CN218895851U - 一种传感器测试电路 - Google Patents
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 46
- 238000005286 illumination Methods 0.000 abstract description 9
- 230000000694 effects Effects 0.000 abstract description 2
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 4
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 4
- 238000012797 qualification Methods 0.000 description 2
- 238000003491 array Methods 0.000 description 1
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 1
- 238000003908 quality control method Methods 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
- 238000013522 software testing Methods 0.000 description 1
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Abstract
本申请涉及一种传感器测试电路，其包括发光件；参考光敏件，与待测光敏件均与发光件等距相对，且与待测光敏件并联于同一供电回路中；电参数比较器，其输入端分别连接于参考光敏件与待测光敏件，用于比较参考光敏件与待测光敏件之间的电参数，并依据比较结果输出电压信号；及控制模块，连接于电参数比较器的输出端，用于依据电压信号输出提示信息或提示信号。本申请具有可减少光照强度波动导致的测试误差，提升光敏电阻的测试精度的效果。
Description
技术领域
本申请涉及传感器测试的领域，尤其是涉及一种传感器测试电路。
背景技术
光敏传感器是对外界光信号或光辐射有响应或转换功能的敏感装置，属于最常见的传感器之一，它的种类繁多，主要有：光电管、光电倍增管、光敏电阻、光敏三极管，其中光敏电阻相对比较简单，使用也比较广泛。
光敏电阻可将光信号转换为电信号，但低质量的光敏电阻对光信号的反馈较弱，制作成光敏传感器后难以满足实际使用的精度要求，因此光敏电阻需要进行品控测试，测试光敏电阻的性能。
目前光敏电阻的测试主要通过统一光源照射通电后的光敏电阻，通过万用表测量光敏电阻的阻值等电参数判断确定光敏电阻的品质。
针对上述中的相关技术，发明人认为当光源出现光强波动时，万用表的阻值等电参数也会产生上下波动，难以判断好坏，存在有测试精度低的缺陷。
实用新型内容
为了提升光敏电阻的测试精度，本申请提供一种传感器测试电路。
本申请提供的一种传感器测试电路，采用如下的技术方案：
一种传感器测试电路，包括：
发光件；
参考光敏件，与待测光敏件均与发光件等距相对，且与待测光敏件并联于同一供电回路中；电参数比较器，其输入端分别连接于参考光敏件与待测光敏件，用于比较参考光敏件与待测光敏件之间的电参数，并依据比较结果输出电压信号；及
控制模块，连接于电参数比较器的输出端，用于依据电压信号输出提示信息或提示信号。
通过采用上述技术方案，发光件产生平行光，照射于参考光敏件及待测光敏件，待测光敏件即需要测试的光敏电阻，参考光敏件为已通过测试的光敏电阻良品，电参数比较器可检测并比较参考光敏件与待测光敏件的电参数，并输出比较结果，当待测光敏件的电参数相对参考光敏件的电参数相差过大时，则通过控制模块输出提示信息或提示信号进行提醒，以此区分良品与次品，由于发光件同时作用于参考光敏件与待测光敏件，以此可减少光照强度波动导致的测试误差，提升光敏电阻的测试精度。
优选的，还包括第一分压电阻、第二分压电阻，所述第一分压电阻用于与待测光敏件串联，所述第二分压电阻与参考光敏件串联，所述参考光敏件与待测光敏件并联，所述电参数比较器包括第一电压比较器，所述第一电压比较器的一输入端连接于第一分压电阻与待测光敏件的连接点，其另一输入端连接于第二分压电阻与参考光敏件的连接点。
通过采用上述技术方案，通过第一电压比较器间接比较待测光敏件与参考光敏件的阻值，以此可判断待测光敏件是否响应于光照产生符合预期或大于预期的阻值变化，以此检测光敏电阻是否可用。
优选的，所述第一分压电阻采用可变电阻。
通过采用上述技术方案，调节第一分压电阻可调节待测光敏件的阻值与其端电压的对应关系，以此使得测试电路适配于不同光照特性的光敏电阻，扩大适用范围。
优选的，所述发光件采用发光二极管，且其阳极与所述参考光敏件均连接于同一电源端。
通过采用上述技术方案，发光二极管发出的光柔和且均匀，容易控制，通过将发光件与参考光敏件、待测光敏件并联，当电源端出现电压波动时，三者都可保持同步变化，以此减小测试误差。
优选的，所述发光件的供电回路中串联有开关件，所述开关件的控制端连接于控制模块的输出端。
通过采用上述技术方案，通过控制模块控制开关件通断，可以实现发光件的控制，减少手动操作的延迟，减少光强度的波动。
优选的，所述开关件采用三极管或mos管。
通过采用上述技术方案，通过三极管与mos管可实现回路的快速通断。
优选的，还包括相互串联的第三光敏件及第三分压电阻，所述第三光敏件与待测光敏件、参考光敏件均并联，所述电参数比较器还包括第二电压比较器，所述第一电压比较器的同相输入端连接于第一分压电阻与待测光敏件的连接点，其反相输入端连接于第二分压电阻与参考光敏件的连接点；
所述第二电压比较器的同相输入端连接于第三光敏件与第三分压电阻的连接点，其反相输入端连接于第一分压电阻与待测光敏件的连接点，其输出端连接于控制模块，所述控制模块用于当所述第一电压比较器和/或第二电压比较器输入低电平信号时输出提示信号。
通过采用上述技术方案，通过第一电压比较器与第二电压比较器可以反映待测光敏件是否低于参考光敏件的阻值，是否高于第三光敏件的阻值，以此将光敏电阻的合格条件限定在合理的阻值区间内，提升测试效率。
优选的，所述第三光敏件与所述参考光敏件参数一致，所述第二分压电阻的阻值小于所述第三分压电阻的阻值。
通过采用上述技术方案，通过第二分压电阻的阻值小于所述第三分压电阻的阻值的设定可产生电压区间，间接产生限定待测光敏件的阻值区间，提升良品率。
综上所述，本申请包括以下至少一种有益技术效果：
1.发光件产生平行光，照射于参考光敏件及待测光敏件，待测光敏件即需要测试的光敏电阻，参考光敏件为已通过测试的光敏电阻良品，电参数比较器可检测并比较参考光敏件与待测光敏件的电参数，并输出比较结果，当待测光敏件的电参数相对参考光敏件的电参数相差过大时，则通过控制模块输出提示信息或提示信号进行提醒，以此区分良品与次品，由于发光件同时作用于参考光敏件与待测光敏件，以此可减少光照强度波动导致的测试误差，提升光敏电阻的测试精度；
2.调节第一分压电阻可调节待测光敏件的阻值与其端电压的对应关系，以此使得测试电路适配于不同光照特性的光敏电阻，扩大适用范围；
3.通过第一电压比较器与第二电压比较器可以反映待测光敏件是否低于参考光敏件的阻值，是否高于第三光敏件的阻值，以此将光敏电阻的合格条件限定在合理的阻值区间内，提升测试效率。
附图说明
图1是本申请实施例的传感器测试电路的模块示意图。
图2是本申请实施例的传感器测试电路的电路原理图。
具体实施方式
以下结合全部附图对本申请作进一步详细说明。
本申请实施例公开一种传感器测试电路。参照图1、图2，传感器测试电路包括：发光件D1，采用多个并联的发光二极管阵列形成的平行光源，可产生平行光；
参考光敏件RT2，与待测光敏件RT1均与发光件D1等距相对，且与待测光敏件RT1并联于同一供电回路中；
电参数比较器，其输入端分别连接于参考光敏件RT2与待测光敏件RT1，用于比较参考光敏件RT2与待测光敏件RT1之间的电参数，并依据比较结果输出电压信号；及
控制模块，采用单片机，连接于电参数比较器的输出端，用于依据电压信号输出提示信息或提示信号。
待测光敏件RT1即需要测试的光敏电阻，参考光敏件RT2为已通过测试的光敏电阻良品，用作参照。
电参数比较器包括第一电压比较器U1及第二电压比较器U2。
待测光敏件RT1串联有第一分压电阻R1，参考光敏件RT2串联有第二分压电阻R2，参考光敏件RT2与待测光敏件RT1并联，参考光敏件RT2还并联有第三光敏件RT3，第三光敏件RT3同时与待测光敏件RT1并联，第三光敏件RT3串联有第三分压电阻R3，第一分压电阻R1的一端、第二分压电阻R2的一端及第三分压电阻R3的一端均接地，待测光敏件RT1一端、参考光敏件RT2一端、第三光敏件RT3一端通过开关SW1接VBAT电源端。
发光件D1的阳极也通过开关SW1接VBAT电源端，其另一端通过开关件Q1接地，开关件Q1采用MOS管，MOS管的漏极与源极串联于发光件D1所在回路中，其栅极连接于控制模块，即单片机的输出引脚，通过单片机可控制MOS管的通断，以此控制发光件D1亮灭。
电参数比较器包括第一电压比较器U1、第二电压比较器U2，第一电压比较器U1的同相输入端连接于第一分压电阻R1与待测光敏件RT1的连接点，其反相输入端连接于第二分压电阻R2与参考光敏件RT2的连接点。
第二电压比较器U2的同相输入端连接于第三光敏件RT3与第三分压电阻R3的连接点，其反相输入端连接于第一分压电阻R1与待测光敏件RT1的连接点，其输出端连接于控制模块，即单片机的输入引脚，单片机用于当第一电压比较器U1和/或第二电压比较器U2输入低电平信号时输出提示信号，即仅当第一电压比较器U1与第二电压比较器U2均输出高电平信号时，待测光敏件RT1通过测试，为良品。
第三光敏件RT3与参考光敏件RT2参数一致，采用同一批合格的光敏电阻，两者的光照特性曲线一致或接近一致，且第二分压电阻R2的阻值小于第三分压电阻R3的阻值，以此使第一电压比较器U1的反相输入端输入的电压偏低，使第二电压比较器U2的同相输入端输入的电压偏高，以此形成供待测光敏件RT1波动的电压区间，作为合格条件方便筛选合格的待测光敏件RT1，具体的电压区间和阻值区间则需要根据试验情况及质量要求选定。
为使本实施例的传感器测试电路适用于更多规格型号的光敏电阻测试，第一分压电阻R1选用可变电阻，其阻值可调节，以此可根据每种光敏电阻的光照特性进行定制，扩大测试电路的适用范围。
本申请实施例传感器测试电路的实施原理为：当连接好待测光敏件RT1后，通过单片机控制MOS管导通，发光件D1产生平行光，照射于参考光敏件RT2、待测光敏件RT1及第三光敏件RT3，第一电压比较器U1及第二电压比较器U2对三者通过分压电路产生的电压值进行比较，若第一电压比较器U1与第二电压比较器U2均输出高电平信号时，待测光敏件RT1通过测试，为良品，否则为次品，并通过单片机输出提示信息或提示信号进行提醒，以此区分良品与次品。由于发光件D1同时作用于参考光敏件RT2、待测光敏件RT1及第三光敏件RT3，以此可减少光照强度波动导致的测试误差，提升光敏电阻的测试精度。
以上均为本申请的较佳实施例，并非依此限制本申请的保护范围，故：凡依本申请的结构、形状、原理所做的等效变化，均应涵盖于本申请的保护范围之内。
Claims (8)
1.一种传感器测试电路，其特征在于，包括：
发光件；
参考光敏件，与待测光敏件均与发光件等距相对，且与待测光敏件并联于同一供电回路中；电参数比较器，其输入端分别连接于参考光敏件与待测光敏件，用于比较参考光敏件与待测光敏件之间的电参数，并依据比较结果输出电压信号；及
控制模块，连接于电参数比较器的输出端，用于依据电压信号输出提示信息或提示信号。
2.根据权利要求1所述的传感器测试电路，其特征在于，还包括第一分压电阻、第二分压电阻，所述第一分压电阻用于与待测光敏件串联，所述第二分压电阻与参考光敏件串联，所述参考光敏件与待测光敏件并联，所述电参数比较器包括第一电压比较器，所述第一电压比较器的一输入端连接于第一分压电阻与待测光敏件的连接点，其另一输入端连接于第二分压电阻与参考光敏件的连接点。
3.根据权利要求2所述的传感器测试电路，其特征在于，所述第一分压电阻采用可变电阻。
4.根据权利要求1所述的传感器测试电路，其特征在于，所述发光件采用发光二极管，且其阳极与所述参考光敏件均连接于同一电源端。
5.根据权利要求1所述的传感器测试电路，其特征在于，所述发光件的供电回路中串联有开关件，所述开关件的控制端连接于控制模块的输出端。
6.根据权利要求5所述的传感器测试电路，其特征在于，所述开关件采用三极管或mos管。
7.根据权利要求2所述的传感器测试电路，其特征在于，还包括相互串联的第三光敏件及第三分压电阻，所述第三光敏件与待测光敏件、参考光敏件均并联，所述电参数比较器还包括第二电压比较器，所述第一电压比较器的同相输入端连接于第一分压电阻与待测光敏件的连接点，其反相输入端连接于第二分压电阻与参考光敏件的连接点；
所述第二电压比较器的同相输入端连接于第三光敏件与第三分压电阻的连接点，其反相输入端连接于第一分压电阻与待测光敏件的连接点，其输出端连接于控制模块，所述控制模块用于当所述第一电压比较器和/或第二电压比较器输入低电平信号时输出提示信号。
8.根据权利要求7所述的传感器测试电路，其特征在于，所述第三光敏件与所述参考光敏件参数一致，所述第二分压电阻的阻值小于所述第三分压电阻的阻值。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202320271027.9U CN218895851U (zh) | 2023-02-14 | 2023-02-14 | 一种传感器测试电路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202320271027.9U CN218895851U (zh) | 2023-02-14 | 2023-02-14 | 一种传感器测试电路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN218895851U true CN218895851U (zh) | 2023-04-21 |
Family
ID=86000185
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN202320271027.9U Active CN218895851U (zh) | 2023-02-14 | 2023-02-14 | 一种传感器测试电路 |
Country Status (1)
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Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN116466268A (zh) * | 2023-06-19 | 2023-07-21 | 力高(山东)新能源技术股份有限公司 | 一种光敏传感器的故障检测方法、系统及设备 |
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2023
- 2023-02-14 CN CN202320271027.9U patent/CN218895851U/zh active Active
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| CN116466268A (zh) * | 2023-06-19 | 2023-07-21 | 力高(山东)新能源技术股份有限公司 | 一种光敏传感器的故障检测方法、系统及设备 |
| CN116466268B (zh) * | 2023-06-19 | 2024-06-07 | 力高(山东)新能源技术股份有限公司 | 一种光敏传感器的故障检测方法、系统及设备 |
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