CN219349012U - 用于元器件性能测试的多功能测试治具 - Google Patents

用于元器件性能测试的多功能测试治具 Download PDF

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苏相河
易志福
郑鸿斌
张碧星
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Abstract

本实用新型涉及测试治具技术领域,具体是一种适用于元器件的多功能测试治具,包括底板及检测部件,检测部件包括附带测试探针的第一检测机构、第二检测机构与第三检测机构,三个检测机构分别用于不同测试,底板上安装有测试台,测试台上安装有支架,第一检测机构与第二检测机构安装于支架上且位于测试台上方,测试台顶部设有若干个测试铜条,第三检测机构安装于底板上且位于测试台长度方向一侧,三个检测机构的测试探针分别与外部三个不同测试设备电性连接,本实用新型在进行产品测试时,用户只需将产品放置一次,即可完成对产品的多项性能测试,无需多次取放产品,节省测试时间,提高测试效率。

Description

用于元器件性能测试的多功能测试治具
技术领域
本实用新型涉及测试治具技术领域,具体是一种用于元器件性能测试的多功能测试治具。
背景技术
在现有的元器件测试中,每个性能测试项目通常配备有一个测试治具,元器件进行性能测试时,每测试一个项目需要操作人员取出产品,放入下一个测试治具进行下一项性能测试,而每次放置产品时都要校准产品的放置姿态,使产品的性能测试的进行更费时间,测试效率相对较低。
因此,需要一种可以提高测试效率的测试治具。
实用新型内容
为了解决上述问题,本实用新型提供一种用于元器件性能测试的多功能测试治具,将产品放入治具内,可一次性对多项性能完成测试,测试效率高。
为了达到上述目的,本实用新型采用以下技术方案:
一种用于元器件性能测试的多功能测试治具,包括底板及检测部件,所述检测部件包括附带测试探针的第一检测机构、第二检测机构与第三检测机构,所述底板上安装有测试台,所述测试台上安装有支架,所述第一检测机构与所述第二检测机构安装于所述支架上,所述测试台的顶部设有若干个测试铜条,所述第三检测机构安装于所述底板上且位于所述测试台的长度方向一侧。
可选的,在本实用新型一实施例中,所述测试台包括顶板与位于顶板两侧的侧板,所述顶板两端分别与所述侧板的一端连接,所述侧板的另一端与底板连接。
可选的,在本实用新型一实施例中,所述顶板的顶部等距开设有安装槽,用于安装测试铜条,所述安装槽内开设有贯穿顶板底面的定位孔,所述顶板的一长度方向的边缘开设有若干个插孔。
可选的,在本实用新型一实施例中,所述支架包括两侧的支撑板与安装板,所述支撑板安装于测试台上,所述安装板与两侧的支撑板连接,所述安装板上安装第一检测机构与第二检测机构。
可选的,在本实用新型一实施例中,所述第一检测机构、第二检测机构与第三检测机构均包括伸缩驱动、探针安装条与若干个测试探针。若干个所述测试探针等距安装于所述探针安装条,所述伸缩驱动的伸缩端与所述探针安装条连接。
可选的,在本实用新型一实施例中,所述第三检测机构与所述底板之间设有支撑台,用于支撑第三检测机构,所述第三检测机构的伸缩驱动安装于所述支撑台的顶部,所述支撑台底部与所述底板连接。
可选的,在本实用新型一实施例中,所述测试铜条朝向第三检测机构的一端露出于顶板。
可选的,在本实用新型一实施例中,若干个所述测试探针与所述测试铜条为一一对应设置,在进行测试时,每一测试探针可与测试铜条的表面接触完成导通。
本实用新型有益效果
本实用新型的一种用于元器件性能测试的多功能测试治具,可一次性完成产品的多项性能测试,无需频繁取放产品至其他测试治具,节省了测试时间,提高了测试效率;测试治具整体的结构简单,拆装方便,即使有零部件损坏需要更换,也可以快速完成零部件的更换。
附图说明
为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍。
图1本实用新型实施例1测试治具整体结构示意图;
图2本实用新型实施例1第一检测机构示意图;
图3本实用新型实施例1第三检测机构示意图;
图4本实用新型实施例1测试台示意图;
图5本实用新型实施例1测试台底部示意图;
图6本实用新型实施例1测试铜条示意图;
图7本实用新型实施例1支架示意图;
附图标记说明:底板1、测试台2、侧板201、顶板202、插孔202A、定位孔202B、压条203、测试铜条204、连接孔204A、支撑台3、支架4、支撑板401、上下调节孔401A、安装板402、第一检测机构5、伸缩驱动501、探针安装条502、连接部502A、测试探针503、第二检测机构6、第三检测机构7。
具体实施方式
为更进一步阐述本实用新型为实现预定实用新型目的所采取的技术手段及功效,以下结合附图及较佳实施例,对依据本实用新型的具体实施方式、结构、特征及其功效,详细说明如后。
实施例1
为提高元器件性能测试的效率,设计了一种多功能的测试治具,以减少测试花费的时间,其具体方案如下:
如图1所示,一种用于元器件性能测试的多功能测试治具,包括底板1及检测部件,检测部件包括附带测试探针503的第一检测机构5、第二检测机构6与第三检测机构7,底板1上安装有测试台2,测试台2上安装有支架4,第一检测机构5与第二检测机构6安装于支架4上,测试台2的顶部设有若干个测试铜条204,第三检测机构7安装于底板1上且位于测试台2的长度方向一侧。
第一检测机构5与第二检测机构6为竖直安装,第三检测结构为横向安装。
在本实施例中,三个检测机构的测试探针503分别与外部测试设备电性连接,每一个检测机构的测试探针503与不同的测试设备连接,通过三个检测机构的动作来完成不同项目的性能测试。
第一检测机构5与第二检测机构6之间的测试台2上保留有间隔区域,该间隔区域亦作为产品的放置区域,产品放置在测试台2的顶板202上,产品的引脚分别与测试铜条204接触以完成导通。
测试台2包括顶板202与位于顶板202两侧的侧板201,顶板202两端分别与侧板201的一端连接,侧板201的另一端与底板1连接。
具体地,地板上对应侧板201的位置开设有腰型孔结构的调节孔,用于安装侧板201及调节侧板201的前后位置。
顶板202的顶部等距开设有安装槽,用于安装测试铜条204,安装槽内开设有贯穿顶板202底面的定位孔202B,顶板202的一长度方向的边缘开设有若干个插孔202A。
具体地,在本方案中,插孔202A的数量与测试铜条204的数量相同,为一一对应配置,插孔202A的后侧还设有压条203,用于固定,压条203与顶板202固定连接,插孔202A为方形孔,用于安装连接端子,连接端子可以与测试铜条204一端通过焊接连接或接触连接,测试时,产品的端子需要与连接端子电性连接,测试铜条204的底面开设有匹配定位孔202B的连接孔204A,测试铜条204放置于安装槽内,可在定位孔202B放入螺丝将测试铜条204与顶板202固定连接。
支架4包括两侧的支撑板401与安装板402,支撑板401安装于测试台2上,安装板402与两侧的支撑板401连接,安装板402上安装第一检测机构5与第二检测机构6。
具体地,支撑板401上开设有贯穿内壁与外壁的腰型孔结构的上下调节孔401A,安装板402两侧边与支撑板401通过螺丝连接固定,连接部502A位位于上下调节孔401A上,通过松动螺丝可以滑动调节安装板402的位置,进而调整第一检测机构5与第二检测机构6的位置,安装板402的前后两侧面分别用于第一检测机构5、第二检测机构6的伸缩驱动501的安装,两个检测机构的伸缩驱动501伸缩端向下,竖直安装于安装板402上,第一检测机构5与第二检测机构6在结构相同,安装位置不同。
在本方案中,测试治具的所有零部件中,除导电的测试探针503与测试铜条204以外,所涉及板状结构件均为绝缘电木板,在测试治具使用过程中可确保较高的安全性。
第一检测机构5、第二检测机构6与第三检测机构7均包括伸缩驱动501、探针安装条502与若干个测试探针503。若干个测试探针503等距安装于探针安装条502,伸缩驱动501的伸缩端与探针安装条502连接。
具体地,探针安装条502长度方向的一侧向外凸出设置有一连接部502A,用于伸缩驱动501的伸缩端进行连接,探针安装条502上开设有多个安装孔,分别用于测试探针503的安装。
第三检测机构7与底板1之间设有支撑台3,用于支撑第三检测机构7,第三检测机构7的伸缩驱动501安装于支撑台3的顶部,支撑台3底部与底板1连接。
具体地,支撑台3同样包括顶部面板与侧面板,侧面板底部与底板1连接,底板1上开设有腰型孔结构的前后调节孔,用于调节支撑台3的前后位置,避免测试探针503与测试铜条204接触的压力过大,加快零部件磨损,或测试探针503无法接触到测试铜条204,上下调节孔401A的作用于前后调节孔作用相同,均用于调整检测机构的位置,区别在于调节方向不同。
测试铜条204朝向第三检测机构7的一端露出于顶板202。
具体地,测试铜条204整个为长条形结构,测试铜条204靠内的一端为弧面,测试铜条204外露的一端为平面,平面为第三检测机构7的探针接触面。
若干个测试探针503与测试铜条204为一一对应设置,在进行测试时,每一测试探针503可与测试铜条204的表面接触完成导通。
工作原理
操作人员将产品放置于测试台2顶板202上,调整好位置后,操作测试治具,使第一检测机构5、第二检测机构6与第三检测机构7依次动作,各检测机构的测试探针503依次与测试铜条204接触导通,通过外部测试设备对产品进行测试,获取产品的性能测试结果,测试期间,操作人员只需查看记录测试数据,待测试结束后,再将产品取出即可。
以上,仅是本实用新型的较佳实施例而已,并非对本实用新型作任何形式上的限制,虽然本实用新型已以较佳实施例揭示如上,然而并非用以限定本实用新型,任何本领域技术人员,在不脱离本实用新型技术方案范围内,当可利用上述揭示的技术内容做出些许更动或修饰为等同变化的等效实施例,但凡是未脱离本实用新型技术方案内容,依据本实用新型的技术实质对以上实施例所作的任何简介修改、等同变化与修饰,均仍属于本实用新型技术方案的范围内。

Claims (8)

1.一种用于元器件性能测试的多功能测试治具,其特征在于,包括底板及检测部件,所述检测部件包括附带测试探针的第一检测机构、第二检测机构与第三检测机构,所述底板上安装有测试台,所述测试台上安装有支架,所述第一检测机构与所述第二检测机构安装于所述支架上,所述测试台的顶部设有若干个测试铜条,所述第三检测机构安装于所述底板上且位于所述测试台的长度方向一侧。
2.根据权利要求1所述的用于元器件性能测试的多功能测试治具,其特征在于,所述测试台包括顶板与位于顶板两侧的侧板,所述顶板两端分别与所述侧板的一端连接,所述侧板的另一端与底板连接。
3.根据权利要求2所述的用于元器件性能测试的多功能测试治具,其特征在于,所述顶板的顶部等距开设有安装槽,用于安装测试铜条,所述安装槽内开设有贯穿顶板底面的定位孔,所述顶板的一长度方向的边缘开设有若干个插孔。
4.根据权利要求1所述的用于元器件性能测试的多功能测试治具,其特征在于,所述支架包括两侧的支撑板与安装板,所述支撑板安装于测试台上,所述安装板与两侧的支撑板连接,所述安装板上安装第一检测机构与第二检测机构。
5.根据权利要求1所述的用于元器件性能测试的多功能测试治具,其特征在于,所述第一检测机构、第二检测机构与第三检测机构均包括伸缩驱动、探针安装条与若干个测试探针,若干个所述测试探针等距安装于所述探针安装条,所述伸缩驱动的伸缩端与所述探针安装条连接。
6.根据权利要求1所述的用于元器件性能测试的多功能测试治具,其特征在于,所述第三检测机构与所述底板之间设有支撑台,用于支撑第三检测机构,所述第三检测机构的伸缩驱动安装于所述支撑台的顶部,所述支撑台底部与所述底板连接。
7.根据权利要求1所述的用于元器件性能测试的多功能测试治具,其特征在于:所述测试铜条朝向第三检测机构的一端露出于顶板。
8.根据权利要求1所述的用于元器件性能测试的多功能测试治具,其特征在于:若干个所述测试探针与所述测试铜条为一一对应设置。
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