CN217901941U - 光电器件通用测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及光电器件通用测试装置，包括框架、母板和子板，其特征是母板固定在框架上，母板包括第一PCB板、电器组件、插孔座、线簧插针和连接件，电器组件包括分流继电器、电路切换继电器和采样电阻，子板包括第二PCB板、1个以上的被测器件工位和插针排，被测器件工位为直插IC16P紧锁座，电器组件与被测器件工位的数量相应，插针排的数量与被测器件工位的数量相应，插孔座同插针排一一对应，子板通过插针排和插孔座的配合与母板连接，一个被测器件工位、第二PCB板、第一PCB板和电器组件组成一路测试电路，线簧插针和连接件分别与测试系统的面板插孔和信号传输接口连接。本实用新型结构简单、制作容易、操作方便、适应面宽并能有效提高测试效率。

Description

光电器件通用测试装置

技术领域

本实用新型涉及光电器件的测试，具体而言是光电器件通用测试装置。

背景技术

光电器件广泛应用于现代生产和生活中，往往通过参数测试来筛选出合格的光电器件。光电器件不但种类繁多，诸如发光二极管、光电耦合器和光电三极管等等，而且每种类别中又有许多不同的封装形式。现有的光电器件测试方法通常是针对每种封装及类别都制作出专用的工装夹具，连接测试系统进行测试，以完成参数测试任务。显然，不仅成本很高，还要频繁更换工装夹具，当被测试对象的品类多而同类数量少的时候，工作效率尤为低下。另外，对于多路器件只能逐路单独测试并多遍重复，十分不便。

针对现有技术的上述不足，本实用新型提出了一种结构简单、制作容易、操作方便、适应面宽并能有效提高测试效率的光电器件通用测试装置。

发明内容

本实用新型的目的是提供一种结构简单、制作容易、操作方便、适应面宽并能有效提高测试效率的光电器件通用测试装置。

为实现上述目的，本实用新型采用如下技术方案：一种光电器件通用测试装置，包括框架、母板和子板，其特征是母板固定在框架上，母板包括第一PCB板、电器组件、插孔座、线簧插针和连接件，电器组件包括分流继电器、电路切换继电器和采样电阻，子板包括第二PCB板、1个以上的被测器件工位和插针排，被测器件工位为直插IC16P紧锁座，电器组件与被测器件工位的数量相应，插针排的数量与被测器件工位的数量相应，插孔座同插针排一一对应，子板通过插针排和插孔座的配合与母板连接，一个被测器件工位、第二PCB板、第一PCB板和电器组件组成一路测试电路，线簧插针和连接件分别与测试系统的面板插孔和信号传输接口连接。

进一步地，所述被测器件工位为一个，插针排为两个32孔直插排针，分流继电器为8个，电路切换继电器为4个，采样电阻为4个。

进一步地，所述框架位于母板和子板之间。

进一步地，所述分流继电器为5A继电器，电路切换继电器为12V继电器，采样电阻为100Ω。

进一步地，所述母板通过螺纹连接固定在框架上。

本实用新型的工作过程：根据被测对象选择相应子板；将子板通过插针排和插孔座的配合与母板连接；将母板上的线簧插针和连接件分别与测试系统的面板插孔和信号传输接口连接；将被测对象放入被测器件工位并固定；将光电器件的测试参数指标输入测试系统中，测试系统按输入的测试参数指标进行测试。

本实用新型采用一块母板分别与不同品类和封装的子板配合，并且子板上设置1个以上的被测器件工位，因此适应面宽并能有效提高测试效率。

本实用新型的被测器件工位采用直插IC16P紧锁座，能保证被测器件与测试系统的全过程良好接触。

本实用新型的框架位于母板和子板之间并与母板固定连接，既可以稳定支撑母板和子板，也可以起到防尘和防短路作用。

本实用新型结构简单、制作容易、操作方便。

附图说明

图1是本实用新型的结构示意图；

图2是图1的俯视图；

图3是本实用新型的母板结构示意图；

图4是本实用新型的子板结构示意图；

图5是本实用新型电路图。

图中：1-框架；2-母板；2.1-第一PCB板；2.2-电器组件；2.2.1-分流继电器；2.2.2-电路切换继电器；2.2.3-采样电阻；

2.3-插孔座；2.4-线簧插针；2.5-连接件；3-子板；3.1-第二PCB板；3.2-被测器件工位；3.3-插针排。

具体实施方式

以下结合附图和具体实施例对本实用新型作进一步的详细描述，但该实施例不应理解为对本实用新型的限制。

图中所示的一种光电器件通用测试装置，包括框架1、母板2和子板3，母板2固定在框架1上，母板2包括第一PCB板2.1、电器组件2.2、插孔座2.3、线簧插针2.4和连接件2.5，电器组件2.2包括分流继电器2.2.1、电路切换继电器2.2.2和采样电阻2.2.3，子板3包括第二PCB板3.1、1个以上的被测器件工位3.2和插针排3.3，被测器件工位3.2为直插IC16P紧锁座，电器组件2.2与被测器件工位3.2的数量相应，插针排3.3的数量与被测器件工位3.2的数量相应，插孔座2.3同插针排3.3一一对应，子板3通过插针排3.3和插孔座2.3的配合与母板2连接，一个被测器件工位3.2、第二PCB板3.1、第一PCB板2.1和电器组件2.2组成一路测试电路，线簧插针2.4和连接件2.5分别与测试系统的面板插孔和信号传输接口连接。

优选的实施例是：在上述方案中，所述被测器件工位3.2为一个，插针排3.3为两个32孔直插排针，分流继电器2.2.1为8个，电路切换继电器2.2.2为4个，采样电阻2.2.3为4个。

优选的实施例是：在上述方案中，所述框架1位于母板2和子板3之间。

优选的实施例是：在上述方案中，所述分流继电器2.2.1为5A继电器，电路切换继电器2.2.2为12V继电器，采样电阻2.2.3为100Ω。

优选的实施例是：在上述方案中，所述母板2通过螺纹连接固定在框架1上。

本说明书中未作详细描述的内容，属于本专业技术人员公知的现有技术。

Claims (9)

1.一种光电器件通用测试装置，包括框架(1)、母板(2)和子板(3)，其特征在于：母板(2)固定在框架(1)上，母板(2)包括第一PCB板(2.1)、电器组件(2.2)、插孔座(2.3)、线簧插针(2.4)和连接件(2.5)，电器组件(2.2)包括分流继电器(2.2.1)、电路切换继电器(2.2.2)和采样电阻(2.2.3)，子板(3)包括第二PCB板(3.1)、1个以上的被测器件工位(3.2)和插针排(3.3)，被测器件工位(3.2)为直插IC16P紧锁座，电器组件(2.2)与被测器件工位(3.2)的数量相应，插针排(3.3)的数量与被测器件工位(3.2)的数量相应，插孔座(2.3)同插针排(3.3)一一对应，子板(3)通过插针排(3.3)和插孔座(2.3)的配合与母板(2)连接，一个被测器件工位(3.2)、第二PCB板(3.1)、第一PCB板(2.1)和电器组件(2.2)组成一路测试电路，线簧插针(2.4)和连接件(2.5)分别与测试系统的面板插孔和信号传输接口连接。

2.根据权利要求1所述的光电器件通用测试装置，其特征在于：所述被测器件工位(3.2)为一个，插针排(3.3)为两个32孔直插排针，分流继电器(2.2.1)为8个，电路切换继电器(2.2.2)为4个，采样电阻(2.2.3)为4个。

3.根据权利要求1或2所述的光电器件通用测试装置，其特征在于：所述框架(1)位于母板(2)和子板(3)之间。

4.根据权利要求1或2所述的光电器件通用测试装置，其特征在于：所述分流继电器(2.2.1)为5A继电器，电路切换继电器(2.2.2)为12V继电器，采样电阻(2.2.3)为100Ω。

5.根据权利要求3所述的光电器件通用测试装置，其特征在于：所述分流继电器(2.2.1)为5A继电器，电路切换继电器(2.2.2)为12V继电器，采样电阻(2.2.3)为100Ω。

6.根据权利要求1或2所述的光电器件通用测试装置，其特征在于：所述母板(2)通过螺纹连接固定在框架(1)上。

7.根据权利要求3所述的光电器件通用测试装置，其特征在于：所述母板(2)通过螺纹连接固定在框架(1)上。

8.根据权利要求4所述的光电器件通用测试装置，其特征在于：所述母板(2)通过螺纹连接固定在框架(1)上。

9.根据权利要求5所述的光电器件通用测试装置，其特征在于：所述母板(2)通过螺纹连接固定在框架(1)上。

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