CN218545930U - 加热测温电路以及烹饪装置 - Google Patents
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Abstract
本申请公开了加热测温电路以及烹饪装置,该加热测温电路包括:加热单元,用于在通电时产生交变磁场,使烹饪器具产生电涡流;测温单元,用于感应电涡流产生电信号;比较单元,比较单元的第一输入端连接加热单元的第一端,比较单元的第二输入端连接加热单元的第二端,比较单元用于输出加热单元的谐振周期;控制单元,连接比较单元的输出端,以及连接加热单元和测温单元,用于接收电信号和谐振周期。通过上述方式,能够采集加热单元的谐振周期。
Description
技术领域
本申请涉及温度检测技术领域,特别是涉及加热测温电路以及烹饪装置。
背景技术
一般,在对烹饪器具进行加热时,需要对烹饪器具的温度进行检测和控制,以烹饪装置为例,为了实现对烹饪装置的良好控制,使烹饪装置对烹饪器具进行加热,需要测量烹饪器具的温度。
相关技术中,在烹饪器具发生偏移时,会导致温度检测不准确。
实用新型内容
本申请提供了加热测温电路以及烹饪装置,能够采集加热单元的谐振周期。
本申请采用的一个技术方案是:提供一种加热测温电路,该加热测温电路包括:加热单元,用于在通电时产生交变磁场,使烹饪器具产生电涡流;测温单元,用于感应电涡流产生电信号;比较单元,比较单元的第一输入端连接加热单元的第一端,比较单元的第二输入端连接加热单元的第二端,比较单元用于输出加热单元的谐振周期;控制单元,连接比较单元的输出端,以及连接加热单元和测温单元,用于接收电信号和谐振周期。
其中,比较单元包括:第一分压电路,第一分压电路的输入端连接加热单元的第一端,第一分压电路的第一输出端接地;第一钳位电路,第一钳位电路连接第一分压电路的第二输出端;第二分压电路,第二分压电路的输入端连接加热单元的第二端,第二分压电路的第一输出端接地;第二钳位电路,第二钳位电路连接第二分压电路的第二输出端;比较器,比较器的第一输入端连接第一钳位电路,比较器的第二输入端连接第二钳位电路,比较器的输出端连接控制单元。
其中,第一分压电路包括:第一电阻,第一电阻的第一端连接加热单元的第一端;第二电阻,第二电阻的第一端连接第一电阻的第二端;第二电阻的第二端接地;第三电阻,第三电阻的第一端连接第一电阻的第二端;第三电阻连接第一钳位电路。
其中,第二分压电路包括:第四电阻,第四电阻的第一端连接加热单元的第二端;第五电阻,第五电阻的第一端连接第四电阻的第二端;第五电阻的第二端接地;第六电阻,第六电阻的第一端连接第四电阻的第二端;第六电阻连接第二钳位电路。
其中,第一钳位电路包括第一二极管,第一二极管的正极连接第一分压电路的第二输出端,第一二极管的负极连接工作电压;第二钳位电路包括第二二极管,第二二极管的正极连接第二分压电路的第二输出端,第二二极管的负极连接工作电压。
其中,加热测温电路还包括:上拉电路,上拉电路连接比较器的输出端。
其中,第二分压电路的第二输出端连接控制单元。
其中,加热单元包括:谐振单元;开关单元,开关单元连接于谐振单元的输入端或输出端通路上,开关单元响应于控制信号开启或关闭,以使谐振单元在通电时产生交变磁场。
其中,测温单元包括:第一线圈,对应加热单元中的加热线圈设置;第二线圈,套设于加热线圈的连接线上,第二线圈的第一端连接第一线圈的第一端,第二线圈的第一端和第一线圈的第一端为同名端;第二线圈的第二端以及第一线圈的第二端连接控制单元;第三线圈,套设于加热线圈的连接线上,连接控制单元。
本申请采用的另一个技术方案是:提供一种烹饪装置,该烹饪装置包括如上述技术方案提供的加热测温电路。
本申请提供的加热测温电路,该加热测温电路利用比较单元确定出加热单元的谐振周期,使得控制单元可以利用谐振周期解决烹饪器具偏移造成的温度偏差大的问题,进而提升对烹饪器具进行温度测量的准确性。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案,下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。其中:
图1是本申请提供的加热测温电路一实施例的结构示意图;
图2是本申请提供的加热测温电路另一实施例的结构示意图;
图3是本申请提供的加热测温电路另一实施例的结构示意图;
图4是本申请提供的加热线圈、第一线圈、烹饪器具一实施例的结构示意图;
图5是本申请提供的加热测温电路另一实施例的结构示意图;
图6是本申请提供的加热测温电路另一实施例的结构示意图;
图7是本申请提供的烹饪装置一实施例的结构示意图;
图8是本申请提供的烹饪装置另一实施例的结构示意图;
图9是本申请提供的烹饪装置另一实施例的结构示意图;
图10是本申请提供的烹饪器具放置于中心位置时的VB信号、PWM (Pulse widthmodulation,脉冲宽度调制)信号以及pulse信号的关系示意图;
图11是本申请提供的烹饪器具偏移中心位置放置时的VB信号以及 PWM信号的关系示意图;
图12是本申请提供的谐振周期与偏移距离的关系示意图;
图13是本申请提供的VB峰值电压与偏移距离的关系示意图。
具体实施方式
下面将结合本申请实施例中的附图,对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。可以理解的是,此处所描述的具体实施例仅用于解释本申请,而非对本申请的限定。另外还需要说明的是,为了便于描述,附图中仅示出了与本申请相关的部分而非全部结构。基于本申请中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本申请保护的范围。
本申请中的术语“第一”、“第二”等是用于区别不同对象,而不是用于描述特定顺序。此外,术语“包括”和“具有”以及它们任何变形,意图在于覆盖不排他的包含。例如包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备没有限定于已列出的步骤或单元,而是可选地还包括没有列出的步骤或单元,或可选地还包括对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。
在本文中提及“实施例”意味着,结合实施例描述的特定特征、结构或特性可以包含在本申请的至少一个实施例中。在说明书中的各个位置出现该短语并不一定均是指相同的实施例,也不是与其它实施例互斥的独立的或备选的实施例。本领域技术人员显式地和隐式地理解的是,本文所描述的实施例可以与其它实施例相结合。
参阅图1,图1是本申请提供的加热测温电路一实施例的结构示意图。该加热测温电路包括:加热单元10、测温单元20、比较单元30和控制单元40。
其中,加热单元10用于在通电时产生交变磁场,使烹饪器具产生电涡流。
测温单元20用于感应电涡流产生电信号。
比较单元30的第一输入端连接加热单元10的第一端,比较单元30 的第二输入端连接加热单元10的第二端,比较单元30用于输出加热单元10的谐振周期。其中,比较单元30的第一输入端可以是反相输入端,比较单元30的第二输入端可以是同相输入端。
控制单元40连接比较单元30的输出端,以及连接加热单元10和测温单元20,用于接收电信号和谐振周期。
在一应用场景中,加热测温电路设置于烹饪装置中。加热单元10 设置于烹饪装置的面板下方,面板上方用于放置烹饪器具。烹饪器具用于容置食材。
其中,烹饪器具为包含金属的器具,能够在加热单元10通电时,与其产生的交变磁场耦合,产生电涡流,进而产生热量,进而对烹饪器具中的食材进行加热。
在加热过程中,可以利用测温单元20进行温度测量,同时利用比较单元30测量出加热单元10在加热过程中的谐振周期。如,在电压零点附近,利用激励电源VSS参与工作,利用测温单元20进行温度测量。其中,激励电源VSS的电压值可以小于50V。
发明人在长期研究发现,因测温单元20、加热单元10在制作后,位置相对固定,而烹饪器具在面板上是可以随意放置的。由此,烹饪器具在面板上的位置将会影响到测温单元20测量温度的准确性,以及影响加热单元10的谐振周期。
由此,本实施例利用比较单元30确定输出加热单元10的谐振周期,进一步可以使控制单元40利用谐振周期对测温单元20测量出的温度进行补偿,提高测量出的烹饪器具的温度的准确性。
在一些实施例中,参阅图2,该加热测温电路包括:加热单元10、测温单元20、比较单元30和控制单元40。
比较单元30包括:第一分压电路31、第一钳位电路32、第二分压电路33、第二钳位电路34和比较器35。在一些实施例中,第一分压电路31可以由多个电阻串联组成。
其中,第一分压电路31的输入端连接加热单元10的第一端,第一分压电路31的第一输出端接地。
第一钳位电路32连接第一分压电路31的第二输出端。其中,加热单元10的第一端用于接收工作电压,由此,第一分压电路31也可以接收到工作电压。其中,第一钳位电路32用于将脉冲信号的某一部分固定在指定电压值上,并保持原波形形状不变。
第二分压电路33的输入端连接加热单元10的第二端,第二分压电路33的第一输出端接地。
第二钳位电路34连接第二分压电路33的第二输出端。
比较器35的第一输入端连接第一钳位电路32,比较器35的第二输入端连接第二钳位电路34,比较器35的输出端连接控制单元40。
此时,比较器35可以根据第一分压电路31和第二分压电路33的输入,确定出加热单元10的谐振周期。
参阅图3,图3是本申请提供的加热测温电路另一实施例的结构示意图。该加热测温电路包括:加热单元10、测温单元20、比较单元30 和控制单元40。比较单元30包括:第一分压电路31、第一钳位电路32、第二分压电路33、第二钳位电路34和比较器35。另外,加热测温电路还包括扼流线圈L1、二极管D3和电容C1。
其中,第一分压电路31包括:第一电阻R1、第二电阻R2和第三电阻R3。第二分压电路33包括:第四电阻R4、第五电阻R5和第六电阻R6。第一钳位电路32包括第一二极管D1。第二钳位电路34包括第二二极管D2。
第一电阻R1的第一端连接加热单元10的第一端;第二电阻R2的第一端连接第一电阻R1的第二端;第二电阻R2的第二端接地;第三电阻R3的第一端连接第一电阻R1的第二端;第三电阻R3连接第一钳位电路32。其中,加热单元10包括加热线圈LX1、电容C2以及开关单元IGBT(Insulated Gate Bipolar Transistor,绝缘栅双极型晶体管)。
第四电阻R4的第一端连接加热单元10的第二端;第五电阻R5的第一端连接第四电阻R4的第二端;第五电阻R5的第二端接地;第六电阻R6的第一端连接第四电阻R4的第二端;第六电阻R6连接第二钳位电路34。
其中,第一钳位电路32包括第一二极管D1,第一二极管D1的正极连接第一分压电路31的第二输出端,具体地,第一二极管D1的正极连接第三电阻R3的第二端,第一二极管D1的负极连接工作电压VDD;第二钳位电路34包括第二二极管D2,第二二极管D2的正极连接第二分压电路33的第二输出端,具体地,第二二极管D2的正极连接第六电阻R6的第二端,第二二极管D2的负极连接工作电压VDD。
本实施例利用比较单元30确定输出加热单元10的谐振周期,进一步可以使控制单元40利用谐振周期对测温单元20测量出的温度进行补偿,提高测量出的温度的准确性。
进一步,参阅图3,加热单元10包括:谐振单元和开关单元IGBT,开关单元IGBT连接于谐振单元的输入端或输出端通路上,开关单元 IGBT响应于控制信号开启或关闭,以使谐振单元在通电时产生交变磁场。
其中,谐振单元包括加热线圈LX1和电容C2。电容C2的第一端连接加热线圈LX1的第一端,电容C2的第二端连接加热线圈LX1的第二端。电容C2和加热线圈LX1形成谐振单元。
开关单元IGBT连接加热线圈LX1的第二端,以及开关单元IGBT50 的控制端连接控制电路。开关单元IGBT响应于控制信号开启或关闭。其中,开关单元IGBT还可以是三极管或MOS管。其中,在开关单元 IGBT为三极管时,三极管的集电极连接加热线圈LX1的第二端、三极管的发射极接地和三极管的基极用于接收控制信号。
其中,测温单元20包括:第一线圈Ls1,对应加热单元10中的加热线圈LX1设置;第二线圈Ls2套设于加热线圈LX1的连接线上,第二线圈Ls2的第一端连接第一线圈Ls1的第一端,第二线圈Ls2的第一端和第一线圈Ls1的第一端为同名端;第二线圈Ls2的第二端以及第一线圈Ls1的第二端连接控制单元40;第三线圈L3,套设于加热线圈LX1 的连接线上,连接控制单元40。
可以理解,载流线圈之间通过彼此的磁场相互联系的物理现象称为磁耦合。根据两个线圈的绕向、磁感电流的参考方向和两线圈的相对位置,按右螺旋法则确定磁感电流产生的磁通方向和彼此交链的情况。若第一线圈Ls1和第二线圈Ls2方向一致,则两线圈绕线的起始端互为同名端,两线圈绕线的终止端也互为同名端。
其中,第一线圈Ls1对应加热线圈LX1设置。如,第一线圈Ls1设置于加热线圈LX1的电磁耦合范围内。在一些实施例中,如图4所示,加热线圈LX1设置为线圈盘,第一线圈Ls1对应线圈盘的中心设置。其中,第一线圈Ls1和加热线圈LX1同轴设置。在其他实施例中,第一线圈Ls1可以同轴设置于加热线圈LX1的一侧,如,设置于加热线圈LX1 靠近烹饪器具一侧,或设置于加热线圈LX1远离烹饪器具一侧。
第二线圈Ls2套设于加热线圈LX1的连接线上,第三线圈L3套设于加热线圈LX1的连接线上。可以理解,线圈除了呈圈状的区域,还包括连接线,圈状区域用于在通电时产生交变磁场,连接线则负责连接电源,以接入电信号。
由此,第一线圈Ls1和第二线圈Ls2可以构成差分线圈组。在测温过程中,第一线圈Ls1可以与加热线圈LX1和烹饪器具分别互感。第二线圈Ls2可以与激励线圈互感。
在一些实施例中,线圈与线圈之间电磁感应现象的强弱程度不仅与它们之间的互感系数有关,还与它们各自的自感系数有关,并且取决于两线圈之间磁链耦合的松紧程度。如,把表征两线圈之间磁链耦合的松紧程度用耦合系数"k"来表示,通常一个线圈产生的磁通不能全部穿过另一个线圈,所以一般情况下耦合系数k<1,若漏磁通很小且可忽略不计时,k=1。另外,两线圈间的互感系数M是线圈的固有参数,它取决于两线圈的匝数、几何尺寸、相对位置及磁介质。M的值反映了一个线圈在另一个线圈中产生磁通的能力。
然后根据谐振周期获得烹饪器具400的偏移量,基于偏移量获取温度补偿系数。如基于偏移量进行查表,确定温度补偿系数。
其中,上述过程中涉及的查表操作中的表为预先根据烹饪器具的偏移量和温度补偿系数对应存储的。由此,在实际测温过程中确定烹饪器具的偏移量后,可以根据查表,快速确定出温度补偿系数。
利用温度补偿系数对温度值进行补偿,得到最终的温度值。
参阅图5,图5是本申请提供的加热测温电路另一实施例的结构示意图。该加热测温电路包括:加热单元10、测温单元20、比较单元30、控制单元40和上拉电路50。
其中,加热单元10用于在通电时产生交变磁场,使烹饪器具产生电涡流。
测温单元20用于感应电涡流产生电信号。
比较单元30的第一输入端连接加热单元10的第一端,比较单元30 的第二输入端连接加热单元10的第二端,比较单元30用于输出加热单元10的谐振周期。其中,比较单元30的第一输入端可以是反相输入端,比较单元30的第二输入端可以是同相输入端。
控制单元40连接比较单元30的输出端,以及连接加热单元10和测温单元20,用于接收电信号和谐振周期。
上拉电路50连接比较器35的输出端,用于将比较器35的输出端的脉冲信号钳位在高电平,且起到限流作用。
其中,加热单元10、测温单元20、比较单元30、控制单元40可以与上述任一实施例中的加热单元10、测温单元20、比较单元30、控制单元40相同或相似,这里不做赘述。
本实施例利用比较单元30确定输出加热单元10的谐振周期,进一步可以使控制单元40利用谐振周期对测温单元20测量出的温度进行补偿,提高测量出的温度的准确性。
参阅图6,图6是本申请提供的加热测温电路另一实施例的结构示意图。该加热测温电路包括:加热单元10、测温单元20、比较单元30 和控制单元40。
其中,比较单元30包括:第一分压电路31、第一钳位电路32、第二分压电路33、第二钳位电路34和比较器35。
其中,第一分压电路31的输入端连接加热单元10的第一端,第一分压电路31的第一输出端接地。
第一钳位电路32连接第一分压电路31的第二输出端。
第二分压电路33的输入端连接加热单元10的第二端,第二分压电路33的第一输出端接地。
第二钳位电路34连接第二分压电路33的第二输出端。
比较器35的第一输入端连接第一钳位电路32,比较器35的第二输入端连接第二钳位电路34,比较器35的输出端连接控制单元40。
第二分压电路33的第二输出端连接控制单元40。
此时,控制单元40能够接收到比较器35的输出端输入的脉冲信号,以及第二分压电路33输入的加热单元10的谐振电压。
由此,本实施例利用比较单元30确定输出加热单元10的谐振周期,第二分压电路33输入的加热单元10的谐振电压,进一步可以使控制单元40利用谐振周期和/或谐振电压对测温单元20测量出的温度进行补偿,提高测量出的温度的准确性。
如,利用谐振电压的峰值确定出补偿系数,进而对测温单元20测量出的温度进行补偿。
如,利用谐振周期确定出补偿系数,进而对测温单元20测量出的温度进行补偿。
如,利用谐振周期和谐振电压的峰值确定出补偿系数,进而对测温单元20测量出的温度进行补偿。
参阅图7,图7是本申请提供的烹饪装置一实施例的结构示意图。该烹饪装置200包括加热测温电路100。
加热测温电路100如上述任一实施例中的加热测温电路。
在其他实施例中,参阅图8,烹饪装置200包括面板300和加热测温电路100。
其中,面板300包括第一侧面和第二侧面,其中的第一侧面为承载面,用于放置烹饪器具400,加热测温电路100设置于第二侧面。可选地,面板300采用非金属耐热材料制作,如微晶材料。
其中,加热测温电路100中的加热线圈LX1在通电时产生交变磁场,烹饪器具400在该交变磁场的作用下产生电涡流,以实现加热线圈LX1 对烹饪器具400的加热。
在测量烹饪器具400的温度时,对加热线圈LX1提供激励信号,以使加热线圈LX1产生交变磁场,烹饪器具400在交变磁场的作用下产生电涡流,电涡流进一步通过电磁感应使第一线圈、第二线圈感应电涡流产生电信号;以及第三线圈感应电涡流产生电信号;控制单元根据相应的电信号以及加热单元的谐振周期确定烹饪器具400的温度。
参阅图9,图9是本申请提供的烹饪装置另一实施例的结构示意图。该烹饪装置200包括扼流线圈L1、二极管D3、电容C1、第三线圈L3、第一线圈Ls1、第二线圈、加热线圈LX1、电容C2、电阻R1、电阻R2、电阻R3、电阻R4、电阻R5、电阻R6、电阻R7、二极管D1、二极管 D2、比较器CMP1、IGBT、MCU(Microcontroller Unit,微控制单元)。
其中,扼流线圈L1的第一端接入市电,扼流线圈L1的第二端连接二极管D3的负极以及电容C1的第一端。二极管D3的正极接入激励电源VSS。电容C1的第二端接地。
扼流线圈L1的第二端连接二极管D3的负极后,连接加热线圈LX1 的第一端、电容C2的第一端以及电阻R1的第一端。
电阻R1的第二端连接电阻R2的第一端,电阻R2的第二端接地。电阻R1的第二端连接电阻R3的第一端,电阻R3的第二端连接二极管 D1的正极,再连接比较器CMP1的反相输入端,以向比较器CMP1输入信号VA。二极管D1的负极连接工作电压VDD。
加热线圈LX1的第二端与电容C2的第二端相连,并连接IGBT的集电极,IGBT的发射极接地。IGBT的基极连接MCU,以接收控制信号。
电容C2的第二端连接电阻R4的第一端,电阻R4的第二端连接电阻R5的第一端,电阻R5的第二端接地。
电阻R4的第二端连接电阻R6的第一端,电阻R6的第二端连接二极管D2的正极以及MCU的AD_VB引脚。电阻R6的第二端连接二极管D2的正极后连接比较器CMP1的同相输入端。二极管D2的负极连接工作电压VDD。
比较器CMP1的输入端连接电阻R7的第一端,并通过电阻R7的第一端连接MCU的pulse引脚。电阻R7的第二端连接工作电压VDD。
第一线圈Ls1对应加热线圈LX1设置,如设置于加热线圈LX1的正上方或正下方。第二线圈Ls2与第一线圈Ls1同名端相连,且套设于加热线圈LX1的连接线上。第三线圈L3套设于加热线圈LX1的连接线上。
第三线圈L3连接MCU,第二线圈Ls2与第一线圈Ls1连接MCU。
下面介绍下温度补偿原理。
发明人在长期研究发现,因测温单元、加热单元在制作后,位置相对固定,而烹饪器具在面板上是可以随意放置的。由此,烹饪器具在面板上的位置将会影响到测温单元测量温度的准确性,以及影响加热单元的谐振周期。
结合图10-图13进行说明:
在图10展示了烹饪器具在正常状态下(烹饪锅具设置于面板中心位置时)在测量区间时,系统输出的VB信号波形。如图10以周期为 P0,固定PWM脉冲宽度D0驱动IGBT为例。其中,T0为系统谐振周期,比较器CMP1的输出的宽度pulse(脉冲)值为T0。其中VB0为谐振电压峰值。
PWM开始工作时,IGBT的集电极的电压为0;当驱动电压为0V 时,IGBT关断,此时加热线圈LX1的电流不能突变,开始对电容C2 充电,IGBT集电极电压上升。
由于激励电源VSS为固定值,所以T0值比较稳定。
进一步,在烹饪器具发生偏移时,由于锅具偏移,导致系统耦合电感增加,周期变大,VB峰值减小,具体如图11所示,谐振周期变大,即比较器CMP1的输出的宽度pulse值为T1。
基于此,发明人基于偏移距离和对应的谐振周期进行了拟合,得到可如图12所示的关系示意图。如图12所示,随着烹饪器具偏移距离越大,谐振周期由T0逐渐增加至T1,即烹饪器具偏移距离越大,谐振周期值越大。
进一步,发明人基于偏移距离和对应的VB峰值进行了拟合,得到可如图13所示的关系示意图。如图13所示,随着烹饪器具偏移距离越大,VB峰值由VB1_PEAK逐渐减小至VB0_PEAK,即烹饪器具偏移距离越大,VB峰值越小。
其中,MCU可以通过采样AD_VB口获取VB峰值电压。
由此可以知道,烹饪器具偏移中心位置后,谐振系统频率/谐振峰值电压发生变化,将谐振频率/谐振峰值电压作为锅具偏移补偿参数,提高测温精度。
实施方案可以如下:
在测量区间以固定的PWM频率和占空比驱动IGBT;MCU通过 PLUSE口获取谐振周期Tx值;和/或通过VB_AD口采样,获取系统谐振电压峰值(IGBT集电极峰值电压)。
预先获取烹饪器具偏移距离与测量值的关系式,预设温度值在不同偏移距离下的测量补偿值;根据谐振周期TX和/或谐振电压峰值VB0 获取锅具偏移值,对测温系统进行补偿。
如:偏移1cm,Temp_输出值=Temp_测量值*1.1。
在其他实施例中,烹饪装置可以是电磁炉,电磁电饭煲、电磁料理机等。
综上,本申请利用比较器能够采集到加热单元的谐振周期,以及利用控制单元和加热单元相连,能够采集到加热单元的峰值电压,进而可以利用谐振周期和/或峰值电压对烹饪器具的温度进行补偿,提高烹饪器具的测量温度的准确性。
在本申请所提供的几个实施方式中,应该理解到,所揭露的方法以及设备,可以通过其它的方式实现。例如,以上所描述的设备实施方式仅仅是示意性的,例如,所述模块或单元的划分,仅仅为一种逻辑功能划分,实际实现时可以有另外的划分方式,例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统,或一些特征可以忽略,或不执行。
所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的,作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元,即可以位于一个地方,或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施方式方案的目的。
另外,在本申请各个实施方式中的各功能单元可以集成在一个处理单元中,也可以是各个单元单独物理存在,也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现,也可以采用软件功能单元的形式实现。
以上所述仅为本申请的实施方式,并非因此限制本申请的专利范围,凡是根据本申请说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换,或直接或间接运用在其他相关的技术领域,均同理包括在本申请的专利保护范围内。
Claims (10)
1.一种加热测温电路,其特征在于,所述加热测温电路包括:
加热单元,用于在通电时产生交变磁场,使烹饪器具产生电涡流;
测温单元,用于感应电涡流产生电信号;
比较单元,所述比较单元的第一输入端连接所述加热单元的第一端,所述比较单元的第二输入端连接所述加热单元的第二端,所述比较单元用于输出所述加热单元的谐振周期;
控制单元,连接所述比较单元的输出端,以及连接所述加热单元和所述测温单元,用于接收所述电信号和所述谐振周期。
2.根据权利要求1所述的加热测温电路,其特征在于,所述比较单元包括:
第一分压电路,所述第一分压电路的输入端连接所述加热单元的第一端,所述第一分压电路的第一输出端接地;
第一钳位电路,所述第一钳位电路连接所述第一分压电路的第二输出端;
第二分压电路,所述第二分压电路的输入端连接所述加热单元的第二端,所述第二分压电路的第一输出端接地;
第二钳位电路,所述第二钳位电路连接所述第二分压电路的第二输出端;
比较器,所述比较器的第一输入端连接所述第一钳位电路,所述比较器的第二输入端连接所述第二钳位电路,所述比较器的输出端连接所述控制单元。
3.根据权利要求2所述的加热测温电路,其特征在于,
所述第一分压电路包括:
第一电阻,所述第一电阻的第一端连接所述加热单元的第一端;
第二电阻,所述第二电阻的第一端连接所述第一电阻的第二端;所述第二电阻的第二端接地;
第三电阻,所述第三电阻的第一端连接所述第一电阻的第二端;第三电阻连接所述第一钳位电路。
4.根据权利要求2所述的加热测温电路,其特征在于,
所述第二分压电路包括:
第四电阻,所述第四电阻的第一端连接所述加热单元的第二端;
第五电阻,所述第五电阻的第一端连接所述第四电阻的第二端;所述第五电阻的第二端接地;
第六电阻,所述第六电阻的第一端连接所述第四电阻的第二端;第六电阻连接所述第二钳位电路。
5.根据权利要求2所述的加热测温电路,其特征在于,
所述第一钳位电路包括第一二极管,所述第一二极管的正极连接所述第一分压电路的第二输出端,所述第一二极管的负极连接工作电压;
所述第二钳位电路包括第二二极管,所述第二二极管的正极连接所述第二分压电路的第二输出端,所述第二二极管的负极连接工作电压。
6.根据权利要求2所述的加热测温电路,其特征在于,所述加热测温电路还包括:上拉电路,所述上拉电路连接所述比较器的输出端。
7.根据权利要求2所述的加热测温电路,其特征在于,所述第二分压电路的第二输出端连接所述控制单元。
8.根据权利要求1所述的加热测温电路,其特征在于,所述加热单元包括:
谐振单元;
开关单元,所述开关单元连接于所述谐振单元的输入端或输出端通路上,所述开关单元响应于控制信号开启或关闭,以使谐振单元在通电时产生交变磁场。
9.根据权利要求1所述的加热测温电路,其特征在于,所述测温单元包括:
第一线圈,对应所述加热单元中的加热线圈设置;
第二线圈,套设于所述加热线圈的连接线上,所述第二线圈的第一端连接所述第一线圈的第一端,所述第二线圈的第一端和所述第一线圈的第一端为同名端;所述第二线圈的第二端以及所述第一线圈的第二端连接所述控制单元;
第三线圈,套设于所述加热线圈的连接线上,连接所述控制单元。
10.一种烹饪装置,其特征在于,所述烹饪装置包括如权利要求1-9任一项所述的加热测温电路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202222023671.2U CN218545930U (zh) | 2022-08-01 | 2022-08-01 | 加热测温电路以及烹饪装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202222023671.2U CN218545930U (zh) | 2022-08-01 | 2022-08-01 | 加热测温电路以及烹饪装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
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ID=85269154
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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Country Status (1)
Country | Link |
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CN (1) | CN218545930U (zh) |
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