CN210665802U - 一种通用双列直插器件测试适配器 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种通用双列直插器件测试适配器，其特征在于，包括测试插座、测试电路板和转接插座；所述测试插座设置在所述测试电路板上，并与所述测试电路板电路连接，所述测试电路板通过所述转接插座与集成电路测试系统连接，待测试的双列直插器件通过器件管脚与所述测试插座连接；所述测试电路板包括待测试的双列直插器件的测试电路和拨码开关，所述拨码开关用于转换待测试的双列直插器件管脚与集成电路测试系统的连接。本实用新型的通用双列直插器件测试适配器突破了现有的测试适配器不能实现多品种双列直插器件的测试，采用了拨码开关的转接方式，实现了多品种双列直插器件的测试，并保证了测试的稳定性和可靠性。

Description

一种通用双列直插器件测试适配器

技术领域

本实用新型涉及测试技术领域，特别是指一种通用双列直插器件测试适配器。

背景技术

双列直插器件，因为VCC管脚和GND管脚分布不规则，所以测试双列直插器件时，一个测试适配器对应一个品种器件的测试，现有的测试适配器不能实现多品种双列直插器件的测试。本实用新型的发明人针对双列直插器件的测试，利用集成电路测试系统J750HD的硬件资源，在J750HD测试系统的硬件基础上，设计制作通用双列直插器件测试适配器，实现多品种双列直插器件的测试。

实用新型内容

针对现有技术的不足之处，本实用新型的目的是提出一种通用双列直插器件测试适配器，实现了多品种双列直插器件的测试，并保证了测试的稳定性和可靠性。

基于上述目的，本实用新型提供的一种通用双列直插器件测试适配器，包括测试插座、测试电路板和转接插座；所述测试插座设置在所述测试电路板上，并与所述测试电路板电路连接，所述测试电路板通过所述转接插座与集成电路测试系统的母板连接，待测试的双列直插器件通过器件管脚与所述测试插座连接；

所述测试电路板包括待测试的双列直插器件的测试电路和拨码开关，所述拨码开关用于转换待测试的双列直插器件管脚与集成电路测试系统的连接。

在本实用新型的一些实施例中，待测试的双列直插器件的管脚包括数字输入/输出管脚、VCC管脚和GND管脚，待测试的双列直插器件进行测试时，集成电路测试系统的DPS为待测试的双列直插器件的VCC管脚提供电源电压和电流，集成电路测试系统的数字通道为待测试的双列直插器件的数字输入/输出管脚提供输入电压和电流，集成电路测试系统的GND连接待测试的双列直插器件的GND管脚。

在本实用新型的一些实施例中，所述测试插座底部设置有插针，所述测试电路板上设置有过孔，所述插针插在所述测试电路板上的过孔中。

在本实用新型的一些实施例中，所述转接插座为3个100针的电连接器。

在本实用新型的一些实施例中，所述集成电路测试系统为J750HD测试系统。

在本实用新型的一些实施例中，所述测试电路板为PCB印制电路板。

在本实用新型的一些实施例中，所述测试插座上设置有48个引脚。

从上面所述可以看出，与现有技术相比，本实用新型具有以下有益效果：

本实用新型的通用双列直插器件测试适配器突破了现有的测试适配器不能实现多品种双列直插器件的测试，采用了拨码开关的转接方式，实现了多品种双列直插器件的测试，并保证了测试的稳定性和可靠性。

附图说明

图1为本实用新型实施例所述的双列直插器件的封装形式的示意图；

图2为本实用新型实施例所述的通用双列直插器件测试适配器的结构示意图；

图3为本实用新型实施例所述的测试电路板的测试框图。

具体实施方式

为使本实用新型的目的、技术方案和优点更加清楚明白，以下结合具体实施例，并参照附图，对本实用新型进一步详细说明。

需要说明的是，本实用新型实施例中所有使用“第一”和“第二”的表述均是为了区分两个相同名称非相同的实体或者非相同的参量，可见“第一”“第二”仅为了表述的方便，不应理解为对本实用新型实施例的限定，后续实施例对此不再一一说明。

如图1所示，双列直插器件5的VCC和GND管脚位置不固定，现有技术中测试双列直插器件5时，一个测试适配器对应一个品种器件的测试，现有的测试适配器不能实现多品种双列直插器件5的测试，本实用新型的发明人针对双列直插器件5的测试，利用集成电路测试系统J750HD的硬件资源，在J750HD测试系统的硬件基础上，设计制作通用双列直插器件测试适配器，该适配器实现多品种双列直插器件5的测试。

本实施例中的通用双列直插器件测试适配器采用拨码开关的转接方式，实现了多品种双列直插器件5的测试。

如图2所示，本实施例提供的一种通用双列直插器件测试适配器，包括测试插座1、测试电路板2和转接插座3；所述测试插座1设置在所述测试电路板2上，并与所述测试电路板2电路连接，所述测试电路板2通过所述转接插座3与集成电路测试系统的母板4连接，待测试的双列直插器件5通过器件管脚与所述测试插座1连接；

所述测试电路板2包括待测试的双列直插器件5的测试电路和拨码开关，所述拨码开关用于转换待测试的双列直插器件5管脚与集成电路测试系统的连接。

在本实施例中，待测试的双列直插器件5的管脚包括数字输入/输出管脚、VCC管脚和GND管脚，待测试的双列直插器件5进行测试时，集成电路测试系统的DPS为待测试的双列直插器件5的VCC管脚提供电源电压和电流，集成电路测试系统的数字通道为待测试的双列直插器件5的数字输入/输出管脚提供输入电压和电流，集成电路测试系统的GND连接待测试的双列直插器件5的GND管脚，拨码开关为转换待测试的双列直插器件5管脚与集成电路测试系统的连接。

在本实施例中，所述测试插座1底部设置有插针，所述测试电路板2上设置有过孔，所述插针插在所述测试电路板2上的过孔中。所述测试插座1用于放置待测试的双列直插器件5，测试插座1使用的是插针结构，测试插座1底部插针插在测试电路板2过孔中，并通过焊接的方式实现电路连接以及测试插座1固定在测试电路板2。

在本实施例中，所述转接插座3为3个100针的电连接器，该转接插座3能够使测试电路板2与集成电路测试系统的母板4连接。

在本实施例中，所述集成电路测试系统为J750HD测试系统。

在本实施例中，所述测试电路板2为PCB印制电路板，测试电路板2上包含拨码开关，测试电路板2的测试框图如图3所示，采用拨码开关的连接方式，保证使用本实施例的通用双列直插器件测试适配器实现多种双列直插器件5的测试，并保证了测试的稳定性和可靠性。

在本实施例中，所述测试插座1上设置有48个引脚，可以实现管脚数少于48的双列直插器件5的测试。

本实用新型的通用双列直插器件测试适配器突破了现有的测试适配器不能实现多品种双列直插器件的测试，采用了拨码开关的转接方式，实现了多品种双列直插器件的测试，并保证了测试的稳定性和可靠性。

所属领域的普通技术人员应当理解：以上任何实施例的讨论仅为示例性的，并非旨在暗示本公开的范围(包括权利要求)被限于这些例子；在本实用新型的思路下，以上实施例或者不同实施例中的技术特征之间也可以进行组合，并存在如上所述的本实用新型的不同方面的许多其它变化，为了简明它们没有在细节中提供。因此，凡在本实用新型的精神和原则之内，所做的任何省略、修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (7)

1.一种通用双列直插器件测试适配器，其特征在于，包括测试插座、测试电路板和转接插座；所述测试插座设置在所述测试电路板上，并与所述测试电路板电路连接，所述测试电路板通过所述转接插座与集成电路测试系统的母板连接，待测试的双列直插器件通过器件管脚与所述测试插座连接；

所述测试电路板包括待测试的双列直插器件的测试电路和拨码开关，所述拨码开关用于转换待测试的双列直插器件管脚与集成电路测试系统的连接。

2.根据权利要求1所述的通用双列直插器件测试适配器，其特征在于，待测试的双列直插器件的管脚包括数字输入/输出管脚、VCC管脚和GND管脚，待测试的双列直插器件进行测试时，集成电路测试系统的DPS为待测试的双列直插器件的VCC管脚提供电源电压和电流，集成电路测试系统的数字通道为待测试的双列直插器件的数字输入/输出管脚提供输入电压和电流，集成电路测试系统的GND连接待测试的双列直插器件的GND管脚。

3.根据权利要求1所述的通用双列直插器件测试适配器，其特征在于，所述测试插座底部设置有插针，所述测试电路板上设置有过孔，所述插针插在所述测试电路板上的过孔中。

4.根据权利要求1所述的通用双列直插器件测试适配器，其特征在于，所述转接插座为3个100针的电连接器。

5.根据权利要求1所述的通用双列直插器件测试适配器，其特征在于，所述集成电路测试系统为J750HD测试系统。

6.根据权利要求1所述的通用双列直插器件测试适配器，其特征在于，所述测试电路板为PCB印制电路板。

7.根据权利要求1所述的通用双列直插器件测试适配器，其特征在于，所述测试插座上设置有48个引脚。

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