CN218068154U - 一种电子产品测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种电子产品测试装置，其结构包括机体、限位架、测试头、撑接架、框座、电控箱、升降杆、感应控盒、位移清理器，本实用新型的机体台面上设有组合使用的位移清理器，支撑架上设有两侧安装点不变的垂接杆，位移时通过套嵌式滑接套表面的滚轴滚动性调整位置，而进尘槽板表面凹槽上方设有吸附滤板，且对应朝向凹槽台面，吸附滤板在气体过滤过程中起到承载粉尘颗粒过滤和防粉尘四散的双重作用，利用辅接气罩另一端负压产生的吸力将机体台面上的粉尘颗粒进行清理，能够及时对台面产生的粉尘进行处理，有效避免粉尘对电子产品产生影响。

Description

一种电子产品测试装置

技术领域

本实用新型是一种电子产品测试装置，属于电子产品测试技术领域。

背景技术

电子产品测试的目的是验证整机各个结构件之间以及整机与外部接口、模块之间的配合度。测试项包括单板与外壳的安装测试，整机端口的插拔测试，用户使用场景的整机安装测试。

现有的电子产品测试装置台面大多暴露在作业环境空气中，若表面堆积较多的粉尘，容易对测试中的电子产品造成一定的影响，手动擦拭清理容易忽略死角粉尘且台面摩擦大。

实用新型内容

针对现有技术存在的不足，本实用新型目的是提供一种电子产品测试装置，以解决现有的电子产品测试装置台面大多暴露在作业环境空气中，若表面堆积较多的粉尘，容易对测试中的电子产品造成一定的影响，手动擦拭清理容易忽略死角粉尘且台面摩擦大的问题。

为了实现上述目的，本实用新型是通过如下的技术方案来实现：一种电子产品测试装置，其结构包括机体、限位架、测试头、撑接架、框座、电控箱、升降杆、感应控盒、位移清理器，所述机体上安装有平衡线等高间隔的限位架，所述电控箱导接线相连感应控盒端组，所述感应控盒电接线对应相连测试头控端，所述测试头设有多个且排列置设于撑接架表面凹槽点位上，所述升降杆垂嵌设于电控箱底壁开口凹槽点位上，所述机体台面上设有组合使用的位移清理器。

进一步地，所述位移清理器包括支撑架、进尘槽板、吸附滤板、导流板、垂接杆、滑接套、辅接气罩、滚轴，所述支撑架上设有两侧安装点不变的垂接杆，所述垂接杆表面设有套嵌式滑接套，所述进尘槽板表面凹槽上方设有吸附滤板，所述吸附滤板对应设于导流板下层空隙处，所述导流板开口凹槽相连通辅接气罩，所述滑接套凹槽设有的滚轴摩擦相连限位架前壁槽。

进一步地，所述框座表面凹槽设有嵌装式电控箱。

进一步地，所述测试头下端头对应朝向机体表面台板位置上方。

进一步地，所述撑接架表面凹槽对应卡接升降杆下端接头。

进一步地，所述限位架对应配设在框座前下壁位置处。

进一步地，所述辅接气罩开口管接负压器。

进一步地，所述导流板安装高度超过进尘槽板。

有益效果

本实用新型一种电子产品测试装置，机体台面上设有组合使用的位移清理器，支撑架上设有两侧安装点不变的垂接杆，位移时通过套嵌式滑接套表面的滚轴滚动性调整位置，而进尘槽板表面凹槽上方设有吸附滤板，且对应朝向凹槽台面，吸附滤板在气体过滤过程中起到承载粉尘颗粒过滤和防粉尘四散的双重作用，利用辅接气罩另一端负压产生的吸力将机体台面上的粉尘颗粒进行清理，能够及时对台面产生的粉尘进行处理，有效避免粉尘对电子产品产生影响。

附图说明

通过阅读参照以下附图对非限制性实施例所作的详细描述，本实用新型的其它特征、目的和优点将会变得更明显：

图1为本实用新型一种电子产品测试装置的结构示意图；

图2为本实用新型的位移清理器装配结构示意图；

图3为本实用新型的导尘装配结构示意图；

图4为本实用新型的支撑架装配结构示意图。

图中：机体-1、限位架-2、测试头-3、撑接架-4、框座-5、电控箱-6、升降杆-7、感应控盒-8、位移清理器-9、支撑架-821、进尘槽板-822、吸附滤板-823、导流板-824、垂接杆-825、滑接套-826、辅接气罩-827、滚轴-828。

具体实施方式

为使本实用新型实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解，下面结合具体实施方式，进一步阐述本实用新型。

请参阅图1-图4，本实用新型提供一种技术方案：一种电子产品测试装置，其结构包括机体1、限位架2、测试头3、撑接架4、框座5、电控箱6、升降杆7、感应控盒8、位移清理器9，所述机体1上安装有平衡线等高间隔的限位架2，所述电控箱6导接线相连感应控盒8端组，所述感应控盒8电接线对应相连测试头3控端，所述测试头3设有多个且排列置设于撑接架4表面凹槽点位上，所述升降杆7垂嵌设于电控箱6底壁开口凹槽点位上，所述机体1台面上设有组合使用的位移清理器9，所述位移清理器9包括支撑架821、进尘槽板822、吸附滤板823、导流板824、垂接杆825、滑接套826、辅接气罩827、滚轴828，所述支撑架821上设有两侧安装点不变的垂接杆825，所述垂接杆825表面设有套嵌式滑接套826，所述进尘槽板822表面凹槽上方设有吸附滤板823，所述吸附滤板823对应设于导流板824下层空隙处，所述导流板824开口凹槽相连通辅接气罩827，所述滑接套826凹槽设有的滚轴828摩擦相连限位架2前壁槽，所述框座5表面凹槽设有嵌装式电控箱6，所述测试头3下端头对应朝向机体1表面台板位置上方，所述撑接架4表面凹槽对应卡接升降杆7下端接头，所述限位架2对应配设在框座5前下壁位置处，所述辅接气罩827开口管接负压器，所述导流板824安装高度超过进尘槽板822。

本专利所说的吸附滤板823在气体过滤过程中起到承载粉尘颗粒过滤和防粉尘四散的双重作用，利用辅接气罩827另一端负压产生的吸力将机体1台面上的粉尘颗粒进行清理。

例如：在进行使用时，机体1台面上设有组合使用的位移清理器9，支撑架821上设有两侧安装点不变的垂接杆825，位移时通过套嵌式滑接套826表面的滚轴828滚动性调整位置，而进尘槽板822表面凹槽上方设有吸附滤板823，且对应朝向凹槽台面，吸附滤板823在气体过滤过程中起到承载粉尘颗粒过滤和防粉尘四散的双重作用，利用辅接气罩827另一端负压产生的吸力将机体1台面上的粉尘颗粒进行清理，能够及时对台面产生的粉尘进行处理，有效避免粉尘对电子产品产生影响。

本实用新型解决的问题是现有的电子产品测试装置台面大多暴露在作业环境空气中，若表面堆积较多的粉尘，容易对测试中的电子产品造成一定的影响，手动擦拭清理容易忽略死角粉尘且台面摩擦大，本实用新型通过上述部件的互相组合，机体台面上设有组合使用的位移清理器，能够及时对台面产生的粉尘进行处理，有效避免粉尘对电子产品产生影响。

以上显示和描述了本实用新型的基本原理和主要特征和本实用新型的优点，对于本领域技术人员而言，显然本实用新型不限于上述示范性实施例的细节，而且在不背离本实用新型的精神或基本特征的情况下，能够以其他的具体形式实现本实用新型。因此，无论从哪一点来看，均应将实施例看作是示范性的，而且是非限制性的，本实用新型的范围由所附权利要求而不是上述说明限定，因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化囊括在本实用新型内。不应将权利要求中的任何附图标记视为限制所涉及的权利要求。

此外，应当理解，虽然本说明书按照实施方式加以描述，但并非每个实施方式仅包含一个独立的技术方案，说明书的这种叙述方式仅仅是为清楚起见，本领域技术人员应当将说明书作为一个整体，各实施例中的技术方案也可以经适当组合，形成本领域技术人员可以理解的其他实施方式。

Claims (6)

1.一种电子产品测试装置，其结构包括机体(1)、限位架(2)、测试头(3)、撑接架(4)、框座(5)、电控箱(6)、升降杆(7)、感应控盒(8)、位移清理器(9)，其特征在于：

所述机体(1)上安装有平衡线等高间隔的限位架(2)，所述电控箱(6)导接线相连感应控盒(8)端组，所述感应控盒(8)电接线对应相连测试头(3)控端，所述测试头(3)设有多个且排列置设于撑接架(4)表面凹槽点位上，所述升降杆(7)垂嵌设于电控箱(6)底壁开口凹槽点位上，所述机体(1)台面上设有组合使用的位移清理器(9)。

2.根据权利要求1所述的一种电子产品测试装置，其特征在于：所述位移清理器(9)包括支撑架(821)、进尘槽板(822)、吸附滤板(823)、导流板(824)、垂接杆(825)、滑接套(826)、辅接气罩(827)、滚轴(828)，所述支撑架(821)上设有两侧安装点不变的垂接杆(825)，所述垂接杆(825)表面设有套嵌式滑接套(826)，所述进尘槽板(822)表面凹槽上方设有吸附滤板(823)，所述吸附滤板(823)对应设于导流板(824)下层空隙处，所述导流板(824)开口凹槽相连通辅接气罩(827)，所述滑接套(826)凹槽设有的滚轴(828)摩擦相连限位架(2)前壁槽。

3.根据权利要求1所述的一种电子产品测试装置，其特征在于：所述框座(5)表面凹槽设有嵌装式电控箱(6)。

4.根据权利要求1所述的一种电子产品测试装置，其特征在于：所述测试头(3)下端头对应朝向机体(1)表面台板位置上方。

5.根据权利要求1所述的一种电子产品测试装置，其特征在于：所述撑接架(4)表面凹槽对应卡接升降杆(7)下端接头。

6.根据权利要求1所述的一种电子产品测试装置，其特征在于：所述限位架(2)对应配设在框座(5)前下壁位置处。

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