CN218646863U - 一种探针显微镜测试设备 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种探针显微镜测试设备，涉及显微镜测试设备技术领域。本实用新型包括操作台，固定连接于操作台上表面四角处的支杆，固定连接于支杆顶部的显微镜底座以及固定连接于显微镜底座中部的显微镜，所述操作台上表面的中部安装有调节台。本实用新型通过调节台、X轴调节机构、Y轴调节机构、测试台组件、探针支架和探针的设置，X轴调节机构配合Y轴调节机构能够实现对测试台组件平面位置的调节，使得测试物品直接进行位移，不需要操作显微镜即可完成视觉移动，同时测试台组件与测试基座之间可拆卸连接，方便拆卸清理，探针支架对探针进行导向，方便人员直接对探针进行操作，提高探针穿刺的稳定性，进而提高测试实验的准确性。

Description

一种探针显微镜测试设备

技术领域

本实用新型属于显微镜测试设备技术领域，特别是涉及一种探针显微镜测试设备。

背景技术

显微镜是由一个透镜或几个透镜的组合构成的一种光学仪器，是人类进入原子时代的标志，显微镜是主要用于放大微小物体为人的肉眼所能看到的仪器。

在细胞实验过程中需要对细胞进行穿刺测试，在测试时需要通过显微镜进行放大，同时进行穿刺操作，市面上常用的显微镜测试设备在使用时，需要人员一边操作显微镜一边手持探针进行穿刺操作，直接手持探针穿刺容易造成穿刺失败，为此，我们提供一种探针显微镜测试设备。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种探针显微镜测试设备，解决了现有的探针显微镜测试设备，在进行使用时不方便探针稳定穿刺的问题。

本实用新型为一种探针显微镜测试设备，包括操作台，固定连接于操作台上表面四角处的支杆，固定连接于支杆顶部的显微镜底座以及固定连接于显微镜底座中部的显微镜，所述操作台上表面的中部安装有调节台，显微镜处于悬空状态，方便人员进行检测；

还包括安装于调节台上表面的X轴调节机构，固定连接于X轴调节机构移动端的Y轴调节机构以及固定连接于Y轴调节机构移动端的测试基座，所述测试基座上表面的中部卡接有测试台组件，所述测试基座上表面的一侧固定安装有探针支架，所述探针支架的一端固定连接有探针，探针支架方便对探针进行固定，在探针支架导向的作用下，能够提高整体穿刺的稳定性。

进一步地，所述X轴调节机构包括固定连接于调节台上表面一侧的第一电机，固定安装于第一电机的输出端的第一丝杆，螺纹连接于第一丝杆外壁的X轴滑台。

进一步地，所述X轴调节机构还包括固定连接于调节台上表面两侧的第一滑轨和滑动连接于第一滑轨外壁的第一滑块，所述X轴滑台固定连接于第一滑块的顶部，通过第一电机驱动第一丝杆即可驱动X轴滑台运动，实现平面内方向的调节。

进一步地，所述Y轴调节机构包括固定连接于X轴滑台上表面一侧的第二电机，固定连接于第二电机输出端的第二丝杆，螺纹连接于第二丝杆外壁的Y轴滑台。

进一步地，所述Y轴调节机构还包括固定连接于X轴滑台上表面两侧的第二滑轨以及滑动连接于第二滑轨上表面的第二滑块，所述测试基座固定连接于第二滑块的顶部，通过Y轴调节机构实现对测试台组Y轴方向的调节，在不移动显微镜的前提下实现被测物与显微镜的校准。

进一步地，所述测试台组件包括一个基台，所述基台的上表面设置有放置皿，所述基台通过螺栓固定连接于测试基座上表面的中部，从而方便人员拆卸清理。

进一步地，所述测试基座上表面的中部开设有卡槽，所述基台的下表面搭接有与卡槽相适配的卡块，从而提高基台的稳定性。

本实用新型具有以下有益效果：

通过调节台、X轴调节机构、Y轴调节机构、测试台组件、探针支架和探针的设置，X轴调节机构配合Y轴调节机构能够实现对测试台组件平面位置的调节，使得测试物品直接进行位移，不需要操作显微镜即可完成视觉移动，同时测试台组件与测试基座之间可拆卸连接，方便拆卸清理，探针支架对探针进行导向，方便人员直接对探针进行操作，提高探针穿刺的稳定性，进而提高测试实验的准确性。

当然，实施本实用新型的任一产品并不一定需要同时达到以上所述的所有优点。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型的实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍。显而易见地，下面描述中的附图仅仅是示例性的，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图引申获得其他的实施附图。

图1为本实用新型的立体结构示意图；

图2为本实用新型的主视结构示意图；

图3为本实用新型图1中A处放大图；

图4为本实用新型的测试基座与测试台组件装配结构示意图。

附图中，各标号所代表的部件列表如下：

1、操作台；2、支杆；3、显微镜底座；4、显微镜；5、调节台；6、X轴调节机构；601、第一电机；602、第一丝杆；603、X轴滑台；604、第一滑轨；605、第一滑块；7、Y轴调节机构；701、第二电机；702、第二丝杆；703、Y轴滑台；704、第二滑轨；705、第二滑块；8、测试基座；9、测试台组件；901、基台；902、放置皿；10、探针支架；11、探针。

具体实施方式

这里将详细地对示例性实施例进行说明，其示例表示在附图中。下面的描述涉及附图时，除非另有表示，不同附图中的相同数字表示相同或相似的要素。以下示例性实施例中所描述的实施方式并不代表与本公开相一致的所有实施方式。相反，它们仅是与如所附权利要求书中所详述的、本公开的一些方面相一致的装置的例子。

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

请参阅图1、图2、图3和图4，本实用新型为一种探针显微镜测试设备，包括操作台1，固定连接于操作台1上表面四角处的支杆2，固定连接于支杆2顶部的显微镜底座3以及固定连接于显微镜底座3中部的显微镜4，操作台1上表面的中部安装有调节台5，显微镜4处于悬空状态，方便人员进行检测；

还包括安装于调节台5上表面的X轴调节机构6，固定连接于X轴调节机构6移动端的Y轴调节机构7以及固定连接于Y轴调节机构7移动端的测试基座8，测试基座8上表面的中部卡接有测试台组件9，测试基座8上表面的一侧固定安装有探针支架10，探针支架10的一端固定连接有探针11，探针支架10方便对探针11进行固定，在探针支架10导向的作用下，能够提高整体穿刺的稳定性。

如图1、图2、图3和图4所示，X轴调节机构6包括固定连接于调节台5上表面一侧的第一电机601，固定安装于第一电机601的输出端的第一丝杆602，螺纹连接于第一丝杆602外壁的X轴滑台603。

X轴调节机构6还包括固定连接于调节台5上表面两侧的第一滑轨604和滑动连接于第一滑轨604外壁的第一滑块605，X轴滑台603固定连接于第一滑块605的顶部，通过第一电机601驱动第一丝杆602即可驱动X轴滑台603运动，实现平面内方向的调节。

如图1、图2、图3和图4所示，Y轴调节机构7包括固定连接于X轴滑台603上表面一侧的第二电机701，固定连接于第二电机701输出端的第二丝杆702，螺纹连接于第二丝杆702外壁的Y轴滑台703。

Y轴调节机构7还包括固定连接于X轴滑台603上表面两侧的第二滑轨704以及滑动连接于第二滑轨704上表面的第二滑块705，测试基座8固定连接于第二滑块705的顶部，通过Y轴调节机构7实现对测试台组件9Y轴方向的调节，在不移动显微镜4的前提下实现被测物与显微镜4的校准。

如图1、图2、图3和图4所示，测试台组件9包括一个基台901，基台901的上表面设置有放置皿902，基台901通过螺栓固定连接于测试基座8上表面的中部，从而方便人员拆卸清理。

测试基座8上表面的中部开设有卡槽，基台901的下表面搭接有与卡槽相适配的卡块，从而提高基台901的稳定性。

具体的，本探针显微镜测试设备在工作时/使用时：首先将需要测试的物体放置在放置皿902内，需要对显微镜4和放置皿902内的物体进行校准时，启动第一电机601，第一电机601驱动第一丝杆602即可驱动X轴滑台603，使得X轴滑台603在第一丝杆602的表面水平滑动，即可完成X轴方向的调节，启动第二电机701，第二电机701驱动第二丝杆702进而驱动Y轴滑台703在第二丝杆702的表面水平滑动，实现Y轴方向的调节，通过X轴Y轴的调节使得放置皿902内的测试物体与显微镜4对应，即可通过显微镜4进行观察，穿刺时，将探针11穿入探针支架10内即可进行穿刺，探针支架10在探针11穿刺时，使得探针11处于同一直线，进而保证穿刺的准确度，需要对放置皿902进行清理时，可通过螺栓将基台901拆卸，通过螺栓固定能够提高基台901的稳定性。

尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。

本领域技术人员在考虑说明书及实践这里公开的公开后，将容易想到本公开的其它实施方案。本申请旨在涵盖本公开的任何变型、用途或者适应性变化，这些变型、用途或者适应性变化遵循本公开的一般性原理并包括本公开未公开的本技术领域中的公知常识或惯用技术手段。说明书和实施例仅被视为示例性的，本公开的真正范围由下面的权利要求指出。

Claims (7)

1.一种探针显微镜测试设备，其特征在于：包括操作台（1），固定连接于操作台（1）上表面四角处的支杆（2），固定连接于支杆（2）顶部的显微镜底座（3）以及固定连接于显微镜底座（3）中部的显微镜（4），所述操作台（1）上表面的中部安装有调节台（5）；

还包括安装于调节台（5）上表面的X轴调节机构（6），固定连接于X轴调节机构（6）移动端的Y轴调节机构（7）以及固定连接于Y轴调节机构（7）移动端的测试基座（8），所述测试基座（8）上表面的中部卡接有测试台组件（9），所述测试基座（8）上表面的一侧固定安装有探针支架（10），所述探针支架（10）的一端固定连接有探针（11）。

2.根据权利要求1所述的一种探针显微镜测试设备，其特征在于，所述X轴调节机构（6）包括固定连接于调节台（5）上表面一侧的第一电机（601），固定安装于第一电机（601）的输出端的第一丝杆（602），螺纹连接于第一丝杆（602）外壁的X轴滑台（603）。

3.根据权利要求2所述的一种探针显微镜测试设备，其特征在于，所述X轴调节机构（6）还包括固定连接于调节台（5）上表面两侧的第一滑轨（604）和滑动连接于第一滑轨（604）外壁的第一滑块（605），所述X轴滑台（603）固定连接于第一滑块（605）的顶部。

4.根据权利要求3所述的一种探针显微镜测试设备，其特征在于，所述Y轴调节机构（7）包括固定连接于X轴滑台（603）上表面一侧的第二电机（701），固定连接于第二电机（701）输出端的第二丝杆（702），螺纹连接于第二丝杆（702）外壁的Y轴滑台（703）。

5.根据权利要求4所述的一种探针显微镜测试设备，其特征在于，所述Y轴调节机构（7）还包括固定连接于X轴滑台（603）上表面两侧的第二滑轨（704）以及滑动连接于第二滑轨（704）上表面的第二滑块（705），所述测试基座（8）固定连接于第二滑块（705）的顶部。

6.根据权利要求1所述的一种探针显微镜测试设备，其特征在于，所述测试台组件（9）包括一个基台（901），所述基台（901）的上表面设置有放置皿（902），所述基台（901）通过螺栓固定连接于测试基座（8）上表面的中部。

7.根据权利要求6所述的一种探针显微镜测试设备，其特征在于，所述测试基座（8）上表面的中部开设有卡槽，所述基台（901）的下表面搭接有与卡槽相适配的卡块。

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