CN113193926B - 测试电路、测试夹具、nb通信模组测试方法和测试系统 - Google Patents

测试电路、测试夹具、nb通信模组测试方法和测试系统 Download PDF

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Abstract

本发明提供一种测试电路、测试夹具、NB通信模组测试方法和测试系统,所述测试电路包括主控模块、功耗测试模块以及电源模块,主控模块包括主控芯片,功耗测试电路包括PSM功耗测试电路,主控芯片与PSM功耗测试电路电连接,控制PSM功耗测试电路对NB通信模组进行PSM功耗测试。相比现有技术需要接入其他测试仪器进行PSM功耗测试,将PSM功耗测试电路集成于测试电路上,降低测试成本。

Description

测试电路、测试夹具、NB通信模组测试方法和测试系统
技术领域
本发明涉及通信技术领域,尤其涉及一种测试电路、测试夹具、NB通信模组测试方法和测试系统。
背景技术
NB-IoT(Narrow Band Internet of Things,窄带宽物联网)通信模组,简称NB通信模组,以其覆盖广、连接多、速率快、功耗低等特点,可以提供非常全面的室内蜂窝数据连接覆盖。
现有针对NB通信模组的测试系统包括下载、校准、综测、写号等流程,但上述流程不包括对NB通信模组的PSM(Power Saving Mode,低功耗模式)的功耗测试,若要进行PSM功耗测试,需使用外接的高精度功耗测试仪表实现,价格昂贵且测试时间较长,测试成本较高。
可见,现有技术中针对NB通信模组的测试系统测试成本较高。
发明内容
本发明实施例提供了一种测试电路、测试夹具、NB通信模组测试方法和测试系统,以解决现有技术中针对NB通信模组的测试系统测试成本较高的问题。
为了解决上述技术问题,本发明实施例采用了如下技术方案:
第一方面,本发明实施例提供了一种测试电路,用于测试NB通信模组,其特征在于,所述测试电路包括:
主控模块,所述主控模块包括主控芯片;
功耗测试模块,所述功耗测试模块包括低功耗模式PSM功耗测试电路,所述PSM功耗测试电路与所述主控芯片电连接,用于在所述主控芯片的控制下对所述NB通信模组进行PSM功耗测试;
电源模块,所述电源模块分别与所述主控模块和所述功耗测试模块电连接,用于对所述主控模块和所述功耗测试模块进行供电。
第二方面,本发明实施例还提供了一种测试夹具,包括测试底座和本发明实施例提供的测试电路,所述测试电路设置在所述测试底座上。
第三方面,本发明实施例还提供了一种NB通信模组测试方法,应用于本发明实施例提供的测试电路,所述测试电路与NB通信模组电连接,所述方法包括:
通过所述测试电路的主控芯片控制所述NB通信模组工作在低功耗模式PSM;
通过所述主控芯片控制所述测试电路的功耗测试模块的PSM功耗测试电路,对所述NB通信模组进行PSM功耗测试,得到PSM功耗测试结果。
第四方面,本发明实施例还提供了一种测试系统,包括NB通信模组、上位机和本发明实施里提供的测试夹具,所述NB通信模组置于所述测试夹具上,并与所述测试夹具的测试电路电连接,所述上位机与所述测试电路建立有通信连接;其中,
所述上位机用于向所述测试电路发送测试控制命令;
所述测试电路用于接收所述上位机发送的测试控制命令,并基于所述测试控制命令对所述NB通信模组进行PSM功耗测试,得到测试结果;
所述上位机还用于接收所述测试电路发送的测试结果。
本发明实施例提供的测试电路、测试夹具、NB通信模组测试方法和测试系统,所述测试电路包括主控模块、功耗测试模块以及电源模块,主控模块包括主控芯片,功耗测试电路包括PSM功耗测试电路,主控芯片与PSM功耗测试电路电连接,控制PSM功耗测试电路对NB通信模组进行PSM功耗测试。相比现有技术需要接入其他测试仪器进行PSM功耗测试,将PSM功耗测试电路集成于测试电路上,降低测试成本。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案,下面将对本发明实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动性的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本发明一实施例的测试电路的硬件结构示意图之一;
图2是本发明一实施例的测试电路的硬件结构示意图之二;
图3是本发明一实施例的测试电路上实现的测试方法的流程图;
图4是本发明一实施例的测试夹具的结构示意图;
图5是本发明一实施例的NB通信模组测试方法的流程图之一;
图6是本发明一实施例的NB通信模组测试方法的流程图之二;
图7是本发明一实施例的测试系统的流程图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
本发明的实施例提供了一种测试电路,其可用于对NB通信模组1的生产测试,如图1所示,该测试电路包括:
主控模块2,主控模块2包括主控芯片21;
功耗测试模块3,功耗测试模块3包括PSM功耗测试电路31,PSM功耗测试电路31与主控芯片21电连接,用于在主控芯片21的控制下对NB通信模组1进行PSM功耗测试;
电源模块4,电源模块4分别与主控模块2和功耗测试模块电3连接,用于对主控模块2和功耗测试模块3进行供电。
本发明实施例中,主控模块2包括主控芯片21,主控芯片21可以是MCU(MicroController Unit,微控制单元)芯片,也可以是其他具有主控功能的芯片,主控芯片21可控制NB通信模组1结合测试电路进行测试。主控芯片21可作为下位机,与上位机保持数据通信,上位机可以是包括PC(Personal Computer,个人计算机)、主机等在内的计算机,主控芯片21接收上位机的控制命令,可控制NB通信模组1结合测试电路进行测试。
功耗测试模块3包括PSM功耗测试电路31,PSM模式是低功耗状态,在低功耗状态下,NB通信模组1处于休眠状态,电流通道内仅通过小电流,功耗降低。PSM功耗测试则主要检测NB通信模组1在PSM模式下的工作电流,以判断NB通信模组1的PSM功耗是否存在异常。
PSM功耗测试电路31可以由一组采样放大电路构成,该采样放大电路可选用电流检测放大器,如MAX44284,测量在PSM模式下NB通信模组1的压降检测电流,可以理解的是,PSM功耗测试电路31的实现形式并不限于此,在此不作限定。
当电源模块4开始为主控模块2和功耗测试模块3通电后,主控芯片21与PSM功耗测试电路31电连接,NB通信模组1进入PSM低功耗模式,可以开始进行PSM功耗测试。PSM功耗测试电路31和NB通信模组1接收到主控芯片21的测试命令时,开始进行PSM功耗测试,在测试完成后,将测试结果再反馈至主控芯片21,若测试异常,主控芯片21可判定拦截并存储测试日志。
本发明实施例中,测试电路包括主控模块2、功耗测试模块3以及电源模块4,主控模块2包括主控芯片21,功耗测试电路3包括PSM功耗测试电路31,主控芯片21与PSM功耗测试电路31电连接,使NB通信模组1处于PSM模式下,控制PSM功耗测试电路31对NB通信模组1进行PSM功耗测试。相比现有技术需要接入其他测试仪器进行PSM功耗测试,将PSM功耗测试电路集成于测试电路上,降低测试成本。
可选的,所述测试电路还包括:功能测试模块5,功能测试模块5包括管脚测试电路,管脚测试电路与NB通信模组1电连接,用于在主控芯片21的控制下对NB通信模组1的管脚进行功能测试。
本实施例中,测试电路可针对NB通信模组1上的管脚设置对应的管脚测试电路,例如ADC(Analog-to-Digital Converter,模数转换器)管脚可设置对应的ADC测试电路,各管脚测试电路与NB通信模组1上对应的管脚电连接,以完成针对不同管脚的功能测试。与现有技术中按照下载、校准等流程划分测试工位进行测试不同,利用管脚测试电路进行功能测试针对性更强,更适应于不同管脚的功能属性。
进一步的,如图2所示,管脚测试电路包括ADC检测电路、SIM(SubscriberIdentity Module,用户身份识别)卡测试电路、GPIO(General-purpose input/output,通用输入/输出接口)测试电路、EEPROM(Electrically Erasable Programmable read onlymemory,电可擦可编程只读存储器)测试电路和FLASH(Flash EEPROM,闪存存储器)测试电路中的至少一项。
本实施例中,测试电路上可设置ADC检测电路针对NB通信模组1上的ADC接口进行功能检测,可设置SIM卡电路针对NB通信模组1上的SIM卡接口进行功能检测,可设置GPIO电路针对NB通信模组1上的GPIO接口进行功能检测,可设置支持IIC(Inter-IntegratedCircuit,集成电路总线)协议的EEPROM电路针对NB通信模组1上的IIC接口进行功能检测,可设置支持SPI(Serial Peripheral Interface,串行外设接口)协议的Flash电路针对NB通信模组1上的SPI串行接口进行功能检测等,可以理解的是,管脚测试电路包括但不限于上述列举的电路。
需要说明的是,在对NB通信模组1进行功耗测试时,各管脚测试电路工作产生的功耗会对NB通信模组1的功耗检测造成影响,因此,在电源模块4为测试电路供电时,可通过电源转换器如LDO(low dropout regulator,低压差线性稳压器)进行电压转换,如图2所示,对功耗测试模块3的PSM功耗测试电路31与功能测试模块5中的各管脚测试电路采用不同的输出电压,排除管脚测试电路工作时对NB通信模组1功耗的干扰。
本实施例中,NB通信模组1中可包括具有主控功能的单元,主控芯片21与NB通信模组1电连接,可向NB通信模组1中的主控单元发送针对目标管脚的测试命令,NB通信模组1接收上述测试命令后,可控制目标管脚结合其对应的管脚测试电路实现功能测试。现有技术中按照下载、校准等流程划分测试工位进行测试,仅涉及部分管脚的功能测试,不能覆盖NB通信模组1上的所有管脚,而本实施例中可针对NB通信模组1上的所有管脚均设置对应的测试电路,实现对NB通信模组所有管脚的全功能测试,使NB通信模组1的生产测试更加全面。
可选的,功耗测试模块3还包括大电流测试电路32,大电流测试电路32与主控芯片21电连接,用于在主控芯片21的控制下对NB通信模组1进行异常大电流测试。
功耗测试模块3上还可设置有大电流测试电路32,当电源模块4为测试电路通电后,大电流测试电路32可与主控芯片电连接,NB通信模组1可进入正常工作状态。在对NB通信模组1进行管脚功能测试或者PSM功耗测试之前,先进行异常大电流测试,可通过检测测试电路和NB通信模组1刚通电的预设时间内的工作电流,以判断当前测试电路以及NB通信模组1内部是否存在短路等异常现象。
大电流测试电路32可以由一组采样放大电路构成,该采样放大电路可选用电流检测放大器,如MAX44284,测量在正常工作状态下NB通信模组1的压降检测电流,可以理解的是,大电流测试电路32的实现形式并不限于此,在此不作限定。
本实施例中,在进行管脚功能测试或者PSM功耗测试之前,先进行异常大电流测试,以确定当前测试电路以及NB通信模组1内部是否存在短路等异常现象,提高后续测试的安全性和可靠性。
可选的,功耗测试模块3还包括通断控制电路33,PSM功耗测试电路31和大电流测试电路32分别通过通断控制电路33与主控芯片21电连接,通断控制电路33用于在主控芯片21的控制下控制PSM功耗测试电路31和大电流测试电路32的通断。
大电流测试电路32需要NB通信模组1处于正常工作状态下,而PSM功耗测试电路31需要NB通信模组1处于低功耗状态下,即NB通信模组1处于休眠非工作状态,大电流测试电路32上的电流将会远大于PSM功耗测试电路上的电流。若将二者同时与主控芯片21电连接,或者说是同时打开大电流测试电路通道和PSM功耗测试电路通道,将会导致二者之间相互干扰,特别是大电流测试电路32将会严重干扰PSM功耗测试的效果。
本实施例中,在功耗测试模块3上还设置有通断控制电路33,通断控制电路33可采用开关控制电路或者具有通断特性的元器件如PMOS管,在主控芯片21的控制下控制PSM功耗测试电路31和大电流测试电路32的通断,实现主控芯片21与大电流测试电路32连通时,即断开与PSM功耗测试电路31的连通,或者主控芯片21与PSM功耗测试电路31连通时,即断开与大电流测试电路32的连通,减少电流干扰,提高大电流测试和PSM功耗测试的准确性和可靠性。
可选的,主控模块1还包括第一通信串口,主控芯片21通过第一通信串口与上位机通信,接收上位机下发的测试控制命令。
本实施例中,主控芯片21如MCU可作为下位机通过第一通信串口与上位机通信,当通过第一通信串口接收到上位机下发的测试控制命令时,可根据该测试控制命令解释成时序信号,从而直接控制NB通信模组1结合测试电路进行对应的测试,当测试发生异常时,主控芯片21可通过第一通信串口将测试异常信息反馈至上位机,上位机可以此下发判定拦截命令结束测试;当测试顺利完成未发生异常,主控芯片21也可通过第一通信串口将测试信息反馈至上位机,上位机可将测试异常记录以日志的形式进行存储,用户可在上位机上查看测试数据,或者上位机可将测试数据上传云端服务器,供云端服务器统计和分析,用户可远程查看测试数据,及时发现异常以修复。
需要说明的是,主控芯片21与上位机可通过无线通信模块实现无线通信,也可以通过USB线缆实现有线通信,在此不作限定。
可选的,主控模块1还包括第二通信串口,主控芯片21通过第二通信串口与NB通信模组1通信,向NB通信模组1发送测试命令。
本实施例中,主控芯片21可通过第二通信串口与NB通信模组1通信。针对NB通信模组1的测试不仅完全由测试电路完成,而是需要NB通信模组1与测试电路在主控芯片21的控制下相互配合完成。NB通信模组1内部包含有具有主控功能的主控单元,主控芯片21可通过第二通信串口与NB通信模组1内部的主控单元实现通信,NB通信模组1可根据主控芯片21发送的测试命令,配合测试电路完成对应的测试。
图3是本发明一实施例中NB通信模组1的测试流程图,结合图2和图3,对本发明一实施例中对NB通信模组1的测试流程进行说明:
本实施例中,当主控芯片1控制接通大电流测试电路21时,NB通信模组1通电而进入正常工作状态,主控芯片21可以预先设置正常工作状态下工作电流的电流阈值,可以是为500mA,通过检测测试电路和NB通信模组1刚通电的预设时间内的工作电流是否超过上述预设电流阈值,判断当前测试电路以及NB通信模组1内部是否存在短路等异常现象;当主控芯片1控制接通PSM功耗测试电路31时,NB通信模组1进入PSM低功耗状态,主控芯片21可以预先设置PSM低功耗状态下PSM工作电流的电流范围,可以为2~10uA通过检测测试电路和NB通信模组1预设时间内的PSM工作电流是否超过上述预设电流范围,判断当前测试电路以及NB通信模组1内部是否存在PSM功耗异常。
由于各管脚测试电路工作产生的功耗会对NB通信模组1的功耗检测造成影响,本实施例中,如图2所示,可分别通过如MIC29302和ADP125ARHZ的LDO芯片进行电压转换,实现5V输入3.6V和3.3V输出。需要说明的是,管脚测试电路中SIM卡电路的功耗本来就属于NB通信模组1的功耗,而ADC检测电路和GPIO电路不会产生功耗,三者无需单独输入电压。
此外,主控芯片21上可连接有LED指示灯指示工作状态。
如图3所示,具体的测试流程如下:
主控芯片21控制接通大电流测试电路21,NB通信模组1通电进入正常工作状态,主控芯片21利用大电流测试电路21的电流检测放大器测量第一预设时长内NB通信模组1的工作电流,判断是否出现超过预设电流阈值的异常大电流。
大电流测试电路21的电流检测放大器可将放大后的信号通过主控芯片21的ADC接口输入,主控芯片21根据检测到的工作电流判断是否存在超过预设电流阈值的异常电流,若存在超过预设电流阈值的异常电流,主控芯片21可以将测试异常信息发送至上位机,再根据上位机发送的拦截命令,向NB通信模组1发送拦截命令,停止测试,而上位机可将测试异常信息保存并上传云端服务器,用户可远程查看测试测试数据,针对异常进行修复;若不存在超过预设电流阈值的异常电流,则可继续进行后续的测试,此时,主控芯片21同样可以将测试信息发送至上位机,由上位机保存并上传云端服务器,用户可远程查看测试数据。
在未出现异常大电流的情况下,基于NB通信模组1处于正常工作状态,可以直接进行针对NB通信模组1各管脚的功能测试,也可以通过通断控制电路控制接通PSM功耗测试电路31,进行PSM功耗测试。
本实施例中,基于NB通信模组1处于正常工作状态,先针对NB通信模组1各管脚的功能测试。主控芯片21可通过第二通信串口与NB通信模组1内部的主控单元通信,向NB通信模组1发送测试命令,NB通信模组1接收测试命令后,进行管脚功能测试,在测试过程中,若某一管脚测试出现异常,NB通信模组1可将测试异常信息发送至上位机,再根据上位机发送的拦截命令,向NB通信模组1发送拦截命令,停止测试,而上位机可将测试异常信息保存并上传云端服务器,用户可远程查看测试数据,针对异常进行修复;若功能测试过程中未出现异常,则可完成测试,此时主控芯片21同样可以将测试信息发送至上位机,由上位机保存并上传云端服务器,用户可远程查看测试数据。
需要说明的是,管脚功能测试电路针对各管脚进行的测试,可参照现有技术中的测试方法,例如,对于GPIO电路,主控芯片21可向GPIO电路发送一个模拟高低电平,NB通信模组1根据输入结果判断GPIO接口是否存在异常。
在完成上述测试之后,主控芯片21可控制通断控制电路接通PSM功耗测试电路31,进行PSM功耗测试,NB通信模组1处于休眠状态。主控芯片21利用PSM功耗测试电路31的电流检测放大器测量第二预设时长内NB通信模组1的PSM工作电流,判断是否出现超过预设电流范围的PSM工作异常电流。
PSM功耗测试电路31的电流检测放大器可将放大后的信号通过主控芯片21的ADC接口输入,主控芯片21根据检测到的PSM工作电流判断是否存在超过预设电流范围的PSM工作异常电流,若存在超过预设电流范围的PSM工作异常电流,主控芯片21可以将测试异常信息发送至上位机,再根据上位机发送的拦截命令,向NB通信模组1发送拦截命令,停止测试,而上位机可将测试异常信息保存并上传云端服务器,用户可远程查看测试测试数据,针对异常进行修复;若不存在超过预设电流范围的PSM工作异常电流,则可完成测试,此时,主控芯片21同样可以将测试信息发送至上位机,由上位机保存并上传云端服务器,用户可远程查看测试数据。
综上所述,本发明实施例提供的测试电路包括主控模块2、功耗测试模块3以及电源模块4,主控模块2包括主控芯片21,功耗测试电路3包括PSM功耗测试电路31,主控芯片21与PSM功耗测试电路31电连接,控制PSM功耗测试电路31对NB通信模组1进行PSM功耗测试。相比现有技术需要接入其他测试仪器进行PSM功耗测试,将PSM功耗测试电路集成于测试电路上,降低测试成本。
本发明实施例还提供了一种测试夹具,如图4所示,包括测试底座和本发明实施例提供的测试电路,所述测试电路设置在所述测试底座上。
本发明实施例中,测试底座可承载NB通信模组,并与NB通信模组电连接,测试电路可通过测试底座与NB通信模组电连接,二者可在测试电路的主控芯片的控制下配合完成对NB通信模组的测试。测试电路包括PSM功耗测试电路,主控芯片与PSM功耗测试电路电连接,控制PSM功耗测试电路对NB通信模组进行PSM功耗测试。相比现有技术需要接入其他测试仪器进行PSM功耗测试,将PSM功耗测试电路集成于测试电路上,降低测试成本。
本发明实施例还提供了一种NB通信模组测试方法。
图5是本发明实施例提供的一种NB通信模组测试方法的流程图,所述方法应用于本发明实施例提供的测试电路,所述测试电路与NB通信模组电连接。
如图5所示,所述方法包括:
步骤501、通过所述测试电路的主控芯片控制所述NB通信模组工作在低功耗模式PSM。
本发明实施例中,所述方法应用于本发明实施例提供的测试电路,所述测试电路包括主控模块、功耗测试模块和电源模块,当电源模块开始为主控模块和功耗测试模块通电后,主控芯片与PSM功耗测试电路电连接,NB通信模组可进入PSM低功耗模式。
步骤502、通过所述主控芯片控制所述测试电路的功耗测试模块的PSM功耗测试电路,对所述NB通信模组进行PSM功耗测试,得到PSM功耗测试结果。
本发明实施例中,PSM功耗测试电路和NB通信模组接收到主控芯片的测试信号时,开始进行PSM功耗测试,得到测试结果。本步骤的具体实施方式可以参见前述实施例中的相关介绍,为避免重复,此处不再赘述。
本发明实施例提供的NB通信模组测试方法,通过所述测试电路的主控芯片控制所述NB通信模组工作在低功耗模式PSM;通过所述主控芯片控制所述测试电路的功耗测试模块的PSM功耗测试电路,对所述NB通信模组进行PSM功耗测试,得到PSM功耗测试结果。相比现有技术需要接入其他测试仪器进行PSM功耗测试,将PSM功耗测试电路集成于测试电路上,降低测试成本。
图6是本发明实施例提供的另一种NB通信模组测试方法的流程图,所述方法应用于本发明实施例提供的测试电路,所述测试电路与NB通信模组电连接。本实施例与上一实施例的主要区别在于所述测试电路还包括功能测试模块,所述功能测试模块包括管脚测试电路,所述管脚测试电路与所述主控芯片电连接。
如图6所示,所述方法包括:
步骤601、通过所述测试电路的主控芯片控制所述NB通信模组工作在低功耗模式PSM。
本步骤的具体实施方式可以参见如图5所示的实施例中步骤501的具体介绍,为避免重复,在此不再赘述。
可选的,所述功耗测试模块还包括大电流测试电路,所述大电流测试电路与所述主控芯片电连接;步骤601之前,所述方法还包括:
通过所述主控芯片控制所述NB通信模组工作在正常工作模式;
通过所述主控芯片控制所述大电流测试电路对所述NB通信模组进行异常大电流测试;
若测出所述NB通信模组中存在超过预设电流阈值的异常大电流,则停止对所述NB通信模组进行测试;
若测出所述NB通信模组中不存在超过所述预设电流阈值的异常大电流,则执行所述控制所述NB通信模组工作在低功耗模式PSM的步骤。
本实施例中,功耗测试模块上还包括大电流测试电路,在对NB通信模组进行管脚功能测试或者PSM功耗测试之前,先进行异常大电流测试,主控芯片可以预先设置正常工作状态下工作电流的电流阈值,可以为500mA,通过检测测试电路和NB通信模组刚通电的预设时间内的工作电流是否超过上述预设电流阈值,判断当前测试电路以及NB通信模组内部是否存在短路等异常现象。若测出所述NB通信模组中存在超过预设电流阈值的异常大电流,则停止对所述NB通信模组进行测试;若测出所述NB通信模组中不存在超过所述预设电流阈值的异常大电流,则在进行PSM功耗测试。本实施例的具体实施方式可以参见前述实施例中的相关介绍,为避免重复,此处不再赘述。
进一步的,所述功耗测试模块还包括通断控制电路,所述PSM功耗测试电路和所述大电流测试电路分别通过所述通断控制电路与所述主控芯片电连接;
所述通过所述主控芯片控制所述大电流测试电路对所述NB通信模组进行异常大电流测试之前,所述方法还包括;
通过所述通断控制电路控制所述大电流测试电路处于开启状态,并控制所述PSM功耗测试电路处于断开状态;
在确定所述NB通信模组中不存在超过预设电流阈值的异常大电流之后,所述对所述NB通信模组进行PSM功耗测试之前,所述方法还包括:
通过所述通断控制电路控制所述PSM功耗测试电路处于开启状态,并控制所述大电流测试电路处于断开状态。
由于大电流测试电路上的电流将会远大于PSM功耗测试电路上的电流。若将二者同时与主控芯片电连接,或者说是同时打开大电流测试电路通道和PSM功耗测试电路通道,将会导致二者之间相互干扰,特别是大电流测试电路32将会严重干扰PSM功耗测试的效果。
本实施例中,功耗测试模块还包括通断控制电路,PSM功耗测试电路和所述大电流测试电路分别通过通断控制电路与主控芯片电连接。在通过主控芯片控制大电流测试电路对NB通信模组进行异常大电流测试之前,可通过通断控制电路控制大电流测试电路处于开启状态,并控制PSM功耗测试电路处于断开状态;相反的,在确定NB通信模组中不存在超过预设电流阈值的异常大电流之后,对NB通信模组进行PSM功耗测试之前,通过通断控制电路控制PSM功耗测试电路处于开启状态,并控制大电流测试电路处于断开状态。减少二者之间的电流干扰,提高大电流测试和PSM功耗测试的准确性和可靠性。本实施例的具体实施方式可以参见前述实施例中的相关介绍,为避免重复,此处不再赘述。
步骤602、通过所述主控芯片控制所述测试电路的功耗测试模块的PSM功耗测试电路,对所述NB通信模组进行PSM功耗测试,得到PSM功耗测试结果。
本步骤的具体实施方式可以参见如图5所示的实施例中步骤502的具体介绍,为避免重复,在此不再赘述。
可选的,步骤602包括:
测试所述NB通信模组的PSM工作电流;
若所述PSM工作电流处于预设电流范围之内,则确定所述NB通信模组不存在PSM功耗异常;
若所述PSM工作电流未处于所述预设电流范围之内,则确定所述NB通信模组存在PSM功耗异常。
本实施例中,主控芯片可以预先设置PSM低功耗状态下PSM工作电流的电流范围,可以为2~10uA,通过测试所述NB通信模组的PSM工作电流是否超过上述预设电流范围,判断当前测试电路以及NB通信模组内部是否存在PSM功耗异常,若所述PSM工作电流处于预设电流范围之内,则确定所述NB通信模组不存在PSM功耗异常;若所述PSM工作电流未处于所述预设电流范围之内,则确定所述NB通信模组存在PSM功耗异常。本实施例的具体实施方式可以参见前述实施例中的相关介绍,为避免重复,此处不再赘述。
步骤603、通过所述主控芯片控制所述NB通信模组工作在正常工作模式。
本实施例中,测试电路还包括功能测试模块,功能测试模块包括管脚测试电路,管脚测试电路与主控芯片电连接。可通过主控芯片控制通断控制电路控制大电流测试电路处于开启状态,并控制PSM功耗测试电路处于断开状态,使NB通信模组处于正常工作状态,在大电流功耗测试未出现异常之后,可直接对NB通信模组的各管脚进行功能测试。
需要说明的是,本实施例中,步骤601至步骤602与步骤603之间不存在顺序的限定,可通过主控芯片控制通断控制电路控制大电流测试电路处于开启状态,并控制PSM功耗测试电路处于断开状态,使NB通信模组处于正常工作状态,即可直接进行功能测试,通过主控芯片控制通断控制电路控制大电流测试电路处于断开状态,并控制PSM功耗测试电路处于开启状态,使NB通信模组处于PSM低功耗模式,即可进行PSM功耗测试,可根据实际需求进行痛断选择,在此不作限定。
步骤604、通过所述主控芯片控制所述管脚测试电路对所述NB通信模组的管脚进行功能测试,得到管脚测试结果。
本实施例中,测试电路可针对NB通信模组上的管脚设置对应的管脚测试电路,例如ADC管脚可设置对应的ADC测试电路,各管脚测试电路与NB通信模组上对应的管脚电连接,以完成针对不同管脚的功能测试。与现有技术中按照下载、校准等流程划分测试工位进行测试不同,为不同管脚设置管脚测试电路进行功能测试针对性更强,更适应于不同管脚的功能属性。本实施例的具体实施方式可以参见前述实施例中的相关介绍,为避免重复,此处不再赘述。
可选的,所述主控模块还包括第一通信串口,所述主控芯片通过所述第一通信串口与上位机通信;
所述通过所述测试电路的主控芯片控制所述NB通信模组工作在低功耗模式PSM之前,所述方法还包括:
接收所述上位机下发的测试控制命令,所述测试控制命令用于指示所述主控芯片按照所述测试控制命令对所述NB通信模组进行工作模式控制和测试;
所述对所述NB通信模组进行PSM功耗测试,得到PSM功耗测试结果之后,所述方法还包括:
向所述上位机发送所述PSM功耗测试结果。
本实施例中,主控芯片可作为下位机通过第一通信串口与上位机通信,当通过第一通信串口接收到上位机下发的测试控制命令时,可根据该测试控制命令解释成时序信号,从而直接控制NB通信模组结合测试电路进行工作模式控制和PSM功耗测试。当PSM功耗测试发生异常时,主控芯片可通过第一通信串口将测试异常信息反馈至上位机,上位机可以此下发判定拦截命令结束测试;当测试顺利完成未发生异常,主控芯片也可通过第一通信串口将测试信息反馈至上位机,上位机可将测试异常记录以日志的形式进行存储,用户可在上位机上查看测试数据,或者上位机可将测试数据上传云端服务器,供云端服务器统计和分析,用户可远程查看测试数据,及时发现异常以修复。
本实施例在如图1所示实施例基础上增加了多种可选的实施方式,在将PSM功耗测试电路集成于测试电路上,降低测试成本之外,还可进一步减少PSM功耗测试的电流干扰和异常,进一步提高PSM功耗测试的准确性和可靠性,同时还可进一步实现针对NB通信模组的全功能测试。
综上所述,本发明实施例提供的NB通信模组测试方法,通过所述测试电路的主控芯片控制所述NB通信模组工作在低功耗模式PSM;通过所述主控芯片控制所述测试电路的功耗测试模块的PSM功耗测试电路,对所述NB通信模组进行PSM功耗测试,得到PSM功耗测试结果。相比现有技术需要接入其他测试仪器进行PSM功耗测试,将PSM功耗测试电路集成于测试电路上,降低测试成本。
本发明实施例还提供了一种测试系统。
如图7所示,所述测试系统包括NB通信模组、上位机和本发明实施例提供的测试夹具,NB通信模组置于测试夹具上,并与测试夹具的测试电路电连接,上位机与测试电路建立有通信连接;其中,
所述上位机用于向所述测试电路发送测试控制命令;
所述测试电路用于接收所述上位机发送的测试控制命令,并基于所述测试控制命令对所述NB通信模组进行PSM功耗测试,得到测试结果;
所述上位机还用于接收所述测试电路发送的测试结果。
本发明实施例中,测试电路上的主控芯片可作为下位机与上位机通信,当测试电路接收到上位机下发的测试控制命令时,可根据该测试控制命令解释成时序信号,从而直接控制NB通信模组结合测试电路进行对应的测试,当测试发生异常时,主控芯片可将测试异常信息反馈至上位机,上位机可以此下发判定拦截命令结束测试;当测试顺利完成未发生异常,主控芯片也可将测试信息反馈至上位机,上位机可将测试异常记录以日志的形式进行存储,用户可在上位机上查看测试数据。
可选的,所述测试系统还包括服务器,所述上位机还与所述服务器建立有通信连接,所述服务器用于接收所述上位机发送的所述测试结果。
本实施例中,上位机可将测试数据上传云端服务器,供云端服务器统计和分析,用户可远程查看测试数据,及时发现异常以修复。
本发明实施例提供的测试系统可实现图5和图6的方法实施例中实现的各个过程,且可以达到相同有益效果,为避免重复,这里不再赘述。
需要说明的是,本发明实施例中介绍的多种可选的实施方式,彼此可以相互结合实现,也可以单独实现,对此本发明实施例不作限定。
在本发明的描述中,需要理解的是,术语“上”、“下”、“左”、“右”等指示方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本发明和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以及特定的方位构造和操作,因此,不能理解为对本发明的限制。此外,“第一”、“第二”仅由于描述目的,且不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。因此,限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者多个该特征。本发明的描述中,除非另有说明,“多个”的含义是两个或两个以上。
在本发明的描述中,需要说明的是,除非另有明确的规定和限定,术语“安装”“相连”“连接”等应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或一体地连接;可以是机械连接,也可以是电连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接连接,可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言,可以具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。
上述实施例是参考附图来描述的,其他不同的形式和实施例也是可行而不偏离本发明的原理,因此,本发明不应被建构成为在此所提出实施例的限制。更确切地说,这些实施例被提供以使得本发明会是完善又完整,且会将本发明范围传达给本领域技术人员。在附图中,组件尺寸及相对尺寸也许基于清晰起见而被夸大。在此所使用的术语只是基于描述特定实施例目的,并无意成为限制用。术语“包含”及/或“包括”在使用于本说明书时,表示所述特征、整数、构件及/或组件的存在,但不排除一或更多其它特征、整数、构件、组件及/或其族群的存在或增加。除非另有所示,陈述时,一值范围包含该范围的上下限及其间的任何子范围。
以上所述的是本发明的优选实施方式,应当指出对于本技术领域的普通人员来说,在不脱离本发明所述的原理前提下还可以作出若干改进和润饰,这些改进和润饰也在本发明的保护范围内。

Claims (13)

1.一种测试电路,用于测试NB通信模组,其特征在于,所述测试电路包括:
主控模块,所述主控模块包括主控芯片;
功耗测试模块,所述功耗测试模块包括低功耗模式PSM功耗测试电路,所述PSM功耗测试电路与所述主控芯片电连接,用于在所述主控芯片的控制下对所述NB通信模组进行PSM功耗测试;
电源模块,所述电源模块分别与所述主控模块和所述功耗测试模块电连接,用于对所述主控模块和所述功耗测试模块进行供电;
功能测试模块,所述功能测试模块包括管脚测试电路,所述管脚测试电路与所述NB通信模块电连接,用于在所述主控芯片的控制下对所述NB通信模组的管脚进行功能测试;
其中,所述PSM功耗测试电路的输出电压与所述管脚测试电路的输出电压不同。
2.根据权利要求1所述的测试电路,其特征在于,所述管脚测试电路包括模数转换器ADC检测电路、SIM卡电路、通用输入/输出GPIO电路、EEPROM电路和FLASH电路中的至少一项。
3.根据权利要求1所述的测试电路,其特征在于,所述功耗测试模块还包括大电流测试电路,所述大电流测试电路与所述主控芯片电连接,用于在所述主控芯片的控制下对所述NB通信模组进行异常大电流测试。
4.根据权利要求3所述的测试电路,其特征在于,所述功耗测试模块还包括通断控制电路,所述PSM功耗测试电路和所述大电流测试电路分别通过所述通断控制电路与所述主控芯片电连接,所述通断控制电路用于在所述主控芯片的控制下控制所述PSM功耗测试电路和所述大电流测试电路的通断。
5.根据权利要求1所述的测试电路,其特征在于,所述主控模块还包括第一通信串口,所述主控芯片通过所述第一通信串口与上位机通信,接收所述上位机下发的测试控制命令。
6.一种测试夹具,其特征在于,包括测试底座和权利要求1至5中任一项所述的测试电路,所述测试电路设置在所述测试底座上。
7.一种NB通信模组测试方法,应用于权利要求1所述的测试电路,所述测试电路与NB通信模组电连接,其特征在于,所述测试电路还包括功能测试模块,所述功能测试模块包括管脚测试电路,所述管脚测试电路与所述主控芯片电连接;所述方法包括:
通过所述测试电路的主控芯片控制所述NB通信模组工作在低功耗模式PSM;
通过所述主控芯片控制所述测试电路的功耗测试模块的PSM功耗测试电路,对所述NB通信模组进行PSM功耗测试,得到PSM功耗测试结果;
通过所述主控芯片控制所述NB通信模组工作在正常工作模式;
通过所述主控芯片控制所述管脚测试电路对所述NB通信模组的管脚进行功能测试,得到管脚测试结果;
其中,所述PSM功耗测试电路的输出电压与所述管脚测试电路的输出电压不同。
8.根据权利要求7所述的方法,其特征在于,所述对所述NB通信模组进行PSM功耗测试,得到PSM功耗测试结果,包括:
测试所述NB通信模组的PSM工作电流;
若所述PSM工作电流处于预设电流范围之内,则确定所述NB通信模组不存在PSM功耗异常;
若所述PSM工作电流未处于所述预设电流范围之内,则确定所述NB通信模组存在PSM功耗异常。
9.根据权利要求7所述的方法,其特征在于,所述功耗测试模块还包括大电流测试电路,所述大电流测试电路与所述主控芯片电连接;
所述控制所述NB通信模组工作在低功耗模式PSM之前,所述方法还包括:
通过所述主控芯片控制所述NB通信模组工作在正常工作模式;
通过所述主控芯片控制所述大电流测试电路对所述NB通信模组进行异常大电流测试;
若测出所述NB通信模组中存在超过预设电流阈值的异常大电流,则停止对所述NB通信模组进行测试;
若测出所述NB通信模组中不存在超过所述预设电流阈值的异常大电流,则执行所述控制所述NB通信模组工作在低功耗模式PSM的步骤。
10.根据权利要求9所述的方法,其特征在于,所述功耗测试模块还包括通断控制电路,所述PSM功耗测试电路和所述大电流测试电路分别通过所述通断控制电路与所述主控芯片电连接;
所述通过所述主控芯片控制所述大电流测试电路对所述NB通信模组进行异常大电流测试之前,所述方法还包括;
通过所述通断控制电路控制所述大电流测试电路处于开启状态,并控制所述PSM功耗测试电路处于断开状态;
在确定所述NB通信模组中不存在超过预设电流阈值的异常大电流之后,所述对所述NB通信模组进行PSM功耗测试之前,所述方法还包括:
通过所述通断控制电路控制所述PSM功耗测试电路处于开启状态,并控制所述大电流测试电路处于断开状态。
11.根据权利要求7所述的方法,其特征在于,所述主控模块还包括第一通信串口,所述主控芯片通过所述第一通信串口与上位机通信;
所述通过所述测试电路的主控芯片控制所述NB通信模组工作在低功耗模式PSM之前,所述方法还包括:
接收所述上位机下发的测试控制命令,所述测试控制命令用于指示所述主控芯片按照所述测试控制命令对所述NB通信模组进行工作模式控制和测试;
所述对所述NB通信模组进行PSM功耗测试,得到PSM功耗测试结果之后,所述方法还包括:
向所述上位机发送所述PSM功耗测试结果。
12.一种测试系统,其特征在于,包括NB通信模组、上位机和权利要求6所述的测试夹具,所述NB通信模组置于所述测试夹具上,并与所述测试夹具的测试电路电连接,所述上位机与所述测试电路建立有通信连接;其中,
所述上位机用于向所述测试电路发送测试控制命令;
所述测试电路用于接收所述上位机发送的测试控制命令,并基于所述测试控制命令对所述NB通信模组进行PSM功耗测试,得到测试结果;
所述上位机还用于接收所述测试电路发送的测试结果。
13.根据权利要求12所述的测试系统,其特征在于,所述测试系统还包括服务器,所述上位机还与所述服务器建立有通信连接,所述服务器用于接收所述上位机发送的所述测试结果。
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Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104375027A (zh) * 2014-11-05 2015-02-25 福建联迪商用设备有限公司 低功耗电子设备和低功耗pos终端的测试方法及装置
EP3226444A1 (en) * 2016-04-01 2017-10-04 Rohde & Schwarz GmbH & Co. KG Device and method for testing a narrow band internet of things communication
CN108872748A (zh) * 2018-06-29 2018-11-23 深圳思必锐电子技术有限公司 低功耗产品检测装置
CN110557300A (zh) * 2019-08-08 2019-12-10 厦门骐俊物联科技股份有限公司 检测NB-IoT模组低功耗是否合格的系统和方法

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104375027A (zh) * 2014-11-05 2015-02-25 福建联迪商用设备有限公司 低功耗电子设备和低功耗pos终端的测试方法及装置
EP3226444A1 (en) * 2016-04-01 2017-10-04 Rohde & Schwarz GmbH & Co. KG Device and method for testing a narrow band internet of things communication
CN108872748A (zh) * 2018-06-29 2018-11-23 深圳思必锐电子技术有限公司 低功耗产品检测装置
CN110557300A (zh) * 2019-08-08 2019-12-10 厦门骐俊物联科技股份有限公司 检测NB-IoT模组低功耗是否合格的系统和方法

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