CN219142927U - 一种ic芯片测试治具 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及IC芯片技术领域,尤其是一种IC芯片测试治具,包括底座,所述底座的内部中间设置有角度锁定装置,所述角度锁定装置的顶部设置有工作台,所述工作台的顶部两侧均固接有竖板,所述竖板的外壁与弹簧的一端相固接,所述弹簧的另一端固接有固定板,所述固定板的底部通过滑槽与工作台滑动连接,所述固定板的一侧与IC芯片紧密贴合。通过转筒和第二直齿轮之间的配合,转筒会通过滑槽使T形齿条向右移动,T形齿条会使逆时针转动,第二直齿轮带动工作台转动,工作台通过固定板带动IC芯片转动,通过驱动电机本身自带的自锁能力,使得IC芯片停在指定角度时,完成角度锁定功能,不在需要使用者持续施加外力,从而便于对IC芯片进行检测。
Description
技术领域
本实用新型涉及IC芯片技术领域,具体为一种IC芯片测试治具。
背景技术
IC芯片测试治具是在PCB制板工艺中用来检测PCB的各个电气特性的一种自动化工具,主要应用于PCB测试、焊接和返修工作。
例如授权公告号为CN211696446U的一种IC芯片测试治具,虽然上述文件能够对方便测试者对芯片进行检测,但是在上述文件中的IC芯片测试治具使用时,当需要IC芯片进行角度调节时,需要人为手动转动V型块,由于弹簧的不稳定性,无法在IC芯片发生转动后,对IC芯片进行角度锁定,这就导致使用者需要持续的向V型块施加偏转的力,用以保证IC芯片处于偏转状态,此过程不便于使用者对IC芯片进行检测。
实用新型内容
本实用新型的目的是为了解决上述文件中的IC芯片测试治具,无法在IC芯片发生转动后,对IC芯片进行角度锁定,导致使用者需要持续的向V型块施加偏转的力,用以保证IC芯片处于偏转状态,此过程不便于使用者对IC芯片进行检测,而提出的一种IC芯片测试治具。
为实现上述目的,本实用新型提供如下技术方案:
设计一种IC芯片测试治具,包括底座,所述底座的内部中间设置有角度锁定装置,所述角度锁定装置的顶部设置有工作台,所述工作台的顶部两侧均固接有竖板,所述竖板的外壁与弹簧的一端相固接,所述弹簧的另一端固接有固定板,所述固定板的底部通过滑槽与工作台滑动连接,所述固定板的一侧与IC芯片紧密贴合。
优选的,所述角度锁定装置包括驱动电机,所述驱动电机的外壁通过支架与底座相固接,所述驱动电机的输出端固接有转筒,所述转筒的外壁通过滑槽与T形齿条滑动连接,所述T形齿条的顶部与第二直齿轮啮合连接,所述第二直齿轮的前端与工作台相固接。
优选的,所述第二直齿轮的后端通过转轴与横板转动连接,所述横板的两端均与底座相固接。
优选的,所述T形齿条的两端均通过滑槽与套筒滑动连接,所述套筒的一端与底座相固接。
优选的,所述底座的前端安装有柜门,所述底座的右侧安装有检测控制器,所述检测控制器的外壁通过电线与IC芯片电连接。
本实用新型提出的一种IC芯片测试治具,有益效果在于:通过驱动电机、转筒、T形齿条和第二直齿轮之间的配合,接通驱动电机的外接电源,使得驱动电机的输出端带动转筒转动,转筒会通过滑槽使T形齿条向右移动,T形齿条会使逆时针转动,第二直齿轮带动工作台转动,工作台通过固定板带动IC芯片转动,通过驱动电机本身自带的自锁能力,使得IC芯片停在指定角度时,完成角度锁定功能,不在需要使用者持续施加外力,便于对IC芯片进行检测。
附图说明
图1为本实用新型结构示意图;
图2为实施例2内部连接结构主视平面示意图;
图3为图2中A处连接结构示意图;
图4为实施例1连接结构示意图;
图5为图4中B处连接结构示意图。
图中:1、底座,2、套筒,301、电动推杆,302、槽板,303、扇形齿条,304、第一直齿轮,401、驱动电机,402、转筒,403、T形齿条,404、第二直齿轮,5、检测控制器,6、工作台,7、竖板,8、弹簧,9、固定板,10、IC芯片,11、柜门,12、横板。
具体实施方式
下面结合附图对本实用新型作进一步说明:
实施例1:
请参阅图1-5,本实施例中:一种IC芯片测试治具,包括底座1,底座1的内部中间设置有用于对IC芯片10进行角度锁定的角度锁定装置,角度锁定装置的顶部设置有工作台6,工作台6的顶部两侧均固接有竖板7,竖板7的外壁与弹簧8的一端相固接,弹簧8的弹性系数为20-30N/cm,弹簧8的另一端固接有固定板9,在固定板9向外侧移动时,会压缩弹簧8,固定板9的底部通过滑槽与工作台6滑动连接,工作台6通过滑槽限制固定板9的移动方向,固定板9的一侧与IC芯片10紧密贴合,两个固定板9用于固定IC芯片10。
请参阅图2和3,角度锁定装置包括驱动电机401、转筒402、T形齿条403和第二直齿轮404,驱动电机401的外壁通过支架与底座1相固接,驱动电机401的型号根据实际使用需求选择,满足工作需求即可,驱动电机401的输出端固接有转筒402,驱动电机401的输出端带动转筒402转动,转筒402的外壁通过滑槽与T形齿条403滑动连接,转筒402转动时通过外壁的滑槽使T形齿条403左右移动,T形齿条403的顶部与第二直齿轮404啮合连接,T形齿条403会使第二直齿轮404转动,第二直齿轮404的前端与工作台6相固接,第二直齿轮404带动工作台6转动;
接通驱动电机401的外接电源,使得驱动电机401的输出端带动转筒402转动,转筒402会通过滑槽使T形齿条403向右移动,T形齿条403会使逆时针转动,第二直齿轮404带动工作台6转动,工作台6通过固定板9带动IC芯片10转动,通过驱动电机401本身自带的自锁能力,使得IC芯片10停在指定角度时,完成角度锁定功能,不在需要使用者持续施加外力,从而便于对IC芯片10进行检测。
第二直齿轮404的后端通过转轴与横板12转动连接,第二直齿轮404沿着与横板12的连接处转动,横板12的两端均与底座1相固接,T形齿条403的两端均通过滑槽与套筒2滑动连接,套筒2用于限制T形齿条403只能左右滑动,套筒2的一端与底座1相固接,底座1的前端安装有柜门11,底座1的右侧安装有检测控制器5,检测控制器5用于对IC芯片10进行检测,检测控制器5为现有技术,在这里不再做过多赘述,检测控制器5的检测方式与授权公告号为CN211696446U的一种IC芯片测试治具中所提到的检测方式相同,检测控制器5的外壁通过电线与IC芯片10电连接。
工作原理:
该IC芯片测试治具在使用时,首先,使用者将IC芯片10放置在两个固定板9之间,随后松开固定板9,固定板9会在弹簧8弹力的作用下,同时向中间移动,两个固定板9会将IC芯片10固定住,之后通过电线将IC芯片10与检测控制器5连接在一起,检测控制器5会对IC芯片10进行内部功能检测,在需要转动IC芯片10时,接通驱动电机401的外接电源,使得驱动电机401的输出端带动转筒402转动,转筒402会通过滑槽使T形齿条403向右移动,T形齿条403会使逆时针转动,第二直齿轮404带动工作台6转动,工作台6通过固定板9带动IC芯片10转动,通过驱动电机401本身自带的自锁能力,使得IC芯片10停在指定角度时,完成角度锁定功能,不在需要使用者持续施加外力,从而便于对IC芯片10进行检测,在完成对IC芯片10的外观检测后,取下IC芯片10,完成此次装置的使用。
实施例2:
请参阅图4和5,本实施例中:一种IC芯片测试治具,其中角度锁定装置还可以包括电动推杆301、槽板302、扇形齿条303和第一直齿轮304,电动推杆301的一端与底座1相固接,电动推杆301的型号根据实际使用需求选择,满足工作需求即可,电动推杆301的输出端通过滑槽与槽板302滑动连接,电动推杆301的输出端左右移动时,会通过滑槽使槽板302转动,槽板302的外壁固接有扇形齿条303,槽板302带动扇形齿条303沿着与底座1的连接处转动,扇形齿条303的外壁通过转轴与底座1转动连接,扇形齿条303的顶部与第一直齿轮304啮合连接,扇形齿条303转动时会带动第一直齿轮304转动,第一直齿轮304的后端通过转轴与横板12转动连接,第一直齿轮304沿着与横板12的连接处转动,第一直齿轮304的前端固接有工作台6,第一直齿轮304带动工作台6转动;
使用者通过调节电动推杆301,使得电动推杆301的输出端左右移动,同时通过滑槽使槽板302带动扇形齿条303沿着与底座1的连接处转动,扇形齿条303同时带动第一直齿轮304转动,第一直齿轮304会带动工作台6转动,工作台6通过固定板9带动IC芯片10转动,通过电动推杆301本身自带的自锁能力,使得IC芯片10停在指定角度时,完成角度锁定功能,不在需要使用者持续施加外力,从而便于对IC芯片10进行检测。
工作原理:
在该实施例工作时,使用者通过调节电动推杆301,使得电动推杆301的输出端左右移动,同时通过滑槽使槽板302带动扇形齿条303沿着与底座1的连接处转动,扇形齿条303同时带动第一直齿轮304转动,第一直齿轮304会带动工作台6转动,工作台6通过固定板9带动IC芯片10转动,通过电动推杆301本身自带的自锁能力,使得IC芯片10停在指定角度时,完成角度锁定功能,不在需要使用者持续施加外力,从而便于对IC芯片10进行检测,完成此次装置的使用。
虽然本实用新型已通过参考优选的实施例进行了图示和描述,但是,本专业普通技术人员应当了解,在权利要求书的范围内,可作形式和细节上的各种各样变化。
Claims (5)
1.一种IC芯片测试治具,包括底座(1),其特征在于:所述底座(1)的内部中间设置有角度锁定装置,所述角度锁定装置的顶部设置有工作台(6),所述工作台(6)的顶部两侧均固接有竖板(7),所述竖板(7)的外壁与弹簧(8)的一端相固接,所述弹簧(8)的另一端固接有固定板(9),所述固定板(9)的底部通过滑槽与工作台(6)滑动连接,所述固定板(9)的一侧与IC芯片(10)紧密贴合。
2.根据权利要求1所述的一种IC芯片测试治具,其特征在于:所述角度锁定装置包括驱动电机(401),所述驱动电机(401)的外壁通过支架与底座(1)相固接,所述驱动电机(401)的输出端固接有转筒(402),所述转筒(402)的外壁通过滑槽与T形齿条(403)滑动连接,所述T形齿条(403)的顶部与第二直齿轮(404)啮合连接,所述第二直齿轮(404)的前端与工作台(6)相固接。
3.根据权利要求2所述的一种IC芯片测试治具,其特征在于:所述第二直齿轮(404)的后端通过转轴与横板(12)转动连接,所述横板(12)的两端均与底座(1)相固接。
4.根据权利要求2所述的一种IC芯片测试治具,其特征在于:所述T形齿条(403)的两端均通过滑槽与套筒(2)滑动连接,所述套筒(2)的一端与底座(1)相固接。
5.根据权利要求1所述的一种IC芯片测试治具,其特征在于:所述底座(1)的前端安装有柜门(11),所述底座(1)的右侧安装有检测控制器(5),所述检测控制器(5)的外壁通过电线与IC芯片(10)电连接。
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