快捷，提高安装效率，无需额外的装配壳体结构，有效地降低了成本；且错位第二连接座，即可拆卸第二连接座，从而更换不同数量或尺寸的第二连接座，以适用于不同尺寸结构的待检测工件，提高可适用范围。

Description

一种测试组件、测试机构及测试机

技术领域

本实用新型涉及PCB测试的技术领域，尤其涉及一种测试组件、测试机构及测试机。

背景技术

自动在线测试机(简称测试机)，强大高效的检测能力是现代电子企业的必备测试设备，能准确地量测电路板上的电阻、电容器、电感等元件的相关参数，帮助用户迅速而准确的排查故障，确保生产质量，降低生产成本。

现有的测试机中，采用与装配壳体呈可拔出插装的多个探针模组来对电路板进行电路测试，利用探针模组实现电信号和电流传输。在现有的测试组件中，包括装配壳体和不少于一个的探针，装配壳体用于供不少于一个的探针整齐排列并固定安装，当需要测试电路板时，装配壳体安装于测试机内，使得探针电连接于测试端口和电路板之间。

这种测试组件的不足之处在于，装配壳体一体成型，当需要测试不同规格的电路板时，所需的探针数量和探针的位置布局均不同，原有的装配壳体不再适用，则需要额外开模设计新的装配壳体，导致成本提高；且装配壳体的尺寸为固定值，对于不同类型的电路板需要更换不同尺寸的装配壳体，适用范围小，成本较高。鉴于此，需要对现有技术中的测试机加以改进，以解决装配壳体的尺寸单一，适用范围小的技术问题。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种测试组件、测试机构及测试机，解决以上的技术问题。

为达此目的，本实用新型采用以下技术方案：

一种测试组件，包括第一连接座，所述第一连接座的至少一侧设有第二连接座；其中，所述第一连接座和所述第二连接座可拆卸连接。

可选的，所述第一连接座靠近所述第二连接座的侧部均开设有卡接槽；

所述第二连接座靠近所述第一连接座的一侧部设有卡接块，所述卡接块卡合连接于所述卡接槽内。

可选的，所述卡接块朝向所述第二连接座的一侧至所述卡接块朝向所述第一连接座的一侧，所述卡接块的宽度逐渐增大。

可选的，所述第一连接座的靠近所述第二连接座的侧部还分别设有与所述卡接槽相毗邻的限位部；

所述卡接块卡合连接于所述卡接槽时，所述卡接块的一壁面与所述限位部相抵接。

可选的，所述测试组件还包括不少于一个探针；

所述第一连接座和所述第二连接座的上端面分别开设有若干个安装孔，不少于一个的所述探针分别安装于所述安装孔内。

可选的，所述第一连接座上端面的两侧部分别开设有第一缺口槽，所述第二连接座上端面靠近所述第一连接座的一侧部开设有第二缺口槽，所述第一缺口槽和所述第二缺口槽相连通，所述第一缺口槽和所述第二缺口槽均用于卡合连接于测试机。

可选的，所述第一连接座的下端面和所述第二连接座的下端面均设置有加强柱；

所述测试组件安装于测试机时，所述加强柱抵紧测试机并支撑所述第一连接座和所述第二连接座。

本实用新型还提供了一种测试机构，包括如上所述的测试组件，所述测试组件的数量为不少于一组，不少于一组的所述测试组件并排设置。

可选的，相邻的所述测试组件上分别设有定位孔和定位销，所述定位销卡合连接于所述定位孔内。

本实用新型还提供了一种测试机，包括如上所述的测试机构。与现有技术相比，本实用新型具有以下有益效果：安装时，将第二连接座置于第一连接座对应的一侧，使第二连接座可拆卸连接于第一连接座上，完成安装；当需要改变测试规格时，通过更换不同数量或尺寸的第二连接座，以适用于不同尺寸结构或数量的待检测工件，提高可适用范围；且无需额外制造不同规格的装配壳体结构，有效地降低了成本。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。

本说明书附图所绘示的结构、比例、大小等，均仅用以配合说明书所揭示的内容，以供熟悉此技术的人士了解与阅读，并非用以限定本实用新型可实施的限定条件，故不具技术上的实质意义，任何结构的修饰、比例关系的改变或大小的调整，在不影响本实用新型所能产生的功效及所能达成的目的下，均应仍落在本实用新型所揭示的技术内容得能涵盖的范围内。

图1为本测试组件的结构示意图；

图2为本测试机构的部件分解结构示意图；

图3为本测试机构的结构示意图；

图4为本测试机构的正视结构示意图；

图5为本测试机构的图3的局部放大结构示意图；

图6为本测试组件的探针剖面结构示意图；

图7为本测试组件的探针的结构示意图。

图示说明：第一连接座1、第二连接座2、探针3、卡接槽11、限位部12、第一缺口槽14、扩展部131、安装孔13、卡接块21、探针本体31、安装壳体32、阶梯部321、凸起环322、第二缺口槽22、定位孔4、定位销5。

具体实施方式

为使得本实用新型的实用新型目的、特征、优点能够更加的明显和易懂，下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，下面所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而非全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本实用新型保护的范围。

在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语“上”、“下”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。需要说明的是，当一个组件被认为是“连接”另一个组件，它可以是直接连接到另一个组件或者可能同时存在居中设置的组件。

下面结合附图并通过具体实施方式来进一步说明本实用新型的技术方案。

实施例一：

本实用新型实施例提供了一种测试组件，包括第一连接座1，第一连接座1的至少一侧设有第二连接座2；第二连接座2可拆卸于第一连接座1上。

本实用新型的工作原理为：安装时，将第二连接座2置于第一连接座1对应的一侧，使第二连接座2可拆卸连接于第一连接座1上，完成安装；当需要改变测试规格时，通过更换不同数量或尺寸的第二连接座2，以适用于不同尺寸结构或数量的待检测工件，提高可适用范围；且无需额外制造不同规格的装配壳体结构，有效地降低了成本。

第一连接座1靠近第二连接座2的侧部设有卡接槽11；其中优选的方式为，第一连接座1的两侧部分别开设有卡接槽11；第二连接座2靠近第一连接座1的一侧部设有与卡接槽11相匹配的卡接块21，卡接块21卡合连接于卡接槽11内；其中，卡接块21朝向第二连接座2的一侧至卡接块21朝向第一连接座1的一侧，卡接块21的宽度逐渐增大。

结合图1所示，本方案中的卡接块21的形状为倒三角形，即卡接块21的伸出端的宽度较大(此处的宽度是指图示中卡接块21上端面至下端面之间的垂线的长度)，左右拔拉第二连接座2时，卡接块21会与卡接槽11的槽壁相抵，通过斜面定位作用，起到固定第二连接座2的作用；

此外，卡接块21的形状不仅限于倒三角形，还可以为阶梯型、弧形；满足宽度沿着上述方向逐渐增大即可；

安装时，将第二连接座2置于第一连接座1对应的一侧，使卡接块21卡合连接于卡接槽11内，由于卡接块21的宽度分布，向外拔拉第二连接座2时，卡接槽11会限位住卡接块21，避免卡接块21脱落，从而使第二连接座2卡接于第一连接座1上，安装方便快捷，提高安装效率，无需额外的装配壳体结构，有效地降低了成本；且错位第二连接座2，即可拆卸第二连接座2，从而更换不同数量或尺寸的第二连接座2，以适用于不同尺寸结构的待检测工件，提高可适用范围。

在本实施例中，第一连接座1的两侧部还分别设有与卡接槽11相毗邻的限位部12；

卡接块21卡合连接于卡接槽11时，卡接块21的一壁面与限位部12相抵接。

结合图1所示，卡接槽11并不是通槽，即在第一连接座1上预留一定的厚度，形成限位部12，其作用在于限位第二连接座2，第二连接座2与第一连接座1连接时，卡接块21会与限位部12相抵接，避免安装时因卡接块21移动过渡而导致脱离卡接槽11的情况发生，进而提高了工作人员的装配效率。

在本实施例中，测试组件还包括用于检测工件的探针3；探针3用于实现电信号和电流的传输，使待检测工件与系统连通，实现对待检测工件的功能测试；

第一连接座1和第二连接座2的上端面分别开设有若干个安装孔13，探针3插接于安装孔13内。

结合图3所示，本方案中的探针3插接于对应的安装孔13内；第一连接座1和第二连接座2的上端面分别设有若干个安装孔13，若干个安装孔13呈矩阵式排布；实际工作时，可通过探针3的安装范围，适配于待检测工件的尺寸，从而实现对于不同尺寸的待检测工件的检测工作。

进一步说明地是，探针3包括探针本体31，以及套设于探针本体31外的安装壳体32；

安装壳体32插接于安装孔13内，安装壳体32的下半段预设位置设有阶梯部321，阶梯部321卡接于安装孔13内。

结合图5至图7所示，阶梯部321卡接于安装孔13内，起到定位探针3的作用，避免探针3的插接力度过大，损坏安装壳体32下端部的情况，从而起到保护探针3的作用。

在本实施例中，安装壳体32的上端部设有凸起环322；安装孔13的开口处设有呈环形的扩展部131，凸起环322卡接于扩展部131。

结合图5和图6所示，凸起环322为设于安装壳体32的上端部呈环状的凸起结构，其直径大于安装壳体32的外直径；探针3插接于安装孔13时，凸起环322卡接于扩展部131，从而起到限位探针3插入深度的作用，保护探针3的下端部不受损伤。

在本实施例中，第一连接座1上端面的两侧部分别开设有第一缺口槽14，第一缺口槽14毗邻于第二连接座2；第二连接座2上靠近第一连接座1的一侧部开设有第二缺口槽22；第二连接座2卡接于第一连接座1时，第一缺口槽14和第二缺口槽22之间形成有用于定位测试组件的定位空间；第一缺口槽14和第二缺口槽22相连通，第一缺口槽14和第二缺口槽22均用于卡合连接于测试机。

其中，第一连接座1的下端面和第二连接座2的下端面均设置有加强柱6；加强柱6设于定位空间内，测试组件安装于测试机时，加强柱6抵紧测试机并支撑第一连接座1和第二连接座2。

结合图1所示，第二连接座2卡接于第一连接座1时，第一缺口槽14和第二缺口槽22相互毗邻；待检测工件的表面设于与定位空间相匹配的定位柱，检测工作时，测试组件通过定位空间与定位柱相配合，实现测试组件与待检测工件的定位安装，以便于测试组件能够快速与待检测工件能够安装和分离，提高检测效率，同时提高安装精度，避免偏位导致探针3损坏的情况。

实施例二：

本实用新型还提供了一种测试机构，包括如实施例一的测试组件。

在本实施例中，测试组件的数量为不少于一组，不少于一组的测试组件并排地贴合设置；相邻的两个测试组件的贴合面上分别设有定位孔4，以及与定位孔4相配合的定位销5。

结合图3所示，本方案中的测试组件为多组，可通过测试组件的数量来调整测试机构的检测尺寸；多组测试组件安装时，可通过定位孔4和定位销5的配合，依次将多组测试组件连接，方便快捷，有利于提高安装效率。

实施例三：

本实用新型还提供了一种测试机，包括如实施例二的测试组件。

本方案中的测试机可通过各个连接座上的连接件，来实现各个连接座的安装连接，无需额外的装配壳体结构，方便快捷，安装效率高。

以上所述，以上实施例仅用以说明本实用新型的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本实用新型各实施例技术方案的精神和范围。

Claims (10)

1.一种测试组件，其特征在于，包括第一连接座，所述第一连接座的至少一侧设有第二连接座；其中，所述第一连接座和所述第二连接座可拆卸连接。

2.根据权利要求1所述的测试组件，其特征在于，所述第一连接座靠近所述第二连接座的侧部均开设有卡接槽；

所述第二连接座靠近所述第一连接座的一侧部设有卡接块，所述卡接块卡合连接于所述卡接槽内。

3.根据权利要求2所述的测试组件，其特征在于，所述卡接块朝向所述第二连接座的一侧至所述卡接块朝向所述第一连接座的一侧，所述卡接块的宽度逐渐增大。

4.根据权利要求2所述的测试组件，其特征在于，所述第一连接座的靠近所述第二连接座的侧部还分别设有与所述卡接槽相毗邻的限位部；

所述卡接块卡合连接于所述卡接槽时，所述卡接块的一壁面与所述限位部相抵接。

5.根据权利要求1所述的测试组件，其特征在于，还包括不少于一个探针；

所述第一连接座和所述第二连接座的上端面分别开设有若干个安装孔，不少于一个的所述探针分别安装于所述安装孔内。

6.根据权利要求1所述的测试组件，其特征在于，所述第一连接座上端面的两侧部分别开设有第一缺口槽，所述第二连接座上端面靠近所述第一连接座的一侧部开设有第二缺口槽，所述第一缺口槽和所述第二缺口槽相连通，所述第一缺口槽和所述第二缺口槽均用于卡合连接于测试机。

7.根据权利要求6所述的测试组件，其特征在于，所述第一连接座的下端面和所述第二连接座的下端面均设置有加强柱；

所述测试组件安装于测试机时，所述加强柱抵紧测试机并支撑所述第一连接座和所述第二连接座。

8.一种测试机构，其特征在于，包括如权利要求1至7任一项所述的测试组件，所述测试组件的数量为不少于一组，不少于一组的所述测试组件并排设置。

9.根据权利要求8所述的测试机构，其特征在于，相邻的所述测试组件上分别设有定位孔和定位销，所述定位销卡合连接于所述定位孔内。

10.一种测试机，其特征在于，包括如权利要求8至9任一项所述的测试机构。