CN212845507U - 一种多功能测试装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种多功能测试装置，包括底座，所述底座上设置有托盘、驱动机构、第一接口板、第二接口板和测试板；所述第一接口板的一侧设置有若干供测试板一侧的金手指插接的第一插槽，第一接口板的另一侧设置有若干供USB母口，所述USB母口与测试板电连接，实现对USB卡进行测试；所述第二接口板的一侧设置有若干供测试板另一侧的金手指插接的第二插槽，第二接口板的另一侧设置有若干探针，所述探针与测试板电连接，所述驱动机构控制托盘接近或远离使探针与测试盘的SD卡和/或TF卡接触或分离，实现对SD卡和/或TF卡进行测试，从而实现了对同时对两种以上的存储卡进行测试，而且不再需要使用测试主机，设备成本大幅降低。
Description
技术领域
本实用新型涉及存储卡的测试设备技术领域，特别涉及一种多功能测试装置。
背景技术
TF卡、SD卡、Mini SD卡或USB卡等在出厂前，均需对其进行测试，譬如，USB卡在测试时，需通过一个USB HUB(如力普森公司生产的USB HUB)上设置有16个USB母口，将USB卡插入USB母口中，使USB HUB连接一台电脑主机进行测试，然而一个USB HUB至少需要一根电源线和一根数据线，而且一个USB HUB需一台测试主机；TF卡或SD卡则是将其固定在测试主板上的卡槽中，测试主板上有16个卡槽，其需一根电源线，再通过四根数据线连一台电脑主机进行测试，可见设备成本高，而且在测试时，一个USB HUB或者测试主板均需一个测试人员操作，人力成本高。
并且，在测试时，一个主机只能测试一种TF卡、SD卡或USB卡，并不能满足同时测试多路TF卡、SD卡或USB卡的需求，导致测试成本大大增加，再者几十个甚至上百个测试主机放置于一个测试机房，导致测试机房的温度过高，使主机损耗过大，大大缩短其使用寿命，使测试成本进一步增加，而且测试人员，长期在高温环境中工作，对身体也不利，又需增设大功率空调，测试成本再次增加。
因而现有技术还有待改进和提高。
实用新型内容
鉴于上述现有技术的不足之处，本实用新型的目的在于提供一种多功能测试装置，可同时测试两种以上的存储卡，而且能省去测试主机，降低测试成本。
为解决以上技术问题，本实用新型采取了以下技术方案：
一种多功能测试装置，包括底座，所述底座上用于放置测试盘的托盘、用于控制托盘移动的驱动机构、第一接口板、第二接口板和用于对USB卡、SD卡和/或TF卡进行测试的测试板；所述第一接口板的一侧设置有若干供测试板一侧的金手指插接的第一插槽，第一接口板的另一侧设置有若干供USB母口，所述USB母口与测试板电连接；所述第二接口板的一侧设置有若干供测试板另一侧的金手指插接的第二插槽，第二接口板的另一侧设置有若干探针，所述探针与测试板电连接，所述驱动机构控制托盘接近或远离使探针与测试盘的SD卡和/或TF卡接触或分离。
所述的多功能测试装置中，所述第一接口板、第二接口板和托盘由上至下依次设置，所述测试板垂直设置于第一接口板和第二接口板之间。
所述的多功能测试装置中，所述底座上还设置有支撑柱，所述托盘套设于支撑柱上，所述驱动机构的活动端与托盘连接。
所述的多功能测试装置中，所述测试板的背侧端设置有用于与服务器连接的数据接口。
所述的多功能测试装置中，所述第一插槽、第二插槽、测试板数量相同，为2-20个。
所述的多功能测试装置中，所述测试板上设置有2-8个测试模块。
所述的多功能测试装置中，所述测试盘上设置有数量和位置与探针对应的凹槽。
所述的多功能测试装置中，所述托盘的侧边具有便于取放测试盘的凹部。
所述的多功能测试装置中，所述底座上设置有用于感应器和控制器，所述驱动机构和感应器均与控制器连接，所述感应器检测异常时，所述控制器控制驱动机构停止工作。
所述的多功能测试装置中，所述第一接口板与支撑柱可拆卸连接。
相较于现有技术，本实用新型提供的多功能测试装置，包括底座，所述底座上用于放置测试盘的托盘、用于控制托盘移动的驱动机构、第一接口板、第二接口板和用于对USB卡、SD卡和/或TF卡进行测试的测试板；所述第一接口板的一侧设置有若干供测试板一侧的金手指插接的第一插槽，第一接口板的另一侧设置有若干供USB母口，所述USB母口与测试板电连接，实现对USB卡进行测试；所述第二接口板的一侧设置有若干供测试板另一侧的金手指插接的第二插槽，第二接口板的另一侧设置有若干探针，所述探针与测试板电连接，所述驱动机构控制托盘接近或远离使探针与测试盘的SD卡和/或TF卡接触或分离，从而实现对SD卡和/或TF卡进行测试。通过本实用新型的多功能测试装置实现了同时对两种以上的存储卡进行测试，而且不再需要使用测试主机，设备成本大幅降低，并且测试设备发热少，测试板的使用寿命长。
附图说明
图1为本实用新型提供的多功能测试装置的整体结构示意图。
图2为本实用新型提供的多功能测试装置的一角度的部分结构示意图。
图3为本实用新型提供的多功能测试装置的另一角度的部分结构示意图。
图4为本实用新型提供的多功能测试装置中第一接口板的正面结构示意图。
图5为本实用新型提供的多功能测试装置中第二接口板的背面结构示意图。
图6为为本实用新型提供的多功能测试装置中测试盘的结构示意图。
具体实施方式
为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。
需要说明的是，当部件被称为“装设于”、“固定于”或“设置于”另一个部件上，它可以直接在另一个部件上或者可能同时存在居中部件。当一个部件被称为是“连接于”另一个部件，它可以是直接连接到另一个部件或者可能同时存在居中部件。
还需要说明的是，本实用新型实施例中的左、右、上、下等方位用语，仅是互为相对概念或是以产品的正常使用状态为参考的，而不应该认为是具有限制性的。
请参阅图1、图2、图3和图6，本实用新型提供的多功能测试装置，包括底座1，所述底座1上用于放置测试盘3的托盘2、用于控制托盘2移动的驱动机构(图中未示出)、第一接口板4、第二接口板5和用于对USB卡10(即U盘封装前的半成品)、SD卡20和/或TF卡进行测试的测试板6。
其中，所述测试板6上设置有2-8个测试模块，优选的，所述测试模块为8个，一次可同时测试8个USB卡10和8个SD卡20(或TF卡)。所述测试模块包括RK3328处理器及其外围电路，用户取代测试主机，并且一台测试设备可取代十台测试主机，使测试设备的成本大幅降低，而且测试时测试板6发热少。
所述第一接口板4的一侧设置有若干供测试板6一侧的金手指插接的第一插槽(图中未标出)，第一接口板4的另一侧设置有若干供USB母口42，所述USB母口42与测试板6电连接，实现对USB卡10进行测试。
所述第二接口板5的一侧设置有若干供测试板6另一侧的金手指插接的第二插槽51，第二接口板5的另一侧设置有若干探针52，所述探针52与测试板6电连接，所述驱动机构控制托盘2接近或远离使探针52与测试盘3的SD卡20和/或TF卡接触或分离，在探针52与测试盘3的SD卡20的金手指接触时，从而实现对SD卡20和/或TF卡进行测试。
本实用新型的多功能测试装置实现了同时对两种以上的存储卡进行测试，而且不再需要使用测试主机，设备成本大幅降低，并且测试设备发热少，测试板6的使用寿命长。
请一并参阅图4和图5，所述第一插槽、第二插槽51、测试板6数量相同，为2-20个。本实用新型第一插槽、第二插槽51、测试板6数量优选为十个，再通过8板测试板6，一次可完成80个USB和80个SD卡20(或TF卡)的测试，相比现有一次只能测试16个卡的方式，其效率提升了10倍，测试人员也由原来的十个减少到一个。
请继续参阅图1至图3，所述第一接口板4、第二接口板5和托盘2由上至下依次设置，所述测试板6垂直设置于第一接口板4和第二接口板5之间，其占用空间小。
在一可选的实施例中，所述底座1上还设置有支撑柱11，所述托盘2套设于支撑柱11上，所述驱动机构的活动端与托盘2连接。本实施例中，驱动机构可采用气缸，其控制方便，成本低。
所述测试板6的背侧端设置有电源接口和用于与服务器连接的数据接口61(如USB口)，为减少接线，各测试板6可连接至一集线器，再由集线器服务器，从而整体机房只需一台服务器即可实现对各个多功能测试装置的管理，测试成本进一步降低。并且，将接口设置于测试板6的背侧端的方式，避免杂乱的走线，而且使测试板6上下两侧均可设置金手指来测试上面两侧的插口(即第一插槽、第二插槽51)。
在一可选的实施例中，所述第一接口板4与支撑柱11可拆卸连接，在需要更换测试板6时，只需拆卸第一接口板4，使测试板6从第二插槽51拔出即可更换。
请参阅图6，所述测试盘3上设置有数量和位置与探针52对应的凹槽31，凹槽31中用于放置SD卡20(或TF卡)，其金手指朝上设置，便于与探针52接触。
请继续参阅图1至图3，所述托盘2的侧边具有便于取放测试盘3的凹部21，该凹部21使测试盘3外露一部分，从而便于测试人员取放测试盘3到托盘2上。
进一步地，所述底座1上设置有用于感应器(图中未示出)和控制器12，所述驱动机构和感应器均与控制器12连接，所述感应器检测异常时(如人手或者异物位于托盘2前侧时)，所述控制器12控制驱动机构停止工作，避免夹伤人手，或者损坏测试盘3上的存储卡。
进一步地，所述底座1上可设置一可开启的安全门(图中未示出)，遮挡住测试设备，进一步提高安全性。
更进一步地，所述底坐上还设置有开启/暂停按键13、上升按键14、下降按键15，以便于测试人员操作。
更进一步地，所述底坐的两侧还设置有提手16，以便于搬运多功能测试装置。
综上所述，本实用新型提供的多功能测试装置，多功能测试装置实现了同时对两种以上的存储卡进行测试，而且不再需要使用测试主机，设备成本大幅降低，并且测试设备发热少，测试板的使用寿命长。
本实用新型提供的多功能测试装置，一次可完成80个USB和80个SD卡(或TF卡)的测试，相比现有一次只能测试16个卡的方式，其效率提升了10倍，测试人员也由原来的十个减少到一个，人力成本也大幅降低。
此外，测试设备的各测试板可连接至一集线器，再由集线器服务器，从而整体机房只需一台服务器即可实现对各个多功能测试装置的管理，测试成本进一步降低。并且，将接口设置于测试板的背侧端的方式，避免杂乱的走线，而且使测试板上下两侧均可设置金手指来测试上面两侧的插口(即第一插槽、第二插槽)。
可以理解的是，对本领域普通技术人员来说，可以根据本实用新型的技术方案及其实用新型构思加以等同替换或改变，而所有这些改变或替换都应属于本实用新型所附的权利要求的保护范围。
Claims (10)
1.一种多功能测试装置，包括底座，其特征在于，所述底座上用于放置测试盘的托盘、用于控制托盘移动的驱动机构、第一接口板、第二接口板和用于对USB卡、SD卡和/或TF卡进行测试的测试板；所述第一接口板的一侧设置有若干供测试板一侧的金手指插接的第一插槽，第一接口板的另一侧设置有若干供USB母口，所述USB母口与测试板电连接；所述第二接口板的一侧设置有若干供测试板另一侧的金手指插接的第二插槽，第二接口板的另一侧设置有若干探针，所述探针与测试板电连接，所述驱动机构控制托盘接近或远离使探针与测试盘的SD卡和/或TF卡接触或分离。
2.根据权利要求1所述的多功能测试装置，其特征在于，所述第一接口板、第二接口板和托盘由上至下依次设置，所述测试板垂直设置于第一接口板和第二接口板之间。
3.根据权利要求2所述的多功能测试装置，其特征在于，所述底座上还设置有支撑柱，所述托盘套设于支撑柱上，所述驱动机构的活动端与托盘连接。
4.根据权利要求2所述的多功能测试装置，其特征在于，所述测试板的背侧端设置有用于与服务器连接的数据接口。
5.根据权利要求3所述的多功能测试装置，其特征在于，所述第一插槽、第二插槽、测试板数量相同，为2-20个。
6.根据权利要求5所述的多功能测试装置，其特征在于，所述测试板上设置有2-8个测试模块。
7.根据权利要求6所述的多功能测试装置，其特征在于，所述测试盘上设置有数量和位置与探针对应的凹槽。
8.根据权利要求6所述的多功能测试装置，其特征在于，所述托盘的侧边具有便于取放测试盘的凹部。
9.根据权利要求1所述的多功能测试装置，其特征在于，所述底座上设置有用于感应器和控制器，所述驱动机构和感应器均与控制器连接，所述感应器检测异常时，所述控制器控制驱动机构停止工作。
10.根据权利要求1所述的多功能测试装置，其特征在于，所述第一接口板与支撑柱可拆卸连接。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202021724241.8U CN212845507U (zh) | 2020-08-18 | 2020-08-18 | 一种多功能测试装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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| CN202021724241.8U CN212845507U (zh) | 2020-08-18 | 2020-08-18 | 一种多功能测试装置 |
Publications (1)
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| CN212845507U true CN212845507U (zh) | 2021-03-30 |
Family
ID=75137133
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| CN202021724241.8U Active CN212845507U (zh) | 2020-08-18 | 2020-08-18 | 一种多功能测试装置 |
Country Status (1)
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| CN (1) | CN212845507U (zh) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN114047433A (zh) * | 2021-11-17 | 2022-02-15 | 浪潮商用机器有限公司 | 一种多功能pcie测试板卡 |
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2020
- 2020-08-18 CN CN202021724241.8U patent/CN212845507U/zh active Active
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Legal Events
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| GR01 | Patent grant | ||
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| CP01 | Change in the name or title of a patent holder |