CN219391312U - 一种光学盖片测试工装 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种光学盖片测试工装，包括测试工装主体和定位机构，所述测试工装主体包括底座、测试头、发光口和测试口，所述测试口安装在底座上表面，两个所述定位机构相对安装在底座和测试口之间，所述定位机构包括定位板、横板、保护垫、支撑座和定位组件，L型的所述定位板相对位于测试口上表面，所述横板固定在定位板外侧面，所述支撑座固定在底座上表面；本实用新型通过将测试工装主体和定位机构结合，可在不影响光学盖片测试工作前提下，对放置的光学盖片进行定位，增加其测试点位置准确性，避免因为位置偏移造成测量点和测试结果出现误差的情况，增加光学盖片测试稳定性和增加定位机构使用范围。

Description

一种光学盖片测试工装

技术领域

本实用新型属于光学盖片测试技术领域，具体涉及一种光学盖片测试工装。

背景技术

光学盖片即光学玻璃镜片，冷却后的玻璃块，必须经过光学仪器测量，检验纯度、透明度、均匀度、折射率和色散率是否合规格。而检验光学盖片透光率需要用到雾都仪，例如型号为TH-09的雾都仪，适用于光学盖片的透光率和雾度值的测定。

现有的有些光学盖片置于测试口处，人为放置光学盖片位置可能偏移，不能进行精准的定位，使得光学盖片测试点出现偏差，不同测试点影响测试数据结果的问题，为此我们提出一种光学盖片测试工装。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种光学盖片测试工装，以解决上述背景技术中提出的光学盖片放置位置偏移可能影响测试结果的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种光学盖片测试工装，包括测试工装主体和定位机构，所述测试工装主体包括底座、测试头、发光口和测试口，所述测试口安装在底座上表面，两个所述定位机构相对安装在底座和测试口之间，所述定位机构包括定位板、横板、保护垫、支撑座和定位组件，L型的所述定位板相对位于测试口上表面，所述横板固定在定位板外侧面，所述支撑座固定在底座上表面，所述横板外端与支撑座之间设置有定位组件。

优选的，所述定位组件包括矩形框、限位螺栓和定位刻度线，所述横板上表面沿其长度方向设置有定位刻度线，所述矩形框固定在支撑座上端且活动套设在横板上。

优选的，所述限位螺栓垂直且旋合安装在矩形框上表面，所述限位螺栓下端与横板上表面接触。

优选的，所述定位板内表面设置有保护垫，所述保护垫为橡胶垫。

优选的，所述横板内端与定位板外侧之间设置有调节组件，所述调节组件包括滑板、滑槽和限位杆，U型的所述滑板卡在定位板外侧，所述滑板外侧面开设有滑槽。

优选的，所述滑板内表面设置有伸进滑槽中的滑块，所述限位杆垂直且旋合安装在滑板上表面，所述限位杆下端与定位板上表面接触。

优选的，所述底座后端设置有立架，所述测试头活动安装在立架前表面，所述测试头下表面设置有发光口。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：

（1）本实用新型通过将测试工装主体和定位机构结合，可在不影响光学盖片测试工作前提下，对放置的光学盖片进行定位，增加其测试点位置准确性，避免因为位置偏移造成测量点和测试结果出现误差的情况，增加光学盖片测试稳定性和增加定位机构使用范围。

附图说明

图1为本实用新型的结构示意图；

图2为本实用新型定位机构的结构示意图；

图3为本实用新型调节组件的结构示意图；

图中：100、测试工装主体；101、底座；102、测试头；103、发光口；104、测试口；200、定位机构；201、定位板；202、横板；203、保护垫；204、支撑座；205、定位组件；2051、矩形框；2052、限位螺栓；300、调节组件；301、滑板；302、滑槽；303、限位杆。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

实施例1

请参阅图1和图2，本实用新型提供一种技术方案：一种光学盖片测试工装，包括测试工装主体100和定位机构200，测试工装主体100包括底座101、测试头102、发光口103和测试口104，测试口104安装在底座101上表面，光学盖片可置于测试口104上进行透光率测试，两个定位机构200相对安装在底座101和测试口104之间，定位机构200包括定位板201、横板202、保护垫203、支撑座204和定位组件205，L型的定位板201相对位于测试口104上表面，两个定位板201之间的距离可调节，横板202固定在定位板201外侧面，支撑座204固定在底座101上表面，二者之间设置有螺钉，方便后续拆装，横板202外端与支撑座204之间设置有定位组件205，利用定位组件205可对横板202在X轴方向的位置限位固定。

本实施例中，优选的，定位组件205包括矩形框2051、限位螺栓2052和定位刻度线，定位组件205可对定位板201在X轴方向的位置限位固定，横板202上表面沿其长度方向设置有定位刻度线，利用定位刻度线可对横板202移动位置进行定位，矩形框2051固定在支撑座204上端且活动套设在横板202上，限位螺栓2052垂直且旋合安装在矩形框2051上表面，限位螺栓2052下端与横板202上表面接触，利用接触的摩擦阻力对横板202位置固定，从而对定位板201位置固定。

本实施例中，优选的，定位板201内表面设置有保护垫203，保护垫203避免对光学盖片表面造成磨损，保护垫203为橡胶垫。

综上，两个定位机构200通过螺钉相对固定在底座101上表面，且位于测试口104上表面，根据待检测的光学盖片尺寸，让两个定位板201向背移动，调节二者之间的相对距离，带动横板202在矩形框2051中移动，直至位置合适时，旋紧限位螺栓2052使其端部与横板202表面接触，利用接触的摩擦阻力对横板202和定位板201位置固定，此时两个定位板201之间的距离可测试尺寸相同的光学盖片样品，测试仪器开始工作，发光口发出光对光学盖片进行测试即可。

实施例2

参照图1-图3，为本实用新型第二个实施例，该实施例基于上一个实施例不同的是。

本实施例中，优选的，横板202内端与定位板201外侧之间设置有调节组件300，利用调节组件300可改变定位板201在Y轴方向的位置，方便根据光学盖片尺寸进行调节，调节组件300包括滑板301、滑槽302和限位杆303，U型的滑板301卡在定位板201外侧，滑板301外侧面开设有滑槽302，滑板301内表面设置有伸进滑槽302中的滑块，二者滑动连接的同时不易脱离，限位杆303垂直且旋合安装在滑板301上表面，限位杆303下端与定位板201上表面接触，利用接触的摩擦阻力可对滑板301在定位板201Y轴方向位置限位固定。

本实施例中，优选的，底座101后端设置有立架，底座101前表面嵌入设置有显示屏，测试头102活动安装在立架前表面，测试头102下表面设置有发光口103，发光口103可对光学盖片透光率进行测试。

尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例（详见上述详尽的描述），对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。

Claims (7)

1.一种光学盖片测试工装，包括测试工装主体（100）和定位机构（200），所述测试工装主体（100）包括底座（101）、测试头（102）、发光口（103）和测试口（104），所述测试口（104）安装在底座（101）上表面，其特征在于：两个所述定位机构（200）相对安装在底座（101）和测试口（104）之间，所述定位机构（200）包括定位板（201）、横板（202）、保护垫（203）、支撑座（204）和定位组件（205），L型的所述定位板（201）相对位于测试口（104）上表面，所述横板（202）固定在定位板（201）外侧面，所述支撑座（204）固定在底座（101）上表面，所述横板（202）外端与支撑座（204）之间设置有定位组件（205）。

2.根据权利要求1所述的一种光学盖片测试工装，其特征在于：所述定位组件（205）包括矩形框（2051）、限位螺栓（2052）和定位刻度线，所述横板（202）上表面沿其长度方向设置有定位刻度线，所述矩形框（2051）固定在支撑座（204）上端且活动套设在横板（202）上。

3.根据权利要求2所述的一种光学盖片测试工装，其特征在于：所述限位螺栓（2052）垂直且旋合安装在矩形框（2051）上表面，所述限位螺栓（2052）下端与横板（202）上表面接触。

4.根据权利要求1所述的一种光学盖片测试工装，其特征在于：所述定位板（201）内表面设置有保护垫（203），所述保护垫（203）为橡胶垫。

5.根据权利要求1所述的一种光学盖片测试工装，其特征在于：所述横板（202）内端与定位板（201）外侧之间设置有调节组件（300），所述调节组件（300）包括滑板（301）、滑槽（302）和限位杆（303），U型的所述滑板（301）卡在定位板（201）外侧，所述滑板（301）外侧面开设有滑槽（302）。

6.根据权利要求5所述的一种光学盖片测试工装，其特征在于：所述滑板（301）内表面设置有伸进滑槽（302）中的滑块，所述限位杆（303）垂直且旋合安装在滑板（301）上表面，所述限位杆（303）下端与定位板（201）上表面接触。

7.根据权利要求1所述的一种光学盖片测试工装，其特征在于：所述底座（101）后端设置有立架，所述测试头（102）活动安装在立架前表面，所述测试头（102）下表面设置有发光口（103）。