CN201937116U - 转接模块及应用其的自动化测试系统 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供一种转接模块及应用其的自动化测试系统。转接模块用于将待测接口连接至自动化测试装置的测试接口。转接模块包括第一转接单元与第二转接单元。第一转接单元包括第一转接接口、第一电路板以及第一连接端。第一电路板连接第一转接接口与第一连接端。第一连接端同待测接口相连接，且与待测接口之间具有第一对位精度。第二转接单元包括第二转接接口、第二电路板以及第二连接端。第二电路板连接第二转接接口与第二连接端。第二连接端同测试接口相连接。第二转接接口对应于第一转接接口，且与第一转接接口之间具有第二对位精度。第二对位精度小于第一对位精度。本实用新型极大地降低了测试人员的操作难度，省时省力，而且提高了测试效率。

Description

转接模块及应用其的自动化测试系统

技术领域

本实用新型涉及一种测试系统，且特别涉及一种测试接口的转接模块及应用其的自动化测试系统。

背景技术

通常，电子产品在出厂之前都需要经过多项严格测试。接口测试是其中重要的一项。

目前，为提高测试效率，在连接电子产品的待测接口时，一般都采用自动化插拔的方式进行。

然而，当待测接口对插拔过程的精度要求较高，例如高清晰度多媒体接口(High-Definition Multimedia Interface，HDMI)、显示端口(Display Port，DP)等，其允许误差范围仅为±0.05mm时，传统自动化测试装置的自动化插拔精度已无法满足其精度要求。此外，由于自动化测试装置上各个测试接口之间布置较为密集，因此，在测试过程中，测试人员必须把手伸入自动化测试装置，摸索着将测试转接线同待测接口相连接，不仅费时费力，且增加了测试人员的操作难度。

实用新型内容

本实用新型提供一种转接模块及应用其的自动化测试系统，能够解决上述问题。

为解决所述技术问题，本实用新型的技术方案是：

本实用新型提供一种转接模块，用于将待测接口连接至自动化测试装置的测试接口。转接模块包括第一转接单元与第二转接单元。第一转接单元包括第一转接接口、第一电路板以及第一连接端。第一电路板连接第一转接接口与第一连接端。第一连接端同待测接口相连接，且第一连接端与待测接口之间具有第一对位精度。第二转接单元包括第二转接接口、第二电路板以及第二连接端。第二电路板连接第二转接接口与第二连接端。第二连接端同测试接口相连接。第二转接接口同第一转接接口相对应，且第二转接接口与第一转接接口之间具有第二对位精度。第二对位精度小于第一对位精度。

根据本实用新型的一具体实施例，第一转接接口为金手指，第二转接接口为插槽。

根据本实用新型的一具体实施例，待测接口为高清晰度多媒体接口或显示端口。

根据本实用新型的一具体实施例，第一转接单元包括第一壳体，第一电路板设置于第一壳体内，第二转接单元包括第二壳体，第二电路板设置于第二壳体内。

根据本实用新型的一具体实施例，第一壳体包括至少一个第一定位部，第二壳体包括至少一个第二定位部，第二定位部同第一定位部相对应。

根据本实用新型的一具体实施例，第一定位部与第二定位部的数量均为三个且分别成三角排列。

根据本实用新型的一具体实施例，第二壳体包括固定部，固定部固定于自动化测试装置。

本实用新型还提供一种自动化测试系统，包括待测接口、自动化测试装置以及转接模块。自动化测试装置包括测试接口。转接模块包括第一转接单元与第二转接单元。第一转接单元包括第一转接接口、第一电路板以及第一连接端。第一电路板连接第一转接接口与第一连接端。第一连接端同待测接口相连接，且第一连接端与待测接口之间具有第一对位精度。第二转接单元包括第二转接接口、第二电路板以及第二连接端。第二电路板连接第二转接接口与第二连接端。第二连接端同测试接口相连接。第二转接接口同第一转接接口相对应，且第二转接接口与第一转接接口之间具有第二对位精度。第二对位精度小于第一对位精度。

根据本实用新型的一具体实施例，第一转接接口为金手指，第二转接接口为插槽。

根据本实用新型的一具体实施例，待测接口为高清晰度多媒体接口或显示端口。

根据本实用新型的一具体实施例，第一转接单元包括第一壳体，第一电路板设置于第一壳体内，第二转接单元包括第二壳体，第二电路板设置于第二壳体内。

根据本实用新型的一具体实施例，第一壳体包括至少一个第一定位部，第二壳体包括至少一个第二定位部，第二定位部同第一定位部相对应。

根据本实用新型的一具体实施例，第一定位部与第二定位部的数量均为三个且分别成三角排列。

根据本实用新型的一具体实施例，第二壳体包括固定部，固定部固定于自动化测试装置。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果可以是：

根据本实用新型提供的转接模块，第一转接单元与第二转接单元分别同待测接口与自动化测试装置的测试接口相连接。第二转接单元的第二转接接口与第一转接单元的第一转接接口之间的第二对位精度小于第一转接单元的第一连接端与待测接口之间的第一对位精度。由此，将先前技术测试过程中，测试接口与待测接口的连接转化为第二转接接口与第一转接接口的连接。由于第二对位精度相对较低，自动化测试装置的自动化插拔可以满足第二对位精度的要求，因此，测试过程中无需测试人员手动插拔。在自动化测试装置上各个测试接口布置较为集中的情况下，极大地降低了测试人员的操作难度，省时省力，而且提高了测试效率。

为让本实用新型的上述和其它目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举较佳实施例，并配合附图，作详细说明如下。

附图说明

图1为本实用新型较佳实施例的自动化测试系统的示意图；

图2为图1中转接模块的示意图；

图3A为图2中第一转接单元的示意图；

图3B为图2中第二转接单元的示意图。

具体实施方式

图1为本实用新型较佳实施例的自动化测试系统的示意图。如图1所示，本实施例所提供的自动化测试系统1包括转接模块10、待测接口11以及自动化测试装置12。自动化测试装置12可包括测试接口(图未示)。转接模块10用于将待测接口11连接至测试接口，以进行相关测试。

在本实施例中，待测接口11可为电子产品(例如，主机板)的高清晰度多媒体接口(High-Definition Multimedia Interface，HDMI)或显示端口(Display Port，DP)。以上述两种接口为例，由于其本身特殊的结构设计，待测接口11对于插拔过程的精度要求较高，即允许偏差范围须在±0.05mm之内。然而，本实用新型对此不作任何限定。在其它实施例中，待测接口11也可为其它具有较高对位精度要求的接口。

图2为图1中转接模块的示意图。图3A为图2中第一转接单元的示意图。图3B为图2中第二转接单元的示意图。请参照图1、图2、图3A及图3B。

在本实施例中，转接模块10包括第一转接单元101与第二转接单元102。第一转接单元101同待测接口11相连接，第二转接单元102同自动化测试装置12的测试接口相连接。利用第二转接单元102相对于第一转接单元101的自动插拔，转接模块10可将待测接口11电性连接至自动化测试装置12，以实现待测接口11的自动化测试。然而，本实用新型对此不作任何限定。

在本实施例中，第一转接单元101包括第一转接接口1011、第一电路板1012、第一连接端1013以及第一壳体1014。第一电路板1012设置于第一壳体1014内，且其两端分别电性连接第一转接接口1011与第一连接端1013。第一转接接口1011与第一连接端1013分别自第一壳体1014的两个相对表面伸出。然而，本实用新型对此不作任何限定。

在本实施例中，第一连接端1013同待测接口11相连接，其例如为与HDMI或DP相匹配的连接接头。第一连接端1013与第一待测接口11之间具有较高的第一对位精度。具体而言，于第一连接端1013与第一待测接口11的插拔过程中，其允许偏差范围须在±0.05mm之内，自动化测试装置12的自动化插拔通常无法满足第一对位精度的要求。因此，在测试前，测试人员可将第一连接端1013插设于待测接口11，使第一转接单元101同待测接口11相连接。然而，本实用新型对此不作任何限定。

在本实施例中，第一转接接口1011通过第一电路板1012同第一连接端1013相连接。第一转接接口1011例如为金手指。然而，本实用新型对此不作任何限定。

在本实施例中，第一壳体1014包括第一定位部1015，其例如为导柱。较佳实施为，第一定位部1015的数量为三个且成三角排列，以形成稳固的定位结构。在本实施例中，第一定位部1015与第一转接接口1011可自第一壳体1014的同一表面伸出且相互平行。然而，本实用新型对此不作任何限定。

在本实施例中，第一定位部1015包括弹簧1016，套设于外表面上。对应的，弹簧1016的数量为三个，其作用容后详述。然而，本实用新型对此不作任何限定。在其它实施例中，也可使用其它弹性缓冲物件。

在本实施例中，第二转接单元102包括第二转接接口1021、第二电路板1022、第二连接端1023以及第二壳体1024。第二电路板1022设置于第二壳体1024内，且其两端分别电性连接第二转接接口1021与第二连接端1023。第二转接接口1021与第二连接端1023分别自第二壳体1024的两个相对表面伸出。然而，本实用新型对此不作任何限定。

在本实施例中，第二连接端1023同测试接口相连接，其中，两者的连接形式无特别限定。利用第二连接端1023同测试接口相连接，第一转接单元101可电性连接于自动化测试装置12。然而，本实用新型对此不作任何限定。

在本实施例中，第二转接接口1021通过第二电路板1022同第二连接端1023相连接。第二转接接口1021对应于第一转接接口1011，其例如可为插槽。第一转接接口1011与第二转接接口1021之间具有较低的第二对位精度。具体而言，在第二转接接口1021与第一转接接口1011的插拔过程中，其允许偏差范围可在±0.6mm之内。允许偏差范围越大，则精度要求越低。由上可知，第二对位精度远小于第一对位精度。由于此允许偏差范围较大，因此，第二转接接口1021与第一转接接口1011的插拔可由自动化测试装置12实现。由此，当自动化测试装置12将第二转接接口1021同第一转接接口1011相连接时，可实现待测接口11与测试接口间的电性连接。然而，本实用新型对此不作任何限定。于其它实施例中，第一转接接口与第二转接接口可为其它满足自动化插拔精度要求的接口。

在本实施例中，第二壳体1024包括第二定位部1025，其同第一壳体1014的第一定位部1015相对应。第二定位部1025例如为导槽，其数量也对应为三个且成三角排列。第二定位部1025可与第二转接接口1021设置于第二壳体1024的同一表面，且向内凹陷，其深度视第一定位部1015的长度而定。然而，本实用新型对此不作任何限定。于其它实施例中，第一定位部与第二定位部可为其它组合，只要两者相配合可达成定位的作用即可。

在本实施例中，第二定位部1025与第一定位部1015相配合以达到第一转接单元101与第二转接单元102连接过程中的定位作用。具体而言，自动化测试装置12控制第二转接单元102靠近第一转接单元101，第一定位部1015对应地结合于第二定位部1025，使第一转接接口1011与第二转接接口1021精确对位。并且，由于弹簧1016对于第二转接单元102与第一转接单元101的弹性抵持作用，使得第一转接接口1011与第二转接接口1021的插设过程得以缓慢进行，防止冲撞损坏。由于第一定位部1015与第二定位部1025的数量均为三个且分别成三角排列，在第一转接接口1011与第二转接接口1021的插拔过程中形成面定位，确保了连接误差在允许偏差范围±0.6mm之内。由此，自动化测试装置12的自动插拔可满足第一转接接口1011与第二转接接口1021的插拔过程可由自动化测试装置12实现。然而，本实用新型对此不作任何限定。

在本实施例中，第二壳体1024还包括一固定部1026，用于将第二转接单元102固定于自动化测试装置12。固定部1026例如为具有螺钉的锁附结构。然而，本实用新型对此不作任何限定。

在本实施例中，在测试前，测试人员可先将第二转接单元102固定至自动化测试装置12，第二连接端1023同测试接口相连接。同时，测试人员可将第一转接单元101的第一连接端1013插设于待测接口11，以将第一转接单元101同待测接口11相连接。随后，将电子产品放置在自动化测试装置12的指定区域。此时，启动自动化测试装置12即可进入自动化测试阶段。在测试时，自动化测试装置12控制第二转接单元102不断靠近第一转接单元101。在第一定位部1015与第二定位部1025的定位作用下，第一转接接口1011插设于第二转接接口1021。此时，待测接口11通过转接模块10接收来自测试接口的测试信号。当测试完毕，自动化测试装置12自动远离电子产品。测试人员只需取走电子产品后再拔出第一转接单元101即可。重复上述操作以进行下一轮测试。然而，本实用新型对此不作任何限制。

综上所述，在本实用新型所揭露的自动化测试系统中，转接模块包括第一转接单元与第二转接单元，且分别同待测接口与自动化测试装置的测试接口相连接。相较于待测接口与第一连接端之间的第一对位精度，第二转接单元的第二转接接口与第一转接单元的第一转接接口之间具有较低的第二对位精度。自动化测试装置的自动化插拔可以满足此第二对位精度要求。所以利用转接模块，将先前技术测试过程中，测试接口与待测接口的连接转化为第二转接接口与第一转接接口的连接，由此实现测试过程自动化。测试人员仅需于测试前将第一转接单元同待测接口相连接而无需在测试过程中费力地插设待测接口。相较于先前技术，不仅极大地降低了测试人员的操作难度，省时省力，而且提高了测试效率。

虽然本实用新型已以较佳实施例揭露如上，然其并非用以限定本实用新型，任何熟知此技艺者，在不脱离本实用新型的精神和范围内，当可作些许的更动与润饰，因此本实用新型的保护范围当视权利要求书所界定者为准。

Claims (14)

1.一种转接模块，用于将待测接口连接至自动化测试装置的测试接口，其特征是，所述转接模块包括：

第一转接单元，包括第一转接接口、第一电路板以及第一连接端，所述第一电路板连接所述第一转接接口与所述第一连接端，所述第一连接端同所述待测接口相连接，且所述第一连接端与所述待测接口之间具有第一对位精度；以及

第二转接单元，包括第二转接接口、第二电路板以及第二连接端，所述第二电路板连接所述第二转接接口与所述第二连接端，所述第二连接端同所述测试接口相连接，所述第二转接接口同所述第一转接接口相对应，且所述第二转接接口与所述第一转接接口之间具有第二对位精度，所述第二对位精度小于所述第一对位精度。

2.根据权利要求1所述的转接模块，其特征是，所述第一转接接口为金手指，所述第二转接接口为插槽。

3.根据权利要求1所述的转接模块，其特征是，所述待测接口为高清晰度多媒体接口或显示端口。

4.根据权利要求1所述的转接模块，其特征是，所述第一转接单元包括第一壳体，所述第一电路板设置于所述第一壳体内，所述第二转接单元包括第二壳体，所述第二电路板设置于所述第二壳体内。

5.根据权利要求4所述的转接模块，其特征是，所述第一壳体包括至少一个第一定位部，所述第二壳体包括至少一个第二定位部，所述第二定位部同所述第一定位部相对应。

6.根据权利要求5所述的转接模块，其特征是，所述第一定位部与所述第二定位部的数量均为三个且分别成三角排列。

7.根据权利要求4所述的转接模块，其特征是，所述第二壳体包括固定部，所述固定部固定于所述自动化测试装置。

8.一种自动化测试系统，其特征是，包括：

待测接口；

自动化测试装置，包括测试接口；以及

转接模块，包括：

第一转接单元，包括第一转接接口、第一电路板以及第一连接端，所述第一电路板连接所述第一转接接口与所述第一连接端，所述第一连接端同所述待测接口相连接，且所述第一连接端与所述待测接口之间具有第一对位精度；以及

第二转接单元，包括第二转接接口、第二电路板以及第二连接端，所述第二电路板连接所述第二转接接口与所述第二连接端，所述第二连接端同所述测试接口相连接，所述第二转接接口同所述第一转接接口相对应，且所述第二转接接口与所述第一转接接口之间具有第二对位精度，所述第二对位精度小于所述第一对位精度。

9.根据权利要求8所述的自动化测试系统，其特征是，所述第一转接接口为金手指，所述第二转接接口为插槽。

10.根据权利要求8所述的自动化测试系统，其特征是，所述待测接口为高清晰度多媒体接口或显示端口。

11.根据权利要求8所述的自动化测试系统，其特征是，所述第一转接单元包括第一壳体，所述第一电路板设置于所述第一壳体内，所述第二转接单元包括第二壳体，所述第二电路板设置于所述第二壳体内。

12.根据权利要求11所述的自动化测试系统，其特征是，所述第一壳体包括至少一个第一定位部，所述第二壳体包括至少一个第二定位部，所述第二定位部同所述第一定位部相对应。

13.根据权利要求12所述的自动化测试系统，其特征是，所述第一定位部与所述第二定位部的数量均为三个且分别成三角排列。

14.根据权利要求11所述的自动化测试系统，其特征是，所述第二壳体包括固定部，所述固定部固定于所述自动测试装置。

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