CN219224908U - 一体式探针及测试探针模组 - Google Patents

Abstract

本申请涉及一体式探针及测试探针模组，属于探针测试连接器技术领域，主要应用于BTB连接器、FPC、PCB板等测试场景。相关技术中，一体式刀针对于被测点的压力存在不稳定的情况，压力较大或者压力较小均会导致电性测试数据偏离真实性。本申请提供一种一体式探针，包括针头、弹性支撑部以及针尾，在测试过程中，针头的抵接区抵紧并电性连接被测点，针尾的连接凸缘抵接测试PCB，弹性支撑部的弯曲单元将针头的压力进行缓冲并传递到针尾，从而在对于被测点进行测试的过程中，一体式探针能够自行发生弹性弯曲变形，而不是发生刚性碰撞，且弯曲单元能够提供稳定的抵紧力，以提高一体式探针的测试稳定性。

Description

一体式探针及测试探针模组

技术领域

本申请涉及探针测试连接器技术领域，尤其涉及一体式探针及测试探针模组。

背景技术

一体式探针是为延长小间距多PIN产品测试寿命、降低误测率而开发的测试转接头，主要应用于BTB连接器、FPC、PCB板等测试场景。将一体式探针加工组装为测试模组，可用于配合安装到夹具上测试TPLCD、摄像头、指纹、PCB板等产品。

申请号为CN213240216U，公开日为2021年05月18日的中国实用新型专利公开一种BTB连接器、FPC、刀针结构万用测试座，此测试座比普通POGO PIN形式的一体式刀针接触BTB连接器面积更大，通过第一长槽孔和第二长槽孔的设置，能够有效的将一体式刀针进行固定限位，避免弹片针发生偏移，导致插头在与弹片针插接时无法插接或接触不良的现象发生，从而避免弹片针发生短路或断针现象。

针对上述技术手段，由于一体式刀针被完全限位在第一长槽孔内，在进行电性测试的过程中，一体式刀针的针尾抵压于测试PCB，一体式刀针的针头直接抵紧被测点，被测点与一体式刀针之间的接触压力来自于测试座的压力。由于测试座的操作者往往是人工或者是机械手，因此在测试过程中，一体式刀针对于被测点的压力存在不稳定的情况，压力较大或者压力较小均会导致电性测试数据偏离真实性。

实用新型内容

为了提高一体式探针的测试稳定性，本申请提供一种一体式探针及测试探针模组。

第一方面，本申请提供一种一体式探针，采用如下的技术方案：

一种一体式探针，包括针头、弹性支撑部以及针尾，针头顶部设置有抵接区，用于抵紧并电性连接被测点；弹性支撑部位于所述针头与所述针尾之间，用于将所述针头的压力传递到所述针尾；所述针尾底部设置有连接凸缘，用于抵接测试PCB，所述弹性支撑部至少具有一个用于使得所述针头向所述针尾弹性变形的弯曲单元。

通过采用上述技术方案，在测试过程中，针头的抵接区抵紧并电性连接被测点，针尾的连接凸缘抵接测试PCB，弹性支撑部的弯曲单元将针头的压力进行缓冲并传递到针尾，从而在对于被测点进行测试的过程中，一体式探针能够自行发生弹性弯曲变形，而不是发生刚性碰撞，且弯曲单元能够提供稳定的抵紧力，以提高一体式探针的测试稳定性。

可选的，所述弹性支撑部设置有两个所述弯曲单元，两个所述弯曲单元沿着所述弹性支撑部的水平中心线呈轴对称设置。

通过采用上述技术方案，两个弯曲单元沿着弹性支撑部的水平中心线呈轴对称设置，能够提高弹性支撑部的形变空间，也能提高该一体式探针的测试行程，同时保证每一个弯曲单元位于弹性限度内，提高一体式探针的使用寿命。

可选的，所述弯曲单元镂空设置，且所述弯曲单元的单边宽度均匀一致。

通过采用上述技术方案，镂空设置的弯曲单元能够降低该一体式探针的弹性模量，弯曲单元的单边宽度均匀一致，从而保证该一体式探针对于测试PCB的正压力均匀稳定，且弹力控制在30gf-50gf之间，以保证一体式探针与测试PCB之间的接触电阻位于15-25mΩ的范围内。

可选的，所述弯曲单元的中心位置一体设置有连接片，所述连接片同时一体连接于所述弯曲单元镂空设置的两条单边，用于增加所述弯曲单元的弯曲强度。

通过采用上述技术方案，连接片同时一体连接于弯曲单元镂空设置的两条单边，从而保证弯曲单元在变形过程中变形量以及变形方向更加稳定，同时增加了弯曲单元的弯曲强度。

可选的，所述针头的底部设置有限位横片，用于将所述一体式探针安装于测试座时以进行上限位。

通过采用上述技术方案，限位横片能够在将一体式探针安装于测试座时以进行上限位，保证一体式探针在测试座上的位置稳定性。

可选的，所述连接凸缘设置有两个，且每个所述连接凸缘的中心位置均设置有弹性避空槽。

通过采用上述技术方案，弹性避空槽能够为连接凸缘提供一定的弹性变形空间，从而保证连接凸缘对于测试PCB的压力具有缓冲空间，进而保护测试PCB，提高测试PCB的使用寿命。

第二方面，本申请提供一种测试探针模组，采用如下的技术方案：

一种测试探针模组，包括测试座，所述测试座内设置有多个探针安装槽，还包括多个上述的一体式探针，所述一体式探针的数量与所述探针安装槽的数量相同且一一对应，所述一体式探针安装于所述测试座的所述探针安装槽。

通过采用上述技术方案，测试探针模组包括测试座以及多个一体式探针，以使得该测试探针模组能够利用该一体式探针的弹性效果，在对于被测点进行测试的过程中，一体式探针能够自行发生弹性弯曲变形，从而提高一体式探针的测试稳定性。

可选的，所述测试座的底部可拆卸设置有探针限位条，用于将所述一体式探针安装于测试座时以进行下限位。

通过采用上述技术方案，探针限位条能够在该测试座内全部安装好一体式探针之后，通过与一体式探针上的限位横片配合，对一体式探针进行上下限位，从而保证一体式探针的安装稳定性。

综上所述，本申请包括以下至少一种有益技术效果：

1.测试稳定性高。在测试过程中，针头的抵接区抵紧并电性连接被测点，针尾的连接凸缘抵接测试PCB，弹性支撑部的弯曲单元将针头的压力进行缓冲并传递到针尾，从而在对于被测点进行测试的过程中，一体式探针能够自行发生弹性弯曲变形，而不是发生刚性碰撞，且弯曲单元能够提供稳定的抵紧力。

2.使用寿命长。两个弯曲单元沿着弹性支撑部的水平中心线呈轴对称设置，能够提高弹性支撑部的形变空间，也能提高该一体式探针的测试行程，同时保证每一个弯曲单元位于弹性限度内，提高一体式探针的使用寿命；弹性避空槽能够为连接凸缘提供一定的弹性变形空间，从而保证连接凸缘对于测试PCB的压力具有缓冲空间，进而保护测试PCB，提高测试PCB的使用寿命。

3.安装稳定性好。探针限位条能够在该测试座内全部安装好一体式探针之后，通过与一体式探针上的限位横片配合，对一体式探针进行上下限位，从而保证一体式探针的安装稳定性。

附图说明

图1绘示了本申请实施例中测试探针模组的整体结构示意图；

图2绘示了本申请实施例中测试探针模组的整体爆炸结构示意图；

图3绘示了本申请实施例中测试探针模组的整体剖面结构示意图。

附图标记说明：

100、测试座；110、探针安装槽；120、探针限位条；121、卡接凸台；1211、避让槽；130、卡接槽；210、针头；211、抵接区；212、限位横片；220、弹性支撑部；221、弯曲单元；2211、连接片；230、针尾；231、连接凸缘；232、弹性避空槽。

具体实施方式

以下结合附图对本申请作进一步详细说明。

本申请实施例公开一种测试探针模组。

参照图1，一种测试探针模组，包括测试座100以及安装于测试座100的多个一体式探针。测试座100大体呈长方体设置，其内部设置有多个探针安装槽110，一体式探针的数量与探针安装槽110的数量相同且一一对应。在本实施例中，多个探针安装槽110被配置为两组，两组探针安装槽110沿着测试座100长度方向的中心线呈轴对称设置。相应地，多个一体式探针也被配置为两组，一一对应分别轴对称安装于两组探针安装槽110内。

参照图1和图2，为了保证一体式探针能够稳定地被限位于探针安装槽110内且便于一体式探针的拆装，测试座100的底部可拆卸设置有探针限位条120。具体地，探针限位条120大体呈长条形设置，其两端设置有朝两侧延伸的卡接凸台121，且卡接凸台121之间设置有避让槽1211，以使得卡接凸台121能够相向弹性变形。

参照图2，测试座100底部设置有对卡接凸台121就进行限位的卡接槽130，将一体式探针全部安装入测试座100内之后，探针限位条120能够卡紧安装于卡接槽130内。需要对一体式探针进行拆卸时，只要使得卡接凸台121能够相向弹性变形以将卡接凸台121从卡接槽130内脱离，即可将一体式探针从测试座100的底部进行拆除。

以下针对一体式探针详细说明，参照图2和图3，一体式探针由上至下依次包括针头210、弹性支撑部220以及针尾230。针头210顶部设置有抵接区211，用于抵紧并电性连接被测点。根据被测点的不同，对于公头测试，针头210能够设置为锯齿形、半月形或Y形；对于母头测试，针头210能够设置为刀形或L形。在本实施例中，针头210设置为半月形。针头210的底部设置有限位横片212，用于对测试座100的内顶壁行程抵接，以对一体式探针进行上限位，保证一体式探针在测试座100上的位置稳定性。

参照图3，弹性支撑部220用于将针头210的压力传递到针尾230，弹性支撑部220至少具有一个用于使得针头210向针尾230弹性变形的弯曲单元221。在本实施例中，弹性支撑部220具有两个弯曲单元221。弯曲单元221大体呈旋转90度设置的“Ω”形，以保证弯曲单元221具有足够的变形空间。两个弯曲单元221沿着弹性支撑部220的水平中心线呈轴对称设置，能够提高弹性支撑部220的形变空间，也能提高该一体式探针的测试行程，同时保证每一个弯曲单元221位于弹性限度内，提高一体式探针的使用寿命。

参照图3，弯曲单元221中部沿着整体弯曲的形状进行镂空设置，以保证弯曲单元221的单边宽度均匀一致，从而保证该一体式探针对于测试PCB的正压力均匀稳定，且弹力控制在30gf-50gf之间，一体式探针与测试PCB之间的接触电阻位于15-25mΩ的范围内。为了提高弯曲单元221的弯曲强度，在弯曲单元221的中心位置一体设置有连接片2211，连接片2211同时一体连接于弯曲单元221镂空设置的两条单边，从而保证弯曲单元221在变形过程中变形量以及变形方向更加稳定，同时增加了弯曲单元221的弯曲强度。

参照图3，针尾230底部设置有用于抵接测试PCB的连接凸缘231，在本实施例中，连接凸缘231设置有两个，且每个连接凸缘231的中心位置均设置有弹性避空槽232，弹性避空槽232能够为连接凸缘231提供一定的弹性变形空间，从而保证连接凸缘231对于测试PCB的压力具有缓冲空间，进而保护测试PCB，提高测试PCB的使用寿命。

本申请实施例的实施原理为：在测试过程中，针头210的抵接区211抵紧并电性连接被测点，针尾230的连接凸缘231抵接测试PCB，弹性支撑部220的弯曲单元221将针头210的压力进行缓冲并传递到针尾230，从而在对于被测点进行测试的过程中，一体式探针能够自行发生弹性弯曲变形，而不是发生刚性碰撞，且弯曲单元221能够提供稳定的抵紧力，以提高一体式探针的测试稳定性。

以上均为本申请的较佳实施例，并非依此限制本申请的保护范围。其中，相同的零部件用相同的附图标记表示。需要说明的是，上面描述中使用的词语“前”、“后”、“左”、“右”、“上”和“下”指的是附图中的方向，词语“内”和“外”分别指的是朝向或远离特定部件几何中心的方向。故：凡依本申请的结构、形状、原理所做的等效变化，均应涵盖于本申请的保护范围之内。

Claims (8)

1.一种一体式探针，其特征在于，包括针头(210)、弹性支撑部(220)以及针尾(230)，针头(210)顶部设置有抵接区(211)，用于抵紧并电性连接被测点；弹性支撑部(220)位于所述针头(210)与所述针尾(230)之间，用于将所述针头(210)的压力传递到所述针尾(230)；所述针尾(230)底部设置有连接凸缘(231)，用于抵接测试PCB，所述弹性支撑部(220)至少具有一个用于使得所述针头(210)向所述针尾(230)弹性变形的弯曲单元(221)。

2.根据权利要求1所述的一体式探针，其特征在于，所述弹性支撑部(220)设置有两个所述弯曲单元(221)，两个所述弯曲单元(221)沿着所述弹性支撑部(220)的水平中心线呈轴对称设置。

3.根据权利要求2所述的一体式探针，其特征在于，所述弯曲单元(221)镂空设置，且所述弯曲单元(221)的单边宽度均匀一致。

4.根据权利要求3所述的一体式探针，其特征在于，所述弯曲单元(221)的中心位置一体设置有连接片(2211)，所述连接片(2211)同时一体连接于所述弯曲单元(221)镂空设置的两条单边，用于增加所述弯曲单元(221)的弯曲强度。

5.根据权利要求1所述的一体式探针，其特征在于，所述针头(210)的底部设置有限位横片(212)，用于将所述一体式探针安装于测试座(100)时以进行上限位。

6.根据权利要求1所述的一体式探针，其特征在于，所述连接凸缘(231)设置有两个，且每个所述连接凸缘(231)的中心位置均设置有弹性避空槽(232)。

7.一种测试探针模组，包括测试座(100)，所述测试座(100)内设置有多个探针安装槽(110)，其特征在于，还包括多个如权利要求1-6任意一项所述的一体式探针，所述一体式探针的数量与所述探针安装槽(110)的数量相同且一一对应，所述一体式探针安装于所述测试座(100)的所述探针安装槽(110)。

8.根据权利要求7所述的一种测试探针模组，其特征在于，所述测试座(100)的底部可拆卸设置有探针限位条(120)，用于将所述一体式探针安装于测试座(100)时以进行下限位。

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