CN219292103U - 一种半导体器件高效测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及半导体器件技术领域，具体为一种半导体器件高效测试装置，包括安装板，所述安装板的下表面固定连接有支架，所述支架的内壁固定连接有收集盒，所述安装板的一侧安装有测试板，所述收集盒的内壁设有收集结构，所述收集结构包括抽盒，所述抽盒的下表面与收集盒滑动连接，所述抽盒的上表面固定连接有支板，所述支板的短臂滑动贯穿有长杆，所述支架的内壁固定连接有限位框，所述长杆的圆弧面与限位框滑动连接，所述收集盒的一侧开设有侧孔，所述抽盒位于侧孔内，所述长杆的上端固定连接有连接绳，连接绳的另一端与支板固定连接。本实用新型，解决了收集盒与支架三为固定连接，因此后续人员拿取半导体测试件还需重新逐个拿取的问题。

Description

一种半导体器件高效测试装置

技术领域

本实用新型涉及半导体器件技术领域，尤其涉及一种半导体器件高效测试装置。

背景技术

半导体器件是利用半导体材料特殊电特性来完成特定功能的电子器件，可用来产生、控制、接收、变换、放大信号和进行能量转换，在一些电器设备中应用极为广泛。

现有技术诸如公告号为CN217404457U的实用新型，该专利公开了一种半导体分立器件的耐压测试装置，该专利采用支架一、支架二和支架三，所述支架一的两端均固定有连板，两个所述连板之间安装有传送带，所述支架二的上端转动连接有测试板，所述测试板上设置有测试引脚，所述支架三的放置有位于测试板端部下侧的收集盒，所述收集盒的外壁与测试板的下侧壁之间设有驱动机构，来解决如何连续半导体分立器件的耐压测试是目前亟需解决的问题。

发明人在日常工作中发现，半导体器件通过测试板测试完成后会掉落至收集盒内，然而收集盒与支架三为固定连接，因此后续人员拿取半导体测试件还需重新逐个拿取，从而会耗费人员较多时间的问题出现。

实用新型内容

本实用新型的目的是为了解决现有技术中存在收集盒与支架三为固定连接，因此后续人员拿取半导体测试件还需重新逐个拿取的缺点，而提出的一种半导体器件高效测试装置。

为了实现上述目的，本实用新型采用了如下技术方案：一种半导体器件高效测试装置，包括安装板，所述安装板的下表面固定连接有支架，所述支架的内壁固定连接有收集盒，所述安装板的一侧安装有测试板，所述收集盒的内壁设有收集结构，所述收集结构包括抽盒，所述抽盒的下表面与收集盒滑动连接，所述抽盒的上表面固定连接有支板，所述支板的短臂滑动贯穿有长杆，所述支架的内壁固定连接有限位框，所述长杆的圆弧面与限位框滑动连接。

上述部件所达到的效果为：达到了对测试后的半导体器件进行整体拿取的效果，从而尽量避免收集盒与支架三为固定连接，因此后续人员拿取半导体测试件还需重新逐个拿取的问题出现。

优选的，所述收集盒的一侧开设有侧孔，所述抽盒位于侧孔内。

上述部件所达到的效果为：移动抽盒从侧孔内抽出，侧孔起到方便人员拿动抽盒的作用。

优选的，所述长杆的上端固定连接有连接绳，所述连接绳的另一端与支板固定连接。

上述部件所达到的效果为：长杆移动带动连接绳移动，连接绳达到辅助限位长杆以防遗落的效果。

优选的，所述抽盒的内壁均匀固定连接有若干个弹簧，若干个所述弹簧的另一端固定连接有斜板。

上述部件所达到的效果为：半导体器件掉落至斜板上通过弹簧的收缩使半导体器件掉落至抽盒一侧，弹簧起到避免半导体器件堆叠在一侧的作用。

优选的，所述测试板的一侧设有辅助结构，所述辅助结构包括连接板，所述连接板的一侧与测试板固定连接，所述连接板的上表面固定连接有伸缩杆，所述伸缩杆的输出端位于测试板上方。

上述部件所达到的效果为：达到了对测试后不良品进行单独抽出的效果，因此不会再次掉落至收集盒内，避免了后期再挑出不良品的情况，从而提高装置的实用性以及人员劳动强度。

优选的，所述伸缩杆的输出端固定连接有扩板，所述扩板的下表面与测试板滑动连接。

上述部件所达到的效果为：伸缩杆输出端带动扩板推动半导体器件，扩板起到提高伸缩杆接触面积的作用。

优选的，所述测试板的上表面均匀固定连接有两个连接杆，两个所述连接杆的上端固定连接有导流板。

上述部件所达到的效果为：半导体器件从导流板一侧滑落，导流板达到避免推动速度过快落地较远的效果。

综上所述：

本实用新型中，

1、通过社遏制收集结构，达到了对测试后的半导体器件进行整体拿取的效果，使人员可直接借助抽盒整体拿取，且利用弹簧和斜板的配合，还可在半导体器件初期掉落时尽量不会堆叠在同一地方，不仅提高了人员对半导体器件的拿取速度，还对半导体器件产生高效测试。

2、通过设置辅助结构，达到了对测试后不良品进行单独抽出的效果，因此不会再次掉落至收集盒内，避免了后期再挑出不良品的情况，从而提高装置的实用性以及人员劳动强度。

附图说明

图1为本实用新型的立体结构示意图；

图2为本实用新型的侧视局部结构示意图；

图3为本实用新型图2的局部结构示意图；

图4为本实用新型收集结构弹簧处的局部结构示意图；

图5为本实用新型图2的A处放大图。

图例说明：1、安装板；2、支架；3、收集盒；4、测试板；5、收集结构；51、抽盒；52、支板；53、长杆；54、限位框；55、侧孔；56、连接绳；57、弹簧；58、斜板；6、辅助结构；61、连接板；62、伸缩杆；63、扩板；64、连接杆；65、导流板。

具体实施方式

参照图1所示，本实用新型提供一种技术方案：一种半导体器件高效测试装置，包括安装板1，安装板1的下表面固定连接有支架2，支架2的内壁固定连接有收集盒3，安装板1的一侧安装有测试板4，收集盒3的内壁设有收集结构5，达到了对测试后的半导体器件进行整体拿取的效果，从而尽量避免收集盒3与支架2三为固定连接，因此后续人员拿取半导体测试件还需重新逐个拿取的问题出现，测试板4的一侧设有辅助结构6，达到了对测试后不良品进行单独抽出的效果，因此不会再次掉落至收集盒3内，避免了后期再挑出不良品的情况，从而提高装置的实用性以及人员劳动强度。

下面具体说一下其收集结构5和辅助结构6的具体设置和作用。

参照图2、图3、图4、图5所示，本实施方案中：收集结构5包括抽盒51，抽盒51的下表面与收集盒3滑动连接，抽盒51的上表面固定连接有支板52，支板52的短臂滑动贯穿有长杆53，支架2的内壁固定连接有限位框54，长杆53的圆弧面与限位框54滑动连接，收集盒3的一侧开设有侧孔55，抽盒51位于侧孔55内，移动抽盒51从侧孔55内抽出，侧孔55起到方便人员拿动抽盒51的作用。

参照图2所示，具体的，辅助结构6包括连接板61，连接板61的一侧与测试板4固定连接，连接板61的上表面固定连接有伸缩杆62，伸缩杆62的输出端位于测试板4上方，伸缩杆62的输出端固定连接有扩板63，扩板63的下表面与测试板4滑动连接，伸缩杆62输出端带动扩板63推动半导体器件，扩板63起到提高伸缩杆62接触面积的作用，测试板4的上表面均匀固定连接有两个连接杆64，两个连接杆64的上端固定连接有导流板65，半导体器件从导流板65一侧滑落，导流板65达到避免推动速度过快落地较远的效果。

工作原理：当需要对半导体器件进行测试时，首先将抽盒51从收集盒3侧孔55位置移动至收集盒3内，随后将长杆53带动连接绳56插入支板52短臂，连接绳56达到辅助限位长杆53以防遗落的效果，长杆53再插入限位框54内壁，此时抽盒51被临时限位在收集盒3内，然后通过测试板4对半导体器件进行测试，测试完成后测试板4倾斜使半导体器件滑落至收集盒3内，再掉落至斜板58表面，此时弹簧57处于收缩状态，弹簧57起到避免半导体器件堆叠在一侧的作用，使斜板58上半导体器件滑落在斜板58一侧，逐个掉落将抽盒51内堆满后停止测试，随后将长杆53带动连接绳56从支板52短臂移动，长杆53再从限位框54内脱离，最后将抽盒51带动半导体器件通过侧孔55从收集盒3内取出，侧孔55起到方便人员拿动抽盒51的作用。

当需要对测试后不良品半导体器件挑出时，首先启动伸缩杆62，伸缩杆62通过连接板61的限位带动扩板63移动，扩板63从测试板4上表面滑动带动半导体器件移动，扩板63起到提高伸缩杆62接触面积的作用，使半导体器件移动从导流板65内滑动，通过圆弧的导流板65来限位半导体器件的掉落位置，导流板65达到避免推动速度过快落地较远的效果，以此完成对不良品半导体器件的挑出。

在本实用新型的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以通过具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

Claims (7)

1.一种半导体器件高效测试装置，包括安装板(1)，其特征在于：所述安装板(1)的下表面固定连接有支架(2)，所述支架(2)的内壁固定连接有收集盒(3)，所述安装板(1)的一侧安装有测试板(4)，所述收集盒(3)的内壁设有收集结构(5)，所述收集结构(5)包括抽盒(51)，所述抽盒(51)的下表面与收集盒(3)滑动连接，所述抽盒(51)的上表面固定连接有支板(52)，所述支板(52)的短臂滑动贯穿有长杆(53)，所述支架(2)的内壁固定连接有限位框(54)，所述长杆(53)的圆弧面与限位框(54)滑动连接。

2.根据权利要求1所述的一种半导体器件高效测试装置，其特征在于：所述收集盒(3)的一侧开设有侧孔(55)，所述抽盒(51)位于侧孔(55)内。

3.根据权利要求1所述的一种半导体器件高效测试装置，其特征在于：所述长杆(53)的上端固定连接有连接绳(56)，所述连接绳(56)的另一端与支板(52)固定连接。

4.根据权利要求1所述的一种半导体器件高效测试装置，其特征在于：所述抽盒(51)的内壁均匀固定连接有若干个弹簧(57)，若干个所述弹簧(57)的另一端固定连接有斜板(58)。

5.根据权利要求1所述的一种半导体器件高效测试装置，其特征在于：所述测试板(4)的一侧设有辅助结构(6)，所述辅助结构(6)包括连接板(61)，所述连接板(61)的一侧与测试板(4)固定连接，所述连接板(61)的上表面固定连接有伸缩杆(62)，所述伸缩杆(62)的输出端位于测试板(4)上方。

6.根据权利要求5所述的一种半导体器件高效测试装置，其特征在于：所述伸缩杆(62)的输出端固定连接有扩板(63)，所述扩板(63)的下表面与测试板(4)滑动连接。

7.根据权利要求5所述的一种半导体器件高效测试装置，其特征在于：所述测试板(4)的上表面均匀固定连接有两个连接杆(64)，两个所述连接杆(64)的上端固定连接有导流板(65)。

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