CN218679116U - 通信模组测试系统 - Google Patents
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Abstract
本申请提供了一种通信模组测试系统。该通信模组测试系统包括:测试夹具上安装有待测通信模组和测试主板,以配合测试设备对待测通信模组进行测试;测试主板分别与待测通信模组、供电电源以及测试设备连接,测试主板用于基于供电电源向待测通信模组供电,以及用于获取待测通信模组的测试数据,并将测试数据发送给测试设备;测试数据包括:开机时序数据和开机电压数据;开机时序数据包括待测通信模组中不同引脚的开机时间和开机电压;开机电压数据为待测通信模组的开机电压;测试设备用于根据开机时序数据和开机电压数据,确定待测通信模组的测试结果。本申请实现对通信模组的自动化测试,不仅结构简单、易于实现,而且还能提高测试效率和准确度。
Description
技术领域
本实用新型涉及通信模组测试技术领域,尤其涉及一种通信模组测试系统。
背景技术
通信模组是将芯片、储存器以及功放器件等集成在一块线路板上,并提供标准接口的功能模块,各类终端设备借助该通信模组可实现通信功能。为了保证通信模组的产品质量,需要对通信模组进行测试。
目前,通信模组测试方式,主要是人工测试,通过人工将通信模组和示波器连接在一起,并通过外部电源向通信模组供电,以利用示波器获取通信模组中不同引脚的开机时间和开机电压,以及该通信模组的开机电压。然后,根据示波器获取到的不同开机时间和不同开机电压,对通信模组进行开机时序测试,以及根据示波器获取到的开机电压,对通信模组进行开机有效电压测试。
在实际测试过程中,因为根据获取的不同开机时间和不同开机电压,测试通信模组的开机时序时,需要人工根据开机时间对开机电压进行排序,使得整个过程需要重复多次且排序结果可能会存在误差。并且,示波器获取通信模组的开机电压,也需要人工重复多次调整输入至通信模组的电压,使得通信模组的测试效率和测试准确度较低。
实用新型内容
本申请实施例提供一种通信模组测试系统,实现对通信模组的自动化测试,不仅结构简单、易于实现,而且还能提高测试效率和准确度。
第一方面,本申请实施例提供了一种通信模组测试系统,包括:待测通信模组、测试夹具、测试主板、供电电源以及测试设备;
所述测试夹具上安装有所述待测通信模组和所述测试主板,以配合所述测试设备对所述待测通信模组进行测试;
所述测试主板,分别与所述待测通信模组、所述供电电源以及所述测试设备连接,所述测试主板用于基于所述供电电源向所述待测通信模组供电,以及用于获取所述待测通信模组的测试数据,并将所述测试数据发送给所述测试设备;其中,所述测试数据包括:开机时序数据和开机电压数据;所述开机时序数据包括:所述待测通信模组中不同引脚的开机时间和开机电压;所述开机电压数据为所述待测通信模组的开机电压;
所述测试设备,用于根据所述开机时序数据和所述开机电压数据,确定所述待测通信模组的测试结果。
另外,本实用新型提供的通信模组测试系统还可以具有如下附加的技术特征:
在一些示例中,所述测试主板包括:处理器、主板通信接口和电源接口;
所述测试设备包括:设备通信接口。
在一些示例中,所述处理器,分别与所述主板通信接口和所述待测通信模组连接,所述处理器用于获取所述待测通信模组的开机时序数据和开机电压数据,并控制所述主板通信接口将所述开机时序数据和开机电压数据发送给所述测试设备;
所述主板通信接口与所述设备通信接口连接;
所述电源接口,分别与所述待测通信模组、所述供电电源以及所述处理器连接。
在一些示例中,所述测试主板还包括:主板稳压器;
所述主板稳压器,分别与所述待测通信模组、所述电源接口以及所述处理器连接。
在一些示例中,所述主板稳压器包括:第一主板稳压器和第二主板稳压器;
所述第一主板稳压器,分别与所述待测通信模组和所述电源接口连接;
所述第二主板稳压器,分别与所述电源接口和所述处理器连接。
在一些示例中,所述处理器包括:第一数据读取引脚、第二数据读取引脚、第三数据读取引脚、第四数据读取引脚、第一通信引脚和数模转换引脚;
所述待测通信模组包括:第一电压转换引脚、第二电压转换引脚、第一模组稳压引脚、第二模组稳压引脚以及开机输入引脚。
在一些示例中,所述第一数据读取引脚与所述第一电压转换引脚连接,所述第一数据读取引脚用于读取所述第一电压转换引脚端的电压;
所述第二数据读取引脚与所述第二电压转换引脚连接,所述第二数据读取引脚用于读取所述第二电压转换引脚端的电压;
所述第三数据读取引脚与所述第一模组稳压引脚连接,所述第三数据读取引脚用于读取所述第一模组稳压引脚的电压;
所述第四数据读取引脚与所述第二模组稳压引脚连接,所述第四数据读取引脚用于读取所述第二模组稳压引脚的电压;
所述第一通信引脚与所述开机输入引脚连接,所述第一通信引脚用于控制所述开机输入引脚电压的高低状态;
所述数模转换引脚与所述开机输入引脚连接,所述数模转换引脚用于控制所述开机输入引脚的电压大小。
在一些示例中,所述测试主板还包括:开关组件;
所述开关组件,分别与所述第一通信引脚和所述开机输入引脚连接。
在一些示例中,所述开关组件为金属氧化物半导体场效应晶体管或三极管。
在一些示例中,所述处理器还包括:第二通信引脚;
所述第二通信引脚与所述主板通信接口连接。
本申请实施例公开的技术方案,至少具有如下有益效果:
通过在通信模组测试系统中设置测试设备和测试夹具,以利用测试夹具夹持待测通信模组和测试主板,并通过测试设备控制测试主板获取待测通信模组的开机时序数据和开机电压数据,然后根据待测通信模组的开机时序数据和开机电压数据,对待测通信模组进行测试得到待测通信模组的测试结果。由此,通过利用测试设备对夹持在测试夹具上的待测通信模组进行测试操作,从而可以实现对通信模组的自动化测试,不仅结构简单、易于实现,而且还能提高测试效率和准确度。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案,下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本申请实施例提供的第一种通信模组测试系统的示意性框图;
图2是本申请实施例提供的第二种通信模组测试系统的示意性框图;
图3是本申请实施例提供的第三种通信模组测试系统的示意性框图;
图4是本申请实施例提供的第四种通信模组测试系统的示意性框图;
图5是本申请实施例提供的第五种通信模组测试系统的示意性框图;
图6是本申请实施例提供的一种示例性的通信模组测试系统的示意性框图;
图7是本申请实施例提供的第六种通信模组测试系统的示意性框图;
图8是本申请实施例提供的第七种通信模组测试系统的示意性框图;
图9是本申请实施例提供的另一种示例性的通信模组测试系统的示意性框图。
附图标记说明:
待测通信模组10、测试夹具20、测试主板30、供电电源40、测试设备50、第一电压转换引脚11、第二电压转换引脚12、第一模组稳压引脚13、第二模组稳压引脚14、开机输入引脚15、处理器31、主板通信接口32、电源接口33、主板稳压器34、开关组件35、设备通信接口51、第一数据读取引脚311、第二数据读取引脚312、第三数据读取引脚313、第四数据读取引脚314、第一通信引脚315、数模转换引脚316、第二通信引脚317、第一主板稳压器341、第二主板稳压器342。
具体实施方式
下面将结合本申请实施例中的附图,对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例,都属于本申请保护的范围。
需要说明的是,本申请的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象,而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换,以便这里描述的本申请的实施例能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。此外,术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形,意图在于覆盖不排他的包含,例如,包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或服务器不必限于清楚地列出的那些步骤或单元,而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。
本申请适用于通信模组的测试场景。考虑到目前测试通信模组时,主要通过人工测试方式实现,具体是通过示波器获取通信模组中不同引脚的开机时间和开机电压,以及通信模组的开机有效电压。然后,人工根据开机时间对开机电压进行排序,以测试通信模组的开机时序,以及根据通信模组的开机有效电压,测试通信模组的开机有效电压。但因为测试通信模组的开机时序时,需要人工根据开机时间对开机电压进行排序,使得整个测试过程需要重复多次且排序结果可能会存在误差,并且测试通信模组的开机有效电压时,也需要人工重复多次调整输入至通信模组的电压,使得通信模组的测试效率和测试准确度较低。因此,本申请设计了一种通信模组测试系统,以通过该系统可实现对通信模组的自动化测试目的,不仅结构简单、易于实现,而且还能提高测试效率和准确度。
下面结合附图对本申请实施例提供的一种通信模组测试系统进行详细描述。
图1是本申请实施例提供的第一种通信模组测试系统的示意性框图。
如图1所示,本申请实施例提供的通信模组测试系统100可包括:待测通信模组10、测试夹具20、测试主板30、供电电源40以及测试设备50;
其中,测试夹具20上安装有待测通信模组10和测试主板30,以配合测试设备50对待测通信模组10进行测试;
测试主板30,分别与待测通信模组10、供电电源40以及测试设备50连接,该测试主板30用于基于供电电源40向待测通信模组10供电,以及用于获取待测通信模组10的测试数据,并将测试数据发送给测试设备50;其中,测试数据包括:开机时序数据和开机电压数据;开机时序数据包括:待测通信模组10中不同引脚的开机时间和开机电压;开机电压数据为待测通信模组10的开机电压;
测试设备50,用于根据开机时序数据和开机电压数据,确定待测通信模组10的测试结果。
其中,测试设备50根据获取到的开机时序数据和开机电压数据,确定待测通信模组10的测试结果,具体为根据开机时序数据,确定待测通信模组10的开机时序测试结果,以及根据开机电压数据,确定待测通信模组10的开机有效电压。
也就是说,本申请测试设备50是基于测试主板发送的测试数据,对待测通信模组10进行开机时序测试和开机有效电压测试。
在本申请实施例中,测试主板30可以是任意集成有处理器的器件。其中,处理器可选为微控制单元(Microcontroller Unit,简称MCU)、单片机或其他处理芯片等。
供电电源40用于为测试主板30和待测通信模组10供电。在本申请实施例中,供电电源40可选为可调电源,或者为市电等。
测试设备50可以是任意具有数据处理功能的硬件设备,比如个人计算机或笔记本电脑等,此处对其不做限制。
需要说明的是,本申请中测试夹具20是基于待测通信模组10定制的一种夹持工具。并且,该测试夹具20可通过连线或者探针接触等方式,与待测通信模组10和测试主板30连接。
具体实现时,测试设备50通过向安装于测试夹具20上的测试主板30发送对待测通信模组10的测试指令。其中,测试指令包括:通信模组的开机时序测试指令,和通信模组的开机有效电压测试指令。
当测试主板30接收到该测试指令时,测试主板30通过对该测试指令进行解析,以确定该测试指令是对待测通信模组10进行哪种测试,具体为通信模组的开机时序测试指令,和/或通信模组的开机有效电压测试指令。如果测试指令为通信模组的开机时序测试指令,和/或通信模组的开机有效电压测试指令,则测试主板30根据上述测试指令,从待测通信模组10端获取开机时序数据和/或开机电压数据,即获取待测通信模组10中不同引脚的开机时间和开机电压,和/或待测通信模组10的开机电压。然后,测试主板30将获取到的开机时序数据和/或开机电压数据发送给测试设备50。
进而,测试设备50根据测试主板30发送的开机时序数据和/或开机电压数据,对待测通信模组10的开机时序以及开机有效电压进行自动测试,以确定待测通信模组10的开机时序测试结果和/或开机有效电压测试结果。从而可以快速且有效的测试出待测通信模组10的开机时序和开机有效电压。
在一些可实现方式中,由于测试数据包括:待测通信模组10中不同引脚的开机时间和开机电压,和该待测通信模组10的开机电压,那么测试设备50可根据获取到的待测通信模组中不同引脚的开机时间,对不同引脚的开机电压进行排序,以得到待测通信模组10的开机时序测试结果;另外,测试设备50还将获取到的待测通信模组的开机电压,确定为待测通信模组10的开机有效电压测试结果。即,待测通信模组10的开机有效电压,具体为获取到的开机电压。
如图2所示,本申请实施例提供的通信模组测试系统100中的测试主板30,包括:处理器31、主板通信接口32和电源接口33;测试设备50包括:设备通信接口51;
其中,处理器31,分别与主板通信接口32和待测通信模组10连接,该处理器31用于获取待测通信模组10的开机时序数据和开机电压数据,并控制主板通信接口32将开机时序数据和开机电压数据发送给测试设备50;
主板通信接口32与设备通信接口51连接;
电源接口33,分别与待测通信模组10、供电电源40以及处理器31连接。
作为示例性说明,如图3所示,测试主板30中的处理器31可选为微控制单元(MicroControl Unit,简称为MCU)、单片机等,此处对其不做具体限制。
作为一种可选的实现方式,主板通信接口32包括:USB接口和UART接口;相应的,设备通信接口51包括:USB接口和UART接口。
也即是说,本申请通信模组测试系统100,可通过测试主板30的主板通信接口32中的USB接口或者UART接口,接收测试设备50通过设备通信接口51中USB接口或UART接口发送的测试指令。然后,测试主板30中的处理器31根据主板通信接口32中USB接口或者UART接口接收到的测试指令,获取待测通信模组10的测试数据。然后,控制主板通信接口32中USB接口或者UART接口将获取到的测试数据发送给设备通信接口51中USB接口或者UART接口。进而,测试设备50根据设备通信接口51中USB接口或者UART接口接收到的测试数据,对待测通信模组10进行开机时序以及开机有效电压的测试操作。
其中,测试设备50根据接收到的测试数据,对待测通信模组10进行开机时序以及开机有效电压测试时,具体可通过测试设备50中的控制器实现(图中未示出)。并且该控制器可以是任意具有数据处理功能的器件,比如中央处理器(Central Processing Unit,简称CPU)等,此处对其不做具体限制。
进一步的,本申请实施例提供的通信模组测试系统100中的测试主板30,还包括:主板稳压器34,具体如图4所示。
其中,主板稳压器34,分别与待测通信模组10、电源接口33以及处理器31连接,该主板稳压器34用于对电源接口33输入的电压进行电压转换处理,并将转换处理后的电压输入至待测通信模组10和处理器31,以对待测通信模组10和处理器31进行供电。进而,使得待测通信模组10和处理器31能够正常工作。
本申请实施例中,参见图4,主板稳压器34包括:第一主板稳压器341和第二主板稳压器342。
并且,第一主板稳压器341,分别与待测通信模组10和电源接口33连接;
第二主板稳压器342,分别与电源接口33和处理器31连接。
其中,第一主板稳压器341与待测通信模组10连接,具体是与待测通信模组10中的使能引脚(比如VBAT)连接;第二主板稳压器342与处理器31连接,具体是与处理器31中的电源输入引脚(比如VDD_MCU)连接。
需要说明的是,本实施例中的稳压器,具体是指低压差线性稳压器(low dropoutregulator,简称:LDO)。该LDO是相对于传统的线性稳压器而言。传统的稳压器,比如78XX系列的芯片都要求输入电压要比输出电压至少高出2V~3V,否则就不能正常工作。但是在一些情况下,这样的条件显然是太苛刻了,如5V转3.3V,输入与输出之间的压差只有1.7V,显然这是不满足传统线性稳压器的工作条件的。针对这种情况,芯片商家研发了LDO类的电压转换芯片,以通过LDO类电压转换芯片可满足不同情况下的电压转换。
示例性的,如图5所示,测试主板30中的处理器31,包括:第一数据读取引脚311、第二数据读取引脚312、第三数据读取引脚313、第四数据读取引脚314、第一通信引脚315和数模转换引脚316;
待测通信模组10包括:第一电压转换引脚11、第二电压转换引脚12、第一模组稳压引脚13、第二模组稳压引脚14以及开机输入引脚15。
其中,第一数据读取引脚311与第一电压转换引脚11连接,第一数据读取引脚311读取第一电压转换引脚11端的电压;
第二数据读取引脚312与第二电压转换引脚12连接,第二数据读取引脚312读取第二电压转换引脚12端的电压;
第三数据读取引脚313与第一模组稳压引脚13连接,第三数据读取引脚313读取第一模组稳压引脚13的电压;
第四数据读取引脚314与第二模组稳压引脚14连接,第四数据读取引脚314读取第二模组稳压引脚14的电压;
第一通信引脚315与开机输入引脚15连接,第一通信引脚315控制开机输入引脚15电压的高低状态;
数模转换引脚316与开机输入引脚15连接,数模转换引脚316控制开机输入引脚15的电压大小。
示例性的,如图6所示,第一数据读取引脚311、第二数据读取引脚312、第三数据读取引脚313以及第四数据读取引脚314,均为模数转换(ADC)引脚。具体的,第一数据读取引脚311为ADC1引脚、第二数据读取引脚312为ADC2引脚、第三数据读取引脚313为ADC3引脚和第四数据读取引脚314为ADC4引脚。
并且,第一通信引脚315,具体是指GPIO1。该GPIO具体是指端口扩展器,即通信接口,该接口具有低功耗、小封装、低成本、布线简单等优点。
数模转换引脚316,具体是指数模转换器引脚,即DAC引脚。
第一电压转换引脚11和第二电压转换引脚12,是指电压转换(DCDC)引脚。具体为:第一电压转换引脚11为DCDC1引脚,第二电压转换引脚12为DCDC2引脚。
第一模组稳压引脚13和第二模组稳压引脚14,是指模组稳压器引脚。具体为:第一模组稳压引脚13为LDO1引脚,第二模组稳压引脚14为LDO2引脚;以及开机输入引脚15,具体是指PWRKEY引脚。
也即是说,当测试主板30中的处理器31,基于主板通信接口32接收到测试设备50通过设备通信接口51发送的测试指令(开机时序测试指令)后,可通过第一通信引脚315输出高电平,使得待测通信模组10中的开机输入引脚15输入电压,以使待测通信模组10开机。与此同时,通过第一数据读取引脚311读取待测通信模组10中第一电压转换引脚11的电压,通过第二数据读取引脚312读取待测通信模组10中第二电压转换引脚12的电压,通过第三数据读取引脚313读取待测通信模组10中第一模组稳压引脚13的电压,以及通过第四数据读取引脚314读取待测通信模组10中第二模组稳压引脚14的电压。然后,处理器31将第一数据读取引脚311、第二数据读取引脚312、第三数据读取引脚313和第四数据读取引脚314分别读取到的电压,以及电压的读取时间信息,通过主板通信接口32发送给设备通信接口51。进而,测试设备50根据设备通信接口51接收到的不同引脚电压以及不同引脚电压的读取时间信息,利用不同引脚电压的读取时间信息对不同引脚的电压进行排序,以得到待测通信模组10的开机时序测试结果。
和/或,测试主板30中的处理器31,基于主板通信接口32接收到测试设备50通过设备通信接口51发送的测试指令(开机有效电压测试指令)后,可通过第一通信引脚315输出高电平,使得待测通信模组10中的开机输入引脚15输入电压,并且通过数模转换引脚316按照预设的电压降低机制,按照从高至低的顺序逐步降低开机输入引脚15的输入电压。开机输入引脚15通过电压跟随与数模转换引脚316同步降低电压。与此同时,第一数据读取引脚311不断读取第一电压转换引脚11的电压,直至读取到第一电压转换引脚11输出的电压。此时待测通信模组10开机,处理器31获取数据转换引脚316的电压,并通过主板通信接口32,将数模转换引脚316的电压发送给设备通信接口51。进而,测试设备50根据设备通信接口51接收到的电压,对待测通信模组10进行开机有效电压测试。其中,预设的电压降低机制可以是任意能够将电压按照高至低的顺序依次降低的规则或算法,本申请对此不做具体限制。比如,按照等间隔电压降低顺序进行降压操作,其中等间隔可以每次降低0.1V、0.3V或者0.5V等,此处对其不做限制,具体根据实际应用需求可以进行灵活设置。
需要说明的是,开机有效电压是待测通信模组10开机的最高电压,即通信模组开机的最高电压不能超过此开机有效电压。
此外,本申请提供的通信模组测试系统100中的测试主板30,还包括:开关组件35,如图7所示。
其中,开关组件35,分别与第一通信引脚315和开机输入引脚15连接。在本申请中开关组件35与第一通信引脚315和开机输入引脚15的连接方式,具体为:开关组件35的基极与第一通信引脚315连接,开关组件35的集电极与开机输入引脚15连接,开关组件35的发射极接地,从而可以在第一通信引脚315输出高电平时,从断开状态切换为导通状态,以拉低开机输入引脚15的电压,使得待测通信模组10开机。
本申请实施例中,开关组件35为金属氧化物半导体场效应晶体管或三极管等,本申请对此不做具体限制。
如图8所示,本申请实施例提供的测试主板30中的处理器31,还包括:第二通信引脚317;
其中,第二通信引脚317与主板通信接口32连接。
本申请实施例中,第二通信引脚是指GPIO引脚。并且,该第二通信引脚具体为:GPIO2/3引脚或GPIO4/5引脚,示例性的如图9所示。
可选的,通过第二通信引脚317与主板通信接口32连接,可接收主板通信接口32接收到的测试指令,并将该测试指令发送给处理器31,以使处理器31控制第一数据读取引脚311、第二数据读取引脚312、第三数据读取引脚313和第四数据读取引脚314,获取待测通信模组10的测试数据,然后将测试数据发送给主板通信接口32。进而,主板通信接口32将测试数据发送给测试设备50,使得测试设备50基于测试数据对待测通信模组10进行开机序列以及开机有效电压进行自动化测试,以得到开机序列测试结果和开机有效电压测试结果。
本申请实施例提供的通信模组测试系统,通过在通信模组测试系统中设置测试设备和测试夹具,以利用测试夹具夹持待测通信模组和测试主板,并通过测试设备控制测试主板获取待测通信模组的开机时序数据和开机电压数据,然后根据待测通信模组的开机时序数据和开机电压数据,对待测通信模组进行测试得到待测通信模组的测试结果。由此,通过利用测试设备对夹持在测试夹具上的待测通信模组进行测试操作,从而可以实现对通信模组的自动化测试,不仅结构简单、易于实现,而且还能提高测试效率和准确度。
本领域普通技术人员可以意识到,结合本文中所公开的实施例描述的各示例的模块及算法步骤,能够以电子硬件、或者计算机软件和电子硬件的结合来实现。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行,取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能,但是这种实现不应认为超出本申请的范围。
在本申请所提供的几个实施例中,应该理解到,所揭露的系统、装置和方法,可以通过其它的方式实现。例如,以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的,例如,该模块的划分,仅仅为一种逻辑功能划分,实际实现时可以有另外的划分方式,例如多个模块或组件可以结合或者可以集成到另一个系统,或一些特征可以忽略,或不执行。另一点,所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口,装置或模块的间接耦合或通信连接,可以是电性,机械或其它的形式。
作为分离部件说明的模块可以是或者也可以不是物理上分开的,作为模块显示的部件可以是或者也可以不是物理模块,即可以位于一个地方,或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部模块来实现本实施例方案的目的。例如,在本申请各个实施例中的各功能模块可以集成在一个处理模块中,也可以是各个模块单独物理存在,也可以两个或两个以上模块集成在一个模块中。
以上所述,仅为本申请的具体实施方式,但本申请的保护范围并不局限于此,任何熟悉本技术领域的技术人员在本申请揭露的技术范围内,可轻易想到变化或替换,都应涵盖在本申请的保护范围之内。因此,本申请的保护范围应以该权利要求的保护范围为准。
Claims (10)
1.一种通信模组测试系统,其特征在于,包括:待测通信模组、测试夹具、测试主板、供电电源以及测试设备;
所述测试夹具上安装有所述待测通信模组和所述测试主板,以配合所述测试设备对所述待测通信模组进行测试;
所述测试主板,分别与所述待测通信模组、所述供电电源以及所述测试设备连接,所述测试主板用于基于所述供电电源向所述待测通信模组供电,以及用于获取所述待测通信模组的测试数据,并将所述测试数据发送给所述测试设备;其中,所述测试数据包括:开机时序数据和开机电压数据;所述开机时序数据包括:所述待测通信模组中不同引脚的开机时间和开机电压;所述开机电压数据为所述待测通信模组的开机电压;
所述测试设备,用于根据所述开机时序数据和所述开机电压数据,确定所述待测通信模组的测试结果。
2.根据权利要求1所述的通信模组测试系统,其特征在于,
所述测试主板包括:处理器、主板通信接口和电源接口;
所述测试设备包括:设备通信接口。
3.根据权利要求2所述的通信模组测试系统,其特征在于,
所述处理器,分别与所述主板通信接口和所述待测通信模组连接,所述处理器用于获取所述待测通信模组的开机时序数据和开机电压数据,并控制所述主板通信接口将所述开机时序数据和开机电压数据发送给所述测试设备;
所述主板通信接口与所述设备通信接口连接;
所述电源接口,分别与所述待测通信模组、所述供电电源以及所述处理器连接。
4.根据权利要求2所述的通信模组测试系统,其特征在于,
所述测试主板还包括:主板稳压器;
所述主板稳压器,分别与所述待测通信模组、所述电源接口以及所述处理器连接。
5.根据权利要求4所述的通信模组测试系统,其特征在于,
所述主板稳压器包括:第一主板稳压器和第二主板稳压器;
所述第一主板稳压器,分别与所述待测通信模组和所述电源接口连接;
所述第二主板稳压器,分别与所述电源接口和所述处理器连接。
6.根据权利要求2所述的通信模组测试系统,其特征在于,
所述处理器包括:第一数据读取引脚、第二数据读取引脚、第三数据读取引脚、第四数据读取引脚、第一通信引脚和数模转换引脚;
所述待测通信模组包括:第一电压转换引脚、第二电压转换引脚、第一模组稳压引脚、第二模组稳压引脚以及开机输入引脚。
7.根据权利要求6所述的通信模组测试系统,其特征在于,
所述第一数据读取引脚与所述第一电压转换引脚连接,所述第一数据读取引脚用于读取所述第一电压转换引脚端的电压;
所述第二数据读取引脚与所述第二电压转换引脚连接,所述第二数据读取引脚用于读取所述第二电压转换引脚端的电压;
所述第三数据读取引脚与所述第一模组稳压引脚连接,所述第三数据读取引脚用于读取所述第一模组稳压引脚的电压;
所述第四数据读取引脚与所述第二模组稳压引脚连接,所述第四数据读取引脚用于读取所述第二模组稳压引脚的电压;
所述第一通信引脚与所述开机输入引脚连接,所述第一通信引脚用于控制所述开机输入引脚电压的高低状态;
所述数模转换引脚与所述开机输入引脚连接,所述数模转换引脚用于控制所述开机输入引脚的电压大小。
8.根据权利要求6或7所述的通信模组测试系统,其特征在于,
所述测试主板还包括:开关组件;
所述开关组件,分别与所述第一通信引脚和所述开机输入引脚连接。
9.根据权利要求8所述的通信模组测试系统,其特征在于,
所述开关组件为金属氧化物半导体场效应晶体管或三极管。
10.根据权利要求2所述的通信模组测试系统,其特征在于,
所述处理器还包括:第二通信引脚;
所述第二通信引脚与所述主板通信接口连接。
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