CN218512474U - 一种双头针座测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种双头针座测试装置，包括测试制具盒、设于测试制具盒上的交流供电开关、电源适配器、继电器、主控外围功能板和链接保护电路，交流供电开关、电源适配器、继电器、主控外围功能板和链接保护电路依次相串联，用于对待测试PD功能小卡进行输出电压测试，链接保护电路采用双头针座链接保护电路。本实用新型提供的双头针座测试装置，实现快速更换损坏PI芯片的模块重组设计，具备制作简单、接口端正反插防呆和备品提前准备与确认；采用双头针座与PI芯片重组达到保护主板与维修效率的提升。

Description

一种双头针座测试装置

技术领域

本实用新型涉及充电器测试技术领域，尤其公开了一种双头针座测试装置。

背景技术

现市面上type-c的PD(PowerDelivery，电源传输管理)充电器普遍使用反激式拓扑电路进行设计，有效地提升了电源效率。充电器主控芯片大都采用PI公司生产SCXXX系列芯片，此系列主控芯片无需外围元件即可提供精确的恒压、恒流和恒功率，并轻松与外接快充协议接口IC协同工作，因此适用于高效率反激式设计，内置同步整流控制器和反馈，更加节省外部元件。

市面上的充电器大都是小体积、高功率密度，此类充电器大都采用多PCB板组合生产工艺。用PI芯片方案设计的充电器在半成品测试中需要对type-c的PD小卡进行测试以确保type-c的PD小卡的功能正常。在测试中使用到探针将type-c的PD小卡与主板控制芯片的电路连接达到功能正常输出与拉载，所有PD小板测试都是通过探针和导线将原有焊接点进行拆卸重组，在多次测试过程中主板上余电无法有效放完，多次测试因导通瞬间存在峰值电压，不良type-c的PD小卡的测试都存在易引起PI芯片被烧毁的风险。

因此，现有type-c的PD小卡进行测试时存在的易引起PI芯片被烧毁的风险，是一件亟待解决的技术问题。

实用新型内容

本实用新型提供了一种双头针座测试装置，旨在解决现有type-c的PD小卡进行测试时存在的易引起PI芯片被烧毁的风险的技术问题。

本实用新型提供一种双头针座测试装置，包括测试制具盒、设于测试制具盒上的交流供电开关、电源适配器、继电器、主控外围功能板和链接保护电路，交流供电开关、电源适配器、继电器、主控外围功能板和链接保护电路依次相串联，用于对待测试PD功能小卡进行输出电压测试，链接保护电路采用双头针座链接保护电路。

进一步地，链接保护电路包括依次电连接的第一双头针公座、主控芯片PCB板和第二双头针座公座。

进一步地，第一双头针公座的一端与主控芯片PCB板相焊接，第一双头针公座的另一端与主控外围功能板相插接。

进一步地，第二双头针座公座的一端与主控芯片PCB板相焊接，第二双头针座公座的另一端与待测试PD功能小卡相插接。

进一步地，双头针座测试装置还包括手柄压杆和行程控制开关，手柄压杆与行程控制开关电连接，用于对待测试PD功能小卡进行拉载能力测试。

进一步地，双头针座测试装置还包括制具压板和上下滑动导轨，制具压板可相对于上下滑动导轨上下滑动。

进一步地，双头针座测试装置还包括水泥放电电阻，水泥放电电阻一端通过继电器的常闭控制端与主控外围功能板上的电容的正极电连接，水泥放电电阻另一端与主控外围功能板上的电容的负极电连接。

进一步地，电源适配器为直流适配器。

进一步地，继电器为直流继电器。

进一步地，主控芯片PCB板为氮化镓PI芯片PCB板。

本实用新型所取得的有益效果为：

本实用新型提供一种双头针座测试装置，采用测试制具盒、交流供电开关、电源适配器、继电器、主控外围功能板和链接保护电路，交流供电开关、电源适配器、继电器、主控外围功能板和链接保护电路依次相串联，用于对待测试PD功能小卡进行输出电压测试，链接保护电路采用双头针座链接保护电路。本实用新型提供的双头针座测试装置，实现快速更换损坏PI芯片的模块重组设计，具备制作简单、接口端正反插防呆和备品提前准备与确认；采用双头针座与PI芯片重组达到保护主板与维修效率的提升。

附图说明

图1为本实用新型提供的双头针座测试装置一实施例的立体结构示意图；

图2为图1中所示的链接保护电路一实施例的电路连接示意图。

附图标号说明：

10、测试制具盒；20、交流供电开关；30、继电器；40、主控外围功能板；50、链接保护电路；60、电源适配器；51、第一双头针公座；52、主控芯片PCB板；53、第二双头针座公座；70、手柄压杆；80、行程控制开关；91、制具压板；92、上下滑动导轨；93、水泥放电电阻；100、待测试PD功能小卡。

具体实施方式

为了更好的理解上述技术方案，下面将结合说明书附图以及具体的实施方式对上述技术方案做详细的说明。

如图1和图2所示，本实用新型第一实施例提出一种双头针座测试装置，包括测试制具盒10、设于测试制具盒10上的交流供电开关20、电源适配器60、继电器30、主控外围功能板40和链接保护电路50，交流供电开关20、电源适配器60、继电器30、主控外围功能板40和链接保护电路50依次相串联，用于对待测试PD功能小卡100进行输出电压测试。其中，链接保护电路50采用双头针座链接保护电路。双头针座可以为双头针公座(两头均为公针插头)、双头针母座(两头均为母针插头)、双头针公母座(一头为公针插头，另一头为母针插头)。电源适配器60采用直流适配器。继电器30采用直流继电器。主控芯片PCB板52采用氮化镓PI芯片PCB板。

在上述结构中，请见图1和图2，本实施例提供的双头针座测试装置，链接保护电路50包括依次电连接的第一双头针公座51、主控芯片PCB板52和第二双头针座公座53。具体地，在本实施例中，第一双头针公座51的一端与主控芯片PCB板52相焊接，第一双头针公座51的另一端与主控外围功能板40相插接。第二双头针座公座53的一端与主控芯片PCB板52相焊接，第二双头针座公座53的另一端与待测试PD功能小卡相插接。本实施例提供的双头针座测试装置，为了解决反激式充电器多PCB板组合生产在测试中损坏PI芯片的问题，从而减少导致的工时浪费，提升生产效率。现有技术中，原有治具未将PI芯片PCB板从主板中独立出来，测试方式为拆卸type-c上的PD小卡后剩余部分做为母板，通过导线将母板上type-c上的PD小卡焊盘焊接到治具探针对type-c的PD小卡进行测试。现使用双头针座与PI芯片组合成活动模块对接到母板上焊接的双头针座母座，实现功能正常测试和不良后快速更换。模块制作简单，通过插孔式公母座将主控芯片PCB板与被测试输出小卡连接；更换时间短，维修效率高，对生产效率影响小；模块具备防呆，两端通过空Pin脚与闭孔达到防呆避免插反；备品提前准备与维修，确保更换上的备品为良品，相对维修时间可控制。

进一步地，参见图1和图2，本实施例提供的双头针座测试装置，双头针座测试装置还包括手柄压杆70和行程控制开关80，手柄压杆70与行程控制开关80电连接，用于对待测试PD功能小卡进行拉载能力测试。在本实施例中，通过压下手柄压杆70，即可触发行程控制开关80，让电源适配器60给继电器30供电。继电器30工作将AC电供给主控外围功能板40，链接保护电路50导通；待测试PD功能小卡100正常输出，通过电子负载对待测试PD功能小卡100进行输出电压与拉载能力检测。

优选地，请见图1和图2，本实施例提供的双头针座测试装置，双头针座测试装置还包括制具压板91和上下滑动导轨92，制具压板91可相对于上下滑动导轨92上下滑动。在本实施例中，制具压板91用于压住待测试PD功能小卡100，确保各信号经探针接触导通良好。

进一步地，请见图1和图2，本实施例提供的双头针座测试装置，双头针座测试装置还包括水泥放电电阻93，水泥放电电阻93一端通过继电器30的常闭控制端与主控外围功能板40上的电容的正极电连接，水泥放电电阻93另一端与主控外围功能板40上的电容的负极电连接。

如图1和图2所示，本实施例提供的双头针座测试装置，其工作原理如下所示：

将待测试PD功能小卡放在测试制具盒10的测试位置处；放好后压下手柄压杆70并打开交流供电开关20，压下手柄压杆70触发行程控制开关80导通，电源适配器60为继电器30供给24伏直流电，继电器30工作将AC(Alternating Current，交流)电供给主控外围功能板40，链接保护电路50链接导通；待测试PD功能小卡100正常输出，通过电子负载对待测试PD功能小卡100进行输出电压与拉载能力检测。测试完成后关闭交流供电开关20，抬起手柄压杆70后继电器30的AC供电侧断开，水泥放电电阻93通过继电器30的常闭控制端到主控外围功能板40的电容正极，电容负极回到水泥放电电阻93的另一端，从而构成回路实现放电功能保护。

本实施例提供的双头针座测试装置，所取得的有益效果为：

1、目前工厂端对PCB板测试采用ICT(Institute of Computing Technology，自动在线测试仪)测试，无法确保PD板输出正常与转电压正常，同时针对适配器类较小PCBA板元器件密集无法进行有效测试与拦截。

2、目前工厂端未对适配器单个PCB模块板采用ATE(Automatic Test Equipment，自动化测试设备)测试，因产品的不完整性需要启动的电压与协议，线材长度的影响导致无法使用ATE进行PCB板有效测试。

3、通过插孔公母座制作反激开关IC的PCB小板优化模块，焊接根据点对点，公接母，空Pin脚闭插孔实现完全对接与防呆。定义各Pin脚接线颜色制作标准件进行参考达到配件统一，使用良品备品交叉验证排查不良测试板或母板。

尽管已描述了本实用新型的优选实施例，但本领域内的技术人员一旦得知了基本创造性概念，则可对这些实施例作出另外的变更和修改。所以，所附权利要求意欲解释为包括优选实施例以及落入本实用新型范围的所有变更和修改。显然，本领域的技术人员可以对本实用新型进行各种改动和变型而不脱离本实用新型的精神和范围。这样，倘若本实用新型的这些修改和变型属于本实用新型权利要求及其等同技术的范围之内，则本实用新型也意图包含这些改动和变型在内。

Claims (10)

1.一种双头针座测试装置，其特征在于，包括测试制具盒(10)、设于所述测试制具盒(10)上的交流供电开关(20)、电源适配器(60)、继电器(30)、主控外围功能板(40)和链接保护电路(50)，所述交流供电开关(20)、所述电源适配器(60)、所述继电器(30)、所述主控外围功能板(40)和所述链接保护电路(50)依次相连接，用于对待测试PD功能小卡进行输出电压测试；所述链接保护电路(50)采用双头针座链接保护电路。

2.如权利要求1所述的双头针座测试装置，其特征在于，所述链接保护电路(50)包括依次电连接的第一双头针公座(51)、主控芯片PCB板(52)和第二双头针座公座(53)。

3.如权利要求2所述的双头针座测试装置，其特征在于，所述第一双头针公座(51)的一端与所述主控芯片PCB板(52)相焊接，所述第一双头针公座(51)的另一端与所述主控外围功能板(40)相插接。

4.如权利要求2所述的双头针座测试装置，其特征在于，所述第二双头针座公座(53)的一端与所述主控芯片PCB板(52)相焊接，所述第二双头针座公座(53)的另一端与所述待测试PD功能小卡相插接。

5.如权利要求1所述的双头针座测试装置，其特征在于，所述双头针座测试装置还包括手柄压杆(70)和行程控制开关(80)，所述手柄压杆(70)与所述行程控制开关(80)电连接，用于对所述待测试PD功能小卡进行拉载能力测试。

6.如权利要求1所述的双头针座测试装置，其特征在于，所述双头针座测试装置还包括制具压板(91)和上下滑动导轨(92)，所述制具压板(91)可相对于所述上下滑动导轨(92)上下滑动。

7.如权利要求6所述的双头针座测试装置，其特征在于，所述双头针座测试装置还包括水泥放电电阻(93)，所述水泥放电电阻(93)一端通过所述继电器(30)的常闭控制端与所述主控外围功能板(40)上的电容的正极电连接，所述水泥放电电阻(93)另一端与所述主控外围功能板(40)上的电容的负极电连接。

8.如权利要求1所述的双头针座测试装置，其特征在于，所述电源适配器(60)为直流适配器。

9.如权利要求1所述的双头针座测试装置，其特征在于，所述继电器(30)为直流继电器。

10.如权利要求4所述的双头针座测试装置，其特征在于，所述主控芯片PCB板(52)为氮化镓PI芯片PCB板。

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