CN219347607U - 一种圆心至端面距离的专用检具 - Google Patents
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Abstract
本实用新型提供了一种圆心至端面距离的专用检具,包括测量主体和数显千分表,所述测量主体的底部开有圆形的凹槽,所述凹槽用于与校准工件或被测工件相匹配;所述凹槽与测量主体底部端面设有圆弧B连接过渡,该圆弧B与校准工件上的圆弧C或被测工件上的圆弧A相匹配;所述测量主体上设置有数显千分表并通过紧固螺钉定位固定,测量主体的测量头伸入凹槽内,并与校准工件的端面B或与被测工件的端面A相匹配。本实用新型的有益效果为:1、采用计量型测量,用数显千分表,利用校准工件对表,不存在误判和错判;2、该测量方法不用投影仪确认,不会影响产量,检测效率高。
Description
技术领域
本实用新型涉及检具领域,主要是一种圆心至端面距离的专用检具。
背景技术
实际生产中,需要测量阶梯轴中圆弧圆心至端面距离A,如图1所示,目前主要测量手段是样板测量和投影仪测量法,先用样板通止规目视到基本符合样板通止规范围,再用投影仪进行测量验证,测量数值是否符合工艺图纸要求。
上述测量方式的不足在于:
1、由于公差小,样板通止规检测靠人为目测,碰到上差或下差的工件容易误判和错判;
2、投影仪测量,生产调试并非一次成功,过程中还要按一定比列抽检,送检时间长,影响产量。
3、过程中靠样板通止规检测,受设备稳定性和刀具磨损等诸多因素影响,质量风险系数高。
实用新型内容
本实用新型的目的在于克服现有技术存在的不足,而提供一种圆心至端面距离的专用检具,通过对机加工零件的过程控制,减少废品率,提升机加工生产效益。
本实用新型的目的是通过如下技术方案来完成的。一种圆心至端面距离的专用检具,包括测量主体和数显千分表,所述测量主体的底部开有圆形的凹槽,所述凹槽用于与校准工件或被测工件相匹配;所述凹槽与测量主体底部端面设有圆弧B连接过渡,该圆弧B与校准工件上的圆弧C或被测工件上的圆弧A相匹配;所述测量主体上设置有数显千分表并通过紧固螺钉定位固定,测量主体的测量头伸入凹槽内,并与校准工件的端面B或与被测工件的端面A相匹配。
更进一步的,所述圆弧B的圆心至凹槽底面的距离B大于圆弧C至端面B的距离C,使得校准工件与测量主体安装后,凹槽底面和端面B之间留有一定的间隙。
更进一步的,所述圆弧B的圆心至凹槽底面的距离B大于圆弧A至端面A的距离A,使得被测工件与测量主体安装后,凹槽底面和端面A之间留有一定的间隙。
更进一步的,所述测量主体上垂直设置有数显千分表,使能测量主体的测量头与校准工件的端面B或与被测工件的端面A垂直接触。
更进一步的,所述凹槽的孔径大小与校准工件或被测工件的外径相匹配。
更进一步的,所述圆弧A、圆弧B和圆弧C为同等大小的圆弧。
本实用新型的有益效果为:
1、采用计量型测量,用数显千分表,利用校准工件对表,不存在误判和错判;
2、该测量方法不用投影仪确认,不会影响产量,检测效率高;
3、如果受到设备稳定性和刀具磨损影响,通过现有测量方法,可以随时发现产品尺寸波动并及时进行调整。
4、用比较法测量,可以随时通过校准工件进行校准,保证测量的有效性。
附图说明
图1为被测工件的结构示意图。
图2为本实用新型的结构示意图。
图3为本实用新型的校准工件结构示意图。
图4为本实用新型的校准工件测量时的结构示意图。
图5为本实用新型的被测工件测量时的主视结构示意图。
图6为本实用新型的被测工件测量时的侧视结构示意图。
附图标记说明:校准工件1,测量主体2,数显千分表3,紧固螺钉4,被测工件5,圆弧A6,凹槽7,圆弧B8,端面A9,圆弧C10,端面B11。
具体实施方式
下面结合附图以及具体实施方式,对本实用新型做进一步描述,需要说明的是,在不相冲突的前提下,以下描述的各实施例之间或各技术特征之间可以任意组合形成新的实施例。
本实用新型要测量的被测工件如图1所示,测量的指标为圆弧圆心至端面距离A。本实用新型提供了一种圆心至端面距离的专用检具,如图2所示,包括测量主体2和数显千分表3,所述测量主体2的底部开有圆形的凹槽7,所述的孔径大小与校准工件1或被测工件5的外径相匹配,其中校准工件1的结构如图3所示。
所述凹槽7与测量主体2底部端面设有圆弧B8连接过渡,该圆弧B8与校准工件1上的圆弧C10或被测工件5上的圆弧A6相匹配。其中,圆弧A6、圆弧B8和圆弧C10为同等大小的圆弧。
所述圆弧B8的圆心至凹槽7底面的距离B大于圆弧C10至端面B11的距离C,使得校准工件1与测量主体2安装后,凹槽7底面和端面B11之间留有一定的间隙。所述圆弧B8的圆心至凹槽7底面的距离B大于圆弧A6至端面A9的距离A,使得被测工件5与测量主体2安装后,凹槽7底面和端面A9之间留有一定的间隙,上述间隙一般设置为3mm左右。
所述测量主体2上垂直设置有数显千分表3并通过紧固螺钉4定位固定,测量主体2的测量头伸入凹槽7内,使能测量主体2的测量头与校准工件1的端面B11或与被测工件5的端面A9垂直接触。
测量方法:采用比较法进行测量,具体步骤如下:
1、制作校准工件1,保证圆弧C10半径及圆心至端面B11距离C的尺寸,专用检具的孔口同样制作与校准工件同等大小的圆弧B8, 凹槽7的孔径与被测工件5外圆小间隙配合。
2、如图4所示,将数显千分表3装入测量主体2内,测量头露出凹槽7底平面3mm左右,用紧固螺钉4将数显千分表3锁紧固定,用专用检具放到校准工件内(校准工件C值为工件的中间值),稍作旋转,使专用检具上的圆弧B8与校准工件的圆弧C10啮合,对数显千分表3进行置数,数显千分表3显示校准工件的C数值(如12.500)。
3、如图5-6所示,取出专用检具并放入被测工件5上,左右稍作旋转,使两圆弧面接触良好(圆弧B8和圆弧A6),此时数显千分表3显示值即是被测工件圆心至端面的实际距离值A。
本实用新型在测量前通过千分表在校准工件校对A值,解决了用样板通止规目测的误判和错判,用千分表配合校准工件进行比较测量,被测工件合格与否一目了然。通过现场测量解决了生产中等待时间,缩短测量时间的同时也增加了产量。用此专用检具测量解决了生产过程中,在产品尺寸波动时,可以进行及时调整,避免批量报废事件的发生。
可以理解的是,对本领域技术人员来说,对本实用新型的技术方案及实用新型构思加以等同替换或改变都应属于本实用新型所附的权利要求的保护范围。
Claims (6)
1.一种圆心至端面距离的专用检具,其特征在于:包括测量主体(2)和数显千分表(3),所述测量主体(2)的底部开有圆形的凹槽(7),所述凹槽(7)用于与校准工件(1)或被测工件(5)相匹配;所述凹槽(7)与测量主体(2)底部端面设有圆弧B(8)连接过渡,该圆弧B(8)与校准工件(1)上的圆弧C(10)或被测工件(5)上的圆弧A(6)相匹配;所述测量主体(2)上设置有数显千分表(3)并通过紧固螺钉(4)定位固定,测量主体(2)的测量头伸入凹槽(7)内,并与校准工件(1)的端面B(11)或与被测工件(5)的端面A(9)相匹配。
2.根据权利要求1所述的圆心至端面距离的专用检具,其特征在于:所述圆弧B(8)的圆心至凹槽(7)底面的距离B大于圆弧C(10)至端面B(11)的距离C,使得校准工件(1)与测量主体(2)安装后,凹槽(7)底面和端面B(11)之间留有间隙。
3.根据权利要求2所述的圆心至端面距离的专用检具,其特征在于:所述圆弧B(8)的圆心至凹槽(7)底面的距离B大于圆弧A(6)至端面A(9)的距离A,使得被测工件(5)与测量主体(2)安装后,凹槽(7)底面和端面A(9)之间留有间隙。
4.根据权利要求3所述的圆心至端面距离的专用检具,其特征在于:所述测量主体(2)上垂直设置有数显千分表(3),使能测量主体(2)的测量头与校准工件(1)的端面B(11)或与被测工件(5)的端面A(9)垂直接触。
5.根据权利要求1或2或3所述的圆心至端面距离的专用检具,其特征在于:所述凹槽(7)的孔径大小与校准工件(1)或被测工件(5)的外径相匹配。
6.根据权利要求1或2或3所述的圆心至端面距离的专用检具,其特征在于:所述圆弧A(6)、圆弧B(8)和圆弧C(10)为同等大小的圆弧。
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