CN217901950U - 一种翻盖测试盒 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及测试仪器技术领域，具体涉及一种翻盖测试盒，包括转动连接的上翻盖和下翻盖，所述下翻盖设置有至少一个用于放置电路板的容纳槽，所述上翻盖开设有与所述容纳槽相对的窗口；通过下翻盖设置的用于放置电路板的容纳槽，可以稳定容纳至少一个电路板，将上翻盖和下翻盖盖好后，电路板不会轻易活动，维修测试时，通过测试第一导电杆序列即可检修第一探针序列的电流，通过测试第三导电杆序列即可测得第二探针序列的电流；通过第一连接线束的另一端和第二连接线束的另一端进行电路检测，能够将上翻盖和下翻盖合拢后进行测试，避免电路板的移位；本实用新型能够提高电路板测试的稳定性和准确性。
Description
技术领域
本实用新型涉及测试仪器技术领域，具体涉及一种翻盖测试盒。
背景技术
采用传统的普通线夹对电路板进行维修测试时，难以对电路板进行良好固定，由于电路板经常活动，容易导致在测试过程中电路板的触点接触不良，影响测试结果的准确性。
因此，有必要对现有的电路板测试装置进行改进，以提高电路板测试的稳定性和准确性。
实用新型内容
为解决上述问题，本实用新型提供一种翻盖测试盒，以解决现有技术中所存在的一个或多个技术问题，至少提供一种有益的选择或创造条件。
为了实现上述目的，本实用新型提供以下技术方案：
一种翻盖测试盒，包括转动连接的上翻盖和下翻盖，所述下翻盖设置有至少一个用于放置电路板的容纳槽，所述上翻盖开设有与所述容纳槽相对的窗口；
所述容纳槽的一侧并排设置有第一探针序列和第一导电杆序列，所述容纳槽的另一侧并排设置有第二探针序列、第二导电杆序列和第三导电杆序列，所述第一探针序列的顶端和第二探针序列的顶端分别与电路板两端的触点位置一一对应，所述第一探针序列的底端通过第一导线序列和第一导电杆序列的底端一一对应连接，所述第二探针序列的底端通过第二导线序列和第三导电杆序列的底端一一对应连接；
所述窗口的一侧并排设置有第三探针序列和第四探针序列，所述第三探针序列的顶端通过第三导线序列和第四探针序列的顶端一一对应连接，所述第三探针序列的底端和第二探针序列的顶端相对设置，所述第四探针序列的底端和第二导电杆序列的顶端相对设置；
所述容纳槽的左右两侧还分别设置有第一走线通道和第二走线通道，所述第一探针序列还连接有第一连接线束，所述第二探针序列还连接有第二连接线束，所述第一连接线束沿所述第一走线通道穿出，所述第二连接线束沿所述第二走线通道穿出。
进一步地，所述第一导线序列、第二导线序列和第三导线序列所在位置均开设有检修窗口。
进一步地，所述上翻盖和下翻盖相对设置有至少一对磁铁，设置于上翻盖上的磁铁和下翻盖上的磁铁磁极相反。
进一步地，所述上翻盖的底部还开设有定位孔，所述容纳槽还设置有与所述定位孔适配的定位柱。
进一步地，所述容纳槽还开设有光传输的光路通孔。
本实用新型的有益效果是：本实用新型提供的一种翻盖测试盒，通过下翻盖设置的用于放置电路板的容纳槽，可以稳定容纳至少一个电路板，将上翻盖和下翻盖盖好后，电路板不会轻易活动，维修测试时，通过测试第一导电杆序列即可检修第一探针序列的电流，通过测试第三导电杆序列即可测得第二探针序列的电流；通过第一连接线束的另一端和第二连接线束的另一端进行电路检测，能够将上翻盖和下翻盖合拢后进行测试，避免电路板的移位，从而提高电路板测试的稳定性和准确性。
附图说明
为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本实用新型实施例中翻盖测试盒的整体结构正面示意图；
图2是本实用新型实施例中翻盖测试盒的整体结构背面示意图。
具体实施方式
本部分将详细描述本实用新型的具体实施例，本实用新型之较佳实施例在附图中示出，附图的作用在于用图形补充说明书文字部分的描述，使人能够直观地、形象地理解本实用新型的每个技术特征和整体技术方案，但其不能理解为对本实用新型保护范围的限制。
在本实用新型的描述中，需要理解的是，涉及到方位描述，例如上、下、前、后、左、右等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。
在本实用新型的描述中，如果具有“若干”之类的词汇描述，其含义是一个或者多个，多个的含义是两个以上，大于、小于、超过等理解为不包括本数，以上、以下、以内等理解为包括本数。
本实用新型的描述中，除非另有明确的限定，设置、安装、连接等词语应做广义理解，所属技术领域技术人员可以结合技术方案的具体内容合理确定上述词语在本实用新型中的具体含义。
参考图1和图2，本实用新型实施例提供一种翻盖测试盒，包括转动连接的上翻盖100和下翻盖200，所述下翻盖200设置有至少一个用于放置电路板的容纳槽210，所述上翻盖100开设有与所述容纳槽210相对的窗口110；
所述容纳槽210的一侧并排设置有第一探针序列221和第一导电杆序列241，所述容纳槽210的另一侧并排设置有第二探针序列222、第二导电杆序列242和第三导电杆序列243，所述第一探针序列221的顶端和第二探针序列222的顶端分别与电路板两端的触点位置一一对应，所述第一探针序列221的底端通过第一导线序列231和第一导电杆序列241的底端一一对应连接，所述第二探针序列222的底端通过第二导线序列232和第三导电杆序列243的底端一一对应连接；
所述窗口110的一侧并排设置有第三探针序列121和第四探针序列122，所述第三探针序列121的顶端通过第三导线序列131和第四探针序列122的顶端一一对应连接，所述第三探针序列121的底端和第二探针序列222的顶端相对设置，所述第四探针序列122的底端和第二导电杆序列242的顶端相对设置；
所述容纳槽210的左右两侧还分别设置有第一走线通道251和第二走线通道252，所述第一探针序列221还连接有第一连接线束261，所述第二探针序列222还连接有第二连接线束262，所述第一连接线束261沿所述第一走线通道251穿出，所述第二连接线束262沿所述第二走线通道252穿出。
本申请的工作原理如下：
本申请提供的翻盖测试盒用于解决对电路板维修时，电路板容易活动，导致测试结果不准确的问题。由于下翻盖200设置有至少一个用于放置电路板的容纳槽210，可以稳定容纳至少一个电路板，将上翻盖100和下翻盖200盖好后，电路板不会轻易活动，维修测试时，第一探针序列221的顶端和第二探针序列222的顶端分别与电路板两端的触点位置一一对应连通，第一探针序列221的电流通过第一导线序列231被引导到第一导电杆序列241，通过测试第一导电杆序列241即可检修第一探针序列221的电流；同样的，通过测试第三导电杆序列243即可测得第二探针序列222的电流；通过第一连接线束261的另一端和第二连接线束262的另一端进行电路检测。
作为上述实施例的改进，所述第一导线序列231、第二导线序列232和第三导线序列131均开设有检修窗口110。通过开设有检修窗口110方便维修测试。
作为上述实施例的改进，所述上翻盖100和下翻盖200相对设置有至少一对磁铁271，设置于上翻盖100上的磁铁271和下翻盖200上的磁铁271磁极相反。实现上翻盖100和下翻盖200的近距离自动吸合。
作为上述实施例的改进，所述上翻盖100的底部还开设有定位孔281，所述容纳槽210还设置有与所述定位孔281适配的定位柱282。使得上翻盖100和下翻盖200在盖合时更加稳定，保证电路板不偏位。
作为上述实施例的改进，所述容纳槽210还开设有光传输的光路通孔291。通过预留光路通孔291，能够给发射管和接收管进行光路测试，可以应用于光学电路板的测试。
尽管本实用新型公开的描述已经相当详尽且特别对几个所述实施例进行了描述，但其并非旨在局限于任何这些细节或实施例或任何特殊实施例，而是应当将其视作是通过参考所附权利要求，考虑到现有技术为这些权利要求提供广义的可能性解释，从而有效地涵盖本实用新型公开的预定范围。此外，上文以发明人可预见的实施例对本实用新型进行描述，其目的是为了提供有用的描述，而那些目前尚未预见的对本实用新型的非实质性改动仍可代表本公开的等效改动。
Claims (5)
1.一种翻盖测试盒，其特征在于，包括转动连接的上翻盖和下翻盖，所述下翻盖设置有至少一个用于放置电路板的容纳槽，所述上翻盖开设有与所述容纳槽相对的窗口；
所述容纳槽的一侧并排设置有第一探针序列和第一导电杆序列，所述容纳槽的另一侧并排设置有第二探针序列、第二导电杆序列和第三导电杆序列，所述第一探针序列的顶端和第二探针序列的顶端分别与电路板两端的触点位置一一对应，所述第一探针序列的底端通过第一导线序列和第一导电杆序列的底端一一对应连接，所述第二探针序列的底端通过第二导线序列和第三导电杆序列的底端一一对应连接；
所述窗口的一侧并排设置有第三探针序列和第四探针序列，所述第三探针序列的顶端通过第三导线序列和第四探针序列的顶端一一对应连接，所述第三探针序列的底端和第二探针序列的顶端相对设置，所述第四探针序列的底端和第二导电杆序列的顶端相对设置；
所述容纳槽的左右两侧还分别设置有第一走线通道和第二走线通道，所述第一探针序列还连接有第一连接线束，所述第二探针序列还连接有第二连接线束，所述第一连接线束沿所述第一走线通道穿出，所述第二连接线束沿所述第二走线通道穿出。
2.根据权利要求1所述的一种翻盖测试盒，其特征在于，所述第一导线序列、第二导线序列和第三导线序列所在位置均开设有检修窗口。
3.根据权利要求1所述的一种翻盖测试盒，其特征在于，所述上翻盖和下翻盖相对设置有至少一对磁铁，设置于上翻盖上的磁铁和下翻盖上的磁铁磁极相反。
4.根据权利要求1所述的一种翻盖测试盒，其特征在于，所述上翻盖的底部还开设有定位孔，所述容纳槽还设置有与所述定位孔适配的定位柱。
5.根据权利要求1所述的一种翻盖测试盒，其特征在于，所述容纳槽还开设有光传输的光路通孔。
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2022
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