CN219434873U - 一种新型ic芯片测试治具 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及芯片测试生产技术领域，尤其是一种新型IC芯片测试治具，包括箱体和工具箱，所述箱体内部设有芯片固定装置，所述芯片固定装置包括半齿轮和第一电机，所述固定轴与传动臂固定相连，所述传动臂通过转轴与夹持臂活动相连，所述夹持臂表面与连接杆活动相连，所述连接杆与箱体表面活动相连,该新型IC芯片测试治具，通过芯片固定装置和箱体的配合，第一电机带动固定轴转动，固定轴转动带动一侧半齿轮转动，一侧半齿轮转动带动另一侧半齿轮转动，两侧半齿轮转动带动两侧夹持臂转动，将芯片固定后固定装置的位置固定，不会使芯片加工时会发生位移，使芯片会被损坏，造成了资源的浪费，使加工效率大大增加。
Description
技术领域
本实用新型涉及芯片测试技术领域，具体为一种新型IC芯片测试治具。
背景技术
IC芯片是将大量的微电子元器件形成的集成电路放在一块塑基上，做成一块芯片，在芯片封装后需要将芯片放置到主板上对芯片的功能进行检测。
例如授权公告号“CN217345225U”名为一种用于IC芯片测试的装夹装置，芯片固定装置通过支撑竖臂固定连接在底部支撑板上，提升了检测装置的通用性及提升了芯片装夹效率。但该装置通过柱形滑杆、前螺纹块和纵向螺杆等装置将大小不同的芯片进行固定，当该装置对芯片进行固定时，将夹持芯片的装置使芯片固定，该装置通过滑杆将夹持的块将芯片固定，但缺少将芯片夹紧后将滑杆表面套接有的将芯片固定夹持块固定的装置，当夹持块将芯片固定后无法固定，在后续将芯片进行加工时，会使芯片加工时会发生位移，使芯片会被损坏，造成了资源的浪费，同时加工效率也会大大降低。
实用新型内容
本实用新型的目的是为了解决该装置缺少将固定装置位置固定的问题，而提出的一种新型IC芯片测试治具。
为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：
设计一种新型IC芯片测试治具，包括箱体和工具箱，所述箱体内部设有芯片固定装置，所述芯片固定装置包括半齿轮和第一电机，所述第一电机与箱体内表面固定相连，所述第一电机的输出轴贯穿箱体表面与固定轴固定相连，所述固定轴与半齿轮固定相连，所述箱体表面对称活动相连有半齿轮，所述半齿轮与箱体表面活动相连，所述固定轴与传动臂固定相连，所述传动臂通过转轴与夹持臂活动相连，所述夹持臂表面与连接杆活动相连，所述连接杆与箱体表面活动相连。
优选的，所述箱体表面开设有工具箱，所述箱体表面开设有开口。
优选的，所述箱体表面开设有的开口处设有加工台，所述加工台与箱体表面固定相连，所述加工台表面固定相连有芯片台。
优选的，所述箱体内表面固定相连有第二电机，所述第二电机的输出轴与圆柱固定相连，所述圆柱贯穿箱体通过转轴与箱体表面转动相连，所述圆柱上端固定相连有支撑臂，所述支撑臂表面固定相连有液压缸。
优选的，所述箱体表面固定相连有多组支撑腿，所述箱体表面通过扇叶与拉门活动相连。
本实用新型提出的一种新型IC芯片测试治具，有益效果在于：通过芯片固定装置和箱体的配合，第一电机带动固定轴转动，固定轴转动带动一侧半齿轮转动，一侧半齿轮转动带动另一侧半齿轮转动，两侧半齿轮转动带动两侧夹持臂转动，两侧夹持臂转动带动两侧连接杆转动，使夹持臂将芯片夹紧，液压缸的伸缩端伸缩，使伸缩端将半齿轮抵紧，使两侧半齿轮的角度位置固定，经过液压缸将两组半齿轮固定位置，将芯片固定后固定装置的位置固定，在后续将芯片进行加工时，不会使芯片加工时会发生位移，使芯片会被损坏，造成了资源的浪费，使加工效率大大增加。
附图说明
图1为本实用新型结构示意图；
图2为图1的正视剖视图；
图3为图1的俯视剖视图；
图4为芯片固定装置俯视图。
图中：1、箱体，2、工具箱，3、芯片固定装置，301、夹持臂，302、连接杆，303、传动臂，304、半齿轮，305、第一电机，306、固定轴，4、支撑臂，5、液压缸，6、第二电机，7、芯片台，8、加工台，9、圆柱，10、支撑腿，11、拉门。
具体实施方式
下面结合附图对本实用新型作进一步说明：
参照附图1-4：本实施例中，一种新型IC芯片测试治具，包括箱体1和工具箱2，箱体1内部设有芯片固定装置3，芯片固定装置3包括半齿轮304和第一电机305，第一电机305与箱体1内表面固定相连，第一电机305根据实际需求，满足工作需要即可，第一电机305的输出轴贯穿箱体1表面与固定轴306固定相连，第一电机305可以带动固定轴306转动，固定轴306与半齿轮304固定相连，使固定轴306带动半齿轮304转动，箱体1表面对称活动相连有半齿轮304，半齿轮304可以在箱体1表面转动，固定轴306与传动臂303固定相连，固定轴306转动可以带动传动臂303运动，传动臂303通过转轴与夹持臂301活动相连，夹持臂301表面与连接杆302活动相连，连接杆302与箱体1表面活动相连，使连接杆302可以转动。
参照附图1-4：箱体1表面开设有工具箱2，可以方便操作工人将工具放置到工具箱2内部，箱体1表面开设有开口，箱体1表面开设有的开口处设有加工台8，加工台8与箱体1表面固定相连，加工台8表面固定相连有芯片台7，可以将待加工的芯片放置到芯片台7的表面。
参照附图1-2：箱体1内表面固定相连有第二电机6，第二电机6根据实际需求，满足工作需要即可，第二电机6的输出轴与圆柱9固定相连，第二电机6可以带动圆柱9转动，圆柱9贯穿箱体1通过转轴与箱体1表面转动相连，防止圆柱9转动时被磨损，圆柱9上端固定相连有支撑臂，固定支撑臂4的位置，支撑臂4表面固定相连有液压缸5，液压缸5根据实际需求，满足工作需要即可，箱体1表面固定相连有多组支撑腿10，防止箱体1与地面长时间接触被腐蚀，箱体1表面通过扇叶与拉门11活动相连，操作工人将拉门打开将工具放到工具箱2内部。
工作原理：
当对芯片进行固定加工时，先将芯片放置到芯片台7表面，接通第一电机305的外接电源，启动第一电机305带动固定轴306转动，固定轴306转动带动一侧半齿轮304转动，一侧半齿轮304转动带动另一侧半齿轮304转动，两侧半齿轮304转动带动两侧夹持臂301转动，两侧夹持臂301转动带动两侧连接杆302转动，使夹持臂301将芯片夹紧，接通液压缸5的外接电源，启动液压缸5的伸缩端伸缩，使伸缩端将半齿轮304抵紧，使两侧半齿轮304的角度位置固定，在进行芯片后续的加工更加方便。
虽然本实用新型已通过参考优选的实施例进行了图示和描述，但是，本专业普通技术人员应当了解，在权利要求书的范围内，可作形式和细节上的各种各样变化。
Claims (5)
1.一种新型IC芯片测试治具，包括箱体(1)和工具箱(2)，其特征在于：所述箱体(1)内部设有芯片固定装置(3)，所述芯片固定装置(3)包括半齿轮(304)和第一电机(305)，所述第一电机(305)与箱体(1)内表面固定相连，所述第一电机(305)的输出轴贯穿箱体(1)表面与固定轴(306)固定相连，所述固定轴(306)与半齿轮(304)固定相连，所述箱体(1)表面对称活动相连有半齿轮(304)，所述半齿轮(304)与箱体(1)表面活动相连，所述固定轴(306)与传动臂(303)固定相连，所述传动臂(303)通过转轴与夹持臂(301)活动相连，所述夹持臂(301)表面与连接杆(302)活动相连，所述连接杆(302)与箱体(1)表面活动相连。
2.根据权利要求1所述的一种新型IC芯片测试治具，其特征在于：所述箱体(1)表面开设有工具箱(2)，所述箱体(1)表面开设有开口。
3.根据权利要求1所述的一种新型IC芯片测试治具，其特征在于：所述箱体(1)表面开设有的开口处设有加工台(8)，所述加工台(8)与箱体(1)表面固定相连，所述加工台(8)表面固定相连有芯片台(7)。
4.根据权利要求1所述的一种新型IC芯片测试治具，其特征在于：所述箱体(1)内表面固定相连有第二电机(6)，所述第二电机(6)的输出轴与圆柱(9)固定相连，所述圆柱(9)贯穿箱体(1)通过转轴与箱体(1)表面转动相连，所述圆柱(9)上端固定相连有支撑臂(4)，所述支撑臂(4)表面固定相连有液压缸(5)。
5.根据权利要求1所述的一种新型IC芯片测试治具，其特征在于：所述箱体(1)表面固定相连有多组支撑腿(10)，所述箱体(1)表面通过扇叶与拉门(11)活动相连。
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2022
- 2022-12-09 CN CN202223306518.7U patent/CN219434873U/zh active Active
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