CN218916260U - 一种热浸镀锡带镀层厚度在线检测机构 - Google Patents

一种热浸镀锡带镀层厚度在线检测机构 Download PDF

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钮松
黄贤兵
许一凡
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Anhui Xinke Copper Co Ltd
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Abstract

本实用新型公开了一种热浸镀锡带镀层厚度在线检测机构,包括机架、导轨和测厚仪,所述机架固定连接在地面上,镀锡铜带从机架中通过,导轨安装在机架的横梁上,测厚仪通过滑动组件滑动连接在导轨上,测厚仪沿镀锡铜带的宽度方向移动。在材料生产时,能够实现对整个带材表面镀层厚度的测量,可对整批材料实现镀层监控,降低了镀层不合格率,提高了客户的满意度。

Description

一种热浸镀锡带镀层厚度在线检测机构
技术领域
本实用新型属于带材制造技术领域,具体涉及一种热浸镀锡带镀层厚度在线检测机构。
背景技术
热镀锡带是铜带表面镀上一层1-10微米左右的纯锡,客户一般要求2μm的镀层控制范围,铜带浸入熔化的锡液后,通过高压空气吹扫去除铜带表面多余的锡液,已达到客户需要的镀层厚度要求
由于是通过吹扫去除铜材表面多余的锡液已达到控制镀层厚度,而吹扫的影响因素有很多,例如:空气压力、吹扫角度、吹扫距离,任何一个条件的波动都可以导致镀层厚度不合格。
在生产时,影响镀层厚度的因素有很多,对正在生产的材料无法做到实时监测,会导致整批材料生产完后镀层不合格,报废处理,和在生产过程中镀层厚度出现波动无法发现,存在品质风险。
2016年07月13日公开的专利号为:CN 201610251680.3的中国发明专利一种在线测量带钢镀层厚度的X射线荧光成像装置,其技术方案是:X光管(13)与高压电源(1)连接,发射X光;前束光器(12)设置在X光管(13)与带钢(8)间,将X光转换为薄扇形X光束(3);滤光片(11)设置在带钢(8)与后束光器(10)间,吸收铁荧光干扰;后束光器(10)设置在滤光片(11)与线阵探测器(4)间,减少来自非竖直方向散射线的干扰。前述装置封装在玻璃钢保护罩(2)内。线阵探测器(4)接收竖直方向锌荧光信号(9)并成像;图像处理计算机(5)与线阵探测器(4)连接,接收线阵探测器(4)采集的图像并进行数据处理与计算,获得镀锌层的测量结果。但该结构复杂、操作繁琐。
实用新型内容
针对现有技术中存在的不足,本实用新型的目的在于提供一种结构简单、操作方便的热浸镀锡带镀层厚度在线检测机构,能够实现对整个带材表面镀层厚度的测量,对整批材料实现镀层监控,降低了镀层不合格率,提高了客户的满意度。
为实现上述目的,本实用新型的技术方案为:一种热浸镀锡带镀层厚度在线检测机构,包括机架、导轨和测厚仪,所述机架固定连接在地面上,镀锡铜带从机架中通过,导轨安装在机架的横梁上,测厚仪通过滑动组件滑动连接在导轨上,测厚仪沿镀锡铜带的宽度方向移动。
进一步的,所述机架上设有上横梁和下横梁,镀锡铜带从上横梁与下横梁之间通过。
进一步的,所述导轨沿镀锡铜带的宽度方向布置,导轨包括上导轨和下导轨,上导轨固定连接在上横梁上,下导轨固定连接在下导轨上。
进一步的,所述测厚仪包括测厚仪Ⅰ和测厚仪Ⅱ,测厚仪Ⅰ通过滑动组件滑动连接在上导轨上且位于镀锡铜带的上方,测厚仪Ⅱ通过滑动组件滑动连接在下导轨上且位于镀锡铜带的下方。
进一步的,所述滑动组件包括滑动平台和导轮,导轮安装在滑动平台内,滑动平台通过导轮与导轨配合滑动连接在导轨上,滑动平台上与导轮所在面相对的一面安装测厚仪。
进一步的,所述滑动平台卡接在导轨上,滑动平台的两侧壁位于导轨的外侧且与导轨的外壁有重合,滑动平台内部导轮与导轨连接。
进一步的,所述检测机构还包括电机,导轮连接在电机的输出轴上,电机驱动导轮转动带着滑动平台沿导轨运动,从而带动测厚仪沿沿镀锡铜带的宽度方向移动。
采用本实用新型技术方案的优点为:
本实用新型测厚仪沿镀锡铜带的宽度方向移动,测厚仪运动方向与铜带材运行方向垂直,在材料生产时,能够实现对整个带材表面镀层厚度的测量,可对整批材料实现镀层监控,降低了镀层不合格率,提高了客户的满意度。
附图说明
下面结合附图和具体实施方式对本实用新型作进一步详细的说明:
图1为本实用新型热浸镀锡带镀层厚度在线检测机构示意图;
图2为本实用新型在线检测机构工作示意图。
上述图中的标记分别为:1、机架;11、上横梁;12、下横梁;2、导轨;21、上导轨;22、下导轨;3、测厚仪;31、测厚仪Ⅰ;32、测厚仪Ⅱ;4、镀锡铜带、5、PLC控制器;6、显示屏。
具体实施方式
在本实用新型中,需要理解的是,术语“长度”;“宽度”;“上”;“下”;“前”;“后”;“左”;“右”;“竖直”;“水平”;“顶”;“底”“内”;“外”;“顺时针”;“逆时针”;“轴向”;“平面方向”;“周向”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本实用新型和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位;以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本实用新型的限制。
如图1、图2所示,一种热浸镀锡带镀层厚度在线检测机构,包括机架1、导轨2和测厚仪3,所述机架1固定连接在地面上,镀锡铜带4从机架中通过,导轨2安装在机架1的横梁上,测厚仪3通过滑动组件滑动连接在导轨2上,测厚仪3沿镀锡铜带的宽度方向移动。在材料生产时,测厚仪在导轨上往复运动,同时镀锡铜带向前运行,能够实现对整个带材表面镀层厚度的测量,可对整批材料实现镀层监控,降低了镀层不合格率,提高了客户的满意度。
机架1上设有上横梁11和下横梁12,镀锡铜带4从上横梁11与下横梁12之间通过。导轨2沿镀锡铜带的宽度方向布置,导轨2包括上导轨21和下导轨22,上导轨21固定连接在上横梁11上,下导轨22固定连接在下导轨22上。测厚仪3包括测厚仪Ⅰ31和测厚仪Ⅱ32,测厚仪Ⅰ31通过滑动组件滑动连接在上导轨21上且位于镀锡铜带4的上方,测厚仪Ⅱ32通过滑动组件滑动连接在下导轨22上且位于镀锡铜带4的下方。
滑动组件包括滑动平台和导轮,导轮安装在滑动平台内,滑动平台通过导轮与导轨2配合滑动连接在导轨2上,滑动平台上与导轮所在面相对的一面安装测厚仪3。滑动平台卡接在导轨2上,滑动平台的两侧壁位于导轨2的外侧且与导轨2的外壁有重合,起到限位的作用,可防止滑轮从导轨上脱落,滑动平台内部导轮与导轨2连接。
该检测机构还包括电机,导轮连接在电机的输出轴上,电机驱动导轮转动带着滑动平台沿导轨运动,从而带动测厚仪3沿镀锡铜带的宽度方向移动,从而实现对带材表面镀锡厚度的检测。使用X射线照射在带材上,通过反射回来的二次X射线强度来判断镀层厚度。
该检测机构还包括PLC控制器5、显示屏6和报警器,PLC控制器5和测厚仪3均与显示屏6电连接,测厚仪3、电机、报警器均与PLC控制器5连接,PLC控制器5与铜带输送设备连接,PLC控制器5控制电机的正反转运动,使测厚仪3沿导轨左右移动,在材料生产时,能够实现整个带材表面镀层厚度的测量。测厚仪3将测得的材料镀层厚度实时显示在显示屏上,实现在线检测;当镀层厚度到达镀层设定的上下限时,PLC控制器5控制报警器自动报警,工作人员及时调整空气压力、吹扫角度、吹扫距离等参数。PLC控制器可以控制铜带材和测厚仪的运动。
本实用新型测厚仪沿镀锡铜带的宽度方向移动,测厚仪运动方向与铜带材运行方向垂直,在材料生产时,能够实现对整个带材表面镀层厚度的测量,可对整批材料实现镀层监控,降低了镀层不合格率,提高了客户的满意度。
以上结合附图对本实用新型进行了示例性描述,显然本实用新型具体实现并不受上述方式的限制,只要采用了本实用新型技术方案进行的各种非实质性的改进,或未经改进将本实用新型的构思和技术方案直接应用于其它场合的,均在本实用新型的保护范围之内。

Claims (7)

1.一种热浸镀锡带镀层厚度在线检测机构,其特征在于:包括机架(1)、导轨(2)和测厚仪(3),所述机架(1)固定连接在地面上,镀锡铜带(4)从机架中通过,导轨(2)安装在机架(1)的横梁上,测厚仪(3)通过滑动组件滑动连接在导轨(2)上,测厚仪(3)沿镀锡铜带的宽度方向移动。
2.如权利要求1所述的一种热浸镀锡带镀层厚度在线检测机构,其特征在于:所述机架(1)上设有上横梁(11)和下横梁(12),镀锡铜带(4)从上横梁(11)与下横梁(12)之间通过。
3.如权利要求2所述的一种热浸镀锡带镀层厚度在线检测机构,其特征在于:所述导轨(2)沿镀锡铜带的宽度方向布置,导轨(2)包括上导轨(21)和下导轨(22),上导轨(21)固定连接在上横梁(11)上,下导轨(22)固定连接在下导轨(22)上。
4.如权利要求3所述的一种热浸镀锡带镀层厚度在线检测机构,其特征在于:所述测厚仪(3)包括测厚仪Ⅰ(31)和测厚仪Ⅱ(32),测厚仪Ⅰ(31)通过滑动组件滑动连接在上导轨(21)上且位于镀锡铜带(4)的上方,测厚仪Ⅱ(32)通过滑动组件滑动连接在下导轨(22)上且位于镀锡铜带(4)的下方。
5.如权利要求4所述的一种热浸镀锡带镀层厚度在线检测机构,其特征在于:所述滑动组件包括滑动平台和导轮,导轮安装在滑动平台内,滑动平台通过导轮与导轨(2)配合滑动连接在导轨(2)上,滑动平台上与导轮所在面相对的一面安装测厚仪(3)。
6.如权利要求5所述的一种热浸镀锡带镀层厚度在线检测机构,其特征在于:所述滑动平台卡接在导轨(2)上,滑动平台的两侧壁位于导轨(2)的外侧且与导轨(2)的外壁有重合,滑动平台内部导轮与导轨(2)连接。
7.如权利要求6所述的一种热浸镀锡带镀层厚度在线检测机构,其特征在于:所述检测机构还包括电机,导轮连接在电机的输出轴上,电机驱动导轮转动带着滑动平台沿导轨运动,从而带动测厚仪(3)沿沿镀锡铜带的宽度方向移动。
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CN117109491A (zh) * 2023-10-23 2023-11-24 北京华力兴科技发展有限责任公司 一种x射线测厚仪校准支架
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