CN219370596U - 一种led显示模组老化测试架 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种LED显示模组老化测试架，涉及LED显示模组技术领域，包括架体，所述架体的内部开设有安装槽，且安装槽的内部连接有阻尼块，所述阻尼块的相对面安装有测试板，且测试板的顶部安装有挡板，所述测试板的内部开设有固定槽，且固定槽的外部设置有收纳室，所述收纳室的内部与固定槽的内部均开设有滑槽，且滑槽的内部连接有活动块，所述活动块的顶部安装有推板。本实用新型中，设置有固定槽、活动块、推板、架体、信号连接座以及伸缩套，通过操作推板就方便带动活动块进行移动操作，活动块的移动使得伸缩套进行拉伸操作，这样就方便对固定槽进行封闭，避免灰尘粘附在信号连接座上，影响LED显示模组测试结果。

Description

一种LED显示模组老化测试架

技术领域

本实用新型涉及LED显示模组技术领域，尤其涉及一种LED显示模组老化测试架。

背景技术

老化架是专用于老化测试时模拟产品在现实使用条件中涉及到的各种因素对产品产生老化的情况进行相应条件加强实验的过程，目前在LED显示屏行业模组制造过程当中需要测试产品性能、测试产品性能过程当中必须要点亮模组、在点亮模组过程当中需要使用老化架。

现有的LED显示模组老化测试架，在使用过程中，通常是将LED显示模组的排针座插进老化架上的信号连接座，由于老化架上的信号连接座大都是外露的，信号连接座容易粘附空气中的灰尘，影响LED显示模组测试结果。

实用新型内容

本实用新型的目的是为了解决现有的LED显示模组老化测试架，在使用过程中，通常是将LED显示模组的排针座插进老化架上的信号连接座，由于老化架上的信号连接座大都是外露的，信号连接座容易粘附空气中的灰尘，影响LED显示模组测试结果的缺点，而提出的一种LED显示模组老化测试架。

为了实现上述目的，本实用新型采用了如下技术方案：

一种LED显示模组老化测试架，包括：

架体，所述架体的内部开设有安装槽，且安装槽的内部连接有阻尼块，所述阻尼块的相对面安装有测试板，且测试板的顶部安装有挡板，所述测试板的内部开设有固定槽，且固定槽的外部设置有收纳室，所述收纳室的内部与固定槽的内部均开设有滑槽，且滑槽的内部连接有活动块，所述活动块的顶部安装有推板，且活动块的一侧与滑槽的内部连接有伸缩套，所述固定槽的内部安装有信号连接座。

优选的，所述架体的内部安装有稳压器。

优选的，所述测试板与架体之间通过阻尼块、安装槽构成移动结构，且阻尼块的外壁与安装槽的内壁相接触。

优选的，所述活动块与滑槽之间通过推板构成移动结构，且活动块关于推板的横轴对称。

优选的，所述伸缩套与滑槽之间通过推板、活动块构成伸缩结构，且活动块的外壁与滑槽的内壁相接触。

综上所述，由于采用了上述技术方案，本实用新型的有益效果是：

1、本实用新型中，设置有固定槽、活动块、推板、架体、信号连接座以及伸缩套，通过操作推板就方便带动活动块进行移动操作，活动块的移动使得伸缩套进行拉伸操作，这样就方便对固定槽进行封闭，避免灰尘粘附在信号连接座上，影响LED显示模组测试结果。

2、本实用新型中，设置有架体、安装槽、阻尼块以及测试板，通过阻尼块、安装槽的配合就方便带动测试板进行移动操作，测试板将移出架体外，这样就方便完成测试板的拆卸，便于调节测试板的安装位置，有利于对不同大小的LED显示模组进行测试。

附图说明

图1为本实用新型中老化测试架结构示意图；

图2为本实用新型中老化测试架内部结构示意图；

图3为图2中A处放大结构示意图。

图例说明：

1、架体；2、安装槽；3、阻尼块；4、测试板；5、挡板；6、推板；7、稳压器；8、固定槽；9、滑槽；10、信号连接座；11、收纳室；12、活动块；13、伸缩套。

具体实施方式

下面结合具体实施方式对本专利的技术方案作进一步详细地说明。

下面详细描述本专利的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本专利，而不能理解为对本专利的限制。

在本专利的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本专利和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本专利的限制。

在本专利的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“设置”应做广义理解，例如，可以是固定相连、设置，也可以是可拆卸连接、设置，或一体地连接、设置。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本专利中的具体含义。

参照图1-3，一种LED显示模组老化测试架，包括架体1，架体1的内部开设有安装槽2，且安装槽2的内部连接有阻尼块3，阻尼块3的相对面安装有测试板4，且测试板4的顶部安装有挡板5，测试板4与架体1之间通过阻尼块3、安装槽2构成移动结构，且阻尼块3的外壁与安装槽2的内壁相接触，人工操作测试板4，测试板4通过阻尼块3、安装槽2的配合进行移动操作，测试板4将移动至架体1外，这样就方便调节测试板4的位置，测试板4的内部开设有固定槽8，且固定槽8的外部设置有收纳室11，收纳室11的内部与固定槽8的内部均开设有滑槽9，且滑槽9的内部连接有活动块12，活动块12与滑槽9之间通过推板6构成移动结构，且活动块12关于推板6的横轴对称，人工操作推板6，推板6带动活动块12进行移动操作，活动块12将在滑槽9内进行移动，通过活动块12、滑槽9就能够更好的对推板6进行方向限定工作，活动块12的顶部安装有推板6，且活动块12的一侧与滑槽9的内部连接有伸缩套13，伸缩套13与滑槽9之间通过推板6、活动块12构成伸缩结构，且活动块12的外壁与滑槽9的内壁相接触，人工操作推板6，推板6带动活动块12进行移动操作，活动块12的移动使得伸缩套13进行拉伸操作，这样就方便对固定槽8进行封闭工作，固定槽8的内部安装有信号连接座10；

架体1的内部安装有稳压器7，由于LED显示模组老化测试一般时间较长，通过稳压器7就能够使得老化测试架的电压稳定，避免影响LED显示模组测试数据。

工作原理：使用时，首先人工操作测试板4，测试板4通过阻尼块3、安装槽2的配合进行移动操作，测试板4将移动至架体1外，这样就方便调节测试板4的位置，便于调节测试板4之间的间距，有利于对不同大小的LED显示模组进行测试，将LED显示模组的排针座插入至架体1内部的信号连接座10，这样就方便进行LED显示模组老化测试，人工操作推板6，推板6带动活动块12进行移动操作，活动块12的移动使得伸缩套13进行拉伸操作，这样就方便对固定槽8进行封闭工作，防止老化测试架不使用时，信号连接座10容易粘附有灰尘(上述电器具体的型号规格需根据该装置的实际规格等进行选型确定，具体选型计算方法采用本领域现有技术，故不再详细赘述，并且电器的供电及其原理对本领域技术人员来说是清楚的，在此不予详细说明)。

以上所述，仅为本实用新型较佳的具体实施方式，但本实用新型的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内，根据本实用新型的技术方案及其实用新型构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。

Claims (5)

1.一种LED显示模组老化测试架，其特征在于，包括：

架体(1)，所述架体(1)的内部开设有安装槽(2)，且安装槽(2)的内部连接有阻尼块(3)，所述阻尼块(3)的相对面安装有测试板(4)，且测试板(4)的顶部安装有挡板(5)，所述测试板(4)的内部开设有固定槽(8)，且固定槽(8)的外部设置有收纳室(11)，所述收纳室(11)的内部与固定槽(8)的内部均开设有滑槽(9)，且滑槽(9)的内部连接有活动块(12)，所述活动块(12)的顶部安装有推板(6)，且活动块(12)的一侧与滑槽(9)的内部连接有伸缩套(13)，所述固定槽(8)的内部安装有信号连接座(10)。

2.根据权利要求1所述的一种LED显示模组老化测试架，其特征在于：所述架体(1)的内部安装有稳压器(7)。

3.根据权利要求1所述的一种LED显示模组老化测试架，其特征在于：所述测试板(4)与架体(1)之间通过阻尼块(3)、安装槽(2)构成移动结构，且阻尼块(3)的外壁与安装槽(2)的内壁相接触。

4.根据权利要求1所述的一种LED显示模组老化测试架，其特征在于：所述活动块(12)与滑槽(9)之间通过推板(6)构成移动结构，且活动块(12)关于推板(6)的横轴对称。

5.根据权利要求1所述的一种LED显示模组老化测试架，其特征在于：所述伸缩套(13)与滑槽(9)之间通过推板(6)、活动块(12)构成伸缩结构，且活动块(12)的外壁与滑槽(9)的内壁相接触。