CN219201704U - 开启设备和测试系统 - Google Patents

Abstract

本申请公开了一种测试底座的开启设备和测试系统，所述测试底座包括卡紧结构，所述测试底座通过所述卡紧结构固定芯片，所述开启设备包括第一状态和第二状态，当所述开启设备受力进入第一状态时，所述开启结构同时带动至少一个所述测试底座的卡紧结构，从卡紧状态打开为松开状态，以便放入所述芯片；当所述开启设备处于第二状态时，所述测试底座的卡紧结构从松开状态变回卡紧状态，以卡紧所述芯片。通过上述设计，可以同时完成多个测试底座上的卡紧结构的打开，方便批量完成芯片的测试工作，提高检测效率。

Description

开启设备和测试系统

技术领域

本申请涉及芯片测试领域，尤其涉及一种开启设备和测试系统。

背景技术

随着科技的发展以及智能手机和各种智能设备的普及，人们对于存储芯片的需求也日渐增长。其中UFS存储芯片因其强大的读写性能已经在市场上占有很大的份额。

存储芯片封装后需要进行最终的测试环节也就是俗称的开卡环节。其中所使用的测试装置上仅设置有一个测试底座，因此一个测试装置只能够为单颗芯片进行测试。

在芯片检测的时候，还需要人工手动将测试底座打开，再在测试底座中放入芯片，因此，导致测试效率远远达不到量产的需求。

实用新型内容

本申请的目的是提供一种能够提高检测效率的开启设备和测试系统。

本申请公开了一种开启设备，测试底座包括卡紧结构，所述测试底座通过所述卡紧结构固定芯片，所述开启设备包括第一状态和第二状态，当所述开启设备受力进入第一状态时，所述开启设备同时带动至少一个所述测试底座的卡紧结构，从卡紧状态打开为松开状态，以便放入所述芯片；当所述开启设备处于第二状态时，所述测试底座的卡紧结构从松开状态变回卡紧状态，以卡紧所述芯片。

可选的，所述开启设备包括底板、支架和下压板，所述测试底座固定在所述底板朝向所述下压板的一侧；所述支架安装在所述底板上，且所述下压板与所述支架活动连接；当所述开启设备受力进入第一状态时，所述下压板朝向所述测试底座移动，并按压所述卡紧结构，所述卡紧结构从卡紧状态打开为松开状态，以便放入芯片；当所述开启设备处于第二状态时，所述下压板朝向远离所述测试底座的方向移动，所述测试底座的卡紧结构从松开状态变回卡紧状态，以卡紧所述芯片。

可选的，所述支架包括第一竖板、第二竖板和第三横板，所述第一竖板和所述第二竖板固定在所述底板上，所述第三横板一端与所述第一竖板连接，另一端与所述第二竖板连接，所述第一竖板、所述第二竖板和所述第三横板共同形成冂字型结构。

可选的，所述支架还包括三角固定支架，所述三角固定支架包括主体部和套筒部，所述主体部固定在所述第三横板上，所述套筒部设置在所述主体部远离所述第三横板的一侧；所述下压板包括板体和升降杆，所述升降杆的一端与所述板体固定连接，另一端穿过所述套筒部，且与所述套筒部活动连接。

可选的，所述三角固定支架还包括铰接部，所述铰接部设置在所述主体部远离所述第三横板的一侧，且所述铰接部位于所述套筒部远离所述下压板的一侧；所述开启设备还包括L形把手和铰接件，所述L形把手包括握把部和连接部，所述连接部远离所述下压板的一端所述握把部连接，所述连接部的另一端与所述铰接部铰接；所述铰接件一端与所述升降杆远离所述板体的一端连接，另一端与所述握把部和所述连接部的转角处连接。

可选的，所述开启设备还包括支撑柱和弹簧，所述支撑柱一端固定在所述底板上，另一端与所述下压板活动连接，所述弹簧套设与所述支撑柱上，一端与所述底板抵接，另一端与所述下压板靠近所述底板的一面抵接。

可选的，所述支架还包括第一加强板和第二加强板，所述第一加强板同时与所述第一竖板和所述第三横板连接，且位于所述第一竖板和所述第三横板的转角处；所述第二加强板同时与所述第二竖板和所述第三横板连接，且位于所述第二竖板和所述第三横板的转角处。

可选的，所述底板上设置有至少一个所述测试底座，所述板体包括下压主体和至少两个凸起，所述凸起均间隔设置在所述下压主体的同一侧，所述测试底座对应相邻两个凸起之间，且当所述开启设备受力进入第一状态时，所述下压主体与所述凸起分别与所述测试底座的边缘抵接。

可选的，所述升降杆所述套筒通过螺纹连接。

本申请还公开了一种测试系统，所述测试系统包括至少一个测试装置和开启设备，所述测试装置固定在所述开启设备的底板上，所述测试装置包括电路板和测试底座，所述电路板固定在所述底板上，所述测试底座设置在所述电路板远离所述底板的一侧，所述开启设备用于打开所述测试底座内的卡紧结构。

相对于直接通过工作人员手动操作测试底座上的卡紧结构开合的方案来说，本申请通过开启设备，可以同时完成多个测试底座上的卡紧结构的打开，方便批量完成芯片的测试工作，提高检测效率。

附图说明

所包括的附图用来提供对本申请实施例的进一步的理解，其构成了说明书的一部分，用于例示本申请的实施方式，并与文字描述一起来阐释本申请的原理。显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。在附图中：

图1是本申请的一实施例的一种测试系统的示意图；

图2是本申请的一实施例的测试底座的示意图；

图3是本申请的一实施例的一种开启设备的第二状态的示意图；

图4是本申请的一实施例的一种开启设备的第一状态的示意图；

图5是本申请的一实施例的一种三角固定支架的示意图；

图6是本申请的一实施例的一种L形把手的示意图；

图7是本申请的一实施例的一种下压板的示意图。

其中，10、测试系统；100、测试装置；110、电路板；120、测试底座；121、测试底座主体；130、卡紧结构；131、按压部；132、固定部；200、开启设备；210、底板；220、支架；221、第一竖板；222、第二竖板；223、第三横板；230、三角固定支架；231、主体部；232、套筒部；230、铰接部；241、第一加强板；242、第二加强板；250、下压板；251、板体；252、下压主体；253、凸起；254、升降杆；260、L形把手；261、握把部；262、连接部；270、铰接件；280、支撑柱；290、弹簧。

具体实施方式

需要理解的是，这里所使用的术语、公开的具体结构和功能细节，仅仅是为了描述具体实施例，是代表性的，但是本申请可以通过许多替换形式来具体实现，不应被解释成仅受限于这里所阐述的实施例。

在本申请的描述中，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示相对重要性，或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，除非另有说明，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征；“多个”的含义是两个或两个以上。术语“包括”及其任何变形，意为不排他的包含，可能存在或添加一个或更多其他特征、整数、步骤、操作、单元、组件和/或其组合。

另外，“中心”、“横向”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系的术语，是基于附图所示的方位或相对位置关系描述的，仅是为了便于描述本申请的简化描述，而不是指示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本申请的限制。

此外，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，或是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本申请中的具体含义。

下面参考附图和可选的实施例对本申请作详细说明。

图1是本申请的一实施例的一种测试系统的示意图，如图1所示，本申请公开了一种测试系统10，所述测试装置100可以是用于UFS存储芯片的检测，也可以用于其它芯片的检测，在此不做限定。

所述测试系统10包括至少一个测试装置100和开启设备200，所述测试装置100固定在所述开启设备200的底板210上，所述测试装置100包括电路板110和测试底座120，所述电路板110固定在所述底板210上，所述测试底座120设置在所述电路板110远离所述底板210的一侧，所述开启设备200用于打开所述测试底座120内的卡紧结构130。

所述测试底座120可以是按压型的，也可以是翻盖型的，本申请的以按压型的测试底座120为例进行解释说明。

具体的，如图2所示，所述测试底座120包括测试底座主体121和卡紧结构130，所述卡紧结构130和测试底座主体121通过弹簧连接。

所述卡紧结构130包括按压部131和固定部132，所述按压部131和所述测试底座主体121通过弹簧连接，所述固定部132第一端与所述按压部131连接，第二端抵接在所述测试底座主体121放置芯片的位置处。

当所述开启设备200按压所述按压部131的时候，所述固定部132第二端向上运动，远离所述测试底座主体121放置芯片的位置处，此时所述测试底座120为松开状态；此时便可以将芯片放入在测试底座120内，当所述开启设备200离开按压所述按压部131时，按压部131和所述测试底座主体121之间的弹簧恢复形变，带动所述按压部131向上运动，进而使得所述固定部132的第二端抵接芯片远离所述测试底座主体的一面，此时所述测试底座120为卡紧状态固定芯片。

本申请还公开了一种开启设备200，所述开启设备200用于上述测试系统10中，对于所述开启设备200，本申请提供了如下设计：

图3是本申请的一实施例的一种开启设备的第二状态的示意图，图4是本申请的一实施例的一种开启设备的第一状态的示意图，如图2-图4所示，本申请还公开了一种测试底座120的开启设备200，所述测试底座120包括卡紧结构130，所述测试底座120通过所述卡紧结构130固定芯片，所述开启设备200包括第一状态和第二状态，当所述开启设备200受力进入第一状态时，所述开启设备200同时带动至少一个所述测试底座120的卡紧结构130，从卡紧状态打开为松开状态，以便放入所述芯片；当所述开启设备200处于第二状态时，所述测试底座120的卡紧结构130从松开状态变回卡紧状态，以卡紧所述芯片。

相对于直接通过工作人员手动操作测试底座120上的卡紧结构130开合的方案来说，本申请通过开启设备200，可以同时完成多个测试底座120上的卡紧结构130的打开，方便批量完成芯片的测试工作，提高生产效率。

如图4所示，所述开启设备200包括底板210、支架220和下压板250，所述测试底座120固定在所述底板210朝向所述下压板250的一侧；所述支架220安装在所述底板210上，且所述下压板250与所述支架220活动连接。

当所述开启设备200受力进入第一状态时，所述下压板250朝向所述测试底座120移动，并按压所述卡紧结构130的按压部131，所述卡紧结构130从卡紧状态打开为松开状态，以便放入芯片。

当所述开启设备200处于第二状态时，所述下压板250朝向远离所述测试底座120的方向移动，所述测试底座120的卡紧结构130从松开状态变回卡紧状态，以卡紧所述芯片。

相对于直接通过人工手动按压测试底座120的方案相比，本申请的方案通过开启设备200上的下压板250来按压卡紧结构130的按压部131，不会对人工的手指造成伤害，而且还可以同时按压多个测试底座120上的卡紧结构130，提高生产效率。

其中，所述支架220包括第一竖板221、第二竖板222和第三横板223，所述第一竖板221和所述第二竖板222固定在所述底板210上，所述第三横板223一端与所述第一竖板221连接，另一端与所述第二竖板222连接，所述第一竖板221、所述第二竖板222和所述第三横板223共同形成冂字型结构。

如此设置的支架220更加的稳固，而且所述第一竖板221和第三横板223连接成T字型结构，第二竖板222和第三横板223连接成T字形结构；所述第一竖板221和所述第三横板223、所述第二竖板222和所述第三横板223之间可以采用焊接的方式。

并且，本申请为了提高支架220的稳定性，还增加了加强结构，所述加强结构为加强板，具体的：

所述支架220还包括第一加强板241和第二加强板242，所述第一加强板241同时与所述第一竖板221和所述第三横板223连接，且位于所述第一竖板221和所述第三横板223的转角处；所述第二加强板242同时与所述第二竖板222和所述第三横板223连接，且位于所述第二竖板222和所述第三横板223的转角处。所述第一加强板241和所述第二加强板242的形状为三角形，以起到更好的加强作用。

如图5所示，所述支架220还包括三角固定支架230，所述三角固定支架230包括主体部231和套筒部232，所述主体部231固定在所述第三横板223上，所述套筒部232设置在所述主体部231远离所述第三横板223的一侧；所述下压板250包括板体251和升降杆254，所述升降杆254的一端与所述板体251固定连接，另一端穿过所述套筒部232，且与所述套筒部232活动连接。所述升降杆254可在所述套筒部232内上下运动，以带动所述板体251上下运动。

当然，还可以的是，通过所述升降杆254所述套筒通过螺纹连接，所述升降杆254和所述压板支架220可以相对转动，通过旋转升降杆254控制所述压板上下运动，更好的方便控制板体251上下运动的距离，避免板体251下压距离过大，造成测试底座120损坏的情况。

如图6所示，本申请的主要是通过把手来控制所述下压板250上下运动的，具体的：所述三角固定支架230还包括铰接部230，所述铰接部230设置在所述主体部231远离所述第三横板223的一侧，且所述铰接部230位于所述套筒部232远离所述下压板250的一侧。

所述开启设备200还包括L形把手260和铰接件270，所述L形把手260包括握把部261和连接部262，所述连接部262远离所述下压板250的一端所述握把部261连接，所述连接部262的另一端与所述铰接部230铰接。

所述铰接件270一端与所述升降杆254远离所述板体251的一端连接，另一端与所述握把部261和所述连接部262的转角处连接。具体的所述铰接件270两端分别与所述升降杆254远离所述板体251的一端、所述握把部261和所述连接部262的转角处铰接。

当上抬所述L形把手260的时候，所述L形把手260通过所述铰接件270控制所述升降杆254向下运动，所述升降杆254下压所述板体251，以实现所述板体251下压所述卡紧结构130的按压部131，所述测试底座120的卡紧结构130打开为松开状态，以便放入所述芯片。

在工作人员放开L形把手260的时候，本申请的下压板250可以自动回位，具体的：所述开启设备200还包括支撑柱280和弹簧290，所述支撑柱280一端固定在所述底板210上，另一端与所述下压板250活动连接，所述弹簧290套设与所述支撑柱280上，一端与所述底板210抵接，另一端与所述下压板250靠近所述底板210的一面抵接。

在所述工作人员放开L形把手260的时候，所述弹簧290释放弹力，顶起所述下压板250，使得所述下压板250回到初始位置。

进一步的，为了使得下压板250快速回位，以及保证回位过程的顺畅，本申请在在所述下压板250的两端均设置了支撑柱280和弹簧290。

如图7所示，所述底板210上设置有至少一个所述测试底座120，本申请为了避免板体251在下压所述测试底座120造成下压不均匀，以及压坏测试底座120的情况发生，提供了如下设计，具体的：所述板体251包括下压主体252和至少两个凸起253，所述凸起253均间隔设置在所述下压主体252的同一侧，所述测试底座120对应相邻两个凸起253之间，且当所述开启设备200受力进入第一状态时，所述下压主体252与所述凸起253分别与所述测试底座120中的按压部131的边缘抵接。

所述板体251同时抵接所述底座的三个边缘，增加了接触面积，避免压强过大而压坏测试底座120的问题发生。

需要说明的是,本申请的发明构思可以形成非常多的实施例，但是申请文件的篇幅有限，无法一一列出，因而，在不相冲突的前提下,以上描述的各实施例之间或各技术特征之间可以任意组合形成新的实施例，各实施例或技术特征组合之后，将会增强原有的技术效果

以上内容是结合具体的可选实施方式对本申请所作的进一步详细说明，不能认定本申请的具体实施只局限于这些说明。对于本申请所属技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请构思的前提下，还可以做出若干简单推演或替换，都应当视为属于本申请的保护范围。

Claims (10)

1.一种开启设备，测试底座包括卡紧结构，所述测试底座通过所述卡紧结构固定芯片，其特征在于，所述开启设备包括第一状态和第二状态，

当所述开启设备受力进入第一状态时，所述开启设备同时带动至少一个所述测试底座的卡紧结构，从卡紧状态打开为松开状态，以便放入所述芯片；

当所述开启设备处于第二状态时，所述测试底座的卡紧结构从松开状态变回卡紧状态，以卡紧所述芯片。

2.根据权利要求1所述的开启设备，其特征在于，所述开启设备包括底板、支架和下压板，所述测试底座固定在所述底板朝向所述下压板的一侧；所述支架安装在所述底板上，且所述下压板与所述支架活动连接；

当所述开启设备受力进入第一状态时，所述下压板朝向所述测试底座移动，并按压所述卡紧结构，所述卡紧结构从卡紧状态打开为松开状态，以便放入芯片；

当所述开启设备处于第二状态时，所述下压板朝向远离所述测试底座的方向移动，所述测试底座的卡紧结构从松开状态变回卡紧状态，以卡紧所述芯片。

3.根据权利要求2所述的开启设备，其特征在于，所述支架包括第一竖板、第二竖板和第三横板，所述第一竖板和所述第二竖板固定在所述底板上，所述第三横板一端与所述第一竖板连接，另一端与所述第二竖板连接，所述第一竖板、所述第二竖板和所述第三横板共同形成冂字型结构。

4.根据权利要求3所述的开启设备，其特征在于，所述支架还包括三角固定支架，所述三角固定支架包括主体部和套筒部，所述主体部固定在所述第三横板上，所述套筒部设置在所述主体部远离所述第三横板的一侧；

所述下压板包括板体和升降杆，所述升降杆的一端与所述板体固定连接，另一端穿过所述套筒部，且与所述套筒部活动连接。

5.根据权利要求4所述的开启设备，其特征在于，所述三角固定支架还包括铰接部，所述铰接部设置在所述主体部远离所述第三横板的一侧，且所述铰接部位于所述套筒部远离所述下压板的一侧；

所述开启设备还包括L形把手和铰接件，所述L形把手包括握把部和连接部，所述连接部远离所述下压板的一端所述握把部连接，所述连接部的另一端与所述铰接部铰接；

所述铰接件一端与所述升降杆远离所述板体的一端连接，另一端与所述握把部和所述连接部的转角处连接。

6.根据权利要求2所述的开启设备，其特征在于，所述开启设备还包括支撑柱和弹簧，所述支撑柱一端固定在所述底板上，另一端与所述下压板活动连接，所述弹簧套设与所述支撑柱上，一端与所述底板抵接，另一端与所述下压板靠近所述底板的一面抵接。

7.根据权利要求4所述的开启设备，其特征在于，所述支架还包括第一加强板和第二加强板，所述第一加强板同时与所述第一竖板和所述第三横板连接，且位于所述第一竖板和所述第三横板的转角处；所述第二加强板同时与所述第二竖板和所述第三横板连接，且位于所述第二竖板和所述第三横板的转角处。

8.根据权利要求4所述的开启设备，其特征在于，所述底板上设置有至少一个所述测试底座，所述板体包括下压主体和至少两个凸起，所述凸起均间隔设置在所述下压主体的同一侧，所述测试底座对应相邻两个凸起之间，且当所述开启设备受力进入第一状态时，所述下压主体与所述凸起分别与所述测试底座的边缘抵接。

9.根据权利要求4所述的开启设备，其特征在于，所述升降杆所述套筒通过螺纹连接。

10.一种测试系统，其特征在于，所述测试系统包括至少一个测试装置和如权利要求1-9中任意一项所述的开启设备，所述测试装置固定在所述开启设备的底板上，所述测试装置包括电路板和测试底座，所述电路板固定在所述底板上，所述测试底座设置在所述电路板远离所述底板的一侧，所述开启设备用于打开所述测试底座内的卡紧结构。

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