CN218003570U - 电子元件测试座 - Google Patents
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Abstract
一种电子元件测试座,其用于测试待测电子元件，该待测电子元件上的设置待测点，其包括：测试底座，其内装设测试主板，该测试主板上设置有测试触点，该测试触点与该待测点在测试方向上不在一条直线上；及探针固定体，其用于插接于该测试底座内且与该测试底座电性连接，该探针固定体包含探针夹座以及转接座，该探针夹座用于对应该待测电子元件的待测点的位置夹持固定探针，该探针的一端用于导电接触该待测点，该转接座固定于该探针夹座的下方，该转接座对应该探针的另一端设置导电触点，该转接座还对应该测试底座的测试触点向下凸伸导电针，该导电针电性连接该导电触点，当该探针固定体插接于该测试底座，该导电针将导电触接该测试底座的测试触点。
Description
【技术领域】
本实用新型是一测试装置,特别是一种电子元件测试座。
【背景技术】
如图1所示，为现有的测试座的简单结构示意图，该测试座1包括：探针10，可以在检验方向上伸缩；探针固定体11，用于夹持固定该探针10；以及测试底座12，其内装设测试主板120，该测试主板120上布设有测试触点1200。该探针固定体11上的探针10根据待测电子元件上的待测点的位置进行客制化设置。而当要更换测试电子元件8，由于电子元件的待测点位置发生了变化，而现有的测试座1的探针10的位置固定，则整套测试座1都将无法使用，不得不更换整套测试座，因此大大地增加了测试成本。
实际测试中，因为待测物为模块化包装，待测点位多，且分布的形式不统一，所以在测试座的设计上会造成多样化的测试座产出。
【实用新型内容】
本实用新型所要解决的技术问题是提供一种电子元件测试座,其可在测试不同电子元件时，无需更换测试底座，仅更换成本较低的探针固定装置即可，大大节约了测试成本。
为解决上述技术问题，本实用新型一种电子元件测试座,其用于测试待测电子元件，该待测电子元件上的设置待测点，其包括：
测试底座，其内装设测试主板，该测试主板上设置有测试触点，该测试触点与该待测点在测试方向上不在一条直线上；及
探针固定体，其用于插接于该测试底座内且与该测试底座电性连接，该探针固定体包含探针夹座以及转接座，该探针夹座用于对应该待测电子元件的待测点的位置夹持固定探针，该探针的一端用于导电接触该待测点，该转接座固定于该探针夹座的下方，该转接座对应该探针的另一端设置导电触点，该转接座还对应该测试底座的测试触点向下凸伸导电针，该导电针电性连接该导电触点，当该探针固定体插接于该测试底座，该导电针将导电触接该测试底座的测试触点。
优选地，该电子元件为BQFP元件。
优选地，该电子元件为BGA封装元件。
与现有技术相比较，本实用新型的电子元件测试座，根据不同的待测电子元件设置可更换的探针固定体，该探针固定体一端匹配待测电子元件，一端匹配共用的测试底座，达到不更换测试底座可测试测试点部分不同电子元件的目的，相对于现有技术不得不更换整套测试座的方式而言，大大节约了测试成本。
【附图说明】
图1为现有电子元件测试座简单示意图。
图2为本实用新型电子元件测试座的组装示意图。。
【具体实施方式】
请参阅图2所示，本实用新型一种电子元件测试座,其用于测试待测电子元件3，该待测电子元件3上的设置待测点30，本实用新型的电子元件测试座包括测试底座12及探针固定体21。
该测试底座12，其内装设测试主板120，该测试主板120上设置有测试触点1200，该测试触点1200与该待测点30在测试方向上不在一条直线上。
该探针固定体21，其用于插接于该测试底座12内且与该测试底座12电性连接，该探针固定体21包含探针夹座210以及转接座211，该探针夹座210用于对应该待测电子元件3的待测点30的位置夹持固定探针10，该探针10的一端用于导电接触该待测点30，该转接座211固定于该探针夹座210的下方，该转接座211对应该探针10的另一端设置导电触点2110，该转接座211还对应该测试底座12的测试触点1200向下凸伸导电针2111，该导电针2111电性连接该导电触点2110，当该探针固定体21插接于该测试底座12，该导电针2111将导电触接该测试底座12的测试触点1200。
当要测试待测电子元件3，可直接将待测电子元件3置于本实用新型的测试底座12的上方，让待测电子元件3的待测点30接触该探针固定体21中固定的探针10，该探针10将通过该转接座211传输电信号至该测试底座12的测试触点1200，以便进行功能测试，而当要测试不同的电子元件，可开发对应的探针固定体21即可，无需更换制作成本极高的测试底座12，大大节约了测试成本。
在本实施例中，该电子元件3为BGA封装元件，该电子元件3为BGA封装元件或BQFP(quad flat package with bumper)元件。
以上所述，仅为本实用新型的具体实施方式，但本实用新型的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。因此，本实用新型的保护范围应以权利要求的保护范围为准。
Claims (3)
1.一种电子元件测试座,其用于测试待测电子元件，该待测电子元件上的设置待测点，其特征在于，包括：
测试底座，其内装设测试主板，该测试主板上设置有测试触点，该测试触点与该待测点在测试方向上不在一条直线上；及
探针固定体，其用于插接于该测试底座内且与该测试底座电性连接，该探针固定体包含探针夹座以及转接座，该探针夹座用于对应该待测电子元件的待测点的位置夹持固定探针，该探针的一端用于导电接触该待测点，该转接座固定于该探针夹座的下方，该转接座对应该探针的另一端设置导电触点，该转接座还对应该测试底座的测试触点向下凸伸导电针，该导电针电性连接该导电触点，当该探针固定体插接于该测试底座，该导电针将导电触接该测试底座的测试触点。
2.根据权利要求1所述的电子元件测试座,其特征在于，该电子元件为BQFP元件。
3.根据权利要求1所述的电子元件测试座,其特征在于，该电子元件为BGA封装元件。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202221408241.6U CN218003570U (zh) | 2022-06-07 | 2022-06-07 | 电子元件测试座 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202221408241.6U CN218003570U (zh) | 2022-06-07 | 2022-06-07 | 电子元件测试座 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN218003570U true CN218003570U (zh) | 2022-12-09 |
Family
ID=84298495
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN202221408241.6U Active CN218003570U (zh) | 2022-06-07 | 2022-06-07 | 电子元件测试座 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN218003570U (zh) |
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2022
- 2022-06-07 CN CN202221408241.6U patent/CN218003570U/zh active Active
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