CN218413989U - 一种基于pci-e 64p接口的闪存芯片测试板卡 - Google Patents
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Abstract
本实用新型提供了一种基于PCI‑E 64P接口的闪存芯片测试板卡,包括电路板、安装槽、芯片、接口和管脚，安装槽等距开设在电路板的内部，芯片等距固定安装在安装槽的内部，接口固定连接在电路板的一侧，管脚设置在电源接口和PCI‑E 64P接口的内部；芯片包括测试座、控制器和电源电路，测试座固定连接在安装槽的内部，控制器固定连接在安装槽的内部且位于测试座的一侧。本实用新型的有益效果在于，解决了当对存储芯片进行测试时，每个模组需要单独插拔和控制，增加测试装置磨损，影响测试装置寿命，且操作繁琐，防呆机制弱，效率低，出错概率高，采用双面元器件设计，测试操作时磨损和撞坏元器件风险高，高温筛选测试时，稳固性差的问题。
Description
技术领域
本实用新型涉及闪存芯片测试板卡技术领域，特别涉及一种基于PCI-E 64P 接口的闪存芯片测试板卡。
背景技术
传统的存储芯片测试装置，采用7+15SATA或者USB Type-A接口，每个接口对应一个测试模块，每个模块搭配1-4个存储芯片测试座，当对存储芯片进行测试时，每个模组需要单独插拔和控制，增加测试装置磨损，影响测试装置寿命，且操作繁琐，防呆机制弱，效率低，出错概率高，采用双面元器件设计，测试操作时磨损和撞坏元器件风险高，高温筛选测试时，稳固性差，不利于实际的应用与操作。
实用新型内容
有鉴于此，本实用新型实施例希望提供一种基于PCI-E 64P接口的闪存芯片测试板卡，以解决或缓解现有技术中存在的技术问题，至少提供一种有益的选择。
本实用新型实施例的技术方案是这样实现的：包括电路板、安装槽、芯片、接口和管脚，所述安装槽等距开设在电路板的内部，所述芯片等距固定安装在安装槽的内部，所述接口固定连接在电路板的一侧，所述管脚设置在电源接口和PCI-E 64P接口的内部；
所述芯片包括测试座、控制器和电源电路，所述测试座固定连接在安装槽的内部，所述控制器固定连接在安装槽的内部且位于测试座的一侧，所述电源电路固定连接在安装槽的内部且位于控制器的一侧，所述测试座、控制器和电源电路电性连接，通过控制器对芯片进行测试，所述接口和管脚均与芯片电性连接。
进一步优选的：所述接口包括两个电源接口和PCI-E 64P接口，所述电源接口均固定连接在电路板的一侧，所述PCI-E 64P接口固定连接在电路板的一侧且位于两个电源接口之间。
进一步优选的：所述电源接口和PCI-E 64P接口的外侧均固定连接有垂直插拔连接器，所述垂直插拔连接器的内部开设有处置插拔导轨插槽。
进一步优选的：所述PCI-E 64P接口的内部固定连接有PCI-E 64P元件，所述电源接口的内部等距设置有电源感件和SATA信号金手指，所述PCI-E 64P 元件、电源感件和SATA信号金手指电性连接。
进一步优选的：所述电路板的两侧均等距开设有定位孔。
进一步优选的：所述管脚，将SATA信号金手指和电源感件与PCI-E 64P接口内的管脚完美匹配。
进一步优选的：所述PCI-E 64P采用厚度1.6mm的PCB板金手指作为接口材质。
本实用新型实施例由于采用以上技术方案，其具有以下优点：
本实用新型通过在电源接口和PCI-E 64P接口的内部设置管脚，测试座、控制器和电源电路电性连接，利用控制器对芯片进行测试，能够同时对多个芯片进行测试，只需要插拔接口一次，避免了当对存储芯片进行测试时，每个模组需要单独插拔和控制，增加测试装置磨损，影响测试装置寿命，且操作繁琐，防呆机制弱，效率低，出错概率高，采用双面元器件设计，测试操作时磨损和撞坏元器件风险高，高温筛选测试时，稳固性差的问题，有利于实际的应用与操作。
上述概述仅仅是为了说明书的目的，并不意图以任何方式进行限制。除上述描述的示意性的方面、实施方式和特征之外，通过参考附图和以下的详细描述，本实用新型进一步的方面、实施方式和特征将会是容易明白的。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本实用新型的储存芯片整体结构示意图；
图2为本实用新型的PCI-E 64P接口结构示意图；
图3为本实用新型的处置插拔导轨插槽和垂直插拔连接器结构示意图；
图4为本实用新型的管脚结构示意图；
图5为本实用新型图3中A处的放大图；
图6为本实用新型的PCI-E 64P工作原理图；
图7为现有技术储存芯片结构示意图。
附图标记：1、电路板；2、测试座；3、电源接口；4、PCI-E 64P接口；5、电源感件；6、SATA信号金手指；7、处置插拔导轨插槽；8、垂直插拔连接器；9、 PCI-E 64P元件；10、管脚；11、控制器；12、电源电路；13、定位孔；14、安装槽。
具体实施方式
在下文中，仅简单地描述了某些示例性实施例。正如本领域技术人员可认识到的那样，在不脱离本实用新型的精神或范围的情况下，可通过各种不同方式修改所描述的实施例。因此，附图和描述被认为本质上是示例性的而非限制性的。
下面结合附图对本实用新型的实施例进行详细说明。
如图1-7所示，本实用新型实施例提供了包括电路板1、安装槽14、芯片、接口和管脚10，安装槽14等距开设在电路板1的内部，芯片等距固定安装在安装槽14的内部，接口固定连接在电路板1的一侧，管脚10设置在电源接口3 和PCI-E 64P接口4的内部；
芯片包括测试座2、控制器11和电源电路12，测试座2固定连接在安装槽14的内部，控制器11固定连接在安装槽14的内部且位于测试座2的一侧，电源电路12固定连接在安装槽14的内部且位于控制器11的一侧，测试座2、管脚10、控制器11和电源电路12电性连接，通过控制器11对芯片进行测试，接口和管脚10均与芯片电性连接。
本实施例中，具体的本实用新型在工作时：通过在电源接口3和PCI-E 64P 接口4的内部设置管脚10，测试座2、控制器11和电源电路12电性连接，利用控制器11对芯片进行测试，能够同时对多个芯片进行测试，只需要插拔接口一次，避免了当对存储芯片进行测试时，每个模组需要单独插拔和控制，增加测试装置磨损，影响测试装置寿命，且操作繁琐，防呆机制弱，效率低，出错概率高，采用双面元器件设计，测试操作时磨损和撞坏元器件风险高，高温筛选测试时，稳固性差的问题，有利于实际的应用与操作。
其中，接口包括两个电源接口3和PCI-E 64P接口4，电源接口3均固定连接在电路板1的一侧，PCI-E 64P接口4固定连接在电路板1的一侧且位于两个电源接口3之间，通过设置接口，便于电源接口3和PCI-E 64P接口4进行插拔。
其中，电源接口3和PCI-E 64P接口4的外侧均固定连接有垂直插拔连接器8，垂直插拔连接器8的内部开设有处置插拔导轨插槽7，通过设置垂直插拔连接器8，便于水平和垂直插拔，同时利用处置插拔导轨插槽7进行限位，快捷稳定性，有助于提升芯片测试工艺技术更新。
其中，PCI-E 64P接口4的内部固定连接有PCI-E 64P元件9，电源接口3 的内部等距设置有电源感件5和SATA信号金手指6，PCI-E 64P元件9、电源感件5和SATA信号金手指6电性连接，通过PCI-E 64P元件9、电源感件5和SATA 信号金手指6电性连接，便于更好的控制设备进行工作。
其中，电路板1的两侧均等距开设有定位孔13，通过设置定位孔13，便于对电路板1进行安装固定。
其中，管脚10，将SATA信号金手指6和电源感件5与PCI-E 64P接口4完美匹配，通过SATA信号金手指6和电源感件5与PCI-E 64P接口4完美匹配，便于同时对多个芯片进行测试。
其中，PCI-E 64P采用厚度1.6mm的PCB板金手指作为接口材质，通过采用厚度1.6mm的PCB板金手指作为接口材质，便于降低成本低，提高可靠性高。
以上所述，仅为本实用新型的具体实施方式，但本实用新型的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内，可轻易想到其各种变化或替换，这些都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。因此，本实用新型的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。
Claims (7)
1.一种基于PCI-E 64P接口的闪存芯片测试板卡，包括电路板(1)、安装槽(14)、芯片、接口和管脚(10)，其特征在于：所述安装槽(14)等距开设在电路板(1)的内部，所述芯片等距固定安装在安装槽(14)的内部，所述接口固定连接在电路板(1)的一侧，所述管脚(10)设置在电源接口(3)和PCI-E 64P接口(4)的内部；
所述芯片包括测试座(2)、控制器(11)和电源电路(12)，所述测试座(2)固定连接在安装槽(14)的内部，所述控制器(11)固定连接在安装槽(14)的内部且位于测试座(2)的一侧，所述电源电路(12)固定连接在安装槽(14)的内部且位于控制器(11)的一侧，所述测试座(2)、控制器(11)和电源电路(12)电性连接，通过控制器(11)对芯片进行测试，所述接口和管脚(10)均与芯片电性连接。
2.根据权利要求1所述的一种基于PCI-E 64P接口的闪存芯片测试板卡，其特征在于：所述接口包括两个电源接口(3)和PCI-E 64P接口(4)，所述电源接口(3)均固定连接在电路板(1)的一侧，所述PCI-E 64P接口(4)固定连接在电路板(1)的一侧且位于两个电源接口(3)之间。
3.根据权利要求1所述的一种基于PCI-E 64P接口的闪存芯片测试板卡，其特征在于：所述电源接口(3)和PCI-E 64P接口(4)的外侧均固定连接有垂直插拔连接器(8)，所述垂直插拔连接器(8)的内部开设有处置插拔导轨插槽(7)。
4.根据权利要求1所述的一种基于PCI-E 64P接口的闪存芯片测试板卡，其特征在于：所述PCI-E 64P接口(4)的内部固定连接有PCI-E 64P元件(9)，所述电源接口(3)的内部等距设置有电源感件(5)和SATA信号金手指(6)，所述PCI-E 64P元件(9)、电源感件(5)和SATA信号金手指(6)电性连接。
5.根据权利要求1所述的一种基于PCI-E 64P接口的闪存芯片测试板卡，其特征在于：所述电路板(1)的两侧均等距开设有定位孔(13)。
6.根据权利要求1所述的一种基于PCI-E 64P接口的闪存芯片测试板卡，其特征在于：所述管脚(10)，将SATA信号金手指(6)和电源感件(5)与PCI-E64P接口(4)完美匹配。
7.根据权利要求1所述的一种基于PCI-E 64P接口的闪存芯片测试板卡，其特征在于：所述PCI-E 64P采用厚度1.6mm的PCB板金手指作为接口材质。
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