CN209590214U - 一种用于测试不同规格芯片的测试装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种用于测试不同规格芯片的测试装置，包括PCB板，PCB板上设有±15V电源插座、±5V电源插座、48针双排插针、红色48针拨码开关、蓝色48针拨码开关、芯片测试座和芯片锁紧座。48针双排插针的各插针、红色48针拨码开关和蓝色48针拨码开关的右侧各针脚、芯片测试座的各管脚、芯片锁紧座的各管脚以顶对齐的方式通过印制线一一并联；红色48针拨码开关和蓝色48针拨码开关的左侧针脚通过印制线全部并联后接到+5V电源管脚。本实用新型提供一种低成本、可测试多种芯片的芯片测试装置，相对于每测一种芯片就搭建一种对应的测试电路，降低了成本，提高装置利用率，提高测试效率。
Description
技术领域
本实用新型涉及芯片测试领域，尤其涉及一种用于测试不同规格芯片的测试装置。
背景技术
在电子电路的设计生产中，都要用到集成电路芯片。芯片在使用之前，需要进行功能和性能抽样测试，而芯片的封装形式多种多样，工作电压也各不相同，当一款产品需要用到多种芯片时，就需要测试各种不同封装的芯片，因此需要用到多种芯片测试装置。现在市场上有多功能电路测试仪，但是大多比较昂贵，价格动辄几万甚至几十万，对小量芯片测试来说是大材小用。市场上也有单个的芯片测试座，但是不同芯片的封装不同，供电电压也不同，测试时需要根据具体芯片搭建对应的测试电路。如果每测一种芯片就搭建一种对应的测试电路，那就会大大提高测试成本，降低测试效率，而且费时费力。
实用新型内容
本实用新型的目的是提供了一种低成本、可测试多种芯片的芯片测试装置，从而降低成本，提高装置利用率，提高效率。
为实现上述目的，本实用新型的技术方案是：一种用于测试不同规格芯片的测试装置，包括PCB板， PCB板上设有±15V电源插座、±5V电源插座、48针双排插针、红色48针拨码开关、蓝色48针拨码开关、芯片测试座和芯片锁紧座，48针双排插针的各插针、红色48针拨码开关和蓝色48针拨码开关的右侧各针脚、芯片测试座的各管脚、芯片锁紧座的各管脚以顶对齐的方式通过印制线一一并联；红色48针拨码开关和蓝色48针拨码开关的左侧针脚通过印制线全部并联后接到+5V电源管脚。
还包括盒体，所述PCB板通过固定柱安装在盒体上表面，盒体上设有连接220V交流电的外接电源插座，外接电源插座连接有将220V交流电转换为±15V直流电的第一AC-DC模块，以及将220V交流电转换为±5V直流电的第二AC-DC模块，第一AC-DC模块输出端与所述±15V电源插座连接，第二AC-DC模块输出端与所述±5V电源插座连接。
进一步的，所述芯片测试座包括3.9mm宽SOP16表面贴装芯片测试座U1、5.4mm宽SOP20表面贴装芯片测试座U2、7.5mm宽SOP28表面贴装芯片测试座U3、4.4mm宽SSOP28表面贴装芯片测试座U4、5.3-5.7mm宽SSOP34表面贴装芯片测试座U5、13.3mm宽SOP44表面贴装芯片测试座U6。
进一步的，所述芯片锁紧座包括窄体DIP28双列直插封装芯片锁紧座U7、宽体DIP48双列直插封装芯片锁紧座U8。
本实用新型的有益效果是：本实用新型提供一种低成本、可测试多种芯片的芯片测试装置，相对于每测一种芯片就搭建一种对应的测试电路，降低了成本，提高装置利用率，提高测试效率。
附图说明
图1为本实用新型俯视结构示意图；
图2为本实用新型侧视结构示意图；
图3为本实用新型盒体内部结构示意图。
具体实施方式
下面将结合附图对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。
如图1所示，一种用于测试不同规格芯片的测试装置，包括PCB板， PCB板上设有±15V电源插座P1、±5V电源插座P2、48针双排插针P3、红色48针拨码开关P4、蓝色48针拨码开关P5、芯片测试座U1-U6和芯片锁紧座U7、U8，测试时被测芯片供电管脚对应的48针双排插针的管脚通过导线与±15V电源插座P1或±5V电源插座P2的引脚连接，以给被测芯片供电。48针双排插针P3的各插针、红色48针拨码开关P4的右侧各针脚、蓝色48针拨码开关P5的右侧各针脚、芯片测试座的各管脚、芯片锁紧座的各管脚以顶对齐的方式通过印制线一一并联；使用时通过排线可方便地将芯片各管脚从48针双排插针的对应插针上引出，从而方便测试。
如图2-3所示，还包括盒体，所述PCB板通过固定柱安装在盒体上表面，盒体内设有接收220V交流电的外接电源插座，外接电源插座连接有将220V交流电转换为±15V直流电的第一AC-DC模块，以及将220V交流电转换为±5V直流电的第二AC-DC模块，第一AC-DC模块输出端与所述±15V电源插座连接，第二AC-DC模块输出端与所述±5V电源插座连接。可提供多种电压，以供不同供电电压的芯片使用。
所述芯片测试座包括3.9mm宽SOP16表面贴装芯片测试座U1、5.4mm宽SOP20表面贴装芯片测试座U2、7.5mm宽SOP28表面贴装芯片测试座U3、4.4mm宽SSOP28表面贴装芯片测试座U4、5.3-5.7mm宽SSOP34表面贴装芯片测试座U5、13.3mm宽SOP44表面贴装芯片测试座U6。所述芯片锁紧座包括窄体DIP28双列直插封装芯片锁紧座U7、宽体DIP48双列直插封装芯片锁紧座U8。本装置可以满足管脚数量为44及以下多种型号的表面贴装封装的芯片测试，以及管脚数量为48及以下多种型号的双列直插封装的芯片测试。
以下通过具体实施例对本实用新型进行具体说明。
实施例1
对DG441DY 模拟开关芯片进行测试，该芯片为16针表面贴装窄体封装的芯片，工作电压为±15V，Pin13脚接﹢15V，Pin4脚接-15V，Pin5脚接地。内部有4组独立的模拟开关，分别为A、B、C、D。其中Pin1脚为A组的控制端，Pin2、Pin3脚为A组的被控端；Pin16脚为B组的控制端，Pin14、Pin15脚为B组的被控端；Pin9脚为C组的控制端，Pin10、Pin11脚为C组的被控端；Pin8脚为D组的控制端，Pin6、Pin7脚为D组的被控端。当每组模拟开关的控制端接地时，两个被控端之间电阻低于85Ω；当每组模拟开关的控制端接+5V电平信号时，两个被控端之间电阻高于1MΩ；
测试时先将红色48针拨码开关和蓝色48针拨码开关都拨到左侧位置，再将被测芯片放置到对应的3.9mm宽SOP16表面贴装芯片测试座U1上。然后用导线将PCB板上电源插座P1的﹢15V插针与48针双排插针的45针连接起来，用导线将PCB板上电源插座P1的-15V插针与48针双排插针的4针连接起来，用导线将PCB板上电源插座P1的GND插针与48针双排插针的5针连接起来。给测试装置插上电源线，打开供电开关，然后分别将蓝色拨码开关的第1、第8、第9、第16个开关拨到右侧。用数字万用表的欧姆档分别测量48针双排插针的第2、第3针之间电阻是否小于85Ω，第6、第7针之间电阻是否小于85Ω，第42、第43针之间电阻是否小于85Ω，第46、第47针之间电阻是否小于85Ω。若都小于85Ω，说明芯片性能完好；否则说明芯片性能不好或损坏。
再分别将蓝色拨码开关的第1、第8、第9、第16个开关拨到左侧，分别将红色拨码开关的第1、第8、第9、第16个开关拨到右侧。用数字万用表的欧姆档分别测量48针双排插针的第2、第3针之间电阻是否大于1MΩ，第6、第7针之间电阻是否大于1MΩ，第42、第43针之间电阻是否大于1MΩ，第46、第47针之间电阻是否大于1MΩ。若都大于1MΩ，说明芯片性能完好；否则说明芯片性能不好或损坏。
实施例2
对HA1-2556-9 模拟乘法器芯片进行测试，该芯片为16针双列直插封装的芯片，工作电压为±15V，Pin11脚接﹢15V，Pin7脚接-15V，Pin1脚接地。Pin13、Pin12脚为X+、X-差分输入端，Pin5、Pin6脚为Y+、Y-差分输入端，Pin9、Pin10脚为Z+、Z-差分输入端，Pin8为输出端。当输出端与Z+输入端并联时，对应的关系为Uo=（Ux*Uy）÷5。
测试时先将红色48针拨码开关和蓝色48针拨码开关都拨到左侧位置，再将被测芯片放到窄体DIP28双列直插封装芯片锁紧座U7上，注意顶对齐。然后用导线将PCB板上电源插座P1的﹢15V插针与48针双排插针的42针连接起来，用导线将PCB板上电源插座P1的-15V插针与48针双排插针的7针连接起来，用导线将PCB板上电源插座P1的GND插针与48针双排插针的1针连接起来，用导线将PCB板上48针双排插针的8针和41针连接起来。给测试装置插上电源线，打开供电开关，然后分别将红色拨码开关的第45、第5个开关拨到右侧，分别将蓝色拨码开关的第6、第42、第44个开关拨到右侧。用数字万用表的直流电压档测量48针双排插针的第8和第6针之间的电压是否为5V。若等于5V，说明芯片性能良好；若不等于5V，说明芯片性能不好或损坏。
所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
Claims (3)
1.一种用于测试不同规格芯片的测试装置，其特征在于，包括PCB板， PCB板上设有±15V电源插座、±5V电源插座、48针双排插针、红色48针拨码开关、蓝色48针拨码开关、芯片测试座和芯片锁紧座，48针双排插针的各插针、红色48针拨码开关和蓝色48针拨码开关的右侧各针脚、芯片测试座的各管脚、芯片锁紧座的各管脚以顶对齐的方式通过印制线一一并联；红色48针拨码开关和蓝色48针拨码开关的左侧针脚通过印制线全部并联后接到+5V电源管脚；
还包括盒体，所述PCB板通过固定柱安装在盒体上表面，盒体上设有连接220V交流电的外接电源插座，外接电源插座连接有将220V交流电转换为±15V直流电的第一AC-DC模块，以及将220V交流电转换为±5V直流电的第二AC-DC模块，第一AC-DC模块输出端与所述±15V电源插座连接，第二AC-DC模块输出端与所述±5V电源插座连接。
2.如权利要求1所述的一种用于测试不同规格芯片的测试装置，其特征在于，所述芯片测试座包括3.9mm宽SOP16表面贴装芯片测试座、5.4mm宽SOP20表面贴装芯片测试座、7.5mm宽SOP28表面贴装芯片测试座、4.4mm宽SSOP28表面贴装芯片测试座、5.3-5.7mm宽SSOP34表面贴装芯片测试座、13.3mm宽SOP44表面贴装芯片测试座。
3.如权利要求1所述的一种用于测试不同规格芯片的测试装置，其特征在于，所述芯片锁紧座包括窄体DIP28双列直插封装芯片锁紧座、宽体DIP48双列直插封装芯片锁紧座。
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| CN112362565A (zh) * | 2020-11-09 | 2021-02-12 | 中国航空综合技术研究所 | 用于评价电子元器件耐腐蚀能力的电路板装置及测试方法 |
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| CN112362565B (zh) * | 2020-11-09 | 2024-01-23 | 中国航空综合技术研究所 | 用于评价电子元器件耐腐蚀能力的电路板装置及测试方法 |
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