CN218239789U - 一种双通道电子元件外观检测装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型属于检测领域，尤其涉及一种双通道电子元件外观检测装置。包括用于移送电子元件的双侧平移机构，双侧平移机构包括基座和分别可移动地连接到基座两侧的第一平移机构和第二平移机构，第一平移机构和第二平移机构之间设置有同步板用于同步移动；分别设置于双侧平移机构的长度方向两端的上料机构和下料机构；双侧平移机构两侧沿其长度方向分别分布有若干检测工位，部分检测工位上设有用于夹持电子元件进行水平转动的旋转夹持机构；靠近检测工位设置有若干外观检测机构；设置于双侧平移机构与下料机构之间的分拣机构，用于分拣电子元件。本实用新型可实现对电子元件进行全方位外观检测，具有检测精度高、检测效率高、产能高的优点。

Description

一种双通道电子元件外观检测装置

技术领域

本实用新型属于检测领域，尤其涉及一种双通道电子元件外观检测装置。

背景技术

电子元件是电子电路中的基本元素，通常有两个以上的引线，用于焊接到印刷电路板上组成电子产品，为了确保电路的稳定可靠，需对电子元件进行检测。现有的电子元件检测大多采用人工手持检测探头进行检测的方式，这种检测方式难以对电子元件进行全方位检测、且劳动强度大、检测精度低，虽然一些检测机构采用机器检测提升了检测精度，但仍然存在着检测效率低、产能低的缺陷。

因此，亟需一种支持对电子元件进行全方位检测、检测精度高、检测效率高、产能高的双通道电子元件外观检测装置。

发明内容

本实用新型的目的在于针对现有技术的不足，提供一种双通道电子元件外观检测装置，可实现对电子元件进行全方位外观检测，具有检测精度高、检测效率高、产能高的优点。

为了实现上述目的，本实用新型采用了以下技术方案：

一种双通道电子元件外观检测装置，包括：

用于移送电子元件的双侧平移机构，所述双侧平移机构包括基座和分别可移动地连接到所述基座两侧的第一平移机构和第二平移机构，所述第一平移机构和所述第二平移机构之间设置有同步板，用于使所述第一平移机构和所述第二平移机构在所述基座上同步移动；

分别设置于所述双侧平移机构的长度方向两端的上料机构和下料机构；

所述双侧平移机构两侧沿其长度方向分别分布有若干检测工位，部分所述检测工位上设有用于夹持所述电子元件进行水平转动的旋转夹持机构；

靠近所述检测工位设置有若干外观检测机构；

设置于所述双侧平移机构与所述下料机构之间的分拣机构，用于分拣所述电子元件。

进一步的，所述上料机构包括第一上料通道和第二上料通道，所述第一上料通道的一个末端靠近所述第一平移机构，所述第二上料通道的一个末端靠近所述第二平移机构。

进一步的，所述分拣机构包括第一分拣机构和第二分拣机构，所述第一分拣机构位于所述第一平移机构与所述下料机构之间，所述第二分拣机构位于所述第二平移机构与所述下料机构之间。

进一步的，位于所述第一平移机构一侧的若干所述检测工位和若干所述外观检测机构共同构成第一检测区，所述第一检测区包括从所述第一上料通道往所述第一分拣机构方向依次设置的第一检测工位和与之对应的第一检测机构、第二检测工位和与之对应的第二检测机构、第三检测工位和与之对应的第三检测机构、第四检测工位和与之对应的第四检测机构，用于从多个角度对所述电子元件进行检测。

进一步的，所述第一检测机构包括第一摄像头，用于在水平方向上获取移经所述第一检测工位的所述电子元件的图像；

所述第二检测机构包括第二摄像头和第三摄像头，所述第二摄像头用于在水平方向上获取移经所述第二检测工位的所述电子元件的图像，所述第三摄像头用于在与水平面呈夹角的方向上往斜上方获取移经所述第二检测工位的所述电子元件的图像；

所述第三检测机构包括第四摄像头和第五摄像头，所述第四摄像头用于在水平方向上获取移经所述第三检测工位的所述电子元件的图像，所述第五摄像头用于在竖直面上自上而下获取移经所述第三检测工位的所述电子元件的图像；

所述第四检测机构包括第六摄像头和第七摄像头，所述第六摄像头用于在水平方向上获取移经所述第四检测工位的所述电子元件的图像，所述第七摄像头用于在竖直面上自下而上获取移经所述第四检测工位的所述电子元件的图像。

进一步的，所述第一检测工位、所述第二检测工位和所述第三检测工位上均设有所述旋转夹持机构。

进一步的，位于所述第二平移机构一侧的若干所述检测工位和若干所述外观检测机构共同构成第二检测区，所述第二检测区的结构与所述第一检测区相同且以所述双侧平移机构中线为轴对称。

进一步的，所述旋转夹持机构包括旋转机构和设置于所述旋转机构上的第一夹持机构，所述旋转机构包括第一动力机构和连接到所述第一动力机构上的转盘，所述第一夹持机构包括设置于所述转盘上的第二动力机构和连接到所述第二动力机构的第一夹具，所述第一夹具用于在所述第二动力机构的驱动下夹持或松开所述电子元件，所述转盘在所述第一动力机构的驱动下连带所述第一夹具转动。

进一步的，所述第一平移机构和所述第二平移机构均包括可移动地连接到所述基座上的滑动板和设置于所述滑动板上的多个第二夹持机构，所述第二夹持机构包括设置于所述滑动板上的第三动力机构和连接到所述第三动力机构的第二夹具，所述第二夹具用于在所述第三动力机构的驱动下夹持或松开所述电子元件，所述滑动板将使所述第二夹具在所述检测工位间移动。

进一步的，靠近所述分拣机构设有瑕疵品回收通道，所述分拣机构与若干所述外观检测机构电连接，根据所述外观检测机构的检测结果将所述电子元件移送到所述瑕疵品回收通道或所述下料机构。

本实用新型的有益效果：

本实用新型通过设置多个检测工位、多个旋转夹持机构、多个外观检测机构，使得电子元件可以在检测工位上进行全方位的外观检测，检测精度高；通过设置双侧平移机构，使得双侧平移机构两侧的第一平移机构和第二平移机构可以在同步板的同步下移动以进行双通道检测，提高检测效率和产能；通过设置第一上料通道和第二上料通道、第一分拣机构和第二分拣机构，便于单独对双侧平移机构两侧进行上料和分拣，通过设置多个外观检测机构，使得可以从水平方向、斜向上、自上而下、自下而上等多个角度对各个检测工位上的电子元件进行多角度的检测；通过设置互为对称的第一检测区和第二检测区，便于同步进行检测任务；通过设置由旋转机构和第一夹持机构构成的旋转夹持机构，可以在夹持电子元件的时候对电子元件进行转动，便于配合外观检测机构实现全方位检测；通过在第一平移机构和第二平移机构上设置多个第二夹持机构，使得一个第二夹持机构在将一个电子元件移动到下一个检测工位时，另一个第二夹持机构也可以将另一个电子元件移动到下一个检测工位或分拣机构，提高检测效率。本实用新型可实现对电子元件进行全方位外观检测，具有检测精度高、检测效率高、产能高的优点。

附图说明

附图1是本实用新型的双通道电子元件外观检测装置的结构示意图；

附图2是本实用新型的双通道电子元件外观检测装置的俯视图；

附图3是本实用新型的旋转夹持机构的结构示意图；

附图4是本实用新型的双侧平移机构的结构示意图；

附图5是本实用新型的第四检测机构的结构示意图；

图中标识：1-上料机构、110-第一上料通道、120-第二上料通道；2-双侧平移机构、210-基座、220-第一平移机构、221-滑动板、222-第二夹持机构、2221-第三动力机构、2222-第二夹具、230-第二平移机构、240-同步板；3-旋转夹持机构、310-旋转机构、311-第一动力机构、312-转盘、320-第一夹持机构、321-第二动力机构、322-第一夹具；4-第一检测区、410-检测工位、411-第一检测工位、412-第二检测工位、413-第三检测工位、414-第四检测工位、420-外观检测机构、421-第一检测机构、4211-第一摄像头、422-第二检测机构、4221-第二摄像头、4222-第三摄像头、423-第三检测机构、4231-第四摄像头、4232-第五摄像头、424-第四检测机构、4241-第六摄像头、4242-第七摄像头；5-第二检测区；6-分拣机构、610-第一分拣机构、620-第二分拣机构；7-瑕疵品回收通道；8-下料机构；9-电子元件。

具体实施方式

下面详细描述本实用新型的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，旨在用于解释本实用新型，而不能理解为对本实用新型的限制。

在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语“长度”、“宽度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。

此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本实用新型的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。

在本实用新型实施例中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

参阅附图1至附图5，图示为本实用新型所提供一种双通道电子元件外观检测装置的一个具体实施例。

参阅附图1和附图4，双通道电子元件外观检测装置包括：

用于移送电子元件9的双侧平移机构2，双侧平移机构2包括基座210和分别可移动地连接到基座210两侧的第一平移机构220和第二平移机构230，第一平移机构220和第二平移机构230之间设置有同步板240，用于使第一平移机构220和第二平移机构230在基座210上同步移动；

分别设置于双侧平移机构2的长度方向两端的上料机构1和下料机构8；

双侧平移机构2两侧沿其长度方向分别分布有若干检测工位410，部分检测工位410上设有用于夹持电子元件9进行水平转动的旋转夹持机构3；

靠近检测工位410设置有若干外观检测机构420；

设置于双侧平移机构2与下料机构8之间的分拣机构6，用于分拣电子元件9。

在上述实施例中，上料机构1用于运送电子元件9到双侧平移机构2附近，在电机的驱动下，第一平移机构220和第二平移机构230在两侧同时往上料机构1移动并移送电子元件9到双侧平移机构2两侧的各个检测工位410上，对于存在旋转夹持机构3的检测工位，旋转夹持机构3将夹持电子元件9并旋转，在旋转过程中，外观检测机构420对电子元件9进行外观检测，从而实现对电子元件9的双通道外观检测，检测效率高。对于第一平移机构220或第二平移机构230在外观检测机构420完成对电子元件9的检测过后，将电子元件9移送到分拣机构6，根据外观检测机构420的检测结果决定是否将电子元件9移送到下料机构8。具体的，本实施例的双通道电子元件外观检测装置还包括控制机构，控制机构分别与外观检测机构420和分拣机构6电连接，当外观检测机构420对电子元件9进行检测后，第一平移机构220或第二平移机构230将电子元件9移送到分拣机构6，外观检测机构420将各自的检测结果传送到控制机构中，控制机构则根据各个外观检测机构420的检测结果，判定当前的分拣机构6中的电子元件9是否为良品，并控制分拣机构6对电子元件9进行分拣，如分拣到下料机构8等。

参阅附图1和附图2，在上述实施例中，上料机构1包括第一上料通道110和第二上料通道120，第一上料通道110的一个末端靠近第一平移机构220，第二上料通道120的一个末端靠近第二平移机构230。实施例中，第一上料通道110和第二上料通道120能够分别用于运送电子元件9到双侧平移机构2；其中，第一上料通道110运送电子元件9到靠近第一平移机构220，第一平移机构220从第一上料通道110上取下电子元件9到第一平移机构220一侧所在的检测工位410中进行外观检测；第二上料通道120运送电子元件9到靠近第二平移机构230，第二平移机构230从第二上料通道120上取下电子元件9到第二平移机构230一侧所在的检测工位410中进行外观检测。

参阅附图1，在上述实施例中，分拣机构6包括第一分拣机构610和第二分拣机构620，第一分拣机构610位于第一平移机构220与下料机构8之间，第二分拣机构620位于第二平移机构230与下料机构8之间。实施例中，第一分拣机构610用于根据各个外观检测机构420的检测结果由控制机构控制着对从第一平移机构220移送过来的电子元件9进行分拣，第二分拣机构620用于根据各个外观检测机构420的检测结果由控制机构控制着对从第二平移机构230移送过来的电子元件9进行分拣，控制机构根据检测结果，决定第一分拣机构610和第二分拣机构620是否将电子元件9分拣到下料机构8。

在上述实施例中，位于第一平移机构220一侧的若干检测工位410和若干外观检测机构420共同构成第一检测区4，第一检测区4包括从第一上料通道110往第一分拣机构610方向依次设置的第一检测工位411和与之对应的第一检测机构421、第二检测工位412和与之对应的第二检测机构422、第三检测工位413和与之对应的第三检测机构423、第四检测工位414和与之对应的第四检测机构424，用于从多个角度对电子元件9进行检测。实施例中，通过设置4个检测工位410，便于在不同的检测工位410旁设置不同检测方向的外观检测机构420，以此实现对电子产品9进行多个角度的外观检测，提高检测精度。

参阅附图1和附图5，在上述实施例中，第一检测机构421包括第一摄像头4211，用于在水平方向上获取移经第一检测工位411的电子元件9的图像；第二检测机构422包括第二摄像头4221和第三摄像头4222，第二摄像头4221用于在水平方向上获取移经第二检测工位412的电子元件9的图像，第三摄像头4222用于在与水平面呈夹角的方向上往斜上方获取移经第二检测工位412的电子元件9的图像；第三检测机构423包括第四摄像头4231和第五摄像头4232，第四摄像头4231用于在水平方向上获取移经第三检测工位413的电子元件9的图像，第五摄像头4232用于在竖直面上自上而下获取移经第三检测工位413的电子元件9的图像；第四检测机构424包括第六摄像头4241和第七摄像头4242，第六摄像头4241用于在水平方向上获取移经第四检测工位414的电子元件9的图像，第七摄像头4242用于在竖直面上自下而上获取移经第四检测工位414的电子元件9的图像。实施例中，第一平移机构220从第一上料通道110中将电子元件9移送到第一检测工位411，第一摄像头4211从水平方向对电子元件9进行检测，在第一摄像头4211完成拍摄检测后将结果传送给控制机构，第一平移机构220将电子元件9从第一检测工位411移送到第二检测工位412；第二摄像头4221在水平方向对电子元件9进拍摄，第三摄像头4222从斜下方往斜上方对电子元件9进行拍摄，并将结果传送给控制机构，而后第一平移机构220将电子元件9从第二检测工位412移送到第三检测工位413；第四摄像头4231在水平方向对电子元件9进拍摄，第五摄像头4232在第三检测工位413的顶部，对位于第三检测工位413的电子元件9进行自上而下的拍摄检测，并将结果传送给控制机构，而后第一平移机构220将电子元件9从第三检测工位413移送到第四检测工位414；第六摄像头4241在水平方向对电子元件9进拍摄，第七摄像头4242在第四检测工位414的底部，对位于第四检测工位414的电子元件9进行自下而上的拍摄检测，并将结果传送给控制机构，而后第一平移机构220将电子元件9从第四检测工位414移送到第一分拣机构610；控制机构统合各个外观检测机构420的检测结果并以此控制第一分拣机构610对电子元件9进行分拣，决定是否将电子元件9移送到下料机构8。

参阅附图1和附图3，在上述实施例中，第一检测工位411、第二检测工位412和第三检测工位413上均设有旋转夹持机构3，被夹持于旋转夹持机构3的电子元件9将会在第一检测工位411或第二检测工位412或第三检测工位413上进行旋转，使与之对应的第一检测机构421、第二检测机构422、第三检测机构423能够在电子元件9旋转一定角度后再进行多次拍摄，从而实现对电子元件9的多角度、全方位检测。

在上述实施例中，位于第二平移机构230一侧的若干检测工位410和若干外观检测机构420共同构成第二检测区5，第二检测区5的结构与第一检测区4相同且以双侧平移机构2中线为轴对称，在同步板240的同步下，第一平移机构220和第二平移机构230同步移动，第一平移机构220一侧形成有第一检测区4，第二平移机构230一侧形成有第二检测区5，第二检测区5的结构与第一检测区4相同且以双侧平移机构2中线为轴对称，使得在双侧平移机构2的基座210中的电机驱动下，双侧平移机构2两侧可以同步对两个电子元件9进行检测，提升了检测工作的效率。

参阅附图3，在上述实施例中，旋转夹持机构3包括旋转机构310和设置于旋转机构310上的第一夹持机构320，旋转机构310包括第一动力机构311和连接到第一动力机构311上的转盘312，第一夹持机构320包括设置于转盘312上的第二动力机构321和连接到第二动力机构321的第一夹具322，第一夹具322用于在第二动力机构321的驱动下夹持或松开电子元件9，转盘312在第一动力机构311的驱动下连带第一夹具322转动。旋转夹持机构3的第一动力机构311设置于底部，转盘312设置于第一动力机构311上，第一动力机构311驱使转盘312在水平平面上转动；第二动力机构321设置于转盘312上，当转盘312转动时，第二动力机构321整体也随之转动；第一夹具322设置于第二动力机构321上，第二动力机构321驱使第一夹具322用于夹紧或松开电子元件9；第一夹具322朝向顶端，用于夹住电子元件9的底部，由于第四检测工位414所对应的第四检测机构424的第七摄像头4242设置于第四检测工位414的底部，用于对位于第四检测工位414的电子元件9进行自下而上的拍摄检测，因此第四检测工位414没有设置旋转夹持机构3，仅第一检测工位411、第二检测工位412和第三检测工位413上设有旋转夹持机构3。

参阅附图4，在上述实施例中，第一平移机构220和第二平移机构230均包括可移动地连接到基座210上的滑动板221和设置于滑动板221上的多个第二夹持机构222，第二夹持机构222包括设置于滑动板221上的第三动力机构2221和连接到第三动力机构2221的第二夹具2222，第二夹具2222用于在第三动力机构2221的驱动下夹持或松开电子元件9，滑动板221将使第二夹具2222在检测工位410间移动。实施例中，第一平移机构220的滑动板221和第二平移机构230的滑动板221连接有同步板240，滑动板221上设置有多个第二夹持机构222，用于夹持电子元件9移动；具体的，滑动板221上设置有6个第二夹持机构222，分别对应到上料机构1的末端、4个检测工位410和分拣机构6顶部，在基座210中的电机驱动滑动板221进行往复移动时，能够令多个电子元件9在不同的检测工位410进行检测工序或在分拣机构 6处进行分拣工序，提升工作效率。

参阅附图1，在上述实施例中，靠近分拣机构6设有瑕疵品回收通道7，分拣机构6与若干外观检测机构420电连接，根据外观检测机构420的检测结果将电子元件9移送到瑕疵品回收通道7或下料机构8。在本实施例中，瑕疵品回收通道7设置于分拣机构6的底部，分拣机构6夹持住由双侧平移机构2移送而来的电子元件9，控制机构根据各个外观检测机构420的检测结果判断当前位于分拣机构6的电子元件9是否为瑕疵品，若为瑕疵品，则松开分拣机构6，电子元件9将直接掉落到瑕疵品回收通道7中，若为良品，则由位于分拣机构6处的第二夹持机构222将电子元件9夹持到下料机构8中，以此完成检测任务。

综上所述，本实施例提供一种双通道电子元件外观检测装置，通过设置多个检测工位410、多个旋转夹持机构3、多个外观检测机构420，使得电子元件9可以在检测工位410上进行全方位的外观检测，检测精度高；通过设置双侧平移机构2，使得双侧平移机构2两侧的第一平移机构220和第二平移机构230可以在同步板240的同步下移动以进行双通道检测，提高检测效率和产能；通过设置第一上料通道110和第二上料通道120、第一分拣机构610和第二分拣机构620，便于单独对双侧平移机构2两侧进行上料和分拣，通过设置多个外观检测机构420，使得可以从水平方向、斜向上、自上而下、自下而上等多个角度对各个检测工位410上的电子元件9进行多角度的检测；通过设置互为对称的第一检测区4和第二检测区5，便于同步进行检测任务；通过设置由旋转机构310和第一夹持机构320构成的旋转夹持机构3，可以在夹持电子元件9的时候对电子元件9进行转动，便于配合外观检测机构420实现全方位检测；通过在第一平移机构220和第二平移机构230上设置多个第二夹持机构222，使得一个第二夹持机构222在将一个电子元件9移动到下一个检测工位410时，另一个第二夹持机构222也可以将另一个电子元件9移动到下一个检测工位410或分拣机构6，提高检测效率。本实施例可实现对电子元件9进行全方位外观检测，具有检测精度高、检测效率高、产能高的优点。

以上所述的实施例，只是本实用新型的较优选的具体方式之一，本领域的技术员在本实用新型技术方案范围内进行的通常变化和替换都应包含在本实用新型的保护范围内。

Claims (10)

1.一种双通道电子元件外观检测装置，其特征在于，包括：

用于移送电子元件（9）的双侧平移机构（2），所述双侧平移机构（2）包括基座（210）和分别可移动地连接到所述基座（210）两侧的第一平移机构（220）和第二平移机构（230），所述第一平移机构（220）和所述第二平移机构（230）之间设置有同步板（240），用于使所述第一平移机构（220）和所述第二平移机构（230）在所述基座（210）上同步移动；

分别设置于所述双侧平移机构（2）的长度方向两端的上料机构（1）和下料机构（8）；

所述双侧平移机构（2）两侧沿其长度方向分别分布有若干检测工位（410），部分所述检测工位（410）上设有用于夹持所述电子元件（9）进行水平转动的旋转夹持机构（3）；

靠近所述检测工位（410）设置有若干外观检测机构（420）；

设置于所述双侧平移机构（2）与所述下料机构（8）之间的分拣机构（6），用于分拣所述电子元件（9）。

2.根据权利要求1所述的一种双通道电子元件外观检测装置，其特征在于，所述上料机构（1）包括第一上料通道（110）和第二上料通道（120），所述第一上料通道（110）的一个末端靠近所述第一平移机构（220），所述第二上料通道（120）的一个末端靠近所述第二平移机构（230）。

3.根据权利要求2所述的一种双通道电子元件外观检测装置，其特征在于，所述分拣机构（6）包括第一分拣机构（610）和第二分拣机构（620），所述第一分拣机构（610）位于所述第一平移机构（220）与所述下料机构（8）之间，所述第二分拣机构（620）位于所述第二平移机构（230）与所述下料机构（8）之间。

4.根据权利要求3所述的一种双通道电子元件外观检测装置，其特征在于，位于所述第一平移机构（220）一侧的若干所述检测工位（410）和若干所述外观检测机构（420）共同构成第一检测区（4），所述第一检测区（4）包括从所述第一上料通道（110）往所述第一分拣机构（610）方向依次设置的第一检测工位（411）和与之对应的第一检测机构（421）、第二检测工位（412）和与之对应的第二检测机构（422）、第三检测工位（413）和与之对应的第三检测机构（423）、第四检测工位（414）和与之对应的第四检测机构（424），用于从多个角度对所述电子元件（9）进行检测。

5.根据权利要求4所述的一种双通道电子元件外观检测装置，其特征在于：

所述第一检测机构（421）包括第一摄像头（4211），用于在水平方向上获取移经所述第一检测工位（411）的所述电子元件（9）的图像；

所述第二检测机构（422）包括第二摄像头（4221）和第三摄像头（4222），所述第二摄像头（4221）用于在水平方向上获取移经所述第二检测工位（412）的所述电子元件（9）的图像，所述第三摄像头（4222）用于在与水平面呈夹角的方向上往斜上方获取移经所述第二检测工位（412）的所述电子元件（9）的图像；

所述第三检测机构（423）包括第四摄像头（4231）和第五摄像头（4232），所述第四摄像头（4231）用于在水平方向上获取移经所述第三检测工位（413）的所述电子元件（9）的图像，所述第五摄像头（4232）用于在竖直面上自上而下获取移经所述第三检测工位（413）的所述电子元件（9）的图像；

所述第四检测机构（424）包括第六摄像头（4241）和第七摄像头（4242），所述第六摄像头（4241）用于在水平方向上获取移经所述第四检测工位（414）的所述电子元件（9）的图像，所述第七摄像头（4242）用于在竖直面上自下而上获取移经所述第四检测工位（414）的所述电子元件（9）的图像。

6.根据权利要求5所述的一种双通道电子元件外观检测装置，其特征在于，所述第一检测工位（411）、所述第二检测工位（412）和所述第三检测工位（413）上均设有所述旋转夹持机构（3）。

7.根据权利要求4-6任意一项所述的一种双通道电子元件外观检测装置，其特征在于，位于所述第二平移机构（230）一侧的若干所述检测工位（410）和若干所述外观检测机构（420）共同构成第二检测区（5），所述第二检测区（5）的结构与所述第一检测区（4）相同且以所述双侧平移机构（2）中线为轴对称。

8.根据权利要求1所述的一种双通道电子元件外观检测装置，其特征在于，所述旋转夹持机构（3）包括旋转机构（310）和设置于所述旋转机构（310）上的第一夹持机构（320），所述旋转机构（310）包括第一动力机构（311）和连接到所述第一动力机构（311）上的转盘（312），所述第一夹持机构（320）包括设置于所述转盘（312）上的第二动力机构（321）和连接到所述第二动力机构（321）的第一夹具（322），所述第一夹具（322）用于在所述第二动力机构（321）的驱动下夹持或松开所述电子元件（9），所述转盘（312）在所述第一动力机构（311）的驱动下连带所述第一夹具（322）转动。

9.根据权利要求1所述的一种双通道电子元件外观检测装置，其特征在于，所述第一平移机构（220）和所述第二平移机构（230）均包括可移动地连接到所述基座（210）上的滑动板（221）和设置于所述滑动板（221）上的多个第二夹持机构（222），所述第二夹持机构（222）包括设置于所述滑动板（221）上的第三动力机构（2221）和连接到所述第三动力机构（2221）的第二夹具（2222），所述第二夹具（2222）用于在所述第三动力机构（2221）的驱动下夹持或松开所述电子元件（9），所述滑动板（221）将使所述第二夹具（2222）在所述检测工位（410）间移动。

10.根据权利要求1所述的一种双通道电子元件外观检测装置，其特征在于，靠近所述分拣机构（6）设有瑕疵品回收通道（7），所述分拣机构（6）与若干所述外观检测机构（420）电连接，根据所述外观检测机构（420）的检测结果将所述电子元件（9）移送到所述瑕疵品回收通道（7）或所述下料机构（8）。

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