CN218003488U - 适用于薄膜状材料电学性能测试的装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型为一种适用于薄膜状材料电学性能测试的装置，包含:下电极组件，包含：下极金属板；以及下压头，可拆卸地设置于下极金属板的一侧；上电极组件，与下电极组件相对应地设置，并可选择地与下电极组件接触、或相间隔一段距离，其中上电极组件包含：上极金属柱、以及上压头，其中上极金属柱可连带上压头相对于下压头进行移动，以将隔膜夹持于上压头与下压头之间；以及测量组件，分别与下极金属板、以及上极金属柱连接，以于隔膜的两侧分别与上压头、以及下压头接触时，测量隔膜的电阻值、或电导率。

Description

适用于薄膜状材料电学性能测试的装置

技术领域

本实用新型涉及一种测试电学性能的装置，尤指一种适用于测量锂电池隔膜的电学性能的测试装置。

背景技术

于锂电池隔膜的电学性能测试中，主要是取得其离子电导率的参量。具体而言，根据国际标准进行隔膜电学性能的测试时，需要取得隔膜样品于不同迭加层数下的电阻值，因此于习知的操作手法中，需要频繁的打开夹持隔膜的夹具，并于隔膜迭加至特定层数时，将夹具重新锁固，以固定隔膜。其中：由于目前所使用的测试仪器结构复杂、且安装程序繁琐，因此通常需要以双手来进行测试仪器的操作，造成安装效率低、且耗时费力。此外，现有的仪器由于体型庞大、或拆装步骤繁琐，而不容易进行加热，因此欲取得不同温度条件下的隔膜电导率的数值较为困难；以及欲对隔膜进行压力的调节时，驱动系统、或压力调节系统需要连接配电结构，因此所占空间较大、且对电能的消耗速度快速，不符合实际生产成本与需求。

综上所述，提供一种可快速方便地放置隔膜与增减隔膜层数、调整隔膜所受压力、以及便于隔膜进行加热的测试隔膜电学性能的装置，实为时势所需。

实用新型内容

本实用新型的目的在于，提供一种适用于薄膜状材料电学性能测试的装置，以轻松进行隔膜层数的增减、控制隔膜所承受压力的数值、以及便于隔膜进行加热的测试，以提升隔膜电学性能测试的效率。

为达成上述目的，本实用新型提供一种适用于薄膜状材料电学性能测试的装置，包含:一下电极组件，包含：一下极金属板；以及一下压头，可拆卸地设置于所述下极金属板的一侧；一上电极组件，与所述下电极组件相对应地设置，并可选择地与所述下电极组件接触、或相间隔一段距离，其中所述上电极组件包含：一上极金属柱，其位置靠近所述下压头；以及一上压头，可拆卸地设置于所述上极金属柱靠近所述下压头的一端，并与所述下压头相对应地设置，其中：所述上压头与所述下压头未接触时，两者间界定有一容置空间，用以供一隔膜容置，且，当所述上极金属柱连带所述上压头相对于所述下电极组件移动时，可选择地使所述上压头挤压所述容置空间，并使所述隔膜的两侧分别与所述上压头、与所述下压头接触；以及一测量组件，分别与所述下极金属板、以及所述上极金属柱连接，以于所述隔膜的两侧分别与所述上压头、以及所述下压头接触时，测量所述隔膜的电阻值、或电导率。

更佳者，其中更包含：一上插槽，形成于所述上极金属柱上；一下插槽，形成于所述下极金属板上；一第一电性插销，设置于所述测量组件上，并与所述上插槽相对应地设置；以及一第二电性插销，与所述第一电性插销相互间隔地设置于所述测量组件上，并与所述下插槽相对应地设置。

更佳者，其中更包含：一支撑杆，其一端与所述上极金属柱连接，其中所述上极金属柱可相对于所述支撑杆移动；以及一底板，其一侧分别与所述支撑杆相对于所述上极金属柱的一端、以及所述下极金属板相对于所述下压头的一侧接触。

更佳者，其中所述支撑杆包含：一支撑主体；以及一空心管，设置于所述支撑主体相对于所述底板的一端，其中：所述空心管界定有一移动空间；以及所述上极金属柱穿设于所述移动空间中，并可相对于所述空心管进行移动。

更佳者，其中更包含：一导滑槽，形成于所述空心管的一侧，其中所述导滑槽界定有一引导空间，且，所述引导空间与所述移动空间相连通；以及一移动杆，设置于所述上极金属管的一侧，并与所述导滑槽相对应地设置，其中：所述移动杆可于所述引导空间中相对于所述导滑槽移动，并连带所述上极金属柱于所述移动空间中相对于所述空心管移动。

更佳者，其中更包含：一把手，可转动地设置于所述支撑主体上；一滑轮，其与所述把手相互间隔地设置于所述支撑主体上；以及一绳索，其两端分别设置于所述移动杆、与所述把手上，并且所述绳索的中间部与所述滑轮接触，其中：当所述把手相对于所述支撑主体转动时，所述把手会连带所述绳索、与所述移动杆移动，以使所述上压头自一第一位置移动至一第二位置，其中所述上压头与所述下压头的间距于所述第一位置时较于所述第二位置时近。

更佳者，其中更包含：一把手，可转动地设置于所述支撑主体上；一滑轮，其与所述把手相互间隔地设置于所述支撑主体上；以及一绳索，其两端分别设置于所述移动杆、与所述把手上，并且所述绳索的中间部与所述滑轮接触，其中：当所述把手相对于所述支撑主体转动时，所述把手会连带所述绳索、与所述移动杆移动，以使所述上压头自一第一位置移动至一第二位置，其中所述上压头与所述下压头的间距于所述第一位置时较于所述第二位置时远。

更佳者，其中更包含：一配重块，设置于所述上极金属柱相对于所述上压头的一端。

更佳者，其中更包含：一限位杆，设置于所述上极金属柱相对于所述上压头的一端；以及一穿设部，系贯穿所述配重块相对应的两侧，并且所述穿设部与所述限位杆相对应地设置。

更佳者，其中更包含：一稳定座，设置于所述底板上，并与所述下极金属板位于同一侧，其中：所述稳定座相对于所述底板的一侧与所述下压头相对于所述底板的一侧共平面，用以供所述隔膜放置。

更佳者，其中更包含：一第一结合部，设置于所述下极金属板与所述底板接触的一侧；一第二结合部，设置于所述支撑杆与所述底板接触的一端；一第三结合部，设置于所述底板的一侧，并与所述第一结合部相对应地设置；以及一第四结合部，与所述第三结合部相互间隔地设置于所述底板的同一侧，并与所述第二结合部相对应地设置。

更佳者，其中：所述第一结合部为凸部、所述第二结合部为凸部、所述第三结合部为凹部、以及所述第四结合部为凹部；所述第一结合部为凸部、所述第二结合部为凹部、所述第三结合部为凹部、以及所述第四结合部为凸部；所述第一结合部为凹部、所述第二结合部为凸部、所述第三结合部为凸部、以及所述第四结合部为凹部；或所述第一结合部为凹部、所述第二结合部为凹部、所述第三结合部为凸部、以及所述第四结合部为凸部。

更佳者，其中更包含：一压力侦测组件，设置于所述底板上，并与所述下压头相对应地设置，以于所述下压头受力挤压时，取得一压力信息。

更佳者，其中更包含：一显示面板，设置于所述底板上，并与所述压力侦测组件电连接，以将所述压力信息显示于所述显示面板上。

更佳者，其中更包含：一温度调控芯片，设置于所述下极金属板，并与所述下压头相对应地设置，以调整所述隔膜的温度；或设置于所述上极金属柱，并与所述上压头相对应地设置，以调整所述隔膜的温度。

更佳者，其中所述温度调控芯片为致热芯片、或致冷芯片。

本实用新型的有益功效在于：本新型可藉由单手操作把手，调整上压头、与下压头的相对位置，因此可以简单快速地将隔膜添加于上压头、与下压头之间、并于隔膜层数调整完毕后，使上压头、与下压头分别与隔膜接触，以进行隔膜电学性能的测试，且，依照藉杠杆原理，把手可让用户进行移动上压头的操作时更加省时省力。其中：本实用新型可根据欲于隔膜上施加压力的量值，将相对应重量的配重块设置于上极金属柱上，因此可以根据所设置的配重块重量的大小，来取得不同压力下，测试隔膜所获得的电导率。由于本新型上压头、与下压头为可替换的设计，因此可以替换不同大小、功能、或接触面积的压头、或于压头损坏时可快速进行更换。此外，由于本新型的结构简单、因此可以大幅缩小整体体积，并将其放置于烤箱内进行环境温度的调整，以取得于不同环境温度条件下所获得的隔膜电导率的参值；以及本实用新型的清洁步骤简单，可以快速地清理测量隔膜电导率的过程中所使用的电解液。

附图说明

图1A至2B为一系列的平面结构图，用以说明本实用新型的结构特征。

具体实施方式

为让本实用新型上述及/或其他目的、功效、特征更明显易懂，下文特举较佳实施方式，作详细说明于下：

请参阅图1A，其用以表示本实用新型的结构特征，其中：如图1A所示，本实用新型的「一种适用于薄膜状材料电学性能测试的装置」包含:一下电极组件1，包含：一下极金属板2；以及一下压头3，可拆卸地设置于所述下极金属板2的一侧；一上电极组件4，与所述下电极组件1相对应地设置，并可选择地与所述下电极组件1接触、或相间隔一段距离，其中所述上电极组件4包含：一上极金属柱5，其位置靠近所述下压头3；以及一上压头6，可拆卸地设置于所述上极金属柱5靠近所述下压头3的一端，并与所述下压头3相对应地设置，其中：所述上压头6与所述下压头3未接触时，两者间界定有一容置空间7，用以供一隔膜8容置，且，当所述上极金属柱5连带所述上压头6相对于所述下电极组件1移动时，可选择地使所述上压头6挤压所述容置空间7，并使所述隔膜8的两侧分别与所述上压头6、与所述下压头3接触；以及一测量组件9，分别与所述下极金属板2、以及所述上极金属柱5连接，以于所述隔膜8的两侧分别与所述上压头6、以及所述下压头3接触时，测量所述隔膜8的电阻值、或电导率。于一较佳实施例中，下压头3、与上压头6为可拆卸设置的目的在于：当压头于重复按压过程中产生自然耗损、或因操作失误而损坏时，可以立即进行更换，以避免对隔膜8表面造成刮损、或无法平整的与隔膜8接触，而造成获得的隔膜8的电学性能数据不准确。此外，可以替换不同种类的上压头6、或下压头3，以调整各压头与隔膜8接触面积的增减，其中可以理解地，当上压头6对隔膜8施力固定的状态下，若上压头6、或下压头3与隔膜8的接触面积越小时，隔膜8表面所承受的压力强度越高，因此，当未额外增设配重组件来调整上压头6对隔膜8的下压力时，可以透过更换不同截面积大小的压头来取得不同压力条件下，隔膜8所测得的电导率参值。

优选地，如图1B所示，为了使测量组件9可额外拆卸进行收纳，以避免其受潮、或变质而影响对隔膜8进行测试的灵敏度；或于其故障时可以单独进行整修、或替换，其中更包含：一上插槽10，形成于所述上极金属柱5上；一下插槽11，形成于所述下极金属板2上；一第一电性插销12，设置于所述测量组件9上，并与所述上插槽10相对应地设置；以及一第二电性插销13，与所述第一电性插销12相互间隔地设置于所述测量组件9上，并与所述下插槽11相对应地设置。

优选地，如图2A所示，为了使上极金属柱5可稳定地连带上压头6相对于下压头3进行移动，其中更包含：一支撑杆14，其一端与所述上极金属柱5连接，其中所述上极金属柱5可相对于所述支撑杆14移动；以及一底板15，其一侧分别与所述支撑杆14相对于所述上极金属柱5的一端、以及所述下极金属板2相对于所述下压头3的一侧接触。于一较佳实施例中，所述支撑杆14包含：一支撑主体16；以及一空心管17，设置于所述支撑主体16相对于所述底板15的一端，其中：所述空心管17界定有一移动空间18；以及所述上极金属柱5穿设于所述移动空间18中，并可相对于所述空心管17进行移动。于另一较佳实施例中，为了避免上极金属柱5的移动幅度过大，造成操作、或使用上的困扰，其中更包含：一导滑槽19，形成于所述空心管17的一侧，其中所述导滑槽19界定有一引导空间20，且，所述引导空间20与所述移动空间18相连通；以及一移动杆21，设置于所述上极金属管的一侧，并与所述导滑槽19相对应地设置，其中：所述移动杆21可于所述引导空间20中相对于所述导滑槽19移动，并连带所述上极金属柱5于所述移动空间18中相对于所述空心管17移动。于又一较佳实施例中，支撑杆14的材质为聚四氟乙烯，且不以此为限。

优选地，如图2A所示，为了轻松控制上极金属柱5进行移动，以于容置空间7中增减隔膜8的层迭数量，其中更包含：一把手22，可转动地设置于所述支撑主体16上；一滑轮23，其与所述把手22相互间隔地设置于所述支撑主体16上；以及一绳索24，其两端分别设置于所述移动杆21、与所述把手22上，并且所述绳索24的中间部与所述滑轮23接触，其中：当所述把手22相对于所述支撑主体16转动时，所述把手22会连带所述绳索24、与所述移动杆21移动，以使所述上压头6自一第一位置移动至一第二位置，其中所述上压头6与所述下压头3的间距于所述第一位置时较于所述第二位置时近。其中可以理解地，于第一位置时，上压头6可刚好与下压头3接触，因此，当使用者转动把手22，使上压头6相对于下压头3远离至第二位置，而露出容置空间7后，可于容置空间7中放置一定层数的隔膜8；以及当使用者将隔膜8放置完毕后，由于移动杆21与绳索24相连接，因此当使用者松开把手22后，上极金属柱5的重力会连带移动杆21、与绳索24进行移动，以使把手22进行复位，且，可自动使上压头6、与下压头3分别与隔膜8相对应的两侧接触，以便于后续可直接进行隔膜电学性能的测量。具体而言，本实用新型的调节方式简单、快速、直觉化，可高效率地于不同测试条件下进行隔膜8电阻值、或电导率的测量。

优选地，如图2A所示，其中更包含：一把手22，可转动地设置于所述支撑主体16上；一滑轮23，其与所述把手22相互间隔地设置于所述支撑主体16上；以及一绳索24，其两端分别设置于所述移动杆21、与所述把手22上，并且所述绳索24的中间部与所述滑轮23接触，其中：当所述把手22相对于所述支撑主体16转动时，所述把手22会连带所述绳索24、与所述移动杆21移动，以使所述上压头6自一第一位置移动至一第二位置，其中所述上压头6与所述下压头3的间距于所述第一位置时较于所述第二位置时远。具体而言，于本实施态样中，当上压头6位于第一位置时，此时容置空间7的大小处于最大值，因此可按照测试的需求将任意层数的隔膜8放置于容置空间7中，并于隔膜8放置完毕后，拉动把手22，使上压头6往下压头3的方向压缩容置空间7，直到上压头6与隔膜8相对于下压头3的一侧接触为止。于一较佳实施例中，为了于上压头6与隔膜8接触后，使用者不必一直握紧把手22，以减轻使用者的负担，其中更包含：一固定组件，设置于所述支撑主体16上，并与所述把手22相对应地设置，其中：当把手22转动至任一角度时，启动所述固定组件，可将把手22的当前位置进行固定，使把手22不会因惯性、或弹力位能的影响而进行复位。因此可以理解地，当使用者转动把手22，使上压头6与隔膜8接触后，可启动固定组件来固定把手22的位置，以进行后续隔膜8电学性能的测试。

优选地，如图2A所示，为了测试隔膜8于不同压力条件下时，对于电学性能的影响，其中更包含：一配重块25，设置于所述上极金属柱5相对于所述上压头6的一端。于一较佳实施例中，为了使配重块25稳定设置于上极金属柱5上，其中更包含：一限位杆26，设置于所述上极金属柱5相对于所述上压头6的一端；以及一穿设部27，系贯穿所述配重块25相对应的两侧，并且所述穿设部27与所述限位杆26相对应地设置。其中可以理解地，配重块25可以穿设部27套设于限位杆26上，以稳定对上压头6提供一下压力，且，配重块25可具有多种重量单位、与数量，让使用者可根据不同测试需求来进行配重块25重量的调整。

优选地，如图2A所示，由于隔膜8放置于容置空间7时，会与下压头3接触，若下压头3与隔膜8的接触面积效过小时，无法稳定支撑隔膜8，而会导致隔膜8产生一定的形变、拉伸、或弯折，而影响电学性能测试的结果，为了避免上述情况产生，其中更包含：一稳定座28，设置于所述底板15上，并与所述下极金属板2位于同一侧，其中：所述稳定座28相对于所述底板15的一侧与所述下压头3相对于所述底板15的一侧共平面，用以供所述隔膜8放置。其中可以理解地，稳定座28、与下压头3可稳定支撑隔膜8、维持隔膜8的平整性，因此当上压头6移动至与隔膜8接触的过程中，隔膜8不会因为变形、或扭曲而产生缺陷，因此可以获得较为准确的电学性能测试结果。

优选地，如图2A所示，为了精准测量隔膜8所受压力的量值，其中更包含：一压力侦测组件33，设置于所述底板15上，并与所述下压头3相对应地设置，以于所述下压头3受力挤压时，取得一压力信息。其中可以理解地，所述压力侦测组件33可与一行动装置、或一云端数据库讯号连接，以将压力信息进行共享。于一较佳实施例中，为了实时观测隔膜8所受压力的大小，其中更包含：一显示面板34，设置于所述底板15上，并与所述压力侦测组件33电连接，以将所述压力信息显示于所述显示面板34上。于另一较佳实施例中，为了取得隔膜8于不同温度条件下，对于电学性能的影响，其中更包含：一温度调控芯片35，设置于所述下极金属板2，并与所述下压头3相对应地设置，以调整所述隔膜8的温度；或设置于所述上极金属柱5，并与所述上压头6相对应地设置，以调整所述隔膜8的温度。于又一较佳实施例中，其中所述温度调控芯片35为致热芯片、或致冷芯片，且不以此为限。

优选地，如图2B所示，为了使上压头6、与下压头3进行精准对位，使上压头6与下压头3分别与隔膜8的两侧接触时，可维持隔膜8与两压头的接触面的平整性，其中更包含：一第一结合部29，设置于所述下极金属板2与所述底板15接触的一侧；一第二结合部30，设置于所述支撑杆14与所述底板15接触的一端；一第三结合部31，设置于所述底板15的一侧，并与所述第一结合部29相对应地设置；以及一第四结合部32，与所述第三结合部31相互间隔地设置于所述底板15的同一侧，并与所述第二结合部30相对应地设置。于一较佳实施例中，其中：所述第一结合部29为凸部、所述第二结合部30为凸部、所述第三结合部31为凹部、以及所述第四结合部32为凹部；所述第一结合部29为凸部、所述第二结合部30为凹部、所述第三结合部31为凹部、以及所述第四结合部32为凸部；所述第一结合部29为凹部、所述第二结合部30为凸部、所述第三结合部31为凸部、以及所述第四结合部32为凹部；或所述第一结合部29为凹部、所述第二结合部30为凹部、所述第三结合部31为凸部、以及所述第四结合部32为凸部。于另一较佳实施例中，第一结合部29、与第三结合部31之间的连接方式、或第二结合部30、与第四结合部32之间的连接方式更包含：螺合、磁吸、或卡扣，且不以此为限。

优选地，本实用新型的有益功效在于：本新型可藉由单手操作把手22，调整上压头6、与下压头3的相对位置，因此可以简单快速地将隔膜8添加于上压头6、与下压头3之间、并于隔膜8层数调整完毕后，使上压头6、与下压头3分别与隔膜8接触，以进行隔膜8电学性能的测试，且，依照藉杠杆原理，把手22可让使用者进行移动上压头6的操作时更加省时省力。其中：本实用新型可根据欲于隔膜8上施加压力的量值，将相对应重量的配重块25设置于上极金属柱5上，因此可以根据所设置的配重块25重量的大小，来取得不同压力下，测试隔膜8所获得的电导率。由于本新型上压头6、与下压头3为可替换的设计，因此可以替换不同大小、功能、或接触面积的压头、或于压头损坏时可快速进行更换。此外，由于本新型的结构简单、因此可以大幅缩小整体体积，并将其放置于烤箱内进行环境温度的调整，以取得于不同环境温度条件下所获得的隔膜8电导率的参值；以及本实用新型的清洁步骤简单，可以快速地清理测量隔膜8电导率的过程中所使用的电解液。

惟以上所述者，仅为本实用新型的较佳实施例，但不能以此限定本实用新型的专利保护范围；故，凡依本实用新型的专利保护范围及说明书内容所作的简单的等效改变与修饰，皆仍落入本实用新型的专利保护范围内。

Claims (16)

1.一种适用于薄膜状材料电学性能测试的装置，包含:

一下电极组件，包含：

一下极金属板；以及

一下压头，可拆卸地设置于所述下极金属板的一侧；

一上电极组件，与所述下电极组件相对应地设置，并可选择地与所述下电极组件接触、或相间隔一段距离，其中所述上电极组件包含：

一上极金属柱，其位置靠近所述下压头；以及

一上压头，可拆卸地设置于所述上极金属柱靠近所述下压头的一端，并与所述下压头相对应地设置，其中：所述上压头与所述下压头未接触时，两者间界定有一容置空间，用以供一隔膜容置，且，当所述上极金属柱连带所述上压头相对于所述下电极组件移动时，可选择地使所述上压头挤压所述容置空间，并使所述隔膜的两侧分别与所述上压头、与所述下压头接触；以及

一测量组件，分别与所述下极金属板、以及所述上极金属柱连接，以于所述隔膜的两侧分别与所述上压头、以及所述下压头接触时，测量所述隔膜的电阻值、或电导率。

2.依据权利要求1的适用于薄膜状材料电学性能测试的装置，其中更包含：

一上插槽，形成于所述上极金属柱上；

一下插槽，形成于所述下极金属板上；

一第一电性插销，设置于所述测量组件上，并与所述上插槽相对应地设置；以及

一第二电性插销，与所述第一电性插销相互间隔地设置于所述测量组件上，并与所述下插槽相对应地设置。

3.依据权利要求1的适用于薄膜状材料电学性能测试的装置，其中更包含：

一支撑杆，其一端与所述上极金属柱连接，其中所述上极金属柱可相对于所述支撑杆移动；以及

一底板，其一侧分别与所述支撑杆相对于所述上极金属柱的一端、以及所述下极金属板相对于所述下压头的一侧接触。

4.依据权利要求3的适用于薄膜状材料电学性能测试的装置，其中所述支撑杆包含：

一支撑主体；以及

一空心管，设置于所述支撑主体相对于所述底板的一端，其中：所述空心管界定有一移动空间；以及所述上极金属柱穿设于所述移动空间中，并可相对于所述空心管进行移动。

5.依据权利要求4的适用于薄膜状材料电学性能测试的装置，其中更包含：

一导滑槽，形成于所述空心管的一侧，其中所述导滑槽界定有一引导空间，且，所述引导空间与所述移动空间相连通；以及

一移动杆，设置于所述上极金属管的一侧，并与所述导滑槽相对应地设置，其中：所述移动杆可于所述引导空间中相对于所述导滑槽移动，并连带所述上极金属柱于所述移动空间中相对于所述空心管移动。

6.依据权利要求5的适用于薄膜状材料电学性能测试的装置，其中更包含：

一把手，可转动地设置于所述支撑主体上；

一滑轮，其与所述把手相互间隔地设置于所述支撑主体上；以及

一绳索，其两端分别设置于所述移动杆、与所述把手上，并且所述绳索的中间部与所述滑轮接触，其中：当所述把手相对于所述支撑主体转动时，所述把手会连带所述绳索、与所述移动杆移动，以使所述上压头自一第一位置移动至一第二位置，其中所述上压头与所述下压头的间距于所述第一位置时较于所述第二位置时近。

7.依据权利要求5的适用于薄膜状材料电学性能测试的装置，其中更包含：

一把手，可转动地设置于所述支撑主体上；

一滑轮，其与所述把手相互间隔地设置于所述支撑主体上；以及

一绳索，其两端分别设置于所述移动杆、与所述把手上，并且所述绳索的中间部与所述滑轮接触，其中：当所述把手相对于所述支撑主体转动时，所述把手会连带所述绳索、与所述移动杆移动，以使所述上压头自一第一位置移动至一第二位置，其中所述上压头与所述下压头的间距于所述第一位置时较于所述第二位置时远。

8.依据权利要求1至7中任一项所述的适用于薄膜状材料电学性能测试的装置，其中更包含：一配重块，设置于所述上极金属柱相对于所述上压头的一端。

9.依据权利要求8的适用于薄膜状材料电学性能测试的装置，其中更包含：

一限位杆，设置于所述上极金属柱相对于所述上压头的一端；以及

一穿设部，系贯穿所述配重块相对应的两侧，并且所述穿设部与所述限位杆相对应地设置。

10.依据权利要求3的适用于薄膜状材料电学性能测试的装置，其中更包含：一稳定座，设置于所述底板上，并与所述下极金属板位于同一侧，其中：所述稳定座相对于所述底板的一侧与所述下压头相对于所述底板的一侧共平面，用以供所述隔膜放置。

11.依据权利要求3的适用于薄膜状材料电学性能测试的装置，其中更包含：

一第一结合部，设置于所述下极金属板与所述底板接触的一侧；

一第二结合部，设置于所述支撑杆与所述底板接触的一端；

一第三结合部，设置于所述底板的一侧，并与所述第一结合部相对应地设置；以及

一第四结合部，与所述第三结合部相互间隔地设置于所述底板的同一侧，并与所述第二结合部相对应地设置。

12.依据权利要求11的适用于薄膜状材料电学性能测试的装置，其中：

所述第一结合部为凸部、所述第二结合部为凸部、所述第三结合部为凹部、以及所述第四结合部为凹部；

所述第一结合部为凸部、所述第二结合部为凹部、所述第三结合部为凹部、以及所述第四结合部为凸部；

所述第一结合部为凹部、所述第二结合部为凸部、所述第三结合部为凸部、以及所述第四结合部为凹部；或

所述第一结合部为凹部、所述第二结合部为凹部、所述第三结合部为凸部、以及所述第四结合部为凸部。

13.依据权利要求3的适用于薄膜状材料电学性能测试的装置，其中更包含：一压力侦测组件，设置于所述底板上，并与所述下压头相对应地设置，以于所述下压头受力挤压时，取得一压力信息。

14.依据权利要求13的适用于薄膜状材料电学性能测试的装置，其中更包含：一显示面板，设置于所述底板上，并与所述压力侦测组件电连接，以将所述压力信息显示于所述显示面板上。

15.依据权利要求1的适用于薄膜状材料电学性能测试的装置，其中更包含：一温度调控芯片，设置于所述下极金属板，并与所述下压头相对应地设置，以调整所述隔膜的温度；或设置于所述上极金属柱，并与所述上压头相对应地设置，以调整所述隔膜的温度。

16.依据权利要求15的适用于薄膜状材料电学性能测试的装置，其中所述温度调控芯片为致热芯片、或致冷芯片。

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