CN219496585U - 一种集成电路霍尔效应测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及一种集成电路霍尔效应测试装置，本实用新型涉及霍尔效应的技术领域。本实用新型包括检测架和霍尔效应测试仪，检测架呈“凹”型，检测架的下端固定连接有底架，检测架的上端固定连接有两个顶板，两个顶板的下端固定连接有两个连接板，霍尔效应测试仪放置于两个连接板的上端，霍尔效应测试仪的下端设置有检测腔，检测架的侧壁之间固定连接有操作板，操作板的上端开设有滑槽，滑槽内滑动连接有测试台，操作板的上方设置有两个卡块，两个卡块内设置有多个集成电路板，第一气缸和卡块配合，可以将集成电路板推入测试台上进行检测。

Description

一种集成电路霍尔效应测试装置

技术领域

本实用新型涉及霍尔效应的技术领域，尤其是涉及一种集成电路霍尔效应测试装置。

背景技术

霍尔效应是电磁效应的一种，当电流垂直于外磁场通过半导体时，载流子发生偏转，垂直于电流和磁场的方向会产生一附加电场，从而在半导体的两端产生电势差，这一现象就是霍尔效应，这个电势差也被称为霍尔电势差。霍尔效应使用左手定则判断。

如公开号为CN205157730U的集成电路霍尔效应(Hall Effect)测试装置及其测试平台。根据本实用新型一实施例，该集成电路霍尔效应(Hall Effect)测试平台包括：测试机台、测试底板以及霍尔效应测试装置；测试机台包括基板；霍尔效应测试装置设置于测试底板内且该霍尔效应测试装置包括屏蔽壳体、磁场线圈以及测试座；屏蔽壳体定义一测试区；磁场线圈经配置产生磁场，且该磁场线圈设置于测试区内；测试座经配置以承载待测试集成电路，且该测试座设置于测试区内且为磁场线圈所环绕。根据本实用新型的集成电路霍尔效应(Hall Effect)测试平台，其增加了半导体集成电路的测试项目，提升了集成电路测试机台的能力。但是其在对集成电路进行霍尔效应检测时，一般都是人工一个一个将电路板放到测试平台上进行检测，这种一个一个人工频繁上料的方式在遇到大批量生产和检测时，长期操作会使人员产生劳累感，从而导致上料的速度降低，从而影响大批量检测的效率。

实用新型内容

根据现有技术存在的不足，本实用新型的目的是提供一种集成电路霍尔效应测试装置，具有降低上料的频繁率，提高检测效率的效果。

本实用新型的上述技术目的是通过以下技术方案得以实现的：

一种集成电路霍尔效应测试装置，包括检测架和霍尔效应测试仪，所述检测架呈“凹”型，所述检测架的下端固定连接有底架，所述检测架的上端固定连接有两个顶板，两个所述顶板的下端固定连接有两个连接板，所述霍尔效应测试仪放置于两个连接板的上端，所述霍尔效应测试仪的下端设置有检测腔，所述检测架的侧壁之间固定连接有操作板，所述操作板的上端开设有滑槽，所述滑槽内滑动连接有测试台，所述操作板的上方设置有两个卡块，两个所述卡块内设置有多个集成电路板，多个所述集成电路板的下端均设置有保护膜，所述操作板的上端固定连接有第一气缸，且第一气缸的活塞杆与位于最下侧的集成电路板相抵。

通过采用上述技术方案，第一气缸和卡块配合，可以将集成电路板推入测试台上进行检测。

本实用新型在一较佳示例中可以进一步配置为：所述操作板和两个卡块之间均设置有调节机构，每组所述调节机构均包括两个第二弹簧、固定板和螺杆，所述固定板固定连接于操作板的上端，两个所述第二弹簧均固定连接于固定板的一侧，且两个第二弹簧的另一侧均与卡块固定，所述螺杆设置于固定板的一侧方，且螺杆螺纹贯穿固定板的另一侧并与卡块相抵。

通过采用上述技术方案，调节机构和卡块配合，可以对多个集成电路板进行轻微夹持，可以根据不同尺寸的集成电路板进行调节后摆正，防止集成电路板倒塌，方便推动集成电路板进行检测。

本实用新型在一较佳示例中可以进一步配置为：所述固定板的一侧方设置有两个T型杆，且两个T型杆均活动贯穿固定板的另有一侧并与卡块固定，两个所述第二弹簧分别套设于两个T型杆的周向侧。

通过采用上述技术方案，T型杆可以防止第二弹簧受到压缩或者自身弹性回复时产生弯曲形变。

本实用新型在一较佳示例中可以进一步配置为：两个所述顶板上设置有两组夹持装置，每组所述夹持装置均包括两个圆形槽、两个卡槽、卡板和两个第一弹簧，两个所述卡槽分别开设于两个顶板的一侧，两个所述圆形槽分别开设于两个卡槽的一侧壁，两个所述第一弹簧分别固定连接于两个圆形槽的侧壁，所述卡板固定连接于两个第一弹簧的一侧。

通过采用上述技术方案，夹持装置和霍尔效应测试仪配合，可以对霍尔效应测试仪进行夹持固定，方便霍尔效应测试仪拆卸，进行检修。

本实用新型在一较佳示例中可以进一步配置为：所述底架的内顶壁固定连接有第二气缸，且第二气缸的活塞杆活动贯穿底架的上端并与测试台的下端固定。

通过采用上述技术方案，第二气缸可以推动测试台移动，将测试台上的集成电路板推动到检测腔内，方便进行检测。

本实用新型在一较佳示例中可以进一步配置为：所述检测架的内底壁和两个顶板的下端均固定连接有滑杆，所述测试台滑动连接于两个滑杆的周向侧，所述测试台的上端固定连接有两个L型块，所述操作板的下端固定连接有手机盒。

通过采用上述技术方案，滑杆可以使得测试台移动更加稳定。

综上所述，本实用新型包括以下至少一种有益技术效果：

1.设置有第一气缸和卡块，两个卡块可以将多个集成电路板排列在一起，启动第一气缸，第一气缸的活塞杆推动集成电路板移动，进入到测试台上，底部的集成电路板被推走，上侧的集成电路板降落下来，方便对下一个集成电路板进行检测，多个电路板一起上料，不需要人工频繁单个上料，减少单个集成电路板上料的时间，提高检测效率。

2.设置有调节机构，转动螺杆，螺杆推动卡块向对方靠近，第二弹簧处于拉伸状态，两个卡块可以对集成电路板进行排列整平，方便后期推动，调节机构可以调节卡块的位置，使得卡块可以夹持不同尺寸的集成电路板。

附图说明

图1是本实施例的立体图；

图2是本实施例图1中A处的局部放大图；

图3是本实施例的立体剖视图；

图4是本实施例图3中B处的局部放大图。

图中，1、底架；2、检测架；3、顶板；4、霍尔效应测试仪；5、手机盒；6、夹持装置；601、圆形槽；602、卡槽；603、第一弹簧；604、卡板；7、连接板；8、操作板；9、第一气缸；10、滑槽；11、测试台；12、滑杆；13、第二气缸；14、L型块；15、检测腔；16、集成电路板；17、保护膜；18、卡块；19、调节机构；1901、第二弹簧；1902、固定板；1903、螺杆；1904、T型杆。

实施方式

以下结合附图对本实用新型作进一步详细说明。

实施例

参照图1-4，本实用新型公开的一种集成电路霍尔效应测试装置，包括检测架2和霍尔效应测试仪4，检测架2呈“凹”型，检测架2的下端固定连接有底架1，检测架2的上端固定连接有两个顶板3，两个顶板3的下端固定连接有两个连接板7，霍尔效应测试仪4放置于两个连接板7的上端，霍尔效应测试仪4的下端设置有检测腔15，检测架2的侧壁之间固定连接有操作板8，操作板8的上端开设有滑槽10，滑槽10内滑动连接有测试台11，操作板8的上方设置有两个卡块18，两个卡块18内设置有多个集成电路板16，多个集成电路板16的下端均设置有保护膜17，操作板8的上端固定连接有第一气缸9，且第一气缸9的活塞杆与位于最下侧的集成电路板16相抵，两个卡块18可以将多个集成电路板16排列在一起，启动第一气缸9，第一气缸9的活塞杆推动集成电路板16移动，进入到测试台11上，底部的集成电路板16被推走，上侧的集成电路板16降落下来，方便对下一个集成电路板16进行检测，可以自动对集成电路板16进行上料检测，而且不需要人工频繁上料，减少上料的时间，提高检测效果。

操作板8和两个卡块18之间均设置有调节机构19，每组调节机构19均包括两个第二弹簧1901、固定板1902和螺杆1903，固定板1902固定连接于操作板8的上端，两个第二弹簧1901均固定连接于固定板1902的一侧，且两个第二弹簧1901的另一侧均与卡块18固定，螺杆1903设置于固定板1902的一侧方，且螺杆1903螺纹贯穿固定板1902的另一侧并与卡块18相抵，固定板1902的一侧方设置有两个T型杆1904，且两个T型杆1904均活动贯穿固定板1902的另有一侧并与卡块18固定，两个第二弹簧1901分别套设于两个T型杆1904的周向侧，T型杆1904可以防止第二弹簧1901受到压缩或者自身弹性回复时产生弯曲形变，转动螺杆1903，螺杆1903推动卡块18向对方靠近，第二弹簧1901处于拉伸状态，两个卡块18可以对集成电路板16进行排列整平，方便后期推动，调节机构19可以调节卡块18的位置，使得卡块18可以夹持不同尺寸的集成电路板16。

两个顶板3上设置有两组夹持装置6，每组夹持装置6均包括两个圆形槽601、两个卡槽602、卡板604和两个第一弹簧603，两个卡槽602分别开设于两个顶板3的一侧，两个圆形槽601分别开设于两个卡槽602的一侧壁，两个第一弹簧603分别固定连接于两个圆形槽601的侧壁，卡板604固定连接于两个第一弹簧603的一侧，向外拉动卡板604，将霍尔效应测试仪4放到连接板7上，松开第一弹簧603，由于自身弹性回复，卡板604将霍尔效应测试仪4卡住，可以对霍尔效应测试仪4进行夹持固定，方便霍尔效应测试仪4拆卸，进行检修。

底架1的内顶壁固定连接有第二气缸13，且第二气缸13的活塞杆活动贯穿底架1的上端并与测试台11的下端固定，第二气缸13可以推动测试台11移动，将测试台11上的集成电路板16推动到检测腔15内，方便进行检测。检测架2的内底壁和两个顶板3的下端均固定连接有滑杆12，测试台11滑动连接于两个滑杆12的周向侧，测试台11的上端固定连接有两个L型块14，操作板8的下端固定连接有手机盒5，滑杆12可以使得测试台11移动更加稳定。

上述实施例的实施原理为：将多个集成电路板16纵向排列好放到，卡块18之间，转动螺杆1903，螺杆1903推动卡块18向对方靠近，第二弹簧1901处于拉伸状态，两个卡块18可以对集成电路板16进行排列整平，方便后期推动，调节机构19可以调节卡块18的位置，使得卡块18可以夹持不同尺寸的集成电路板16，启动第一气缸9，第一气缸9的活塞杆推动集成电路板16移动，进入到测试台11上，底部的集成电路板16被推走，上侧的集成电路板16降落下来，方便对下一个集成电路板16进行检测，可以自动对集成电路板16进行上料检测，而且不需要人工频繁上料，减少上料的时间，提高检测效率。

本说明书中未作详细描述的内容属于本领域专业技术人员公知的现有技术。

本具体实施方式的实施例均为本实用新型的较佳实施例，并非依此限制本实用新型的保护范围，故：凡依本实用新型的结构、形状、原理所做的等效变化，均应涵盖于本实用新型的保护范围之内。

Claims (6)

1.一种集成电路霍尔效应测试装置，包括检测架（2）和霍尔效应测试仪（4），其特征在于：所述检测架（2）呈“凹”型，所述检测架（2）的下端固定连接有底架（1），所述检测架（2）的上端固定连接有两个顶板（3），两个所述顶板（3）的下端固定连接有两个连接板（7），所述霍尔效应测试仪（4）放置于两个连接板（7）的上端，所述霍尔效应测试仪（4）的下端设置有检测腔（15），所述检测架（2）的侧壁之间固定连接有操作板（8），所述操作板（8）的上端开设有滑槽（10），所述滑槽（10）内滑动连接有测试台（11），所述操作板（8）的上方设置有两个卡块（18），两个所述卡块（18）内设置有多个集成电路板（16），所述操作板（8）的上端固定连接有第一气缸（9），且第一气缸（9）的活塞杆与位于最下侧的集成电路板（16）相抵。

2.根据权利要求1所述的一种集成电路霍尔效应测试装置，其特征在于：所述操作板（8）和两个卡块（18）之间均设置有调节机构（19），每组所述调节机构（19）均包括两个第二弹簧（1901）、固定板（1902）和螺杆（1903），所述固定板（1902）固定连接于操作板（8）的上端，两个所述第二弹簧（1901）均固定连接于固定板（1902）的一侧，且两个第二弹簧（1901）的另一侧均与卡块（18）固定，所述螺杆（1903）设置于固定板（1902）的一侧方，且螺杆（1903）螺纹贯穿固定板（1902）的另一侧并与卡块（18）相抵。

3.根据权利要求2所述的一种集成电路霍尔效应测试装置，其特征在于：所述固定板（1902）的一侧方设置有两个T型杆（1904），且两个T型杆（1904）均活动贯穿固定板（1902）的另有一侧并与卡块（18）固定，两个所述第二弹簧（1901）分别套设于两个T型杆（1904）的周向侧。

4.根据权利要求1所述的一种集成电路霍尔效应测试装置，其特征在于：两个所述顶板（3）上设置有两组夹持装置（6），每组所述夹持装置（6）均包括两个圆形槽（601）、两个卡槽（602）、卡板（604）和两个第一弹簧（603），两个所述卡槽（602）分别开设于两个顶板（3）的一侧，两个所述圆形槽（601）分别开设于两个卡槽（602）的一侧壁，两个所述第一弹簧（603）分别固定连接于两个圆形槽（601）的侧壁，所述卡板（604）固定连接于两个第一弹簧（603）的一侧。

5.根据权利要求1所述的一种集成电路霍尔效应测试装置，其特征在于：所述底架（1）的内顶壁固定连接有第二气缸（13），且第二气缸（13）的活塞杆活动贯穿底架（1）的上端并与测试台（11）的下端固定。

6.根据权利要求1所述的一种集成电路霍尔效应测试装置，其特征在于：所述检测架（2）的内底壁和两个顶板（3）的下端均固定连接有滑杆（12），所述测试台（11）滑动连接于两个滑杆（12）的周向侧，所述测试台（11）的上端固定连接有两个L型块（14），所述操作板（8）的下端固定连接有手机盒（5）。