CN218350320U - 一种芯片测试设备 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及芯片测试技术领域，尤其是一种芯片测试设备，包括检测设备外壳，所述检测设备外壳的前端安装有检测控制面板，所述检测控制面板通过电线与电动推杆电连接，所述电动推杆的外壁与检测设备外壳相固接，所述电动推杆的输出端固接有横板，所述横板的底部通过滑槽与两个弹簧探针滑动连接。通过步进电机、锥齿轮组、槽轮和传动组件之间的配合，转杆转动一圈带动槽轮转动十分之圈，槽轮带动传动组件间歇移动，随着槽轮转动十分之圈，传动组件中的链条会使芯片放置板向右移动到上一个芯片放置板的位置处，从可以使芯片放置板精准的移动到弹簧探针的正下方，使得与芯片的对接更加精准，从而保证了芯片的正常通电，避免了出现误差。
Description
技术领域
本实用新型涉及芯片测试技术领域，具体为一种芯片测试设备。
背景技术
芯片是半导体元件产品的统称，在电子学中是一种将电路小型化的方式，并时常制造在半导体晶圆表面上，在芯片完成生产后，需要对芯片进行检测，合格的芯片进行封装，在检测的过程中需要用到芯片测试设备。
然而现有的芯片测试设备在使用时，大多通过使用者手动将弹簧探针与芯片上的焊垫或凸块直接接触，来使芯片通电进行检测的，但是由于此过程需要使用者一直把持这芯片和弹簧探针，这就会对使用者一直举着手臂，会对手臂造成较大的负担，同时由于芯片的体积较小，使得使用者在接触时，无法准确的将弹簧探针放置在芯片上的焊垫或凸块处，从而对芯片内部无法正常通电，导致芯片的检测结果出现误差。
实用新型内容
本实用新型的目的是为了解决现有的芯片测试设备，由于芯片的体积较小，使得使用者在接触时，无法准确的将弹簧探针放置在芯片上的焊垫或凸块处，从而对芯片内部无法正常通电，导致芯片的检测结果出现误差，而提出的一种芯片测试设备。
为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：
设计一种芯片测试设备，包括检测设备外壳，所述检测设备外壳的前端安装有检测控制面板，所述检测控制面板通过电线与电动推杆电连接，所述电动推杆的外壁与检测设备外壳相固接，所述电动推杆的输出端固接有横板，所述横板的底部通过滑槽与两个弹簧探针滑动连接，两个所述弹簧探针的外壁通过电线与检测控制面板电连接，所述检测设备外壳的内部中间设置有对接装置。
优选的，所述对接装置包括步进电机，所述步进电机的外壁通过支架与检测设备外壳相固接，所述步进电机的输出端固接有锥齿轮组，所述锥齿轮组的后端通过转轴与检测设备外壳转动连接，所述锥齿轮组的前端固接有转杆，所述转杆的一端与槽轮相贴合，所述槽轮的后端固接有传动组件，所述传动组件通过转轴与检测设备外壳转动连接。
优选的，所述传动组件的外壁固接有多个芯片放置板，上方所述芯片放置板的内部与芯片相贴合。
优选的，所述传动组件是由两个链轮和一条链条组成的。
优选的，所述检测设备外壳的内部右下方固接有斜板，所述检测设备外壳的外壁安装有多个机门。
本实用新型提出的一种芯片测试设备，有益效果在于：通过步进电机、锥齿轮组、转杆、槽轮和传动组件之间的配合，接通步进电机的外接电源，使得步进电机的输出端带动锥齿轮组转动，锥齿轮组同时带动转杆转动，转杆会拨动槽轮间歇转动，转杆转动一圈带动槽轮转动十分之圈，槽轮带动传动组件间歇移动，随着槽轮转动十分之圈，传动组件中的链条会使芯片放置板向右移动到上一个芯片放置板的位置处，从可以使芯片放置板精准的移动到弹簧探针的正下方，使得与芯片的对接更加精准，从而保证了芯片的正常通电，避免了出现误差。
附图说明
图1为本实用新型结构示意图；
图2为图1中内部连接结构主视剖面示意图；
图3为图2中A处连接结构示意图；
图4为图2中B处连接结构示意图。
图中：1、检测设备外壳，2、检测控制面板，3、对接装置，301、步进电机，302、锥齿轮组，303、转杆，304、槽轮，305、传动组件，4、辅助装置，401、转盘，402、双头螺纹杆，403、螺母，5、电动推杆，6、横板，7、弹簧探针，8、芯片放置板，9、芯片，10、斜板，11、机门。
具体实施方式
下面结合附图对本实用新型作进一步说明：
实施例1：
请参阅图1-4，本实施例中：一种芯片测试设备，包括检测设备外壳1，检测设备外壳1的前端安装有检测控制面板2，检测控制面板2内部提前设置有程序，用于通电检测芯片9能否正常工作，检测控制面板2通过电线与电动推杆5电连接，检测控制面板2可以控制电动推杆5的启动和停止，电动推杆5的外壁与检测设备外壳1相固接，电动推杆5的型号根据实际需求选择，满足工作需求即可，电动推杆5的输出端固接有横板6，电动推杆5的输出端推动横板6上下移动，横板6的底部通过滑槽与两个弹簧探针7滑动连接，横板6通过滑槽限制弹簧探针7只能左右移动，同时可以带动弹簧探针7上下移动，两个弹簧探针7的外壁通过电线与检测控制面板2电连接，弹簧探针7的型号为DP031-UJ-5.7L，弹簧探针7在接触到芯片后，会向检测控制面板2传递信号，检测控制面板2通过弹簧探针7时芯片内部通电，从而进行检测，检测设备外壳1的内部中间设置有用于使芯片与弹簧探针7精准接触的对接装置3，检测控制面板2和弹簧探针7组成芯片9检测结构，用于检测芯片9能否正常工作。
请参阅图2和3，对接装置3包括步进电机301、锥齿轮组302、转杆303、槽轮304和传动组件305，步进电机301的外壁通过支架与检测设备外壳1相固接，步进电机301的型号根据实际需求选择，满足工作需求即可，步进电机301的输出端固接有锥齿轮组302，步进电机301的输出端带动锥齿轮组302转动，锥齿轮组302的后端通过转轴与检测设备外壳1转动连接，锥齿轮组302的前端固接有转杆303，锥齿轮组302带动转杆303转动，转杆303的一端与槽轮304相贴合，转杆303转动时会间歇拨动槽轮304，转杆303转动一圈后，会使槽轮304转动十分之一圈，槽轮304的后端固接有传动组件305，槽轮304带动传动组件305间歇移动，传动组件305通过转轴与检测设备外壳1转动连接，传动组件305的外壁固接有多个芯片放置板8，传动组件305中的链条带动芯片放置板8移动，上方芯片放置板8的内部与芯片9相贴合，芯片放置板8带动芯片9移动，传动组件305是由两个链轮和一条链条组成的，检测设备外壳1的内部右下方固接有斜板10，不合格的芯片9会倒在斜板10上，检测设备外壳1的外壁安装有多个机门11；
接通步进电机301的外接电源，使得步进电机301的输出端带动锥齿轮组302转动，锥齿轮组302同时带动转杆303转动，转杆303会拨动槽轮304间歇转动，转杆303转动一圈带动槽轮304转动十分之一圈，槽轮304带动传动组件305间歇移动，随着槽轮304转动十分之一圈，传动组件305中的链条会使芯片放置板8向右移动到上一个芯片放置板8的位置处，从可以使芯片放置板8精准的移动到弹簧探针7的正下方，使得与芯片9的对接更加精准，从而保证了芯片9的正常通电，避免了出现误差。
工作原理：
该芯片测试设备在使用时，首先，使用者将芯片9通过左侧的机门11放置在芯片放置板8的内部，随后接通步进电机301的外接电源，使得步进电机301的输出端带动锥齿轮组302转动，锥齿轮组302同时带动转杆303转动，转杆303会拨动槽轮304间歇转动，转杆303转动一圈带动槽轮304转动十分之圈，槽轮304带动传动组件305间歇移动，随着槽轮304转动十分之一圈，传动组件305中的链条会使芯片放置板8向右移动到上一个芯片放置板8的位置处，从可以使芯片放置板8精准的移动到弹簧探针7的正下方，使得与芯片9的对接更加精准，从而保证了芯片9的正常通电，避免了出现误差，通过检测控制面板2接通电动推杆5的外接电源，使得电动推杆5的输出端通过横板6带动弹簧探针7向下移动，在弹簧探针7接触到芯片9后，会向检测控制面板2传递信号，从而停止电动推杆5，同时通过两个弹簧探针7与芯片9形成回路，进而检测芯片9的好坏，好的芯片9通过右侧机门11取出装置，坏的芯片9会倒在斜板10，滑出装置，完成测试。
实施例2：
请参阅图2和4，本实施例中：一种芯片测试设备，其中横板6的内部还设置有辅助装置4，辅助装置4包括转盘401、双头螺纹杆402和螺母403，转盘401的外壁通过轴承与横板6转动连接，转盘401的一端固接有双头螺纹杆402，转盘401带动双头螺纹杆402转动，双头螺纹杆402的外壁与两个螺母403螺纹连接，双头螺纹杆402会使两个螺母403向着相反的方向移动，两个螺母403的顶部均通过滑槽与横板6滑动连接，横板6通过滑槽限制螺母403的移动方向，两个螺母403的底部与两个弹簧探针7相固接，螺母403带动弹簧探针7移动；
使用者通过转动转盘401，来带动双头螺纹杆402转动，由于双头螺纹杆402两侧的螺纹方向相反，使得两个螺母403同时向中间移动，螺母403带动弹簧探针7移动，使得弹簧探针7可以对不同类型的芯片9进行对接，提高了装置的适用范围。
工作原理：
在该辅助装置4使用时，使用者通过转动转盘401，来带动双头螺纹杆402转动，由于双头螺纹杆402两侧的螺纹方向相反，使得两个螺母403同时向中间移动，螺母403带动弹簧探针7移动，使得弹簧探针7可以对不同类型的芯片9进行对接，提高了装置的适用范围，完成此次装置的使用。
虽然本实用新型已通过参考优选的实施例进行了图示和描述，但是，本专业普通技术人员应当了解，在权利要求书的范围内，可作形式和细节上的各种各样变化。
Claims (5)
1.一种芯片测试设备，包括检测设备外壳(1)，其特征在于：所述检测设备外壳(1)的前端安装有检测控制面板(2)，所述检测控制面板(2)通过电线与电动推杆(5)电连接，所述电动推杆(5)的外壁与检测设备外壳(1)相固接，所述电动推杆(5)的输出端固接有横板(6)，所述横板(6)的底部通过滑槽与两个弹簧探针(7)滑动连接，两个所述弹簧探针(7)的外壁通过电线与检测控制面板(2)电连接，所述检测设备外壳(1)的内部中间设置有对接装置(3)。
2.根据权利要求1所述的一种芯片测试设备，其特征在于：所述对接装置(3)包括步进电机(301)，所述步进电机(301)的外壁通过支架与检测设备外壳(1)相固接，所述步进电机(301)的输出端固接有锥齿轮组(302)，所述锥齿轮组(302)的后端通过转轴与检测设备外壳(1)转动连接，所述锥齿轮组(302)的前端固接有转杆(303)，所述转杆(303)的一端与槽轮(304)相贴合，所述槽轮(304)的后端固接有传动组件(305)，所述传动组件(305)通过转轴与检测设备外壳(1)转动连接。
3.根据权利要求2所述的一种芯片测试设备，其特征在于：所述传动组件(305)的外壁固接有多个芯片放置板(8)，上方所述芯片放置板(8)的内部与芯片(9)相贴合。
4.根据权利要求2所述的一种芯片测试设备，其特征在于：所述传动组件(305)是由两个链轮和一条链条组成的。
5.根据权利要求1所述的一种芯片测试设备，其特征在于：所述检测设备外壳(1)的内部右下方固接有斜板(10)，所述检测设备外壳(1)的外壁安装有多个机门(11)。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202222722148.9U CN218350320U (zh) | 2022-10-17 | 2022-10-17 | 一种芯片测试设备 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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| CN202222722148.9U CN218350320U (zh) | 2022-10-17 | 2022-10-17 | 一种芯片测试设备 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN218350320U true CN218350320U (zh) | 2023-01-20 |
Family
ID=84897026
Family Applications (1)
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| CN202222722148.9U Active CN218350320U (zh) | 2022-10-17 | 2022-10-17 | 一种芯片测试设备 |
Country Status (1)
| Country | Link |
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| CN (1) | CN218350320U (zh) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN116626476A (zh) * | 2023-07-26 | 2023-08-22 | 珠海市申科谱工业科技有限公司 | 一种激光芯片探针测试机构 |
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2022
- 2022-10-17 CN CN202222722148.9U patent/CN218350320U/zh active Active
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN116626476A (zh) * | 2023-07-26 | 2023-08-22 | 珠海市申科谱工业科技有限公司 | 一种激光芯片探针测试机构 |
| CN116626476B (zh) * | 2023-07-26 | 2023-10-20 | 珠海市申科谱工业科技有限公司 | 一种激光芯片探针测试机构 |
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