CN219266410U - 一种用于测量电磁屏蔽膜接地性能的测量板 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供了一种用于测量电磁屏蔽膜接地性能的测量板，包括FPC，FPC的正面设置有电磁屏蔽膜，电磁屏蔽膜与FPC之间设置有接地测量部，电磁屏蔽膜与接地测量部接触。本实用新型通过设置的接地测量部，接地测量部的设置使得FPC上具有对电磁屏蔽膜测量的点，能够实现对电磁屏蔽膜接地性能的测量，进而便于对电磁屏蔽膜的接地性能进行测量。

Description

一种用于测量电磁屏蔽膜接地性能的测量板

技术领域

本实用新型涉及电磁屏蔽膜测量技术领域，具体而言，涉及一种用于测量电磁屏蔽膜接地性能的测量板。

背景技术

手机类显示模组为了减少FPC信号线对手机的信号干扰，会采用在FPC上覆盖电磁屏蔽膜的设计，电磁屏蔽膜的接地效果，直接影响其屏蔽性能，一般手机类显示模组FPC的尺寸较小，受限于走线空间，一般电磁屏蔽膜的接地露铜形状为圆形、方形，且尺寸不一，一般手机类显示模组FPC成品没有多余的露铜点可用于测量电磁屏蔽膜的接地性能。

例如：中国实用新型专利：CN202220471789.9，所公开的“一种用于测量电磁屏蔽膜性能的FPC”，其说明书公开：EMI接地电阻是电磁屏蔽膜导通性能的重要指标。EMI接地开窗的直径大小，对电磁屏蔽膜导通性能有直接影响……传统的贴附于手机类显示模组的FPC上的电磁屏蔽膜由于接地开窗直径规格不一，也没有比较好的测量点可以测量EMI接地阻……；上述专利可以佐证现有技术存在的缺陷。

因此我们对此做出改进，提出一种用于测量电磁屏蔽膜接地性能的测量板。

实用新型内容

本实用新型的目的在于：针对目前存在的一般手机类显示模组FPC成品没有多余的露铜点可用于测量电磁屏蔽膜的接地性能的问题。

为了实现上述实用新型目的，本实用新型提供了以下技术方案：

用于测量电磁屏蔽膜接地性能的测量板，以改善上述问题。

本实用新型具体是这样的：

包括FPC，所述FPC的正面设置有电磁屏蔽膜，所述电磁屏蔽膜与FPC之间设置有接地测量部，所述电磁屏蔽膜与接地测量部接触。

作为本实用新型优选的技术方案，所述接地测量部包括设置在FPC内的第一接地铜层以及开设在FPC正面且与第一接地铜层位置相对应的第一开窗部，所述接地测量部还包括设置在FPC内的第二接地铜层以及开设在FPC正面且与第二接地铜层位置相对应的第二开窗部；

所述第一接地铜层与第二接地铜层分别位于FPC横向中线的两侧，所述电磁屏蔽膜通过第一开窗部以及第二开窗部与第一接地铜层和第二接地铜层接触。

作为本实用新型优选的技术方案，所述第一接地铜层包括两组对称设置在FPC内的第一铜层，两组第一铜层均包括若干个依次排布的第一铜件；

所述第二接地铜层包括两组对称设置在FPC内的第二铜层，两组第二铜层均包括若干个依次排布的第二铜件。

作为本实用新型优选的技术方案，所述电磁屏蔽膜为长条形，若干个所述第一铜件的大小均不相同，若干个所述第二铜件的大小也均不相同；

所述FPC正面的顶部开设有凹槽，凹槽内放置有撕除柄，撕除柄的正面与电磁屏蔽膜接触。

作为本实用新型优选的技术方案，所述第一开窗部包括两组对称设置在FPC正面的第一开窗件，所述第二开窗部包括两组对称设置在FPC正面的第二开窗件；

两组第一开窗件的位置分别与两组第一铜层的位置相对应，两组第二开窗件的位置分别与两组第二铜层的位置相对应。

作为本实用新型优选的技术方案，所述第一铜件包括设置在FPC内的第一接地铜片、第一连接铜线以及第二接地铜片，所述第一连接铜线的两端分别与第一接地铜片以及第二接地铜片固定连接。

作为本实用新型优选的技术方案，所述第二铜件包括设置在FPC内的第三接地铜片、第二连接铜线以及第四接地铜片，所述第二连接铜线的两端分别与第三接地铜片以及第四接地铜片固定连接。

作为本实用新型优选的技术方案，所述第一开窗件包括若干个第一接地开窗以及若干个第二接地开窗，所述第一接地开窗和第二接地开窗均开设在FPC的正面，且若干个第一接地开窗的位置均被电磁屏蔽膜覆盖，若干个所述第一接地开窗的位置分别与若干个第一铜件中的第二接地铜片的位置相对应，若干个所述第二接地开窗的位置分别与若干个第一铜件中的第一接地铜片的位置相对应。

作为本实用新型优选的技术方案，所述第二开窗件包括两个第三接地开窗以及若干个第四接地开窗，所述第三接地开窗和第四接地开窗均开设在FPC的正面，且两个第三接地开窗的位置均被电磁屏蔽膜覆盖，若干个所述第四接地开窗的位置分别与若干个第二铜件中的第三接地铜片的位置相对应，两组第二铜层中的若干个第四接地铜片分别与两个第三接地开窗的位置相对应。

作为本实用新型优选的技术方案，所述FPC的正面设置有四个L形对位线，所述电磁屏蔽膜位于四个L形对位线之间，所述电磁屏蔽膜通过第一接地开窗以及第三接地开窗与第二接地铜片以及第四接地铜片接触。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果：

在本实用新型的方案中：

1.通过设置的接地测量部，接地测量部的设置使得FPC上具有对电磁屏蔽膜测量的点，能够实现对电磁屏蔽膜接地性能的测量，进而便于对电磁屏蔽膜的接地性能进行测量；

2.本实用新型通过设置的第一接地铜层和第二接地铜层，第一接地铜层中的若干个第一铜件的大小均不相同，第二接地铜层中若干个第二铜件的大小也均不相同，从而能够在使用过程中根据实际情况任意选择不同的开窗接地规格进行测量电磁屏蔽膜的接地电阻，提高适用范围；

3.通过设置的电磁屏蔽膜，电磁屏蔽膜为长条形，在做钢丝绒摩擦试验时，EMI可与钢丝绒接触，符合钢丝绒直线反复运动轨迹需要，在做铅笔硬度时，EMI可与铅笔接触，符合铅笔直线运动轨迹需要。

附图说明

图1为本实用新型提供的用于测量电磁屏蔽膜接地性能的测量板的结构示意图；

图2为本实用新型提供的FPC的局部剖视结构示意图；

图3为本实用新型提供的第一接地铜层和第二接地铜层的结构示意图；

图4为本实用新型提供的FPC为贴附电磁屏蔽膜时的结构示意图；

图5为本实用新型提供的第一开窗部和第二开窗部的结构示意图；

图6为本实用新型提供的图5的局部结构示意图；

图7为本实用新型提供的撕除柄的结构示意图；

图8为本实用新型提供的凹槽的结构示意图。

图中标示：

1、FPC；

2、电磁屏蔽膜；

3、第一接地铜层；301、第一接地铜片；302、第一连接铜线；303、第二接地铜片；

4、第二接地铜层；401、第三接地铜片；402、第二连接铜线；403、第四接地铜片；

5、L形对位线；

6、第一接地开窗；

7、第二接地开窗；

8、第三接地开窗；

9、第四接地开窗；

10、撕除柄；

11、凹槽。

具体实施方式

为使本实用新型实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整的描述。显然，所描述的实施例是本实用新型的一部分实施例，而不是全部的实施例。

因此，以下对本实用新型的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本实用新型的范围，而是仅仅表示本实用新型的部分实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

需要说明的是，在不冲突的情况下，本实用新型中的实施例及实施例中的特征和技术方案可以相互组合。

应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。

在本实用新型的描述中，需要说明的是，术语“上”、“下”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，或者是该实用新型产品使用时惯常摆放的方位或位置关系，或者是本领域技术人员惯常理解的方位或位置关系，这类术语仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。此外，术语“第一”、“第二”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。

实施例1：

如图1、图2、图3、图4和图5所示，本实施方式提出一种用于测量电磁屏蔽膜接地性能的测量板，包括FPC1，FPC1的正面设置有电磁屏蔽膜2，电磁屏蔽膜2与FPC1之间设置有接地测量部，电磁屏蔽膜2与接地测量部接触，接地测量部的设置使得FPC1上具有对电磁屏蔽膜2测量的点，能够实现对电磁屏蔽膜2接地性能的测量。

实施例2：

下面结合具体的工作方式对实施例1中的方案进行进一步的介绍，详见下文描述：

如图1、图2、图3和图4所示，作为优选的实施方式，在上述方式的基础上，进一步的，接地测量部包括设置在FPC1内的第一接地铜层3以及开设在FPC1正面且与第一接地铜层3位置相对应的第一开窗部，接地测量部还包括设置在FPC1内的第二接地铜层4以及开设在FPC1正面且与第二接地铜层4位置相对应的第二开窗部，第一开窗部以及第二开窗部的设置一方面使得电磁屏蔽膜2能够与第一接地铜层3和第二接地铜层4接触，另一方面能够为测量提供所需的测量点；

第一接地铜层3与第二接地铜层4分别位于FPC1横向中线的两侧，电磁屏蔽膜2通过第一开窗部以及第二开窗部与第一接地铜层3和第二接地铜层4接触，从而实现接地。

如图3和图4所示，作为优选的实施方式，在上述方式的基础上，进一步的，第一接地铜层3包括两组对称设置在FPC1内的第一铜层，两组第一铜层均包括若干个依次排布的第一铜件；

第二接地铜层4包括两组对称设置在FPC1内的第二铜层，两组第二铜层均包括若干个依次排布的第二铜件。

如图1、图2和图3所示，作为优选的实施方式，在上述方式的基础上，进一步的，电磁屏蔽膜2为长条形，若干个第一铜件的大小均不相同，若干个第二铜件的大小也均不相同，这样设置能够满足电磁屏蔽膜2不同大小的接地形状。

如图4、图5和图6所示，作为优选的实施方式，在上述方式的基础上，进一步的，第一开窗部包括两组对称设置在FPC1正面的第一开窗件，第二开窗部包括两组对称设置在FPC1正面的第二开窗件；

两组第一开窗件的位置分别与两组第一铜层的位置相对应，两组第二开窗件的位置分别与两组第二铜层的位置相对应，这样设置使得每个第一开窗件能够与每个第一铜层对应，而每个第二开窗件能够与每个第二铜层对应，利于使用。

如图2和图3所示，作为优选的实施方式，在上述方式的基础上，进一步的，第一铜件包括设置在FPC1内的第一接地铜片301、第一连接铜线302以及第二接地铜片303，第一连接铜线302的两端分别与第一接地铜片301以及第二接地铜片303固定连接，通过第一连接铜线302能够将第一接地铜片301与第二接地铜片303连接在一起，方便测量。

如图2和图3所示，作为优选的实施方式，在上述方式的基础上，进一步的，第二铜件包括设置在FPC1内的第三接地铜片401、第二连接铜线402以及第四接地铜片403，第二连接铜线402的两端分别与第三接地铜片401以及第四接地铜片403固定连接，第一接地铜片301、第二接地铜片303以及第三接地铜片401均为圆形，第四接地铜片403为矩形，这样设置用于适配电磁屏蔽膜2的圆形接地形状以及电磁屏蔽膜2的方形接地形状。

如图1、图2、图3、图4和图5所示，作为优选的实施方式，在上述方式的基础上，进一步的，第一开窗件包括若干个第一接地开窗6以及若干个第二接地开窗7，第一接地开窗6和第二接地开窗7均开设在FPC1的正面，且若干个第一接地开窗6的位置均被电磁屏蔽膜2覆盖，若干个第一接地开窗6的位置分别与若干个第一铜件中的第二接地铜片303的位置相对应，若干个第二接地开窗7的位置分别与若干个第一铜件中的第一接地铜片301的位置相对应。

如图1、图2、图3、图4、图5和图6所示，作为优选的实施方式，在上述方式的基础上，进一步的，第二开窗件包括两个第三接地开窗8以及若干个第四接地开窗9，第三接地开窗8和第四接地开窗9均开设在FPC1的正面，且两个第三接地开窗8的位置均被电磁屏蔽膜2覆盖，若干个第四接地开窗9的位置分别与若干个第二铜件中的第三接地铜片401的位置相对应，两组第二铜层中的若干个第四接地铜片403分别与两个第三接地开窗8的位置相对应，这样设置使得电磁屏蔽膜2能够通过第一接地开窗6与第二接地铜片303接触，且电磁屏蔽膜2能够通过第三接地开窗8与第四接地铜片403接触。

参照图5和图6，在FPC1的正面设置有位于第二接地开窗7和第四接地开窗9边侧的接地规格，其中，位于第二接地开窗7边侧的接地规格表示的是第二接地铜片303的规格，即第二接地铜片303的半径，位于第四接地开窗9边侧的接地规格表示的是第四接地铜片403的规格，即第四接地铜片403的长和宽。

如图1所示，作为优选的实施方式，在上述方式的基础上，进一步的，FPC1的正面设置有四个L形对位线5，电磁屏蔽膜2位于四个L形对位线5之间，电磁屏蔽膜2通过第一接地开窗6以及第三接地开窗8与第二接地铜片303以及第四接地铜片403接触，通过设置的L形对位线5，能够方便测量时电磁屏蔽膜2贴附位置的准确性。

实施例3：

下面结合具体的工作方式对实施例1和实施例2中的方案进行进一步的介绍，详见下文描述：

如图7和图8所示，作为优选的实施方式，在上述方式的基础上，进一步的，所述FPC1正面的顶部开设有凹槽11，凹槽11内放置有撕除柄10，撕除柄10的正面与电磁屏蔽膜2接触，测量时，撕除柄10位于凹槽11内，然后将电磁屏蔽膜2贴在FPC1的正面并使电磁屏蔽膜2与撕除柄10粘接，测量完成之后，掀起撕除柄10，通过撕除柄10将电磁屏蔽膜2的一侧掀起，从而便于在测量完成之后将电磁屏蔽膜2撕掉。

具体的，本用于测量电磁屏蔽膜接地性能的测量板在工作时/使用时：根据需求任意选择不同的接地规格进行搭配，模拟产品的实际接地开窗，将需要测量的电磁屏蔽膜2贴附在FPC1正面的四个L形对位线5之间，使得电磁屏蔽膜2与第二接地铜片303以及第四接地铜片403接触，然后从对应的第一接地铜片301以及第三接地铜片401处进行测量即可，电磁屏蔽膜2接地性能的测量方法属于现有技术，本实用新型提供的技术方案仅是为现有测量方法提供测量所需的测量点，并未对现有测量方法进行改进，因此本实用新型不再赘述测量方法。

以上实施例仅用以说明本实用新型而并非限制本实用新型所描述的技术方案，尽管本说明书参照上述的各个实施例对本实用新型已进行了详细的说明，但本实用新型不局限于上述具体实施方式，因此任何对本实用新型进行修改或等同替换；而一切不脱离实用新型的精神和范围的技术方案及其改进，其均涵盖在本实用新型的权利要求范围当中。

Claims (10)

1.一种用于测量电磁屏蔽膜接地性能的测量板，包括FPC(1)，所述FPC(1)的正面设置有电磁屏蔽膜(2)，其特征在于，所述电磁屏蔽膜(2)与FPC(1)之间设置有接地测量部，所述电磁屏蔽膜(2)与接地测量部接触。

2.根据权利要求1所述的一种用于测量电磁屏蔽膜接地性能的测量板，其特征在于，所述接地测量部包括设置在FPC(1)内的第一接地铜层(3)以及开设在FPC(1)正面且与第一接地铜层(3)位置相对应的第一开窗部，所述接地测量部还包括设置在FPC(1)内的第二接地铜层(4)以及开设在FPC(1)正面且与第二接地铜层(4)位置相对应的第二开窗部；

所述第一接地铜层(3)与第二接地铜层(4)分别位于FPC(1)横向中线的两侧，所述电磁屏蔽膜(2)通过第一开窗部以及第二开窗部与第一接地铜层(3)和第二接地铜层(4)接触。

3.根据权利要求2所述的一种用于测量电磁屏蔽膜接地性能的测量板，其特征在于，所述第一接地铜层(3)包括两组对称设置在FPC(1)内的第一铜层，两组第一铜层均包括若干个依次排布的第一铜件；

所述第二接地铜层(4)包括两组对称设置在FPC(1)内的第二铜层，两组第二铜层均包括若干个依次排布的第二铜件。

4.根据权利要求3所述的一种用于测量电磁屏蔽膜接地性能的测量板，其特征在于，所述电磁屏蔽膜(2)为长条形，若干个所述第一铜件的大小均不相同，若干个所述第二铜件的大小也均不相同；

所述FPC(1)正面的顶部开设有凹槽(11)，凹槽(11)内放置有撕除柄(10)，撕除柄(10)的正面与电磁屏蔽膜(2)接触。

5.根据权利要求4所述的一种用于测量电磁屏蔽膜接地性能的测量板，其特征在于，所述第一开窗部包括两组对称设置在FPC(1)正面的第一开窗件，所述第二开窗部包括两组对称设置在FPC(1)正面的第二开窗件；

两组第一开窗件的位置分别与两组第一铜层的位置相对应，两组第二开窗件的位置分别与两组第二铜层的位置相对应。

6.根据权利要求5所述的一种用于测量电磁屏蔽膜接地性能的测量板，其特征在于，所述第一铜件包括设置在FPC(1)内的第一接地铜片(301)、第一连接铜线(302)以及第二接地铜片(303)，所述第一连接铜线(302)的两端分别与第一接地铜片(301)以及第二接地铜片(303)固定连接。

7.根据权利要求6所述的一种用于测量电磁屏蔽膜接地性能的测量板，其特征在于，所述第二铜件包括设置在FPC(1)内的第三接地铜片(401)、第二连接铜线(402)以及第四接地铜片(403)，所述第二连接铜线(402)的两端分别与第三接地铜片(401)以及第四接地铜片(403)固定连接。

8.根据权利要求7所述的一种用于测量电磁屏蔽膜接地性能的测量板，其特征在于，所述第一开窗件包括若干个第一接地开窗(6)以及若干个第二接地开窗(7)，所述第一接地开窗(6)和第二接地开窗(7)均开设在FPC(1)的正面，且若干个第一接地开窗(6)的位置均被电磁屏蔽膜(2)覆盖，若干个所述第一接地开窗(6)的位置分别与若干个第一铜件中的第二接地铜片(303)的位置相对应，若干个所述第二接地开窗(7)的位置分别与若干个第一铜件中的第一接地铜片(301)的位置相对应。

9.根据权利要求8所述的一种用于测量电磁屏蔽膜接地性能的测量板，其特征在于，所述第二开窗件包括两个第三接地开窗(8)以及若干个第四接地开窗(9)，所述第三接地开窗(8)和第四接地开窗(9)均开设在FPC(1)的正面，且两个第三接地开窗(8)的位置均被电磁屏蔽膜(2)覆盖，若干个所述第四接地开窗(9)的位置分别与若干个第二铜件中的第三接地铜片(401)的位置相对应，两组第二铜层中的若干个第四接地铜片(403)分别与两个第三接地开窗(8)的位置相对应。

10.根据权利要求9所述的一种用于测量电磁屏蔽膜接地性能的测量板，其特征在于，所述FPC(1)的正面设置有四个L形对位线(5)，所述电磁屏蔽膜(2)位于四个L形对位线(5)之间，所述电磁屏蔽膜(2)通过第一接地开窗(6)以及第三接地开窗(8)与第二接地铜片(303)以及第四接地铜片(403)接触。

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