CN218133428U

CN218133428U - 一种芯片测试分选装置

Info

Publication number: CN218133428U
Application number: CN202222432651.0U
Authority: CN
Inventors: 黄波
Original assignee: Zhejiang Wanfa Biotechnology Co ltd
Current assignee: Zhejiang Wanfa Biotechnology Co ltd
Priority date: 2022-09-14
Filing date: 2022-09-14
Publication date: 2022-12-27
Anticipated expiration: 2032-09-14

Abstract

本实用新型公开了一种芯片测试分选装置，涉及芯片检测技术领域，包括操作台，操作台顶端一侧的两边分别开设有第一分选槽和第二分选槽，操作台顶端的另一侧设有测试分选组件，测试分选组件包括U型固定杆、芯片测试仪和辅助组件，本实用新型的有益效果是：将需要测试的芯片放置在放置板上，通过测试分选组件中设置的芯片测试仪对芯片进行检测后，检测后控制其中一个指示灯亮起，两个指示灯分别对应舵机和伺服电机，伺服电机带动放置板在第一分选槽的内部翻转，舵机带动分选板转动使分选板与芯片相接触，推动芯片至第二分选槽内掉落至第二活动槽内的分选箱内，便于进行分选，减少耗费时间，有利于提高测试分选效率。

Description

一种芯片测试分选装置

技术领域

本实用新型涉及一种测试分选装置，特别涉及一种芯片测试分选装置，属于芯片检测技术领域。

背景技术

目前，在芯片测试行业中，有部分芯片因其特殊的测试要求无法使用自动化测试设备进行测试，仍然需要测试人员手工进行点测。当测试人员在对这类芯片测试时，需要根据测试机测试芯片后显示在屏幕上的测试结果将芯片放置于对应测试结果的料盘中，由于需要测试的芯片数量巨大，测试人员需要反复进行测试的工序，容易造成大脑麻木，误将芯片放进非对应其测试结果的料盘之中，导致不同测试结果的芯片混料；

其中申请号为“CN202122873985.7”所公开的“一种芯片测试分选装置”也是日益成熟的技术，其“包括机座，机座上设有第一分选区域、第二分选区域和测试装置；第一分选区域用于放置符合第一分选条件的芯片；第二分选区域用于放置符合第二分选条件的芯片；第一分选区域设有第一信号灯，第二分选区域设有第二信号灯；测试装置与第一信号灯和第二信号灯电连接，测试装置被配置为测试芯片，并确定芯片符合第一分选条件或第二分选条件，以控制第一信号灯或第二信号灯开启。本实用新型能够帮助测试人员将芯片按照其测试结果放入正确的位置，避免将不同测试结果的芯片混杂在一起”，但是该装置在实际使用时还存在以下缺陷。

1）通常采用人工分类，需要耗费较长的时间，影响测试分选效率。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种芯片测试分选装置，以解决上述背景技术中提出的通常采用人工分类，需要耗费较长的时间，影响测试分选效率的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种芯片测试分选装置，包括操作台，所述操作台顶端一侧的两边分别开设有第一分选槽和第二分选槽，所述操作台顶端的另一侧设有测试分选组件，所述测试分选组件包括U型固定杆、芯片测试仪和辅助组件，所述U型固定杆固定设置在操作台顶端的一角，所述芯片测试仪固定设置在U型固定杆的底端，所述操作台顶端一侧的中部固定设有两个指示灯，所述操作台顶端的另一侧嵌设有伺服电机。

优选的，所述第一分选槽内壁的顶部转动设有放置板，所述放置板一侧的中部与伺服电机的输出端固定连接，所述放置板的位置与芯片测试仪的位置相对应。

优选的，所述操作台顶端另一侧的一边嵌设有舵机，所述舵机的输出轴固定连接有分选板。

优选的，所述辅助组件包括第一活动槽和第二活动槽，所述第一活动槽和第二活动槽分别开设在操作台两边侧的中部，所述第一活动槽的内部与第一分选槽的内部固定连通，所述第二活动槽的内部与第二分选槽的内部固定连通。

优选的，所述第一活动槽的内部和第二活动槽的内部均活动放置有分选箱。

优选的，所述芯片测试仪与两个指示灯电性连接。

优选的，所述操作台边侧的一角固定设有开关面板，所述开关面板的表面分别安装有伺服电机开关和舵机开关，所述伺服电机和舵机分别通过伺服电机开关和舵机开关与外接电源电性连接。

与相关技术相比较，本实用新型提供的一种芯片测试分选装置具有如下有益效果：

1、将需要测试的芯片放置在放置板上，通过测试分选组件中设置的芯片测试仪对芯片进行检测后，检测后控制其中一个指示灯亮起，两个指示灯分别对应舵机和伺服电机，伺服电机带动放置板在第一分选槽的内部翻转，翻转至芯片掉落至第一活动槽内的分选箱内，舵机带动分选板转动使分选板与芯片相接触，推动芯片至第二分选槽内掉落至第二活动槽内的分选箱内，便于进行分选，减少耗费时间，有利于提高测试分选效率。

附图说明

图1为本实用新型的整体结构示意图；

图2为本实用新型的剖面结构示意图；

图3为本实用新型的侧视剖面结构示意图；

图4为本实用新型的俯视剖面结构示意图。

图中：1、操作台；2、第一分选槽；3、第二分选槽；4、测试分选组件；41、U型固定杆；42、芯片测试仪；43、指示灯；44、伺服电机；45、放置板；46、舵机；47、分选板；5、辅助组件；51、第一活动槽；52、第二活动槽；53、分选箱；6、开关面板。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

实施例1：

请参阅图1-4，本实用新型提供了一种芯片测试分选装置，包括操作台1，操作台1顶端一侧的两边分别开设有第一分选槽2和第二分选槽3，操作台1顶端的另一侧设有测试分选组件4，测试分选组件4包括U型固定杆41、芯片测试仪42和辅助组件5，U型固定杆41固定设置在操作台1顶端的一角，芯片测试仪42固定设置在U型固定杆41的底端，操作台1顶端一侧的中部固定设有两个指示灯43，操作台1顶端的另一侧嵌设有伺服电机44；

第一分选槽2内壁的顶部转动设有放置板45，放置板45一侧的中部与伺服电机44的输出端固定连接，放置板45的位置与芯片测试仪42的位置相对应；

操作台1顶端另一侧的一边嵌设有舵机46，舵机46的输出轴固定连接有分选板47；

芯片测试仪42与两个指示灯43电性连接；

操作台1边侧的一角固定设有开关面板6，开关面板6的表面分别安装有伺服电机开关和舵机开关，伺服电机44和舵机46分别通过伺服电机开关和舵机开关与外接电源电性连接；

具体的，如图1、图2、图3、图4所示，需要测试的芯片放置在放置板45上，通过测试分选组件4中设置的芯片测试仪42对芯片进行检测后，检测后控制其中一个指示灯43亮起，两个指示灯43分别对应舵机46和伺服电机44。

实施例2：

辅助组件5包括第一活动槽51和第二活动槽52，第一活动槽51和第二活动槽52分别开设在操作台1两边侧的中部，第一活动槽51的内部与第一分选槽2的内部固定连通，第二活动槽52的内部与第二分选槽3的内部固定连通；

第一活动槽51的内部和第二活动槽52的内部均活动放置有分选箱53；

具体的，如图1、图2、图3、图4所示，伺服电机44带动放置板45在第一分选槽2的内部翻转，翻转至芯片掉落至第一活动槽51内的分选箱53内，舵机46带动分选板47转动使分选板47与芯片相接触，推动芯片至第二分选槽3内掉落至第二活动槽52内的分选箱53内，便于进行分选，减少耗费时间，有利于提高测试分选效率。

工作原理：具体使用时，本实用新型一种芯片测试分选装置，首先将测试分选组件4放置在相应的工作位置，然后检查辅助组件5的各个零部件是否均工作正常，检查完成后即可使用，将需要测试的芯片放置在放置板45上，通过测试分选组件4中设置的芯片测试仪42对芯片进行检测后，检测后控制其中一个指示灯43亮起，两个指示灯43分别对应舵机46和伺服电机44，伺服电机44带动放置板45在第一分选槽2的内部翻转，翻转至芯片掉落至第一活动槽51内的分选箱53内，舵机46带动分选板47转动使分选板47与芯片相接触，推动芯片至第二分选槽3内掉落至第二活动槽52内的分选箱53内，便于进行分选，减少耗费时间，有利于提高测试分选效率。

尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。

Claims

1.一种芯片测试分选装置，包括操作台（1），其特征在于，所述操作台（1）顶端一侧的两边分别开设有第一分选槽（2）和第二分选槽（3），所述操作台（1）顶端的另一侧设有测试分选组件（4），所述测试分选组件（4）包括U型固定杆（41）、芯片测试仪（42）和辅助组件（5），所述U型固定杆（41）固定设置在操作台（1）顶端的一角，所述芯片测试仪（42）固定设置在U型固定杆（41）的底端，所述操作台（1）顶端一侧的中部固定设有两个指示灯（43），所述操作台（1）顶端的另一侧嵌设有伺服电机（44）。

2.根据权利要求1所述的一种芯片测试分选装置，其特征在于：所述第一分选槽（2）内壁的顶部转动设有放置板（45），所述放置板（45）一侧的中部与伺服电机（44）的输出端固定连接，所述放置板（45）的位置与芯片测试仪（42）的位置相对应。

3.根据权利要求1所述的一种芯片测试分选装置，其特征在于：所述操作台（1）顶端另一侧的一边嵌设有舵机（46），所述舵机（46）的输出轴固定连接有分选板（47）。

4.根据权利要求1所述的一种芯片测试分选装置，其特征在于：所述辅助组件（5）包括第一活动槽（51）和第二活动槽（52），所述第一活动槽（51）和第二活动槽（52）分别开设在操作台（1）两边侧的中部，所述第一活动槽（51）的内部与第一分选槽（2）的内部固定连通，所述第二活动槽（52）的内部与第二分选槽（3）的内部固定连通。

5.根据权利要求4所述的一种芯片测试分选装置，其特征在于：所述第一活动槽（51）的内部和第二活动槽（52）的内部均活动放置有分选箱（53）。

6.根据权利要求1所述的一种芯片测试分选装置，其特征在于：所述芯片测试仪（42）与两个指示灯（43）电性连接。

7.根据权利要求3所述的一种芯片测试分选装置，其特征在于：所述操作台（1）边侧的一角固定设有开关面板（6），所述开关面板（6）的表面分别安装有伺服电机开关和舵机开关，所述伺服电机（44）和舵机（46）分别通过伺服电机开关和舵机开关与外接电源电性连接。