CN219320322U - 样本检测装置 - Google Patents

Abstract

本申请涉及一种样本检测装置，样本检测装置包括：存储箱，具有沿第一方向相对设置的进口侧及出口侧，存储箱还包括多个沿与第一方向垂直的第二方向依次布设的存储格，每个存储格沿第一方向连通进口侧及出口侧；升降机构，与存储箱传动连接，升降机构用于驱动存储箱沿第二方向升降；推卡机构，位于存储箱的进口侧，并能够沿第一方向将检测卡由进口侧推送至存储格内，且能够沿第一方向将位于存储格内的检测卡由出口侧推出；以及检测机构，位于出口侧，并用于检测由出口侧推出的检测卡。本申请提供的样本检测装置结构简单，零部件较少的样本检测装置。

Description

样本检测装置

技术领域

本申请涉及医疗器械技术领域，特别是涉及一种样本检测装置。

背景技术

临床检验是指将病人的体液、分泌物、排泄物和脱落物等标本，通过物理、化学、仪器或分子生物学方法检测并获得检测结果的检验方式。通过临床检验所获得的检测结果表征了病人的患病情况，可为临床治疗提供重要依据。

目前，用于临床检验的样本检测装置基本实现了自动化，但是传统的样本检测装置的结构复杂，零部件较多，导致样本检测装置的制造成本较高。因此，如何提供一种结构简单，零部件较少的样本检测装置成为亟需解决的问题。

实用新型内容

基于此，有必要针对上述结构复杂，零部件较多的问题，提供一种结构简单，零部件较少的样本检测装置。

一种样本检测装置，所述样本检测装置包括：

存储箱，具有沿第一方向相对设置的进口侧及出口侧，所述存储箱还包括多个沿与所述第一方向垂直的第二方向依次布设的存储格，每个所述存储格沿所述第一方向连通所述进口侧及所述出口侧；

升降机构，与所述存储箱传动连接，所述升降机构用于驱动所述存储箱沿所述第二方向升降；

推卡机构，位于所述存储箱的进口侧，并能够沿所述第一方向将检测卡由所述进口侧推送至所述存储格内，且能够沿所述第一方向将位于所述存储格内的所述检测卡由所述出口侧推出；以及

检测机构，位于所述出口侧，并用于检测由所述出口侧推出的所述检测卡。

在本申请的一些实施例中，所述样本检测装置具有推卡位置、推卡初始位置、入箱位置及避让位置，所述推卡位置、所述推卡初始位置、所述入箱位置及所述避让位置沿所述第一方向依次设置于所述存储箱的进口侧；

所述推卡机构包括推卡驱动件及推卡件，所述推卡件与所述推卡驱动件传动连接，所述推卡件在所述推卡驱动件的作用下由所述避让位置运动至所述推卡位置，且所述推卡件在由所述避让位置运动至所述推卡位置的过程中，所述推卡件能够转动避开位于所述入箱位置的所述检测卡；

所述推卡件位于所述推卡位置时，所述推卡件位于所述检测卡远离所述存储箱的一侧，所述推卡驱动件驱动所述推卡件沿所述第一方向由所述推卡位置运动至所述推卡初始位置，以将所述检测卡推送至所述存储格内；

所述推卡件位于所述避让位置时，所述推卡件至少部分伸入至所述存储格内。

在本申请的一些实施例中，所述推卡件包括轴部及爪部，所述爪部设于所述轴部面向所述存储箱的一侧，且所述轴部与所述推卡驱动件转动连接；

所述推卡件位于所述避让位置时，所述爪部位于所述检测卡的运动路径上；

在所述推卡件由所述避让位置运动至所述推卡位置的过程中，所述爪部与所述检测卡接触，并能够借助所述检测卡的顶推力相对所述检测卡沿远离所述检测卡的方向转动，以避开位于所述入箱位置的所述检测卡；

所述推卡件位于所述推卡位置时，所述爪部能够在自身重力的作用下反向转动并与所述检测卡背向所述存储箱的一侧抵接。

在本申请的一些实施例中，所述推卡机构还包括推卡座，所述推卡驱动件与所述推卡座传动连接，所述轴部与所述推卡座转动连接。

在本申请的一些实施例中，所述推卡座上构造形成有沿所述第一方向间隔设置的第一止挡部及第二止挡部，所述轴部部分可转动地设置于所述第一止挡部和第二止挡部之间。

在本申请的一些实施例中，所述推卡座上具有沿所述第二方向贯穿所述推卡座的限位孔，所述轴部部分可转动地穿设于所述限位孔内，且所述限位孔沿所述第一方向相对设置的第一孔壁及第二孔壁分别构造形成所述第一止挡部及所述第二止挡部。

在本申请的一些实施例中，所述推卡件在所述推卡驱动件的作用下沿与所述第一方向相反的方向运动至所述推卡位置。

在本申请的一些实施例中，所述样本检测装置还包括止回结构，所述止回结构在所述第一方向上位于所述入箱位置的上游，所述止回结构用于在所述推卡件由所述避让位置运动至所述推卡位置的过程中将所述检测卡阻挡于所述入箱位置。

在本申请的一些实施例中，所述样本检测装置还包括基座，所述基座包括座体及所述止回件，所述座体具有装箱面，所述止回件设于所述装箱面上，且具有分送面以及止回面，所述分送面沿所述第二方向背离所述装箱面设置并位于所述装箱面的上方，所述止回面连接于所述分送面与所述装箱面之间，并被构造为所述止回结构；

所述装箱面上构造形成有所述入箱位置。

在本申请的一些实施例中，还包括位于所述进口侧的分送机构，所述分送机构能够沿所述第一方向将所述检测卡推送至所述入箱位置。

上述样本检测装置，通过仅设置一个推卡机构便可实现检测卡的推进与推出，使得样本检测装置结构简单，零部件较少。

附图说明

图1为本申请一实施例中样本检测装置上放置有一个存储盒的正视图；

图2为图1所示的样本检测装置的后视图；

图3为图2所示的样本检测装置中局部结构R的放大示意图；

图4为图1所示的样本检测装置中推卡件由避让位置向推卡位置运动的结构示意图；

图5为图1所示的样本检测装置中推卡件与推卡座配合的结构示意图；

图6为图1所示的样本检测装置中推卡件与检测卡配合的结构示意图；

图7为图1所示的样本检测装置中基座的结构示意图；

图8为图1所示的样本检测装置中存储箱、升降机构与弃卡机构配合的结构示意图；

图9为图1所示的样本检测装置的简化示意图；

图10为图1所示的样本检测装置中分送件的移动路径示意图；

图11为图1所示的样本检测装置中检测卡的移动路径示意图。

附图标号：

1、样本检测装置；2、检测卡；3、存储盒；10、存储箱；11、存储格；20、升降机构；21、升降驱动件；22、丝杆；23、升降支架；30、推卡机构；31、推卡驱动件；32、推卡件；321、轴部；3211、轴主体；3212、轴子部；322、爪部；33、推卡座；331、第一止挡部；332、第二止挡部；333、限位孔；34、推卡支架；35、推卡同步带；36、推卡主动轮；37、推卡从动轮；40、分送机构；41、分送驱动件；42、分送件；421、分送轴；422、分送爪；4221、分送部；4222、抵挡部；43、分送支架；44、分送座；45、电磁铁；46、分送同步带；47、分送主动轮；50、检测机构；60、弃卡机构；61、弃卡支架；62、弃卡平台；63、弃卡驱动件；64、弃卡主动轮；65、弃卡从动轮；66、弃卡同步带；70、基座；71、座体；711、装箱面；72、止回件；721、分送面；722、止回面；73、分送槽；74、分送口；80、测卡机构；90、加样机构；A、分送位置；B、测卡位置；C、加样位置；D、入箱位置；E、存储位置；F、检测位置；G、推卡位置；H、推卡初始位置；j、避让位置；X、第一方向；Y、第二方向；Z、第三方向。

具体实施方式

为使本申请的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图对本申请的具体实施方式做详细的说明。在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本申请。但是本申请能够以很多不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本申请内涵的情况下做类似改进，因此本申请不受下面公开的具体实施例的限制。

在本申请的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”、“轴向”、“径向”、“周向”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本申请和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本申请的限制。

此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。在本申请的描述中，“多个”的含义是至少两个，例如两个，三个等，除非另有明确具体的限定。

在本申请中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系，除非另有明确的限定。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本申请中的具体含义。

在本申请中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征“上”或“下”可以是第一和第二特征直接接触，或第一和第二特征通过中间媒介间接接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”可是第一特征在第二特征正上方或斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”可以是第一特征在第二特征正下方或斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。

需要说明的是，当元件被称为“固定于”或“设置于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“上”、“下”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的，并不表示是唯一的实施方式。

请参阅图1，本申请提供一种样本检测装置1，其可以用于对尿液、粪便、血液等样本进行检测并获得检测结果，以为判断人们的身体状况提供依据。其中，样本检测装置1包括存储箱10、升降机构20、推卡机构30及检测机构50。

请一并参阅图2，存储箱10具有沿第一方向X相对设置的进口侧及出口侧，存储箱10还包括多个沿与第一方向X垂直的第二方向Y依次布设的存储格11，每个存储格11沿第一方向X连通进口侧及出口侧。升降机构20与存储箱10传动连接，升降机构20用于驱动存储箱10沿第二方向Y升降，以使得各层的存储格11能够在第一方向X上依次与推卡机构30对齐。推卡机构30位于存储箱10的进口侧，并能够沿第一方向X将检测卡2由进口侧推送至对齐的存储格11内，且能够沿第一方向X将位于对齐的存储格11内的检测卡2由出口侧推出。检测机构50位于出口侧，并用于检测由出口侧推出的检测卡2。

上述样本检测装置1工作时，升降机构20驱动存储箱10沿第二方向Y作升降运动，以使得沿第二方向Y设置的各层存储格11能够依次在第一方向X上与推卡机构30位置对齐。之后，推卡机构30沿第一方向X将检测卡2由进口侧推送至对齐的存储格11内进行反应。反应结束后，推卡机构30将检测卡2由对齐的存储格11内从出口侧推出，检测机构50对推出的检测卡2进行检测并获得检测结果。在本申请中，仅通过设置一个推卡机构30便可实现检测卡2的推进与推出，使得样本检测装置1结构简单，零部件较少。

优选地，在垂直于第一方向X及第二方向Y的第三方向Z上，存储箱10的每层可以设置多个存储格11，推卡机构30能够同步将沿第三方向Z依次排布的多个检测卡2同步推送至同一层的全部或者部分存储格11内。其中，沿第三方向Z依次排布的检测卡2的数量可以与存储箱10同一层的存储格11的数量相等并一一对应，或者，沿第三方向Z依次排布的检测卡2的数量也可以少于存储箱10同一层的存储格11的数量，且沿第三方向Z依次排布的检测卡2与存储箱10同一层的部分存储格11一一对应。推卡机构30将沿第三方向Z排布的每个检测卡2推送至对应的存储格11内。

可以理解，由于升降组件能够驱动存储箱10作升降运动，因此，输入机构可选择性地只推入或推出存储于存储箱10内的检测卡2。也就是说，上述检测卡2存储装置可选择性的先由出口侧推出反应时间到了的检测卡2，而反应时间未到的检测卡2则继续在存储格11内反应。故，该检测卡2存储装置可用于存储反应时间相同或者不同的检测卡2。

在本申请的一些实施例中，升降机构20包括升降驱动件21、丝杆22、升降支架23及升降滑轨，存储箱10可滑动地设置于升降滑轨上，升降驱动件21及升降滑轨均设置于升降支架23上，且丝杆22及升降滑轨均沿第二方向Y延伸，且丝杆22传动连接于存储箱10与升降驱动件21之间，升降驱动件21驱动丝杆22带动存储箱10沿第二方向Y升降。

当然，在其他一些实施例中，升降机构20驱动存储箱10升降的方式不限于上述一种，其还可以为其他形式。值得一提的是，升降机构20驱动存储箱10升降的方式为本领域的常规设置，故在此处不再赘述。

检测机构50可以为光电检测件，摄像头或者其他检测结构。样本检测装置1还包括控制器，控制器与检测机构50电连接，检测机构50用于检测由出口侧推出的检测卡2上的样本信息，并将检测的样本信息发送至控制器，控制器根据样本信息与自身存储的标准信息进行比对并获得检测结果。值得一提的是，检测机构50为本领域的常规技术手段，故在此处不再赘述。

请一并参阅图图4、图5、图6及图9，在本申请的一些实施例中，样本检测装置1具有推卡位置G、推卡初始位置H、入箱位置D及避让位置j，推卡位置G、推卡初始位置H、入箱位置D及避让位置j沿第一方向X依次设置于存储箱10的进口侧。推卡机构30包括推卡驱动件31及推卡件32，推卡件32与推卡驱动件31传动连接，推卡件32在推卡驱动件31的作用下由避让位置j运动至推卡位置G，且推卡件32在由避让位置j运动至推卡位置G的过程中，推卡件32能够转动避开位于入箱位置D的检测卡2。

推卡件32位于推卡位置G时，推卡件32位于检测卡2远离存储箱10的一侧，推卡驱动件31驱动推卡件32沿第一方向X由推卡位置G运动至推卡初始位置H，以将检测卡2推送至存储格11内；推卡件32位于避让位置j时，推卡件32至少部分伸入至存储格11内。

样本检测装置1开始工作时，推卡件32位于推卡初始位置H。在检测卡2由第一方向X逐渐靠近入箱位置D的过程中，推卡驱动件31驱动推卡件32沿第一方向X由推卡初始位置H经入箱位置D运动至避让位置j，以避免推卡件32对检测卡2沿第一方向X的运动构成干扰。检测卡2运动至入箱位置D时，推卡驱动件31驱动推卡件32由避让位置j运动至推卡位置G，这样，推卡件32能够位于检测卡2在第一方向X的后方并沿第一方向X运动至推卡初始位置H，在此过程中，推卡件32将检测卡2推送至储存箱内。

推卡件32位于避让位置j时，推卡件32至少部分伸入至存储格11内。这样，推卡件32处于避位位置时，其占据的空间能够与存储箱10占据的空间至少部分重叠，从而能够减少推卡件32占据的空间体积，以使得推卡件32能够更好的与检测卡2进行避位。而推卡件32在由避让位置j运动至推卡位置G的过程中，推卡件32能够转动避开位于入箱位置D的检测卡2，因此，推卡件32在运动至推卡位置G的过程中不会将检测卡2沿与第一方向X相反的方向将检测卡2反向推离入箱位置D，如此，检测卡2能够保持在入箱位置D并被推送至存储箱10内。而推卡件32位于推卡位置G时，推卡件32可在推卡驱动件31的作用下沿第一方向X将检测卡2推送至存储箱10内，沿第一方向X推卡的方式运动路径较短，能够实现检测卡2的高效推入。

值得一提的是，为提升样本检测装置1的自动化，升降驱动件21及推卡驱动件31均与控制器电连接，控制器还控制升降驱动件21及推卡驱动件31工作。

在本申请的一些实施例中，推卡件32在推卡驱动件31的作用下沿与第一方向X相反的方向运动至推卡位置G。

也就是说，推卡驱动件31驱动推卡件32直线运动来实现推卡件32在第一方向X以及与第一方向X相反的方向上的位置切换。推卡件32无论是沿第一方向X运动还是沿与第一方向X相反的方向运动，推卡件32具能够迅速到达目标位置，从而有助于提升样本检测装置1的工作效率。

当然，推卡驱动件31驱动推卡件32由避让位置j运动至推卡位置G的方式不限于上述一种。比如，在其他一些实施例中，推卡驱动件31可以为三轴机械手，推卡驱动件31驱动推卡件32沿与第一方向X及第二方向Y均垂直的第三方向Z运动，而后再驱动推卡驱动件31沿与第一方向X相反的方向运动至推卡位置G。或者，推卡驱动件31驱动推卡件32先沿第二方向Y运动，而后沿第三方向Z运动至推卡位置G。

请再次参阅图5，并同时参阅图6，在本申请的一些实施例中，推卡件32包括轴部321及爪部322，爪部322设于轴部321面向存储箱10的一侧，且轴部321与推卡驱动件31转动连接。推卡件32位于避让位置j时，爪部322位于检测卡2的运动路径上。在推卡件32由避让位置j运动至推卡位置G的过程中，爪部322与检测卡2接触，并能够借助检测卡2的顶推力相对检测卡2沿远离检测卡2的方向转动，以避开位于入箱位置D的检测卡2。推卡件32位于避让位置j时，爪部322能够在自身重力的作用下反向转动并与检测卡2背向存储箱10的一侧抵接。

具体地，推卡件32可以借助检测卡2的顶推力相对检测卡2转动至检测卡2沿第二方向Y设置的上方或者下方，或者，推卡件32也可以借助检测卡2的顶推力相对检测卡2转动至检测卡2沿第三方向Z设置的左侧或者右侧，以避开检测卡2。以下实施例均以推卡件32借助检测卡2的顶推力转动至检测卡2的上方(如图6所示的爪部322抵接于检测卡2的顶面)为例进行说明。

推卡件32位于避让位置j时，爪部322远离轴部321的一端位于检测卡2的运动路径上，爪部322连接轴部321的一端及轴部321均位于检测卡2的运动路径外。检测卡2运动至入箱位置D时，检测卡2位于轴部321的下方并与爪部322抵接。在推卡件32由避让位置j运动至推卡位置G的过程中，爪部322借助检测卡2的顶推力转动至检测卡2的上方(如图6所示的爪部322抵接于检测卡2的顶面)，以使得整个推卡件32能够避让位于入箱位置D的检测卡2。推卡件32位于推卡位置G(如图6所示的爪部322抵接于检测卡2的右侧面)时，爪部322能够在自身重力的作用下反向转动并与检测卡2背向存储箱10的一侧抵接，以能够推动检测卡2沿第一方向X运动至存储箱10内。

在该种设计下，仅设置推卡驱动件31驱动推卡件32由避让位置j返回至推卡位置G的过程中，推卡件32即可在检测件的顶推下与检测件自行避让，从而省去了人工操作及外部驱动结构驱动的麻烦，样本检测装置1的结构设置也更简单。

当然，在其他一些实施例中，驱动推卡件32转动的驱动力也可以由人力或者外部驱动结构提供，具体可以根据需要进行设置。

在其他一些实施例中，推卡件32的具体形式不限于上述一种。比如，其还可以包括轴部321、第一爪部322及第二爪部322，其中，第一爪部322及第二爪部322沿第一方向X分布于轴部321相对的两侧，轴部321与推卡驱动件31转动连接，且第一爪部322的质量大于第二爪部322的质量。

推卡件32位于避让位置j时，第一爪部322在自身重力的作用下带动第二爪部322及轴部321转动，以使得第一爪部322位于第二爪部322及检测卡2的下方，且位于检测卡2的运动路径外，而第二爪部322位于检测卡2的运动路径上。在推卡件32由避让位置j运动至推卡位置G的过程中，第二爪部322借助检测卡2的顶推力转动至检测卡2的下方，以使得整个推卡件32能够避让位于入箱位置D的检测卡2。推卡件32位于推卡位置G时，第一爪部322能够在自身重力的作用下反向转动至第二爪部322的下方，以使得第二爪部322能够与检测卡2背向存储箱10的一侧抵接，以使得第二爪部322能够推动检测卡2沿第一方向X运动至存储箱10内。

请再次参阅图4，在本申请的一些实施例中，轴部321沿第三方向Z延伸，爪部322为多个并沿第三方向Z间隔设置，存储箱10每层中的所有存储格11与所有爪部322在第一方向X上一一对应。这样，推卡件32可以一次性向同一层的每个存储格11内推送检测卡2。

请再次参阅图2及图3，在本申请的一些实施例中，推卡机构30还包括推卡座33，推卡驱动件31与推卡座33传动连接，轴部321与推卡座33转动连接。

具体地，推卡驱动件31设置于基座70上，推卡座33与推卡驱动件31传动连接，轴部321转动设置于推卡座33上。

实际工作时，推卡驱动件31驱动推卡座33带动推卡件32沿第一方向X或者由与第一方向X相反的方向运动。且在推卡驱动件31驱动推卡座33带动推卡件32沿与第一方向X相反的方向由避让位置j运动至推卡位置G的过程中，爪部322在检测卡2的作用下带动轴部321相对推卡座33转动，以避开检测卡2。通过设置固定部，可方便轴部321进行装配。

在本申请的一些实施例中，推卡机构30还包括推卡支架34，推卡同步带35、推卡主动轮36及推卡从动轮37，推卡主动轮36及推卡从动轮37均沿第一方向X设置，推卡驱动件31固定于推卡支架34上并与推卡主动轮36传动连接，推卡从动轮37可转动地设置于推卡支架34上，推卡同步带35套设于推卡主动轮36及推卡从动轮37上，推卡座33设置于推卡同步带35上。

推卡驱动件31驱动推卡主动轮36转动时，推卡同步带35动推卡座33及推卡件32沿第一方向X或者沿与第一方向X相反的方向移动，以实现推卡件32位置的变换。该种驱动推卡件32移动的方式简单易操作，且推卡件32的运动更稳定。

在本申请的一些实施例中，推卡座33上构造形成有沿第一方向X间隔设置的第一止挡部331及第二止挡部332，轴部321部分可转动地设置于第一止挡部331和第二止挡部332之间。

其中，轴部321包括轴主体3211及沿第二方向Y突出设置于轴主体3211上的轴子部3212，轴主体3211可转动地设置于推卡座33上，且轴子部3212可转动地设置于第一止挡部331及第二止挡部332之间，爪部322固接于轴主体3211上。

以推卡件32借助检测卡2的顶推力转动至检测卡2的上方为例，第一止挡部331用于对爪部322在检测卡2的推动下的转动角度进行限定，第二止挡部332用于对爪部322在自身重力的作用下的转动角度进行限定。

通过设置第一止挡部331及第二止挡部332，第一止挡部331及第二止挡部332可以对推卡件32的转动角度进行限定，以使得推卡件32可在合适的范围内转动，以降低推卡件32转动角度过大而无法回位导致推卡件32在处于推卡位置G时无法与检测卡2抵接的风险。

在本申请的一些实施例中，推卡座33上具有沿第二方向Y贯穿推卡座33的限位孔333，轴部321部分可转动地穿设于限位孔333内，且限位孔333沿第一方向X相对设置的第一孔壁及第二孔壁分别构造形成第一止挡部331及第二止挡部332。

具体地，轴子部3212可转动地穿设于限位孔333内，且在轴子部3212转动至与第一孔壁或者第二孔壁抵接的位置时停止转动。

限位孔333的设置，可方便轴子部3212装配于限位孔333内，从而有助于提升推卡件32装配的简便性。

当然，第一止挡部331及第二止挡部332的构造方式不限于上述一种。比如，还可以在推卡座33上沿第二方向Y突出设置有第一凸部及第二凸部，第一凸部及第二凸部沿第一方向X间隔设置，且第一凸部及第二凸部相互朝向的表面分别构造形成上述第一止挡部331及第二止挡部332。

在申请的一些实施例中，样本检测装置1还包括止回结构，止回结构在第一方向X上位于入箱位置D的上游，止回结构用于在推卡件32由避让位置j运动至推卡位置G的过程中将检测卡2阻挡于入箱位置D。

具体地，止回结构在第一方向X上阻挡于检测卡2的后方。由于止回结构的阻挡，在推卡驱动件31推动推卡件32沿与第一方向X相反的方向运动至推卡位置G的过程中，可降低检测卡2被推卡件32沿与第一方向X相反的方向推动并离开入箱位置D的风险，从而使得推卡件32能够移动至推卡位置G并沿第一方向X抵接于检测卡2的后方，以将检测件推送至存储箱10内，使得样本检测装置1具有较优的工作可靠性。

请参阅图7，在申请的一些实施例中，样本检测装置1还包括基座70，基座70包括座体71及止回件72，座体71具有装箱面711，止回件72设于装箱面711上，且具有分送面721以及止回面722，分送面721沿第二方向Y背离装箱面711设置并位于装箱面711的上方，止回面722连接于分送面721与装箱面711之间，并被构造为止回结构；装箱面711上构造形成有入箱位置D。

基座70起支撑作用，检测机构50、升降支架23及推卡支架34均与基座70连接，以使得存储箱10、升降机构20、推卡机构30及检测机构50能够与基座70形成一个整体，且存储箱10、升降机构20、推卡机构30及检测机构50与基座70能够相互稳定地配合，因此，样本检测装置1具有更优的工作可靠性。

当然，在其他一些实施例中，检测机构50、升降支架23及推卡支架34也可以直接安装于地面、桌面等安装面上。

基座70安装于安装面上并沿第一方向X延伸。以下实施例均基座70的延伸方向即为第一方向X，基座70的厚度方向为第二方向Y，基座70的厚度方向为第三方向Z为例进行说明。基座70上设置有沿第一方向X依次设置有推卡位置G、推卡初始位置H、入箱位置D及避让位置j。

实际作业时，检测卡2沿第一方向X由分送面721滑动至装箱面711上的入箱位置D。而由于分送面721位于装箱面711的上方，且分送面721与装箱面711之间存在高度差，则连接于分送面721与装箱面711之间的止回面722自动形成阻挡检测卡2反向滑动的止回结构，则在推卡件32沿与第一方向X相反的方向运动至推卡位置G的过程中，止回面722可将检测卡2止挡于入箱位置D，保证了推卡件32后续推卡的操作能够正常执行。而止回面722构造形成止回结构的形式，相较于止回结构由外部其他构件构造形成的方式而言，减少了样本检测装置1的零部件数量，从而使得样本检测装置1的结构更简单。

当然，在其他一些实施例中，止回结构的设置不限于上述一种，止回结构还可以为基座70之外的外部其他构件。比如，止回结构为伸缩杆结构，当检测卡2移动至入箱位置D时，止回结构伸长并止挡于检测卡2的后方。当推卡件32运动至推卡位置G时，止回结构收缩至检测卡2及推卡件32的运动路径外，以解除其止回作用。

在本申请的一些实施例中，基座70上还设置有沿第三方向Z布设的多个分送槽73，每个分送槽73沿第一方向X由分送面721经止回面722延伸至装箱面711，分送槽73的数量与推卡件32的爪部322的数量一一对应，每个推卡件32用于推送位于对应地分送槽73内的检测卡2沿第一方向X滑动。每个分送槽73可以沿第一方向X引导其内的检测卡2滑动，这样，可以提升检测卡2滑动的稳定性。

请再次参阅图3及图4，在本申请的一些实施例中，样本检测装置1还包括位于进口侧的分送机构40，分送机构40能够沿第一方向X将检测卡2推送至入箱位置D。

其中，样本检测装置1还包括分送位置A及存储位置E，分送位置A位于存储箱10的进口侧，且在第一方向X上分送位置A位于入箱位置D的上游，并位于推卡位置G背向入箱位置D的一侧，存储位置E位于入箱位置D的下游，存储箱10位于存储位置E，用于存储检测卡2的存储盒3位于分送位置A。

优选地，存储位置E及分送位置A均设置于基座70上。

请一并参阅图10，分送机构40包括分送驱动件41及分送件42，分送驱动件41用于驱动分送件42沿第一方向X或者沿与第一方向X相反的方向运动。分送件42在沿第一方向X运动的过程中可将位于分送位置A的存储盒3中的检测卡2推送至入箱位置D，以实现检测卡2的自动推送。值得一提的是，分送件42是在第一方向X上位于检测卡2的上游并推动检测卡2移动。

之后，分送驱动件41驱动分送件42沿与第一方向X相反的方向滑动，在分送件42沿与第一方向X相反的方向由能够将检测卡2推送至入箱位置D的位置运动至能够将检测卡2由分送位置A推出的位置的过程中，推卡件32由避让位置j运动至推卡位置G，以实现推卡件32与分送件42的避让。

值得一提的是，检测卡2沿第二方向Y层叠设置于存储盒3中，分送件42每次将位于存储盒3中最底部的检测卡2沿第一方向X推出分送位置A后，在重力的作用下，存储盒3内层叠的检测卡2自动下沉，以使得存储盒3的底部始终具有能够与分送件42对齐的检测卡2。值得一提的是，为提升样本检测装置1的自动化，分送驱动件41与控制器电连接，控制器还控制分送驱动件41工作。

在分送机构40中的分送件42沿第一方向X运动并将位于分送位置A的存储盒3中的检测卡2推送至入箱位置D后，推卡机构30中的推卡件32沿第一方向X运动并将检测卡2由入箱位置D推送至位于存储位置E的存储箱10内，且在第一方向X上存储位置E位于入箱位置D的下游。在检测卡2由分送位置A运动至存储位置E的过程中，推卡件32能够避让于分送件42。这样，可降低推卡件32与分送件42之间的运动相互妨碍的风险，从而在能够保障分送件42可以沿第一方向X推送将检测卡2推送至入箱位置D的同时，推卡件32还可以沿与第一方向X相反的方向回到推卡位置G并将位于入箱位置D的检测卡2推送至存储位置E。

具体地，分送机构40包括分送支架43、分送座44及设置于分送座44上的多个电磁铁45，分送座44可滑动地设置于分送支架43上，分送件42包括分送轴421及多个分送爪422，分送轴421设置于分送座44上并沿第三方向Z延伸，多个分送爪422均可转动地设置于分送轴421上并与所有电磁铁45一一对应，分送驱动件41设置于分送支架43上。优选地，分送支架43与基座70连接。

分送爪422的数量还与推卡件32的爪部322的数量相等并一一对应。每个分送爪422包括分送部4221及抵挡部4222，且分送部4221的质量小于抵挡部4222的质量。分送部4221用于推出检测卡2，抵挡部4222用于与电磁铁45抵接或分离。电磁铁45断电时，分送爪422与电磁铁45分离，分送爪422不受外力时，分送爪422可在自身重力作用下绕安装轴转动，形成抵挡部4222在下，分送部4221在上的第一状态。每个分送槽73的底部还设置有沿第二方向Y贯穿设置的分送口74，分送口74沿第一方向X由分送面721延伸至装箱面711，分送爪422处于第一状态时，分送爪422的分送部4221穿设于分送口74，并伸入至对应的分送槽73内，以推动检测卡2沿第一方向X移动。其中，存储盒3的数量与处于第一状态的分送爪422的数量相同并一一对应，每个处于第一状态的分送爪422用于推出对应的存储盒3内的检测卡2。电磁铁45通电时，则与电磁铁45对应的分送爪422的抵挡部4222在电磁铁45的吸附作用下相对安装轴反转并与电磁铁45抵接，形成抵挡部4222与分送部4221在第一方向X上大致平齐的第二状态。处于第二状态时，抵挡部4222及分送部4221均位于分送槽73外，这样，该分送爪422停止分送。值得一提的是，为提升样本检测装置1的自动化，每个电磁铁45还与控制器电连接，控制器还控制每个电磁铁45通电或者断电。

可选地，可根据所需要间隔的样本的数量及种类，选择性地控制每个分送爪422处于第一状态或者第二状态，处于第二状态的分送爪422沿第一方向X运动并将检测卡2推出，推出第二状态的分送爪422无法将检测卡2推出。这样，样本检测装置1具有更为广泛的适用范围。

实际工作时，分送驱动件41驱动分送座44带动所有分送爪422沿第一方向X运动，以使得处于第一状态的分送爪422能够推出对应的存储盒3内的检测卡2，并将对应的检测卡2沿第一方向X推送至入箱位置D。之后，分送驱动件41驱动分送座44带动所有分送爪422沿与第一方向X相反的方向运动，直至每个分送件42位于能够将对应的存储盒3中的检测卡2由分送位置A推出的位置，此时，每个分送件42位于对应的存储盒3的上游。

在本申请的一些实施例中，分送机构40还包括分送同步带46、分送主动轮47及分送从动轮，分送主动轮47及分送从动轮均沿第一方向X设置，分送驱动件41与分送主动轮47传动连接，分送从动轮可转动地设置于分送支架43上，分送同步带46套设于分送主动轮47及分送从动轮上，分送座44设置于分送同步带46上。

分送驱动件41驱动分送主动轮47转动时，分送同步带46可带动分送座44及分送件42沿第一方向X或者沿与第一方向X相反的方向移动，以实现分送件42位置的变换。该种驱动分送件42移动的方式简单易操作，且分送件42的运动更稳定。

当然，在其他的一些实施例中，分送机构40的机构不限于上述一种，其还可以为其他形式，分送机构40为本领域的常规技术手段，故在此处不再赘述。

在本申请的一些实施例中，样本检测装置1包括位于分送位置A与入箱位置D之间的加样位置C，加样位置C位于分送位置A与推卡初始位置H之间。在分送件42将检测卡2由分送位置A推送至加样位置C的过程中，推卡件32由推卡初始位置H运动至避让位置j。或者，在分送件42将检测卡2由加样位置C推送至入箱位置D的过程中，推卡件32由推卡初始位置H运动至避让位置j。

请参阅图9，样本检测装置1还包括加样机构90，加样机构90用于对经过加样位置C的每个检测卡2进行加样，以使得检测卡2上能够携带样本，进而可方便后续检测。通过设置加样机构90，检测卡2可通用，加样机构90根据检测需要可向沿第三方向Z同步移动的所有检测卡2上加入同样或者不同的样本。

当检测卡2经分送件42推送至入箱位置D后，分送驱动件41驱动分送件42返回，在分送件42沿与第一方向X相反的方向由能够将检测卡2推送至加样位置C的位置运动至能够将检测卡2由分送位置A推出的位置的过程中，推卡件32由避让位置j运动至推卡位置G。

优选地，加样机构90及加样位置C均设置于基座70上。为提升样本检测装置1的自动化，加样机构90还与控制器电连接，控制器控制加样机构90是否向检测卡2加样。

比如，加样机构90包括加样驱动件及沿第三方向Z依次设置的多个加样针筒，加样针筒的数量与处于第一状态的分送爪422的数量相等并一一对应。加样驱动件与所有加样针筒连接，并同步驱动所有加样针筒沿第二方向Y升降，以使得每个加样针筒能够靠近或者远离对应的分送爪422推送的检测卡2。每个加样针筒靠近对应的分送爪422推送的检测卡2时，每个加样针筒可向对应的分送爪422推送的检测卡2加样。每个加样针筒远离对应的分送爪422推送的检测卡2时，每个加样针筒停止加样。

当然，加样机构90的具体形式不限于上述一种，其还可以为其他加样形式。具体地，加样机构90为本领域的常规设置，故在此处不再赘述。

在本申请的一些实施例中，样本检测装置1包括位于分送位置A与加样位置C之间的测卡位置B。在分送件42将检测卡2由测卡位置B推送至加样位置C的过程中，推卡件32由推卡初始位置H运动至避让位置j。

样本检测装置1还包括测卡机构80，测卡机构80位于测卡位置B的上方，在每个分送爪422将对应的检测卡2推送至测卡位置B时，测卡机构80检测测卡位置B是否存在与处于第一状态的分送爪422数量相同的检测卡2。若是，则说明每个存储盒3内还具有检测卡2，样本检测装置1可以正常工作。若检测卡2的数量少于处于第一状态的分送爪422的数量，则说明测卡位置B与不存在检测卡2的区域对应的存储盒3内没有检测卡2了，则需要更换存储盒3。具体地，测卡机构80还与控制器电连接，当测卡机构80检测到需要更换存储盒3时，测卡机构80反馈给控制器，控制器发出更换存储盒3信号，以提升用户更换存储盒3。

通过设置测卡机构80，可以即使或者各存储盒3内的检测卡2的有无，从而可提示用户及时更换存储盒3，使得样本检测装置1的工作可靠性更高。

比如，测卡机构80可以为沿第三方向Z依次布设的多个光电传感器，多个光电传感器的数量与分送爪422的数量相等并一一对应。每个光电传感器与控制器电连接，且在样本检测装置1工作时控制器控制与每个处于第一状态的分送爪422对应的光电传感器开启。当每个处于第一状态的分送爪422将对应的检测卡2推送至测卡位置B时，每个开启的光电传感器反馈信号给控制器，控制器根据每个光电传感器反馈的信号判断是否发出更换存储盒3信号。

其中，测卡机构80以及控制器控制测卡机构80工作的过程均为本领域的常规技术手段，故在此处不再赘述。

样本检测装置1还检测位置F，检测装置沿第二方向Y设置于检测装置的上方。在推卡件32由推卡初始位置H运动至避让位置j之前，升降机构20驱动存储箱10沿与第一方向X垂直的第二方向Y运动，以使存储箱10中容置有反应完成的检测卡2的存储格11能够与推卡件32在第一方向X上位置对齐。在推卡件32由推卡初始位置H运动至避让位置j的过程中，推卡件32沿第一方向X将反应完成的检测卡2由储存箱的出口侧推出至检测位置F；检测机构50对位于检测位置F的检测卡2进行检测。

这样，一方面，推卡件32能够推出存储箱10内反应完成的检测卡2，以使得反应完成的检测卡2可以被进行检测，另一方面，推卡件32还可至少部分容置于存储箱10内，并与位于入箱位置D的待检测的检测卡2进行避位。与此同时，推卡件32推出反应完成的检测卡2后，还可清空与其对齐的同一层的储存格中的检测卡2，以为下一次将待检测的检测卡2的推入腾出位置。

请再次参阅图8，在本申请的一些实施例中，样本检测装置1还包括弃卡机构60，弃卡机构60位于存储箱10的出口侧，且弃卡机构60上设置有检测位置F。弃卡机构60用于驱动位于检测位置F且检测完成的检测卡2旋转，以丢弃检测完成的检测卡2。

具体地，弃卡机构60的下方设置有收集箱，弃卡机构60驱动检测卡2旋转，检测卡2能够掉落并收集于收集箱内。

其中，弃卡机构60包括弃卡支架61、弃卡平台62、弃卡驱动件63、弃卡主动轮64、弃卡从动轮65及弃卡同步带66。弃卡驱动件63设置于弃卡支架61上，并与弃卡主动轮64传动连接，弃卡从动轮65卡转动设置于弃卡支架61上，弃卡同步带66套设于弃卡主动轮64及弃卡从动轮65上，且弃卡平台62与弃卡从动轮65固接。弃卡驱动件63驱动弃卡主动轮64带动弃卡同步带66运动，使得弃卡从动轮65旋转时，弃卡平台62旋转，这样，检测完成的检测卡2能够掉落至收集箱内收集。通过设置弃卡机构60驱动检测卡2旋转，使得样本检测装置1能够自动收集检测完成的检测卡2。

当然，在其他一些实施例中，弃卡机构60也可以为其他机构，弃卡机构60为本领域的常规设置，具体在此处不再赘述。

优选地，弃卡驱动件63与控制器连接，控制器控制弃卡驱动件63工作。

下面，对一实施例中，样本检测装置1的整个控制过程进行说明。

请再次一并参阅图9、图10及图11，样本检测装置1启动前，存储箱10内不存在检测卡2。分送件42在第一方向X上位于检测卡2的上游，推卡件32位于推卡初始位置H。样本检测装置1启动后，控制器控制升降机构20驱动存储箱10中在第二方向Y上位于最顶层的存储格11与推卡件32在第一方向X位置对齐。与此同时，控制器控制分送驱动件41工作，在分送驱动件41的作用下，分送件42沿第一方向X运动并将位于分送位置A的每个存储盒3中的检测卡2推送至测卡位置B。

测卡机构80检测测卡位置B是否存在与处于第一状态的分送爪422数量相同的检测卡2，并反馈给控制器。若检测卡2的数量少于处于第一状态的分送爪422的数量，则说明测卡位置B与不存在检测卡2的区域对应的存储盒3内没有检测卡2了，则控制器发出更换存储盒3信号。若是，则说明每个存储盒3内还具有检测卡2，则控制器继续控制分送驱动件41工作，分送件42将各位于测卡位置B的检测卡2推送至加样位置C。

接着，控制器控制加样机构90工作，加样机构90对每个检测卡2进行加样。在分送件42将检测卡2由测卡位置B推送至加样位置C的过程中，控制器控制推卡驱动件31工作，推卡件32由推卡初始位置H运动至避让位置j。此时，所有的爪部322容置于存储箱10最顶层对应的存储格11内进行避位。

接着，控制器控制分送驱动件41继续工作，分送件42沿第一方向X驱动各检测件依次途径推卡位置G及推卡初始位置H运动至入箱位置D。

之后，分送件42沿与第一方向X相反的方向运动。在分送件42沿与第一方向X相反的方向由能够将检测卡2推送至加样位置C的位置运动至能够将检测卡2由分送位置A推出的位置的过程中，推卡件32由避让位置j运动至推卡位置G。分送件42单次循环的运动路径如箭头a1→a2→a3→a4所指。

接着，推卡件32由推卡位置G运动至推卡初始位置H，以将位于入箱位置D的所有检测卡2同步推入至存储箱10最顶层的存储格11内。之后，推卡件32停留在推卡初始位置H，等待下一次推卡。

接着，升降机构20驱动存储箱10上移，存储箱10每次上移一层，以使得位于存储箱10的最顶层下方的各层存储格11能够依次与推卡件32对齐，这样，在分送件42及推卡件32多次循环工作下，存储箱10内的每层中均容置有检测卡2。

之后，升降机构20驱动存储箱10下移，以存储箱10最顶层的存储格11能够与推卡件32位置对齐。在推卡件32由推卡初始位置H移动至避让位置j的过程中，推卡件32能够将存储箱10最顶层的存储格11中反应完成的检测卡2由存储箱10的出口侧推送至检测位置F进行检测。之后，推卡件32由避让位置j运动至推卡位置G，并由推卡位置G运动至推卡初始位置H，以将位于入箱位置D的下一次待检测的检测卡2推送至存储箱10最顶层的存储格11反应。之后，推卡件32停留在推卡初始位置H，等待下一次推卡。

接着，升降机构20驱动存储箱10上移，存储箱10每次上移一层，以使得位于存储箱10的最顶层下方的各层存储格11能够依次与推卡件32对齐，这样，在分送件42及推卡件32多次循环工作下，存储箱10内的每层中反应完成的检测卡2均可被推出至检测位置F进行检测，且存储箱10的每层存储格11内能够重新容置新的待检测的检测卡2。

在检测机构50每次检测完成后，弃卡机构60均驱动检测完成的检测卡2旋转，以使得检测完成的检测卡2能够掉落至收集箱内收集。

上述样本检测装置1，通过仅设置一个推卡机构30便可实现检测卡2的推进与推出，使得样本检测装置1结构简单，零部件较少。

以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

以上所述实施例仅表达了本申请的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对申请专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本申请的保护范围。因此，本申请专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (10)

1.一种样本检测装置，其特征在于，所述样本检测装置包括：

存储箱(10)，具有沿第一方向(X)相对设置的进口侧及出口侧，所述存储箱(10)还包括多个沿与所述第一方向(X)垂直的第二方向(Y)依次布设的存储格(11)，每个所述存储格(11)沿所述第一方向(X)连通所述进口侧及所述出口侧；

升降机构(20)，与所述存储箱(10)传动连接，所述升降机构(20)用于驱动所述存储箱(10)沿所述第二方向(Y)升降；

推卡机构(30)，位于所述存储箱(10)的进口侧，并能够沿所述第一方向(X)将检测卡(2)由所述进口侧推送至所述存储格(11)内，且能够沿所述第一方向(X)将位于所述存储格(11)内的所述检测卡(2)由所述出口侧推出；以及

检测机构(50)，位于所述出口侧，并用于检测由所述出口侧推出的所述检测卡(2)。

2.根据权利要求1所述的样本检测装置，其特征在于，所述样本检测装置具有推卡位置(G)、推卡初始位置(H)、入箱位置(D)及避让位置(j)，所述推卡位置(G)、所述推卡初始位置(H)、所述入箱位置(D)及所述避让位置(j)沿所述第一方向(X)依次设置于所述存储箱(10)的进口侧；

所述推卡机构(30)包括推卡驱动件(31)及推卡件(32)，所述推卡件(32)与所述推卡驱动件(31)传动连接，所述推卡件(32)在所述推卡驱动件(31)的作用下由所述避让位置(j)运动至所述推卡位置(G)，且所述推卡件(32)在由所述避让位置(j)运动至所述推卡位置(G)的过程中，所述推卡件(32)能够转动避开位于所述入箱位置(D)的所述检测卡(2)；

所述推卡件(32)位于所述推卡位置(G)时，所述推卡件(32)位于所述检测卡(2)远离所述存储箱(10)的一侧，所述推卡驱动件(31)驱动所述推卡件(32)沿所述第一方向(X)由所述推卡位置(G)运动至所述推卡初始位置(H)，以将所述检测卡(2)推送至所述存储格(11)内；

所述推卡件(32)位于所述避让位置(j)时，所述推卡件(32)至少部分伸入至所述存储格(11)内。

3.根据权利要求2所述的样本检测装置，其特征在于，所述推卡件(32)包括轴部(321)及爪部(322)，所述爪部(322)设于所述轴部(321)面向所述存储箱(10)的一侧，且所述轴部(321)与所述推卡驱动件(31)转动连接；

所述推卡件(32)位于所述避让位置(j)时，所述爪部(322)位于所述检测卡(2)的运动路径上；

在所述推卡件(32)由所述避让位置(j)运动至所述推卡位置(G)的过程中，所述爪部(322)与所述检测卡(2)接触，并能够借助所述检测卡(2)的顶推力相对所述检测卡(2)沿远离所述检测卡(2)的方向转动，以避开位于所述入箱位置(D)的所述检测卡(2)；

所述推卡件(32)位于所述推卡位置(G)时，所述爪部(322)能够在自身重力的作用下反向转动并与所述检测卡(2)背向所述存储箱(10)的一侧抵接。

4.根据权利要求3所述的样本检测装置，其特征在于，所述推卡机构(30)还包括推卡座(33)，所述推卡驱动件(31)与所述推卡座(33)传动连接，所述轴部(321)与所述推卡座(33)转动连接。

5.根据权利要求4所述的样本检测装置，其特征在于，所述推卡座(33)上构造形成有沿所述第一方向(X)间隔设置的第一止挡部(331)及第二止挡部(332)，所述轴部(321)部分可转动地设置于所述第一止挡部(331)和第二止挡部(332)之间。

6.根据权利要求5所述的样本检测装置，其特征在于，所述推卡座(33)上具有沿所述第二方向(Y)贯穿所述推卡座(33)的限位孔(333)，所述轴部(321)部分可转动地穿设于所述限位孔(333)内，且所述限位孔(333)沿所述第一方向(X)相对设置的第一孔壁及第二孔壁分别构造形成所述第一止挡部(331)及所述第二止挡部(332)。

7.根据权利要求2所述的样本检测装置，其特征在于，所述推卡件(32)在所述推卡驱动件(31)的作用下沿与所述第一方向(X)相反的方向运动至所述推卡位置(G)。

8.根据权利要求2所述的样本检测装置，其特征在于，所述样本检测装置还包括止回结构，所述止回结构在所述第一方向(X)上位于所述入箱位置(D)的上游，所述止回结构用于在所述推卡件(32)由所述避让位置(j)运动至所述推卡位置(G)的过程中将所述检测卡(2)阻挡于所述入箱位置(D)。

9.根据权利要求8所述的样本检测装置，其特征在于，所述样本检测装置还包括基座(70)，所述基座(70)包括座体(71)及止回件(72)，所述座体(71)具有装箱面(711)，所述止回件(72)设于所述装箱面(711)上，且具有分送面(721)以及止回面(722)，所述分送面(721)沿所述第二方向(Y)背离所述装箱面(711)设置并位于所述装箱面(711)的上方，所述止回面(722)连接于所述分送面(721)与装箱面(711)之间，并被构造为所述止回结构；

所述装箱面(711)上构造形成有所述入箱位置(D)。

10.根据权利要求2所述的样本检测装置，其特征在于，还包括位于所述进口侧的分送机构(40)，所述分送机构(40)能够沿所述第一方向(X)将所述检测卡(2)推送至所述入箱位置(D)。

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