CN218036958U - 测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供了一种测试装置。该测试装置包括固定座；驱动机构，驱动机构设置在固定座上；探针部，探针部包括探针座和探针，探针座绕第一轴线可转动地连接在固定座上，探针座与驱动机构连接，并在驱动机构的驱动下绕第一轴线转动，探针用于与被测物接触，探针设置在探针座上，并在探针座的驱动下运动。该测试装置可靠性高。

Description

测试装置

技术领域

本实用新型涉及低压电器技术领域，尤其涉及一种测试装置。

背景技术

低压电器产品在生产制造过程中，为保证产品性能的可靠性，需要对产品进行通电测试，从中获得所需要的各项参数。现有的测试方式通常是采用下压式探针结构或机械夹紧式结构与待测产品的端子接触，然后对其进行通电测试，并采集需要的参数。

机械夹紧式结构存在操作复杂、过于消耗时间，使得测试成本增加的问题。在使用下压式探针结构，通过低电压高电流方式进行测试时存在的问题在于：容易出现通电不良、供电不可靠的问题，导致无法完成测试或者采集的参数不能反映待测产品的真实情况的问题。

实用新型内容

为了解决上述技术问题，本申请实施例提供了一种测试装置，以解决低压电器产品测试效果不好的问题。

根据本申请实施例的第一方面，提供了一种测试装置，包括：固定座；驱动机构，驱动机构设置在固定座上；探针部，探针部包括探针座和探针，探针座绕第一轴线可转动地连接在固定座上，探针座与驱动机构连接，并在驱动机构的驱动下绕第一轴线转动，探针用于与被测物接触，探针设置在探针座上，并在探针座的驱动下运动。

可选地，固定座上设置有导杆，导杆可相对固定座转动，导杆的转动轴线为第一轴线，探针座与导杆固定连接。

可选地，固定座和探针座之间设置有弹性件，弹性件向探针座施加使探针和被测物抵紧的作用力。

可选地，弹性件包括弹簧，弹簧套设在导杆外，且弹簧的第一端与固定座抵接，弹簧的第二端与探针座抵接。

可选地，探针具有中轴线，探针的中轴线与第一轴线同轴，或者，中轴线与第一轴线之间的距离小于或等于0.5mm。

可选地，驱动机构包括：驱动件，驱动件设置在固定座上，且驱动件具有移动端；传动件，传动件与驱动件的移动端连接，并在驱动件的驱动下，相对固定座沿第一方向移动，第一方向垂直于第一轴线；滑动杆，滑动杆连接在探针座和传动件之间，在传动件的驱动下相对固定座绕第一轴线转动，以带动探针座和探针绕第一轴线转动。

可选地，固定座上设置有滑槽，滑动杆穿过滑槽，且滑动杆在传动件的驱动下沿滑槽移动。

可选地，滑槽为圆弧槽，且圆弧槽的圆心在第一轴线上。

可选地，传动件上设置有导向槽，滑动杆伸入导向槽内，以通过导向槽与传动件连接。

可选地，驱动件的移动端和传动件之间连接有浮动接头。

通过本申请实施例的测试装置，探针部可以在需要时与被测物(例如前述的低压电器)的触点等接触，从而实现对被测物通电，以对被测物进行测试。由于被测物的触点和探针部的探针之间可能存在影响通电性能的物质(如杂质或者绝缘介质等)，导致通电不良或者供电不足，而影响了测试准确性，所以，为了解决该问题，本实施例中的测试装置包括驱动机构，在出现通电不良等情况时，通过驱动机构带动探针座和探针绕第一轴线转动，使得探针和被测物之间出现相对运动，使得探针可以有效划破探针和被测物的触点之间的杂质或者绝缘介质，从而获得良好的导通性，确保测试准确性，也可以避免频繁更换或者清理探针，从而提升测试效率。

附图说明

图1是本申请实施例提供的一种测试装置的第一视角立体结构示意图；

图2是本申请实施例提供的一种测试装置的第二视角立体结构示意图；

图3是本申请实施例提供的一种测试装置的导杆处的剖视结构示意图；

图4是本申请实施例提供的一种测试装置去除固定座的立体结构示意图；

图5是本申请实施例提供的一种测试装置的固定座的结构示意图；

附图标记列表：

10、固定座；11、滑槽；20、驱动机构；21、驱动件；221、导向槽；22、传动件；23、滑动杆；24、浮动接头；30、探针部；31、探针座；32、探针；41、导杆；42、弹簧；A1、第一轴线；A2、中轴线。

具体实施方式

为使本申请的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本申请实施方式作进一步地详细描述。

在本申请的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本申请和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本申请的限制。

参照图1到图5，本申请实施例提供一种测试装置，该测试装置可以用于低压电器的测试，例如通过对低压电器进行通电测试，确定低压电器的参数是否满足需求，从而确定低压电器的性能和可靠性。

该测试装置包括固定座10、驱动机构20和探针部30，驱动机构20设置在固定座10上；探针部30包括探针座31和探针32，探针座31绕第一轴线A1可转动地连接在固定座10上，探针座31与驱动机构20连接，并在驱动机构20的驱动下绕第一轴线A1转动，探针32用于与被测物接触，探针32设置在探针座31上，并在探针座31的驱动下运动。

该测试装置的固定座10用于安装驱动机构20和探针部30，驱动机构20与探针部30连接，用于为探针部30提供动力，使其能够在需要时绕第一轴线A1转动。探针部30可以在需要时与被测物(例如前述的低压电器)的触点等接触，从而实现对被测物通电，以对被测物进行测试。由于被测物的触点和探针部30的探针32之间可能存在影响通电性能的物质(如杂质或者绝缘介质等)，导致通电不良或者供电不足，而影响了测试准确性，所以，为了解决该问题，本实施例中的测试装置包括驱动机构20，在出现通电不良等情况时，通过驱动机构20带动探针座31和探针32绕第一轴线A1转动，使得探针32和被测物之间出现相对运动，使得探针32可以有效划破探针32和被测物的触点之间的杂质或者绝缘介质，从而获得良好的导通性，确保测试准确性，也可以避免频繁更换或者清理探针32，从而提升测试效率。

需要说明的是，本实施例中探针32相对触点运动时的运动平面平行于探针32与触点的接触面，或者，该运动平面和接触面之间的夹角小于或等于5°。

下面结合附图对测试装置的结构进行说明：

如图1到图3所示，固定座10可以与其他的固定物(安装框架或者墙壁等)连接，固定座10可以相对固定物移动，进而带动驱动机构20和探针部30相对固定物移动，从而使探针32与被测物接触或者分离；或者，固定座10也可以相对固定物固定，通过被测物的移动实现探针32与被测物的接触或者分离，对此不作限制。

可选地，为了使探针座31相对固定座10转动更加顺畅、可靠，固定座10上设置有导杆41，导杆41可相对固定座10转动，导杆41的转动轴线为第一轴线A1，探针座31与导杆41固定连接。这样可以通过导杆41连接探针座31和固定座10，同时导杆41作为固定座10的轴，保证探针座31转动顺畅。

如图3所示，导杆41和固定座10之间设置有轴承，通过轴承对导杆41进行支撑，同时保证导杆41能够相对固定座10转动。当然，导杆41和固定座10之间的连接方式并不限于此，只要保证导杆41能够相对固定座10转动即可。

在一示例中，为了保证探针32和被测物接触的抵接力足够，从而防止接触不良等问题，固定座10和探针座31之间设置有弹性件，弹性件向探针座31施加使探针32和被测物抵紧的作用力。通过弹性件对探针32施加作用力，使得探针32和被测物接触时抵接力足够，这样在需要划破杂质或者绝缘介质时，也能保证获得足够的摩擦力，从而快速划破杂质或者绝缘介质等。

优选地，弹性件包括弹簧42，弹簧42套设在导杆41外，且弹簧42的第一端与固定座10抵接，弹簧42的第二端与探针座31抵接。通过弹簧42提供抵接力成本更低、装配更加方便，而且导杆41也可以对弹簧42提供一定的导向作用。

在一可选示例中，探针32具有中轴线A2)(如图3所示，探针32的中轴线为其顶端中心和底端中心之间的连线)，探针32的中轴线A2与第一轴线A1同轴，或者，中轴线A2与第一轴线A1之间的距离小于或等于0.5mm。这样在探针座31受驱动机构20的驱动而绕第一轴线A1转动时，由于探针32和探针座31固定连接，而探针32的中轴线A2和第一轴线A1同轴或者相差距离较小，使得探针32是绕第一轴线A1转动或者是在很小的范围内摆动，从而实现划破杂质等的效果。

如图4和图5所示，驱动机构20包括驱动件21、传动件22和滑动杆23，驱动件21设置在固定座10上，且驱动件21具有移动端；传动件22与驱动件21的移动端连接，并在驱动件21的驱动下，相对固定座10沿第一方向D1移动，第一方向D1垂直于第一轴线A1；滑动杆23连接在探针座31和传动件22之间，在传动件22的驱动下相对固定座10绕第一轴线A1转动，以带动探针座31和探针32绕第一轴线A1转动。

其中，驱动件21可以是驱动气缸，其移动端即为驱动气缸的伸缩端。采用驱动气缸对探针座31进行驱动成本更低、可靠性更高。当然，在其他实施例中，也可以采用电机等作为驱动件，对此不作限制。

驱动件21的移动端与传动件22连接，以带动其移动。在本示例中，为了对传动件22进行可靠安装，同时对其移动进行导向，传动件22包括传动板和连接板，传动板穿设在固定座10内，并可以相对固定座10在第一方向D1上移动。连接板垂直连接在传动板的端部，并与驱动件21的移动端连接。该第一方向D1可以与驱动气缸的伸缩方向一致，且垂直于第一轴线A1。这样通过驱动气缸的伸缩可以带动传动件22移动。

为了能够将传动件22的移动传动到探针座31，在探针座31和传动件22之间连接有滑动杆23，如图4所示，滑动杆23的第一端穿过固定座10并与传动件22连接。滑动杆23的第二端固定连接在探针座31上。

如图4和图5所示，在传动件22沿第一方向D1往复移动时，会带动滑动杆23沿第一方向D1移动，进而在滑动杆23的带动下，使得探针座31被动带动，绕导杆41的第一轴线A1转动，继而使得探针32绕第一轴线A1转动。

由于滑动杆23穿过了固定座10，为了避免滑动杆23和固定座10之间相互干涉，如图5所示，固定座10上设置有滑槽11，滑动杆23穿过滑槽11，且滑动杆23在传动件22的驱动下沿滑槽11移动。通过滑槽11对滑动杆23进行避让，保证其可以顺畅地移动。

滑槽11可以是任何适当的形状和大小，只要不干涉滑动杆23的移动即可。优选地，滑槽11为圆弧槽，且圆弧槽的圆心在第一轴线A1上。这样可以对滑动杆23进行有效避让，也无需开设较大的滑槽，使得加工更加方便。

类似地，因为滑动杆23相对固定座10做圆弧摆动，而传动件22相对固定座10沿第一方向D1移动，导致滑动杆23和传动件22之间存在相对移动，为了避免两者相互干涉，如图4所示，传动件22上设置有导向槽221，滑动杆23伸入导向槽221内，以通过导向槽221与传动件22连接。

其中，导向槽221在第一方向D1上的宽度与滑动杆23适配，以保证传动件22在第一方向D1上的移动可以快速地传递到滑动杆23上，而导向槽221在第二方向D2上的长度大于滑动杆23在该方向上的长度，从而滑动杆23留出活动的余量，防止卡死。第一方向D1和第二方向D2之间相互垂直，且第一轴线A1垂直于第一方向D1和第二方向D2构成的平面。

可选地，为了增加适配性，并减少冲击，驱动件21的移动端和传动件22之间连接有浮动接头24。通过浮动接头24可以吸收冲击，从而对驱动件21和传动件22进行保护。

综上，当通过该测试装置进行下压通电测试时，可以驱动固定座10向下移动到探针32与被测物的触点接触，并通过探针32对被测物通电，以检测被测物的参数。如果检测到被测物没有正常得电，则启动驱动机构20，使得驱动气缸进行伸缩，以通过传动件22带动滑动杆23绕第一轴线A1做往复的圆弧转动，在滑动杆23的带动下，使得探针座31绕导杆41的第一轴线A1做往复摆动，探针座31的摆动，使得探针32绕自身中轴线A2做旋转动作，结合弹簧42的持续压力，使得探针32旋转时有效地划破绝缘介质及微小杂质，从而实现探针32和被测物之间接触良好，从而获得良好的导通性，确保测试准确、顺利，避免由于杂质等导致的测试不准。

在测试过程中，可根据被测物是否得电而选择是否需要启用旋转探针动作，可避免不必要的测试时间的浪费和机构寿命的损害。

需要说明的是，上述各流程和各系统结构图中不是所有的步骤和模块都是必须的，可以根据实际的需要忽略某些步骤或模块。各步骤的执行顺序不是固定的，可以根据需要进行调整。上述各实施例中描述的系统结构可以是物理结构，也可以是逻辑结构，即，有些模块可能由同一物理实体实现，或者，有些模块可能分由多个物理实体实现，或者，可以由多个独立设备中的某些部件共同实现。

以上各实施例中，硬件模块可以通过机械方式或电气方式实现。例如，一个硬件模块可以包括永久性专用的电路或逻辑(如专门的处理器，FPGA或ASIC)来完成相应操作。硬件模块还可以包括可编程逻辑或电路(如通用处理器或其它可编程处理器)，可以由软件进行临时的设置以完成相应操作。具体的实现方式(机械方式、或专用的永久性电路、或者临时设置的电路)可以基于成本和时间上的考虑来确定。

上文通过附图和优选实施例对本申请进行了详细展示和说明，然而本申请不限于这些已揭示的实施例，基与上述多个实施例本领域技术人员可以知晓，可以组合上述不同实施例中的代码审核手段得到本申请更多的实施例，这些实施例也在本申请的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种测试装置，其特征在于，包括：

固定座(10)；

驱动机构(20)，所述驱动机构(20)设置在所述固定座(10)上；

探针部(30)，所述探针部(30)包括探针座(31)和探针(32)，所述探针座(31)绕第一轴线(A1)可转动地连接在所述固定座(10)上，所述探针座(31)与所述驱动机构(20)连接，并在所述驱动机构(20)的驱动下绕所述第一轴线(A1)转动，所述探针(32)用于与被测物接触，所述探针(32)设置在所述探针座(31)上，并在所述探针座(31)的驱动下运动。

2.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述固定座(10)上设置有导杆(41)，所述导杆(41)可相对所述固定座(10)转动，所述导杆(41)的转动轴线为所述第一轴线(A1)，所述探针座(31)与所述导杆(41)固定连接。

3.根据权利要求2所述的测试装置，其特征在于，所述固定座(10)和所述探针座(31)之间设置有弹性件，所述弹性件向所述探针座(31)施加使所述探针(32)和所述被测物抵紧的作用力。

4.根据权利要求3所述的测试装置，其特征在于，所述弹性件包括弹簧(42)，所述弹簧(42)套设在所述导杆(41)外，且所述弹簧(42)的第一端与所述固定座(10)抵接，所述弹簧(42)的第二端与所述探针座(31)抵接。

5.根据权利要求1-4中任一项所述的测试装置，其特征在于，所述探针(32)具有中轴线(A2)，所述探针(32)的中轴线(A2)与所述第一轴线(A1)同轴，或者，所述中轴线(A2)与所述第一轴线(A1)之间的距离小于或等于0.5mm。

6.根据权利要求1-4中任一项所述的测试装置，其特征在于，所述驱动机构(20)包括：

驱动件(21)，所述驱动件(21)设置在所述固定座(10)上，且所述驱动件(21)具有移动端；

传动件(22)，所述传动件(22)与所述驱动件(21)的移动端连接，并在所述驱动件(21)的驱动下，相对所述固定座(10)沿第一方向(D1)移动，所述第一方向(D1)垂直于所述第一轴线(A1)；

滑动杆(23)，所述滑动杆(23)连接在所述探针座(31)和所述传动件(22)之间，在所述传动件(22)的驱动下相对所述固定座(10)绕所述第一轴线(A1)转动，以带动所述探针座(31)和所述探针(32)绕所述第一轴线(A1)转动。

7.根据权利要求6所述的测试装置，其特征在于，所述固定座(10)上设置有滑槽(11)，所述滑动杆(23)穿过所述滑槽(11)，且所述滑动杆(23)在所述传动件(22)的驱动下沿所述滑槽(11)移动。

8.根据权利要求7所述的测试装置，其特征在于，所述滑槽(11)为圆弧槽，且所述圆弧槽的圆心在所述第一轴线(A1)上。

9.根据权利要求6所述的测试装置，其特征在于，所述传动件(22)上设置有导向槽(221)，所述滑动杆(23)伸入所述导向槽(221)内，以通过所述导向槽(221)与所述传动件(22)连接。

10.根据权利要求6所述的测试装置，其特征在于，所述驱动件(21)的移动端和所述传动件(22)之间连接有浮动接头(24)。

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