CN218629889U - 一种电子元器件压接测试对位装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及电子元器件检测技术领域，且公开了一种电子元器件压接测试对位装置，包括固定装置，所述固定装置包括探针模组，所述探针模组的下端设有凹槽，所述探针模组位于凹槽的内侧壁固定连接有四个电动伸缩杆，所述电动伸缩杆的另一端固定连接有支撑板，所述支撑板的另一端滑动连接有固定块，所述固定块与支撑板之间设有弹簧，所述探针模组的内部设有伸缩气缸，所述伸缩气缸的输出端固定连接有压板。该电子元器件压接测试对位装置，通过电动伸缩杆带动支撑板收缩，对电子元器件的四个面进行夹紧限位，伸缩气缸带动压板下移，调整对电子元器件卡槽的高度，达到对多种不同大小的电子元器件进行限位的效果。

Description

一种电子元器件压接测试对位装置

技术领域

本实用新型涉及电子元器件检测技术领域，具体为一种电子元器件压接测试对位装置。

背景技术

根据中国专利公开号CN212321688U公开的一种电子元器件压接测试对位装置，提出了对位成功率不高，导致检测率低的问题，通过在设置有矫正调节杆与固定块，使探针模组与待检测元器件上的连接器自动对位，达到提高对位精准度的效果，但是，在实际应用中，可能会需要对多组不同大小的元器件进行检测，而上述装置不能满足这一需求。

为此，我们提出了一种电子元器件压接测试对位装置，来实现便于不同大小的元器件进行精准对位的效果。

实用新型内容

（一）解决的技术问题

针对现有技术的不足，本实用新型提供了一种电子元器件压接测试对位装置，具备适配不同大小的元器件进行精准对位检测的优点，解决了上述背景技术中提到的不能对不同大小的元器件进行检测的问题。

（二）技术方案

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种电子元器件压接测试对位装置，包括固定装置，所述固定装置的上端设有调节装置；

通过设置有固定装置，根据电子元件的大小调整合适的卡槽，便于适配多种不同大小的电子元件，通过调节装置，便于根据电子元件的位置，进行调节，使装置在合适的位置下压。

所述固定装置包括探针模组，所述探针模组的下端设有凹槽，所述探针模组位于凹槽的内侧壁固定连接有四个对称分布的电动伸缩杆，所述电动伸缩杆的另一端固定连接有支撑板，所述支撑板的另一端滑动连接有固定块，所述固定块与支撑板之间设有弹簧，所述探针模组的内部设有伸缩气缸，所述伸缩气缸的输出端固定连接有压板，所述压板的下端中部设有激光灯；

探针模组起到支撑限位的作用，电动伸缩杆用于带动支撑板进行水平方向的移动，设置有四个支撑板，便于对电子元器件的四个面进行加紧限位，固定块用于与电子元器件的四面接触，弹簧便于矫正固定块，更好的对电子元器件连接限位，伸缩气缸带动压板下移，调整对电子元器件卡槽的高度，激光灯对准电子元器件的中部，用于确定探针模组的位置，达到对多种不同大小的电子元器件进行限位的效果。

所述调节装置包括底座，所述底座的下端转动连接有滑轨，所述滑轨的下端滑动连接有滑块，所述滑块的下端转动连接有限位板，所述底座的前端滑动连接有滑杆，所述滑杆的另一端固定连接有支架，所述支架的下端固定连接有平衡板。

底座的上端与压紧机构固定连接，滑轨与底座转动连接，方便通过滑块调整探针模组的位置，移动至电子元器件的上方，滑杆与支架用于带动平衡板前后移动，通过平衡板和限位板使下压部位角度不发生偏移，达到根据电子元器件的位置进行调整的效果。

优选的，所述压板靠近中部的位置活动连接有移动杆，所述移动杆的前端固定连接有刻度尺，所述探针模组的下端设有与移动杆相适配的插孔。

通过移动杆与压板滑动连接，便于通过移动杆上的刻度尺调整压板的高度，使压板与被测元器件的高度适配，在下压的过程中，电子元器件与移动杆接触，使移动杆上移，不会对电子元器件造成损伤。

优选的，所述弹簧位于支撑板与固定块的内部，所述固定块的下端远离支撑板的一侧设有倒角。

固定块下侧的倒角有利于对电子元器件更好的限位，避免直接压下造成的损伤。

优选的，所述限位板与探针模组的上端固定连接，所述限位板为方形结构。

限位板设置为方形结构，便于与平衡板相贴，调整装置的角度。

优选的，所述滑杆贯穿底座并延伸至底座的内部。

优选的，所述支架为L形一体式结构，所述支架的下端与限位板的底端等高。

优选的，所述伸缩气缸的下端与探针模组固定连接，所述伸缩气缸的轴杆贯穿探针模组并延伸至探针模组的下端。

与现有技术相比，本实用新型提供了一种电子元器件压接测试对位装置，具备以下有益效果：

1、该电子元器件压接测试对位装置，通过设置有探针模组起到支撑限位的作用，电动伸缩杆用于带动支撑板进行水平方向的移动，设置有四个支撑板，便于对电子元器件的四个面进行加紧限位，固定块用于与电子元器件的四面接触，弹簧便于矫正固定块，更好的对电子元器件连接限位，伸缩气缸带动压板下移，调整对电子元器件卡槽的高度，激光灯对准电子元器件的中部，用于确定探针模组的位置，达到对多种不同大小的电子元器件进行限位的效果。

2、该电子元器件压接测试对位装置，通过设置有底座的上端与压紧机构固定连接，滑轨与底座转动连接，方便通过滑块调整探针模组的位置，移动至电子元器件的上方，滑杆与支架用于带动平衡板前后移动，通过平衡板和限位板使下压部位角度不发生偏移，达到根据电子元器件的位置进行调整的效果。

附图说明

图1为本实用新型结构立体示意图；

图2为本实用新型结构探针模组剖视示意图；

图3为本实用新型结构底座俯视剖视示意图；

图4为本实用新型结构固定装置剖视示意图。

其中：1、固定装置；101、探针模组；102、电动伸缩杆；103、支撑板；105、固定块；106、弹簧；107、伸缩气缸；108、压板；109、激光灯；110、移动杆；111、刻度尺；2、调节装置；201、底座；202、滑轨；203、滑块；204、限位板；205、滑杆；206、支架；207、平衡板。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

请参阅图1-4，一种电子元器件压接测试对位装置，包括固定装置1，固定装置1的上端设有调节装置2；

通过上述技术方案，通过设置有固定装置1，根据电子元件的大小调整合适的卡槽，便于适配多种不同大小的电子元件，通过调节装置2，便于根据电子元件的位置，进行调节，使装置在合适的位置下压。

固定装置1包括探针模组101，探针模组101的下端设有凹槽，探针模组101位于凹槽的内侧壁固定连接有四个对称分布的电动伸缩杆102，电动伸缩杆102的另一端固定连接有支撑板103，支撑板103的另一端滑动连接有固定块105，固定块105与支撑板103之间设有弹簧106，探针模组101的内部设有伸缩气缸107，伸缩气缸107的输出端固定连接有压板108，压板108的下端中部设有激光灯109；

通过上述技术方案，探针模组101起到支撑限位的作用，电动伸缩杆102用于带动支撑板103进行水平方向的移动，设置有四个支撑板103，便于对电子元器件的四个面进行加紧限位，固定块105用于与电子元器件的四面接触，弹簧106便于矫正固定块105，更好的对电子元器件连接限位，伸缩气缸107带动压板108下移，调整对电子元器件卡槽的高度，激光灯109对准电子元器件的中部，用于确定探针模组101的位置，达到对多种不同大小的电子元器件进行限位的效果。

调节装置2包括底座201，底座201的下端转动连接有滑轨202，滑轨202的下端滑动连接有滑块203，滑块203的下端转动连接有限位板204，底座201的前端滑动连接有滑杆205，滑杆205的另一端固定连接有支架206，支架206的下端固定连接有平衡板207。

底座201的上端与压紧机构固定连接，滑轨202与底座201转动连接，方便通过滑块203调整探针模组101的位置，移动至电子元器件的上方，滑杆205与支架206用于带动平衡板207前后移动，通过平衡板207和限位板204使下压部位角度不发生偏移，达到根据电子元器件的位置进行调整的效果。

压板108靠近中部的位置活动连接有移动杆110，移动杆110的前端固定连接有刻度尺111，探针模组101的下端设有与移动杆110相适配的插孔。

通过移动杆110与压板108滑动连接，便于通过移动杆110上的刻度尺111调整压板108的高度，使压板108与被测元器件的高度适配，在下压的过程中，电子元器件与移动杆110接触，使移动杆110上移，不会对电子元器件造成损伤。

弹簧106位于支撑板103与固定块105的内部，固定块105的下端远离支撑板103的一侧设有倒角。固定块105下侧的倒角有利于对电子元器件更好的限位，避免直接压下造成的损伤。

限位板204与探针模组101的上端固定连接，限位板204为方形结构。限位板204设置为方形结构，便于与平衡板207相贴，调整装置的角度。

滑杆205贯穿底座201并延伸至底座201的内部。支架206为L形一体式结构，支架206的下端与限位板204的底端等高。伸缩气缸107的下端与探针模组101固定连接，伸缩气缸107的轴杆贯穿探针模组101并延伸至探针模组101的下端。

在使用时，根据电子元器件的大小，启动伸缩气缸107，使压板108下移，通过观察刻度尺111，使压板108调整到合适的高度，启动电动伸缩杆102，推动支撑板103向中心移动，调整合适的大小，使得四个固定块105所围成的面积略小于电子元器件的面积，打开激光灯109，通过移动滑块203和转动滑轨202，使得激光灯109对准电子元器件的中心，推动滑杆205，使平衡板207与限位板204的前端面贴合，调整探针模组101的角度，通过下压机构使整体下压，移动杆110被电子元器件顶起，向上移动，上端进入探针模组101内部，固定块105与电子元器件接触，通过倒角，使固定块105略微向外侧移动，挤压弹簧106，形成对电子元器件外围的固定，直至探针模组101的下端与电路板接触，完成对位压接。

尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。

Claims (7)

1.一种电子元器件压接测试对位装置，包括固定装置（1），其特征在于：所述固定装置（1）的上端设有调节装置（2）；

所述固定装置（1）包括探针模组（101），所述探针模组（101）的下端设有凹槽，所述探针模组（101）位于凹槽的内侧壁固定连接有四个对称分布的电动伸缩杆（102），所述电动伸缩杆（102）的另一端固定连接有支撑板（103），所述支撑板（103）的另一端滑动连接有固定块（105），所述固定块（105）与支撑板（103）之间设有弹簧（106），所述探针模组（101）的内部设有伸缩气缸（107），所述伸缩气缸（107）的输出端固定连接有压板（108），所述压板（108）的下端中部设有激光灯（109）；

所述调节装置（2）包括底座（201），所述底座（201）的下端转动连接有滑轨（202），所述滑轨（202）的下端滑动连接有滑块（203），所述滑块（203）的下端转动连接有限位板（204），所述底座（201）的前端滑动连接有滑杆（205），所述滑杆（205）的另一端固定连接有支架（206），所述支架（206）的下端固定连接有平衡板（207）。

2.根据权利要求1所述的一种电子元器件压接测试对位装置，其特征在于：所述压板（108）靠近中部的位置活动连接有移动杆（110），所述移动杆（110）的前端固定连接有刻度尺（111），所述探针模组（101）的下端设有与移动杆（110）相适配的插孔。

3.根据权利要求1所述的一种电子元器件压接测试对位装置，其特征在于：所述弹簧（106）位于支撑板（103）与固定块（105）的内部，所述固定块（105）的下端远离支撑板（103）的一侧设有倒角。

4.根据权利要求1所述的一种电子元器件压接测试对位装置，其特征在于：所述限位板（204）与探针模组（101）的上端固定连接，所述限位板（204）为方形结构。

5.根据权利要求1所述的一种电子元器件压接测试对位装置，其特征在于：所述滑杆（205）贯穿底座（201）并延伸至底座（201）的内部。

6.根据权利要求1所述的一种电子元器件压接测试对位装置，其特征在于：所述支架（206）为L形一体式结构，所述支架（206）的下端与限位板（204）的底端等高。

7.根据权利要求1所述的一种电子元器件压接测试对位装置，其特征在于：所述伸缩气缸（107）的下端与探针模组（101）固定连接，所述伸缩气缸（107）的轴杆贯穿探针模组（101）并延伸至探针模组（101）的下端。

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