CN219235140U - 一种芯片缺陷检测用定位工装 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种芯片缺陷检测用定位工装，包括工作台，工作台的底部连接有多个支架，支架的底部连接有万向轮，工作台的底部连接有电机，电机的顶部连接有第一齿轮，第一齿轮的外圈卡接有履带，履带的两端套接有第二齿轮，第二齿轮的内腔套接有转杆，转杆的顶部连接有第一锥齿，第一锥齿的外圈卡接有第二锥齿，第二锥齿的一端连接有Y形连接杆，Y形连接杆的外圈套接有轴承，轴承的底部连接有撑板。通过电机、第一齿轮、第二齿轮、转杆、第一锥齿与第二锥齿的配合使用，可以在芯片绝对安全的情况下对芯片进行翻转，避免芯片掉落的情况出现。

Description

一种芯片缺陷检测用定位工装

技术领域

本实用新型涉及芯片检测技术领域，具体为一种芯片缺陷检测用定位工装。

背景技术

LED芯片是固态的半导体器件，LED的心脏是一个半导体的晶片，晶片的一端附在一个支架上，一端是负极，另一端连接电源的正极，使整个晶片被环氧树脂封装起来。

经检索，公开号为CN215985972U的实用新型，包括工作台，工作台顶端中部开设有方形开孔，方形开孔内安装有设备盒，方形开孔一侧固定连接有第一夹持机构，方形开孔另一侧滑动连接有第二夹持机构，工作台底端四个边角处均固定连接有支撑腿，设备盒内底端固定连接有电动伸缩杆，电动伸缩杆顶端固连接有用于放置半导体芯片的放置盘，工作台一侧开设有两个滑槽，第二夹持机构与两个滑槽滑动连接，通过第一步进电机带动第二夹持块转动，使得夹持的半导体芯片便于翻面，提升了半导体芯片检测效率，同时第一固定板与第二固定板之间的距离便于调节，使得该定位工装适用于不同尺寸的半导体芯片缺陷检测使用。但是这种方式由于芯片侧边没有遮挡，在对芯片进行翻转时有从侧边滑落的风险，同时其夹持方式为人工旋转转动杆以使第一夹持块对芯片进行夹持，方式较为繁琐。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种芯片缺陷检测用定位工装，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：包括工作台，所述工作台的底部连接有多个支架，所述支架的底部连接有万向轮，所述工作台的底部连接有电机，所述电机的顶部连接有第一齿轮，所述第一齿轮的外圈卡接有履带，所述履带的两端套接有第二齿轮，所述第二齿轮的内腔套接有转杆，所述转杆的顶部连接有第一锥齿，所述第一锥齿的外圈卡接有第二锥齿，所述第二锥齿的一端连接有Y形连接杆，所述Y形连接杆的外圈套接有轴承，所述轴承的底部连接有撑板，所述Y形连接杆的一端连接有调节结构，所述调节结构包括第一伸缩杆、第二伸缩杆与第三伸缩杆，所述第二伸缩杆设置于第一伸缩杆的一端，所述第三伸缩杆设置于第二伸缩杆的一端，所述第三伸缩杆的一端连接有套管，所述套管的一端开设有弹簧槽，所述弹簧槽的一端设置有限位环，所述弹簧槽的内腔设置有弹簧，所述弹簧的一端连接有连接杆，所述连接杆的一端连接有挡环，所述连接杆的另一端连接有卡块，所述卡块的一侧开设有卡槽。

优选的，所述第一伸缩杆、第二伸缩杆与第三伸缩杆均为电动伸缩杆，所述卡块通过调节结构可以在装置上完成X、Y、Z轴的位移。

优选的，所述电机带动第一齿轮转动，第一齿轮通过履带带动两个第二齿轮转动，所述第二齿轮与转杆固定连接，所述转杆底端与工作台通过轴承连接。

优选的，所述挡环在弹簧槽内腔通过弹簧活动。

优选的，所述卡块的内壁设置有橡胶垫。

优选的，所述支架在工作台的底部呈矩形陈列，所述万向轮为自锁万向轮。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：

1、该芯片缺陷检测用定位工装，通过电机、第一齿轮、第二齿轮、转杆、第一锥齿与第二锥齿的配合使用，可以在芯片绝对安全的情况下对芯片进行翻转，避免芯片掉落的情况出现。

2、该芯片缺陷检测用定位工装，通过调节结构的使用可以对不同大小的芯片进行夹持，使得装置的使用性更强。

附图说明

图1为本实用新型结构示意图。

图2为本实用新型结构拆解示意图。

图3为本实用新型结构图2中A处拆解示意图。

图4为本实用新型结构芯片夹持示意图。

图中：1、工作台；2、支架；3、万向轮；4、电机；5、第一齿轮；6、履带；7、第二齿轮；8、转杆；9、第一锥齿；10、第二锥齿；11、Y形连接杆；12、轴承；13、撑板；14、调节结构；141、第一伸缩杆；142、第二伸缩杆；143、第三伸缩杆；15、套管；16、限位环；17、弹簧槽；18、弹簧；19、挡环；20、连接杆；21、卡块；22、卡槽；

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

实施例：请参阅图1-图4，本实用新型提供一种技术方案：一种芯片缺陷检测用定位工装，包括工作台1，工作台1的底部连接有多个支架2，支架2的底部连接有万向轮3，工作台1的底部连接有电机4，电机4的顶部连接有第一齿轮5，第一齿轮5的外圈卡接有履带6，履带6的两端套接有第二齿轮7，第二齿轮7的内腔套接有转杆8，转杆8的顶部连接有第一锥齿9，第一锥齿9的外圈卡接有第二锥齿10，第二锥齿10的一端连接有Y形连接杆11，Y形连接杆11的外圈套接有轴承12，轴承12的底部连接有撑板13，Y形连接杆11的一端连接有调节结构14，调节结构14包括第一伸缩杆141、第二伸缩杆142与第三伸缩杆143，第二伸缩杆142设置于第一伸缩杆141的一端，第三伸缩杆143设置于第二伸缩杆142的一端，第三伸缩杆143的一端连接有套管15，套管15的一端开设有弹簧槽17，弹簧槽17的一端设置有限位环16，弹簧槽17的内腔设置有弹簧18，弹簧18的一端连接有连接杆20，连接杆20的一端连接有挡环19，连接杆20的另一端连接有卡块21，卡块21的一侧开设有卡槽22。

其中，第一伸缩杆141、第二伸缩杆142与第三伸缩杆143均为电动伸缩杆，卡块21通过调节结构14可以在装置上完成X、Y、Z轴的位移。

本实施例中，本装置调节结构14包括其连接件共有四组，其中每两组均通过工作台1相对对称，使用时，通过芯片的大小对调节结构14进行位置调节，第一伸缩杆141调节长度，第二伸缩杆142调节宽度，第三伸缩杆143调节厚度，以适用于不同大小的芯片的夹持，本装置的调节结构14虽数量较多，但是在实际使用时，芯片一般分类检测，所以在使用时，只需在第一个芯片放置时对调节结构14进行调节即可，后续放置芯片时，只需通过第二伸缩杆142将两组调节结构14位置拉开即可放置芯片，较为方便。

其中，电机4带动第一齿轮5转动，第一齿轮5通过履带6带动两个第二齿轮7转动，第二齿轮7与转杆8固定连接，转杆8底端与工作台1通过轴承连接。

本实施例中，第二齿轮7在转动时带动转杆8转动，转杆8通过第一锥齿9带动第二锥齿10转动，第二锥齿10通过Y形连接杆11带动调节结构14转动，调节结构14通过套管15带动卡块21转动，两个卡块21在转动时带动芯片完成翻转，本装置通过一个电机4使得芯片两侧均能受力，较为节省生产成本，同时转杆8通过其外圈套接的轴承12与撑板13连接得以固定于工作台1的上方。

其中，挡环19在弹簧槽17内腔通过弹簧18活动。

本实施例中，第一伸缩杆141在伸缩时使得两个卡块21之间距离缩进，为避免卡块21力度过大导致芯片受损，卡块21的一端连接连接杆20，连接杆20的一端连接弹簧18，卡块21受力时，则通过连接杆20在弹簧槽17内移动，使得两个卡块21之间距离稍微拉开，此时弹簧18通过连接杆20将卡块21外推，避免两个卡块21之间力度较小导致芯片掉落，同时挡环19在弹簧槽17内活动，限位环16设置于弹簧槽17的端部，可以避免连接杆20掉落。

其中，卡块21的内壁设置有橡胶垫。

本实施例中，卡块21一侧开设的卡槽22为方形参照图3，即X、Y、Z轴均有挡护，避免芯片翻转时掉落，卡块21开设卡槽22的一侧表面，即是接触芯片的位置均设置有橡胶垫，避免对芯片的边缘造成损害。

其中，支架2在工作台1的底部呈矩形陈列，万向轮3为自锁万向轮。

本实施例中，支架2用于支撑工作台1使得工作台1的高度更加适应于人的生理状态，万向轮3可以使装置的移动变得方便。

工作原理：使用时，将芯片放置于卡槽22内，此时通过调节结构14对芯片进行夹持(参考图4)，第一面检测结束后此时通过电机4带动第一齿轮5转动，第一齿轮5通过履带6带动两个第二齿轮7转动，第二齿轮7在转动时带动转杆8转动，转杆8通过第一锥齿9带动第二锥齿10转动，第二锥齿10通过Y形连接杆11带动调节结构14转动，调节结构14通过套管15带动卡块21转动，两个卡块21在转动时带动芯片完成翻转，履带6内侧开设有齿口，检测结束后，只需通过第二伸缩杆142将两组调节结构14位置拉开即可将芯片取出，本装置结构合理，使用方便。

在本实用新型的描述中，还需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“设置”、“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。

Claims (7)

1.一种芯片缺陷检测用定位工装，包括工作台(1)，其特征在于：所述工作台(1)的底部连接有多个支架(2)，所述支架(2)的底部连接有万向轮(3)，所述工作台(1)的底部连接有电机(4)，所述电机(4)的顶部连接有第一齿轮(5)，所述第一齿轮(5)的外圈卡接有履带(6)，所述履带(6)的两端套接有第二齿轮(7)，所述第二齿轮(7)的内腔套接有转杆(8)，所述转杆(8)的顶部连接有第一锥齿(9)，所述第一锥齿(9)的外圈卡接有第二锥齿(10)，所述第二锥齿(10)的一端连接有Y形连接杆(11)，所述Y形连接杆(11)的外圈套接有轴承(12)，所述轴承(12)的底部连接有撑板(13)，所述Y形连接杆(11)的一端连接有调节结构(14)，所述调节结构(14)包括第一伸缩杆(141)、第二伸缩杆(142)与第三伸缩杆(143)，所述第二伸缩杆(142)设置于第一伸缩杆(141)的一端，所述第三伸缩杆(143)设置于第二伸缩杆(142)的一端，所述第三伸缩杆(143)的一端连接有套管(15)，所述套管(15)的一端开设有弹簧槽(17)，所述弹簧槽(17)的一端设置有限位环(16)，所述弹簧槽(17)的内腔设置有弹簧(18)，所述弹簧(18)的一端连接有连接杆(20)，所述连接杆(20)的一端连接有挡环(19)，所述连接杆(20)的另一端连接有卡块(21)。

2.根据权利要求1所述的一种芯片缺陷检测用定位工装，其特征在于：所述第一伸缩杆(141)、第二伸缩杆(142)与第三伸缩杆(143)均为电动伸缩杆，所述卡块(21)通过调节结构(14)可以在装置上完成X、Y、Z轴的位移。

3.根据权利要求1所述的一种芯片缺陷检测用定位工装，其特征在于：所述电机(4)带动第一齿轮(5)转动，第一齿轮(5)通过履带(6)带动两个第二齿轮(7)转动，所述第二齿轮(7)与转杆(8)固定连接。

4.根据权利要求1所述的一种芯片缺陷检测用定位工装，其特征在于：所述挡环(19)在弹簧槽(17)内腔通过弹簧(18)活动。

5.根据权利要求1所述的一种芯片缺陷检测用定位工装，其特征在于：所述卡块(21)的内壁设置有橡胶垫。

6.根据权利要求1所述的一种芯片缺陷检测用定位工装，其特征在于：所述支架(2)在工作台(1)的底部呈矩形陈列，所述万向轮(3)为自锁万向轮。

7.根据权利要求1所述的一种芯片缺陷检测用定位工装，其特征在于：所述转杆(8)底端与工作台(1)通过轴承连接，所述卡块(21)的一侧开设有卡槽(22)。

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