CN207937488U - 一种新型的测试探针和指状测试器 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种新型的测试探针，用在指状测试器上，用于测试电路板，所述测试探针具有带测试尖端的测试针，所述测试针通过两对弹性定位臂而枢转接合于座架；其中至少一对弹性定位臂由导电材料制成，并电连接所述测试针；每对弹性定位臂设置在一个平面内，一端固定在所述测试针上，另一端固定在座架上；所述座架下端设一固定板，所述固定板的前端设一开口，所述测试针穿过所述开口，所述测试针上套设一弹簧，所述弹簧的下端焊接固定在所述测试针上，所述弹簧的上端抵顶在所述固定板上；测试过程中，当所述测试针被顶起时，所述弹簧进入压缩状态。该测试探针通过加装弹簧，增加了压力和稳定性，提高了持久性，延长了使用寿命。

Description

一种新型的测试探针和指状测试器

技术领域

本实用新型涉及电路板测试技术领域，具体涉及一种新型的测试探针和指状测试器。

背景技术

基本上，测试电路板的测试装置可分为两类，即指状测试器和平行测试器。

申请号为“CN02822468.X”、名称为“指状测试器及其测试探针”的专利文件公开了一种用于指状测试器的测试探针，以及相应的指状测试器。该测试探针利用至少两对弹性定位臂将测试针倾斜连接固定在座架上，弹性定位臂可变形并具有弹力，使得测试针可受力上下位移并可在弹性定位臂的弹力作用下复位，从而可以实现连续测试，并避免损伤电路板。

实践过程中发现，上述测试探针使用两个弹片，主要是利用弹片的变形，形成弹片的下压力，稳定性比较差，易造成变形损坏。而且，由于金属的弹性定位臂多次测试后容易疲劳，造成弹力下降乃至结构受损，因而上述的测试探针其寿命有限，且在寿命的后期会因弹力下降而影响连续测试，导致测试效率下降。

实用新型内容

本实用新型实施例提供一种新型的测试探针和指状测试器，用于解决现有的测试探针所存在的问题。

为解决上述问题，采用的技术方案为：一方面，提供一种新型的测试探针，用在指状测试器上，用于测试电路板，所述测试探针具有带测试尖端的测试针，所述测试尖端可接触到电路板测试点，所述测试针通过两对弹性定位臂而枢转接合于座架；其中至少一对弹性定位臂由导电材料制成，并电连接所述测试针；每对弹性定位臂设置在一个平面内，一端固定在所述测试针上，另一端固定在座架上；所述座架下端设一固定板，所述固定板的前端设一开口，所述测试针穿过所述开口，所述测试针上套设一弹簧，所述弹簧的下端焊接固定在所述测试针上，所述弹簧的上端抵顶在所述固定板上；测试过程中，当所述测试探针下压使得测试针被电路板顶起时，所述弹簧进入压缩状态。

另一方面，提供一种指状测试器，用于测试非构件型电路板，包括线型马达、电枢板和测试探针，所述测试探针为上文所述的新型的测试探针。

从以上技术方案可以看出，本实用新型实施例具有以下优点：

通过在测试探针上加装固定板和弹簧，可以在测试过程利用弹簧的弹力来协助测试针复位，减少弹性定位臂的疲劳，可以在弹性定位臂的弹力不足乃至失去大部分弹力后仍然可以依赖弹簧的弹力而继续正常工作，从而大幅的延长了测试探针的性能和寿命。

可见，本实用新型利用弹簧的弹性形成更持久的下压力，同时，增加一个支撑点使得相对结构稳定性更好。总结来说，通过加装弹簧，增加了压力，提高了持久性，增加了稳定性。并且，基于弹簧的助力，可以选用弹性较弱、成本较低的材料来制作弹性定位臂，以降低测试探针的成本。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例技术方案，下面将对实施例和现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。

图1是本实用新型实施例提供的新型的测试探针的立体结构图；

图2是本实用新型实施例提供的新型的测试探针的正视图；

图3是本实用新型实施例提供的新型的测试探针的侧视图；

图4是本实用新型实施例提供的新型的测试探针的俯视图。

具体实施方式

为了使本技术领域的人员更好地理解本实用新型方案，下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本实用新型保护的范围。

本实用新型的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”、“第三”等是用于区别不同的对象，而不是用于描述特定顺序。此外，术语“包括”和“具有”以及它们任何变形，意图在于覆盖不排他的包含。例如包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备没有限定于已列出的步骤或单元，而是可选地还包括没有列出的步骤或单元，或可选地还包括对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。

下面通过具体实施例，分别进行详细的说明。

请参考图1至4，本实用新型一个实施例提供一种新型的测试探针，该测试探针用在指状测试器上，可用于测试电路板，尤其是测试非构件型电路板。

如图1所示，所述测试探针具有带测试尖端11的测试针10，所述测试尖端11 可接触到电路板测试点，所述测试针10通过两对弹性定位臂20而枢转接合于座架；其中至少一对弹性定位臂20由导电材料制成，并电连接所述测试针10；每对弹性定位臂20设置在一个平面内，一端固定在所述测试针10上，另一端固定在座架30上。

其中，所述座架30下端设一固定板40，所述固定板40的前端设一开口41，所述测试针10穿过所述开口41，所述测试针10上套设一弹簧50，所述弹簧50的下端51焊接固定在所述测试针上，所述弹簧50的上端52抵顶在所述固定板40上；测试过程中，当所述测试探针下压使得测试针10被电路板顶起时，所述弹簧50 进入压缩状态。当测试探针抬起使得测试针10脱离电路板时，所述弹簧50的弹力释放，可带动测试针10复位，回到初始状态。从而，所述测试探针可在指状测试器的带动下进行连续测试。

如图1所示，所述固定板40的前端大致呈三角形，所述开口41为长槽形开口，以方便测试针上下往复运动。

其中，较接近所述测试尖端11的第一对弹性定位臂21的长度可以比远离所述测试尖端11的第二对弹性定位臂22的长度更长。从而，使得所述测试针10倾斜一定角度，如图3所示，凭借于此，使得测试针10作用于电路板测试点时，力度较小不容易损伤电路板。

一些实施例中，所述座架30包括PCB(Printed Circuit Board，印制电路板) 和固定件31以及位置传感器32，所述固定件31和所述位置传感器32设在所述PCB 上，所述第一对弹性定位臂21的后端设于所述固定件31和所述PCB之间，所述第二对弹性定位臂22的后端设于所述固定件31上方。固定件31可采用塑胶材料。

其中，所述第二对弹性定位臂22的中部可连接有测量用金属片23，所述金属片23位于所述位置传感器32的光电开关元件的测量区内。当测试针10移动时，金属片23相应的移动，位置传感器32可测出其位移。

其中，所述PCB上可设有凸点33，用于将所述第二对弹性定位臂22顶起一定高度，使其预张紧，从而避免测试时测试针10发生较大的位移，减少对电路板测试点的损伤。

其中，所述固定板40的前端长于所述第二对弹性定位臂22，所述第二对弹性定位臂22的前端长于所述PCB。

其中，如图1和图3所示，所述固定板40和所述PCB可为一体结构。或者，所述固定板40和所述PCB也可以是分离的，此时，所述固定板40可通过螺钉固定在所述PCB上。

其中，所述测试针10可包括针状物，针状物表面可设有保护层，保护层包括涂覆在针状物表面的绝缘层以及涂覆在绝缘层表面的导电层。该保护层可对针状物进行电场隔离。针状物的两端从保护层向外延伸，其中一端缩小形成测试尖端11，另一端可连接于第一对弹性定位臂21，第二对弹性定位臂22可连接在测试针10的保护层上。

本实用新型实施例还提供一种指状测试器，用于测试非构件型电路板，包括线型马达、电枢板和测试探针，测试探针安装在电枢板上，其中，所述测试探针为如上文所述的新型的测试探针。

综上，本实用新型公开了一种用于指状测试器的新型的测试探针，以及包括该测试探针的指状测试器。从以上技术方案可以看出，本实用新型实施例具有以下优点：

通过在测试探针上加装固定板和弹簧，可以在测试过程利用弹簧的弹力来协助测试针复位，减少弹性定位臂的疲劳，可以在弹性定位臂的弹力不足乃至失去大部分弹力后仍然可以依赖弹簧的弹力而继续正常工作，从而大幅的延长了测试探针的性能和寿命。

可见，本实用新型利用弹簧的弹性形成更持久的下压力，同时，增加一个支撑点使得相对结构稳定性更好。总结来说，通过加装弹簧，增加了压力，提高了持久性，增加了稳定性。并且，基于弹簧的助力，可以选用弹性较弱、成本较低的材料来制作弹性定位臂，以降低测试探针的成本。

在上述实施例中，对各个实施例的描述都各有侧重，某个实施例中没有详细描述的部分，可以参见其它实施例的相关描述。

上述实施例仅用以说明本实用新型的技术方案，而非对其限制；本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对上述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本实用新型各实施例技术方案的精神和范围。

Claims (10)

1.一种新型的测试探针，用在指状测试器上，用于测试电路板，其特征在于，所述测试探针具有带测试尖端的测试针，所述测试尖端可接触到电路板测试点，所述测试针通过两对弹性定位臂而枢转接合于座架；其中至少一对弹性定位臂由导电材料制成，并电连接所述测试针；每对弹性定位臂设置在一个平面内，一端固定在所述测试针上，另一端固定在座架上；

所述座架下端设一固定板，所述固定板的前端设一开口，所述测试针穿过所述开口，所述测试针上套设一弹簧，所述弹簧的下端焊接固定在所述测试针上，所述弹簧的上端抵顶在所述固定板上；测试过程中，当所述测试探针下压使得测试针被电路板顶起时，所述弹簧进入压缩状态。

2.根据权利要求1所述的新型的测试探针，其特征在于，

所述固定板的前端大致呈三角形，所述开口为长槽形开口。

3.根据权利要求1所述的新型的测试探针，其特征在于，

较接近所述测试尖端的第一对弹性定位臂的长度比远离所述测试尖端的第二对弹性定位臂的长度更长。

4.根据权利要求3所述的新型的测试探针，其特征在于，

所述座架包括PCB和固定件以及位置传感器，所述固定件和所述位置传感器设在所述PCB上，所述第一对弹性定位臂的后端设于所述固定件和所述PCB之间，所述第二对弹性定位臂的后端设于所述固定件上方。

5.根据权利要求4所述的新型的测试探针，其特征在于，

所述第二对弹性定位臂的中部连接有测量用金属片，所述金属片位于所述位置传感器的光电开关元件的测量区内。

6.根据权利要求4所述的新型的测试探针，其特征在于，

所述PCB上设有凸点，用于将所述第二对弹性定位臂顶起一定高度。

7.根据权利要求4所述的新型的测试探针，其特征在于，

所述固定板的前端长于所述第二对弹性定位臂，所述第二对弹性定位臂的前端长于所述PCB。

8.根据权利要求4所述的新型的测试探针，其特征在于，

所述固定板和所述PCB为一体结构。

9.根据权利要求4所述的新型的测试探针，其特征在于，

所述固定板通过螺钉固定在所述PCB上。

10.一种指状测试器，用于测试非构件型电路板，包括线型马达、电枢板和测试探针，其特征在于，所述测试探针为权利要求1-9中任一所述的新型的测试探针。